（微電子學(xué)與固體電子學(xué)專業(yè)論文）邊界掃描技術(shù)研究.pdf

摘要通過對近幾十年邊界掃描技術(shù)文獻(xiàn)的總結(jié)，本文首先闡述了該技術(shù)產(chǎn)生的背景以及發(fā)展現(xiàn)狀。隨著大規(guī)模集成電路的發(fā)展，納米級制造工藝的使用，集成電路的封裝變得越來越小。這些改變在給電子電路設(shè)計帶來便利的同時也帶來了一些困擾：一方面芯片或功能模塊內(nèi)部結(jié)點變得無法探測，給電路調(diào)試工作帶來一定困難；另一方面芯片封裝的減小使器件引腳越來越密，單位p c b 電路板上的器件密度大幅度提高，這就導(dǎo)致了芯片互連可靠性降低和互連測試難度的增加。伴隨著傳統(tǒng)探針測試無法解決問題的增多，可測性設(shè)計( d f t ) 的出現(xiàn)成為解決上述問題的有效手段。d f t 是通過在電路設(shè)計階段就考慮整個系統(tǒng)可測試性，以增加少量電路來提高整體電路系統(tǒng)可測試性的一種設(shè)計方法。邊界掃描技術(shù)就是在d f t 基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種測試技術(shù)，該技術(shù)以在芯片內(nèi)部功能電路的周圍增加部分寄存器單元和t a p控制器電路為基礎(chǔ)，通過對個蹦引腳的邏輯控制完成對芯片內(nèi)部的功能測試或是外部互連測試。針對邊界掃描測試技術(shù)的迅速發(fā)展，i e e e于1 9 9 0 年制定i e e e l l 4 9 1 標(biāo)準(zhǔn)，將邊界掃描測試端口及各項指令標(biāo)準(zhǔn)化。目前各大公司生產(chǎn)的超大規(guī)模集成電路芯片基本全部具有邊界掃描結(jié)構(gòu)，支持邊界掃描測試。本文接著討論了芯片內(nèi)部的邊界掃描測試結(jié)構(gòu)以及邊界掃描測試方法在p c b 測試中的工作原理，通過對基本理論的理解引出掃描測試過程中掃描測試矢量的處理，并從測試鏈路結(jié)構(gòu)上闡述測試矢量優(yōu)化方法。通過一定的理論研究，將可測性設(shè)計應(yīng)用到實際電路當(dāng)中，實現(xiàn)對邊界掃描 貝l l 試?yán)碚摰尿炞C。根據(jù)對邊界掃描測試?yán)碚撗芯亢驮囼灥慕Y(jié)果，本文進(jìn)一步提出了邊界掃描測試控制系統(tǒng)的設(shè)計方案，并將設(shè)計重點放在掃描測試控制系統(tǒng)的核心器件一一掃描測試主控器的邏輯設(shè)計實現(xiàn)上。通過對主控器的邏輯功能分析，將功能模塊進(jìn)一步分割，采用自頂向下的設(shè)計方法，通過硬件描述語言( v h d l ) 完成對主控器的描述，并給出仿真結(jié)果。關(guān)鍵詞：邊界掃描測試主控器互連測試a b s t r a c tb ys u m m a r i z i n gs o m el i t e r a t u r e sa b o u tb o u n d a r ys c a nt e s t ( b s t ) ，t h eb a c k g r o u n da n dp r e s e n tc o n d i t i o n sa r ef i r s td i s c u s s e di nt h i st h e s i s w i t ht h ed e v e l o p i n go fv e r yl a r g e - s c a l ei n t e g r a t e dc i r c u i ta n dt h ea p p l y i n go fn a n o m e t e rt e c h n o l o g y ，p a c k a g e so f i ch a v eb e c o m es i n a i l e ra n ds m a l l e r t h e s ec h a n g e sb r o u g h tn o to n l yc o n v e n i e n c ei nc i r c u i td e s i g n ，b u ta l s od i f f i c u l t y o n es i d e ，al a r g ea m o u n to fn o d e st h a ti n1 co rf u n c t i o nb l o c k sc a n tb ed e t e c t e d ，a n dt h i sm a d ec i r c u i td e b u gd i f f i c u l tt h a nb e f o r e ；o nt h eo t h e rs i d e ，a st h er e s u l to fp a c k a g es i z er e d u c i n g ，m o r ea n dm o r ec o m p o n e n t sa r ea s s e m b l e do nt h ep r i n t e dc i r c u i t sb o a r d s ( p c bs ) ，t h er e l i a b i l i t yo fi n t e r l i n k a g eb e t w e e ni cc h i p sh a sd e c r e a s e d ，a n dt h ei n t e r c o n n e c tt e s td i f f i c u l t yh a si n c r e a s e d w i t hm o r ep i o b l e m st h a tc o u l dn o tb er e s o l v e db yp r o b ea p p e a r a n c e ，d e s i g n f o r - t e s t a b i l i t y ( d f t ) p r o p o s e di nr e c e n ty e a r si sa ne f f i c i e n tw a yt oo v e r c o m ei ct e s td i f f i c u l t y d f tt e c h n i q u er e q u i r e st h ei n t e r p o s a lo ft e s tp r o b l e ma tt h eb e g i n n i n go fe l e c t r o n i cs y s t e md e s i g n ，a n di t sat e s tm e t h o dt h a tc a ni m p r o v et e s ta b i l i t yb ye x t r ac i r c u i t b s ti sat e s tt e c h n o l o g yt h a td e v e l o p e db a s e do nd f t ，b ya d d i n gr e g i s t e r sa n dt a pc o n t r o l l e rc i r c u i t ，c h i p sf u n c t i o nt e s to ri n t e r c o n n e c tt e s tc a nb ee x e c u t e de a s i e r w i t ht h er a p i dp r o g r e s si nb s t ，i e e e1 1 4 9 1i n t e r n a t i o n a ls t a n d a r di sm a d et op r e s c r i b et h et e s tp o r t sa n di n s t r u c t i o n s n o w ，m a n yc o r p o r a t i o n s i cc h i p sh a v eb s ts t r u c t u r e ，s u p p o r t i n gb s t ，b s ts t r u c t u r ea n db s tt h e o r ya r es e c o n dd i s c u s s e di nt h i sp a p e r ，b yu n d e r s t a n d i n gb a s a lt h e o r y ，b r i n gf o r w a r dt h et e s tv e c t o r s d i s p o s a l ，a n ds i m p l i f yt e s tv e c t o r sf r o mt e s t - l i n ks t r u c t u r e t h r o u g ht h e o r yr e s e a r c h i n g ，u s i n gd f ti nc i r c u i td e s i g na n dv a l i d a t et h et e s tm e t h o d b s tc o n t r o ls y s t e md e s i g ni sb r i n go u tb a s e do nb s tr e s e a r c hi nt h e s i sa n dt h ed e s i g ne m p h a s isiso nt h el o g i co fb o u n d a r ys c a nm a s t e r ( b s m ) ，w h i c hi st h ec o r ed e v i c eo ft h i sc o n t r o ls y s t e m b yt h ea n a l y s i so fc o n t r o lf u n c t i o n ，d i v i d et h es y s t e mi n t os e v e r a lp a r t s ，u s i n gt o p t o - d o w nt e c h n i q u e ，r e a l i z e dt h el o g i cd e s i g ni nv h d l k e yw o r d s ：b o u n d a r ys c a nt e s t ；b o u n d a r ys c a nm a s t e r ；i n t e r c o n n e c tt e s ti i獨(dú)創(chuàng)性聲明本人聲明所呈交的學(xué)位論文是本人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。據(jù)我所知，除了文中特別加以標(biāo)注和致謝的地方外，論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果，也不包含為獲得電子科技大學(xué)或其它教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中作了明確的說明并表示謝意。簽名：勉壺鼙日期：山咕年月垮日關(guān)于論文使用授權(quán)的說明本學(xué)位論文作者完全了解電子科技大學(xué)有關(guān)保留、使用學(xué)位論文的規(guī)定，有權(quán)保留并向國家有關(guān)部門或機(jī)構(gòu)送交論文的復(fù)印件和磁盤，允許論文被查閱和借閱。本人授權(quán)電予科技大學(xué)可以將學(xué)位論文的全部或部分內(nèi)容編入有關(guān)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行檢索，可以采用影印、縮印或掃描等復(fù)制手段保存、匯編學(xué)位論文。( 保密的學(xué)位論文在解密后應(yīng)遵守此規(guī)定)簽名：盤未遂導(dǎo)師簽日期：電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文1 1 課題的背景【l l 【2第一章引言隨著電路技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成( v l s i ) 時代，v l s i 電路的高復(fù)雜性以及多層印制板、表面貼裝( s m t ) 、圓片規(guī)模集成( w s i ) 和多芯片組件( m c m ) 技術(shù)在電路系統(tǒng)中的應(yīng)用，使得集成電路引腳越來越密( 如圖卜1 ) ，電路節(jié)點的物理可訪問性正在逐步減弱以至于消失，電路和系統(tǒng)的可測試性急劇下降，常規(guī)的探針已逐漸無法使用。測試開銷在電路和系統(tǒng)總開銷中所占的比例不斷上升，常規(guī)的測試方法正面臨著曰趨嚴(yán)重的困難。測試算法的研究和測試實踐證明了個基本事實：要對一個不具備可測試性的電路進(jìn)行測試是徒勞的，只有提高電路的可測試性，才能使電路的測試問題得到簡化并最終得到解決。對于可測試性技術(shù)的研究始于6 0 年代初期，通過3 0 多年的研制與實踐，進(jìn)入8 0 年代后這一技術(shù)逐步趨于完善和成熟。圖1 - 1 、電路節(jié)點的物理可訪問性逐步減弱以至消失，電路可測性急劇下降在6 0 年代初期，由于芯片集成度的限制，在電路設(shè)計中引入可測性設(shè)計往往會帶來較大的電路開銷，這就使得有關(guān)的可測性設(shè)計方案具有較大的局限性。最早實現(xiàn)的可測性設(shè)計是針對印制板級的測試，如擴(kuò)展訪問功能的印制板測試e c a c t ( e x t e n d e da c c e ssc a r dt e s t i n g ) ，芯片的現(xiàn)場測試c i p t ( c h i p1 1 1p l a c et e s t ) ，多路選通邏輯和可選擇性控制功能( s e le c t i v ec o n t r o l l a b i t y ) 等，他們都是針對在測試固定裝置上進(jìn)行的印制板測試技術(shù)，提出了關(guān)于印制板電路上節(jié)點的可觀察性、可控性或可隔離性設(shè)計。此后，在關(guān)于i b ms y s t e m 3 6 0 系統(tǒng)及測試的文獻(xiàn)中，首次提出了根據(jù)電路內(nèi)部邏輯測試的掃描設(shè)計方案，并在n e c 公司的n e a cs e r ie s - 2 2 0 0 m o d e 一7 0 0 計算機(jī)的測試中運(yùn)用了基于掃描設(shè)計的掃描移位測試法，后來這種設(shè)計方法更多的被稱為掃描移位觸發(fā)器設(shè)計。另一種在7 0 年代得到工業(yè)界廣泛認(rèn)同和推廣的設(shè)計方案是i b m 公司提出的l s s d ( l e v e ls e n s n i v e口口口口口口口0口口疆口第一章引言s c a nd e s i g n ) 方案【3 】，它將l s a 設(shè)計和電平靈敏設(shè)計( l e v e 卜s e n s i t iv ed e s i g n ) 有機(jī)的結(jié)合起來。為了提高測試效率，并支持電路的帶速度測試( a t - s p e e dt e s t ) ，在7 0 年代還提出了在電路內(nèi)部利用硬件產(chǎn)生測試激勵向量并對測試相應(yīng)進(jìn)行處理的可測性設(shè)計思想。最常用的是偽隨機(jī)碼測試p r p t ( p s e u d o r a n d o m p a t t e r nt e s t ) 設(shè)計，有時也稱之為內(nèi)部自測試b i s t ( b u i l t i n s e l f t e s t ) 設(shè)計。p r p t 方法在8 0年代得到了廣泛的應(yīng)用。進(jìn)入了8 0 年代，為了在印制板和系統(tǒng)環(huán)境中實現(xiàn)對其中單一芯片的測試，提出了芯片電路的現(xiàn)場測試e c i p t( g l e c t r o n i cc h i p i n p 1 a c et e s t ) 方法，芯片分割c p a ( c h i dp o r t i o n i n ga i d ) 設(shè)計等，它們都是在芯片的i 0 單元電路上實現(xiàn)了隔離功能。為了滿足應(yīng)用于航天、航空等領(lǐng)域的電子系統(tǒng)的高可靠性、商可維護(hù)性的要求，除了芯片級的可測試性以外，更高層次的可測試性也得到了較為深入的研究。為了保證不同廠家的器件裝配到系統(tǒng)中后，這些器件不僅能完成系統(tǒng)的功能，而且還能提供預(yù)期的測試功能，以及在印制板級和系統(tǒng)級測試中，可以實現(xiàn)子系統(tǒng)測試資源的共享和分配，提出了標(biāo)準(zhǔn)化測試接口這一設(shè)計思想，以及相關(guān)的測試信號協(xié)議和測試總線方案。研究工作和測試實踐從不同的側(cè)面對可測性設(shè)計技術(shù)進(jìn)行了有益的探索。1 9 8 5 年，由i b m 、a t & t 、t e x a si n s t r u m e n ts 、p h i p se le c t r o n i c sn v 、s ie m e i i s 、a 1c a t e l 和g r i c s s o n 等公司成立的j e t a g( j o i n te u r o d e a nt e s ta c t i o l lg r o u d ) 提出了邊界掃描技術(shù)，它通過存在于器件輸入輸出管腳與內(nèi)核電路之間的b s c ( b o u n d a r ys c a i lc e l l ) 對器件及其外圍電路進(jìn)行測試，從而提高器件的可控性和可觀察性。1 9 8 6 年由于其它地區(qū)一些公司的加入，j e t a g 改名為j t a g 。1 9 8 8年j t a 6 提出了標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描體系結(jié)構(gòu)，名稱叫b o u n d a r y s c a l la r c h it e c t u r es t a n d a r dp r o p o s a l ，v e r s i o i l2 0 ，最后目標(biāo)是應(yīng)用到芯片、印制板和完整系統(tǒng)上的一套完善的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)。1 9 9 0 年，i e e e正式承認(rèn)了這個j t a 6 標(biāo)準(zhǔn)，經(jīng)過補(bǔ)充和修訂以后，命名為i e e e l l4 9 卜9 0 。同年又提出了b s d l ( b o u n d a r ys c a nd e s c r i p t i or )l a n g u a g e ，邊界掃描語言) ，后來成為i e e e l l 4 9 卜9 3 的一部分。i e e e l l 4 9 1 標(biāo)準(zhǔn)大大的推動了邊界掃描技術(shù)的發(fā)展和廣泛應(yīng)用。1 2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀從工程背景看。邊界掃描技術(shù)在19 9 0 年被i e e e 接納并形成了2電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文i e e e l l 4 9 1 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，得到了世界上大多數(shù)集成電路制造商和測試商的支持，如i n t e l 8 0 4 8 6 以上、i o t o r o l a 6 8 0 4 0 、x i l i n x 的x c 3 0 0 0 以上系列的f p g a 等芯片都具有邊界掃描結(jié)構(gòu)。在e d a 軟件方面，國外大型e d a 軟件商例如m e n t o rg r a p h ic s 、c a d e n c e 等都已在其產(chǎn)品中引入相應(yīng)的邊界掃描自動設(shè)計模塊可供使用者調(diào)用，所以在i c 設(shè)計時，只要作相應(yīng)的處理就可以獲得i c 的邊界掃描結(jié)構(gòu)。在測試系統(tǒng)方面，國外邊界掃描測試系統(tǒng)和測試軟件的開發(fā)也取得了非常大的進(jìn)展，目前已有很多產(chǎn)品投入市場，如t e r a d y n e 的邊界掃描測試軟件v ic t o r y ，p h i l i l o s 公司的p m 3 7 2 0 邊界掃描測試機(jī)，a c c u l o g i c 公司的b s c # , np c + 邊界掃描測試卡等。當(dāng)前i e e e l l 4 9 1 標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)成為國際上工業(yè)界對電路和系統(tǒng)，包括先進(jìn)的c p u 芯片到衛(wèi)星系統(tǒng)，進(jìn)行生產(chǎn)故障檢測和產(chǎn)品功能測試的基本方法。在國內(nèi)，電子科技大學(xué)自動化工程學(xué)院c a t 室、國防科技大學(xué)自動化系、桂林電子工業(yè)學(xué)院及西安微電子技術(shù)研究所在2 0 世紀(jì)9 0 年代開始關(guān)注邊界掃描技術(shù)。1 9 9 4 年，我國參照i e e e1 1 4 9 1 標(biāo)準(zhǔn)制定了中國電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)“標(biāo)準(zhǔn)可測試性總線”第一部分“標(biāo)準(zhǔn)測試存取接口與邊界掃描結(jié)構(gòu)”。盡管國內(nèi)測試界專家以及一些電子設(shè)備生產(chǎn)廠家都已認(rèn)識到邊界技術(shù)的重要性，但由于缺乏掃描測試工具以及相關(guān)技術(shù)，目前國內(nèi)邊界掃描技術(shù)的應(yīng)用還相當(dāng)有限。1 3 課題的任務(wù)和意義1 3 1 課題的任務(wù)本課題的研究重點主要放在邊界掃描測試矢量的處理和邊界掃描主控器的基本設(shè)計方案。在測試矢量方面主要是在學(xué)習(xí)邊界掃描器件內(nèi)嵌掃描結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步分析t a p 控制器的控制狀態(tài)以及p c b 掃描測試工作原理，并且以此為基礎(chǔ)，從模型算法的角度闡述對掃描鏈中部分不具備邊界掃描結(jié)構(gòu)器件的處理方案，從而能夠解決關(guān)鍵路徑被“破壞”不能完成掃描測試的部分情況。在邊界掃描主控器設(shè)計部分，設(shè)計用以連接被測電路板和控制計算機(jī)的c o m p a c tp c i 接口邊界掃描控制系統(tǒng)。基本工作原理是通過系統(tǒng)內(nèi)的主控器進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，把控制計算機(jī)發(fā)出的并行測試矢量轉(zhuǎn)換第一章引言成被測電路板上器件能夠接收的串行矢量序列發(fā)送給被測電路板，并接收電路板上返回的結(jié)果，處理后傳遞給控制計算機(jī)進(jìn)行測試結(jié)果的分析。工作的重點是完成控制系統(tǒng)的核心器件一一主控器的邏輯實現(xiàn)。1 3 2 課題的意義當(dāng)今，電子產(chǎn)品復(fù)雜性日益增加，同時對產(chǎn)品質(zhì)量的要求也越來越高，希望產(chǎn)品能夠達(dá)到零故障，達(dá)到這一目標(biāo)的唯一方法就是加強(qiáng)產(chǎn)品本身的質(zhì)量控制，因此測試的任務(wù)就是在改善產(chǎn)品的合格率的同時又保持測試的成本不至于太高。邊界掃描技術(shù)提出了一種新的完整的測試方法，它能夠克服復(fù)雜數(shù)字電路板的技術(shù)障礙，在實際測試電路板時，不需要再借助復(fù)雜和昂貴的裝置，提供了一種獨(dú)立于電路板技術(shù)的測試方法。該技術(shù)在減少投資和制造費(fèi)用，提高產(chǎn)品質(zhì)量，最大限度的利用最新技術(shù)方面邁出了重要的步1 5 。第二章b s t 技術(shù)及應(yīng)用作。從t d i 輸入數(shù)據(jù)在t c k 的上升沿進(jìn)行，從t d 0 輸出數(shù)據(jù)在t c k 的下降沿進(jìn)行。t m s 端接收邏輯信號o 和1 ，由t a p 控制器解釋并用以控制測試操作。在t c k 上升沿對t m s 進(jìn)行采樣，當(dāng)t m s 不被驅(qū)動時必須保持為邏輯“l(fā) ”。t d i 端串行輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)入指令寄存器還是數(shù)據(jù)寄存器是由t a p控制器的控制狀態(tài)決定。當(dāng)測試數(shù)據(jù)輸入端沒有被驅(qū)動時，加載邏輯“1 ”。t d o 端在t c k 時鐘脈沖的下降沿將數(shù)據(jù)寄存器或指令寄存器的數(shù)據(jù)移出。當(dāng)沒有數(shù)據(jù)通過單元移出時，t d o 設(shè)置為不作用狀態(tài)，通常為高阻態(tài)。t r s t 低電平有效，使測試邏輯強(qiáng)制性異步復(fù)位而與t c k 和t m s 無關(guān)。由于t r s t 是可選擇的，對于沒有t r s t 端口的器件在任何情況下，測試邏輯需要設(shè)計成在t m s 和t c k 控制下能夠被復(fù)位。2 ) t a p 控制器對于邊界掃描測試結(jié)構(gòu)，其核心控制部分就是t a p 控制器。t a p控制器是由t m s 在t c k 上升沿控制的有限狀態(tài)機(jī)。它的主要功能是：a ) 提供信號以允許指令裝入寄存器中；b ) 提供信號將測試數(shù)據(jù)移入移位寄存器，并把測試數(shù)據(jù)結(jié)果從移位寄存器移出；c ) 執(zhí)行測試作用，如捕獲、移位和更新測試數(shù)據(jù)等。t a p 控制器狀態(tài)機(jī)原理如下：圖2 - 2 、t a p 控制器狀態(tài)機(jī)由圖中可以看出，t a p 控制器只有六個穩(wěn)定狀態(tài)：測試邏輯復(fù)位、測試閑置、測試數(shù)據(jù)寄存器移位、測試數(shù)據(jù)寄存器暫停、測試指令寄存器6電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文移位、測試指令寄存器暫停。對于測試人員，只需要根據(jù)t a p 控制器的狀態(tài)機(jī)，設(shè)計并發(fā)送特定的控制邏輯就可以完成對芯片的控制測試。由圖2 2 可知，無論t a p 控制器處于哪個狀態(tài)，只要t m s 保持邏輯l ，最多5 個測試時鐘脈沖周期就會使控制器自動恢復(fù)到它的測試邏輯復(fù)位狀態(tài)。3 ) 指令寄存器指令寄存器在測試中可以對數(shù)據(jù)寄存器進(jìn)行控制，以提供地址信號和控制信號的方式來選擇特定的數(shù)據(jù)寄存器；同時也可以直接通過指令寄存器執(zhí)行測試功能，控制芯片引腳的狀態(tài)。指令寄存器至少包含兩個能保存指令數(shù)據(jù)的移位寄存器基本單元，這兩個強(qiáng)制單元位于距離串行輸出端最近的位置，即它們是最低的有效位( l s b ) 。兩位最低有效位的值固定為0 和l ( 1 是最低位) ，這個固定值用于確定p c b電路上各i c 串行通路中故障的位置。4 ) 測試數(shù)據(jù)寄存器測試數(shù)據(jù)寄存器里面又包含有旁路寄存器( b r ) 、邊界掃描寄存器( b s r ) 、器件標(biāo)志寄存器( i d c o d e ) 等多個寄存器。其中旁路寄存器和邊界掃描寄存器是必須的，其它為可選寄存器，也可以增加一個或多個專門設(shè)計的測試數(shù)據(jù)寄存器，通過對結(jié)構(gòu)化測試指令集增加測試代碼可完成對附加的專用寄存器進(jìn)行讀取。測試數(shù)據(jù)寄存器的長度是由集成電路設(shè)計者固定的，與測試指令無關(guān)。旁路寄存器是只有一位的寄存器，它使得在t d i 和t d o 之間獲得一個最短路徑，旁路寄存器的作用是為了對不需要進(jìn)行掃描的芯片進(jìn)行旁通，以縮短掃描路徑。旁路寄存器在t c k 測試時鐘的上升沿，t a p控制器處于它的捕獲數(shù)據(jù)寄存狀態(tài)且設(shè)置為邏輯0 時，該寄存器被選中。邊界掃描寄存器首尾相連，構(gòu)成邊界掃描路徑中的移位寄存器鏈，它具有如下特征：a ) 可對器件電路實現(xiàn)外部測試：b ) 可實現(xiàn)核心邏輯的內(nèi)測試指令，同時也提供核心邏輯的邊界限制條件：c ) 可對輸入輸出信號進(jìn)行采樣和檢查而不影響核心邏輯工作。i d c o d e 寄存器有3 2 位，它存儲芯片的i d 碼。芯片i d 碼是識別芯片的內(nèi)建器件標(biāo)識碼，通過檢測芯片i d 碼可以識別該芯片，判斷芯片裝配正確與否，并可進(jìn)一步判斷芯片的型號、生產(chǎn)廠家及版本號與其標(biāo)識是否相符，辨別芯片的真?zhèn)巍．?dāng)t a p 進(jìn)入t e s t l o g ic r e s e t 狀態(tài)時，若標(biāo)志寄存器存在，則被強(qiáng)制接入t d i 與t d o 之間，寄存器l s b7第二章b s t 技術(shù)及應(yīng)用的值為l ，否則，旁路寄存器被接入t d i 與t d o 之間，寄存器的值為o 。所以，在檢測芯片標(biāo)志寄存器的值時，可以由復(fù)位狀態(tài)直接進(jìn)入移位數(shù)據(jù)狀態(tài)，輸出t d 0 的值，并判斷其第一位是否為1 ，若是，則此芯片有標(biāo)準(zhǔn)寄存器存在，可繼續(xù)移出其他3 1 位，并進(jìn)行判斷與顯示。2 1 2 邊界掃描工作方式邊界掃描基本上存在四種工作方式：1 內(nèi)部測試方式內(nèi)部測試方式用于測試電路板上各集成電路芯片內(nèi)部的故障。在這種測試方式下，測試圖形通過t d i 輸入，通過邊界掃描通路將測試圖形加于每個芯片的輸入引腳寄存器中，從輸出t d 0 串行讀出存于輸出引腳寄存器中的芯片的響應(yīng)圖形。根據(jù)輸入輸出的響應(yīng)，即可對電路板上各芯片內(nèi)部工作狀態(tài)以及工作邏輯做出測試。2 外部測試方式外部測試方式用于電路板上各集成電路芯片之間連線故障的測試。測試圖形從第一個芯片的t d i 輸入，經(jīng)邊界掃描通路加載到每個芯片的輸入引腳寄存器，每個芯片輸出引腳寄存器接收響應(yīng)圖形，最后通過輸出信號與正確信號相比就可以診斷出電路板上存在的故障。3 采樣測試方式采樣測試方式用于實時診斷一個正在工作的系統(tǒng)，掃描寄存器實時監(jiān)控電路板上個芯片的輸入和輸出引腳的數(shù)據(jù)流。4 電路板正常工作方式在電路板正常工作方式，邊界掃描寄存器不影響電路板正常工作，電路板處于正常工作狀態(tài)。本論文的工作重點是在電路板的互連故障測試上，所以其工作方式主要為外部測試方式，以下將主要對該工作方式和在該工作方式下的故障診斷作詳細(xì)介紹。2 1 3 外部測試原理邊界掃描外部測試是完成對電路板上的互連故障進(jìn)行測試診斷，基本思想是在靠近器件的輸入輸出管腳處增加一個移位寄存器單元。在測試期間，這些寄存器單元用于控制輸入管腳的狀態(tài)( 高或低) ，并讀輸出管腳的狀態(tài)，利用這種基本思想可以測試出電路板中器件互連的正確性。在正常工作期間，這些附加的移位寄存器單元是“透明”電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文的，不影響電路板的正常工作?；ミB測試主要有以下四個步驟：1 ) t d i 經(jīng)過各移位寄存器與各i c 管腳相關(guān)的單元連接，移位激勵數(shù)據(jù)；2 ) 更新輸出單元上的數(shù)據(jù)，對? c b 電路板上的連線施加激勵：3 ) 在各接收i c 的輸入管腳捕獲p c b 電路板上連線的狀態(tài)：4 ) 檢查經(jīng)過邊界掃描寄存器向t d o 移出的最后結(jié)果。圖2 3 表明了簡單的測試過程：設(shè)置外部測試模式后，通過t d i施加測試激勵0 ：上述測試步驟中第二步和第三步執(zhí)行實際測試，把測試數(shù)據(jù)施加到i c 連線之間，并捕獲這些連線的狀態(tài)；第一步和第四步只產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)的移位，它們的移位狀態(tài)是相同的，均對測試結(jié)果并不做貢獻(xiàn)。鹺鞠醐a 、數(shù)據(jù)移向輸出單元b 、施加測試數(shù)據(jù)及捕獲c 、將捕獲結(jié)果輸出圖2 - 3 、掃描測試過程測試過程中的所有功能都是由時鐘來觸發(fā)的。在更新數(shù)據(jù)寄存器階段，一個時鐘信號施加于p c b 電路板的連線上，這個信號實質(zhì)上是在同一時刻到達(dá)一個適當(dāng)?shù)膇 c 的接收端。捕獲寄存器功能也是由時鐘脈沖觸發(fā)，在脈沖的下降沿觸發(fā)更新數(shù)據(jù)寄存器功能，在上升沿觸發(fā)捕獲寄存器功能。2 1 4 互連測試工作模式由互連測試工作原理可知測試過程就是利用j t a g 接口的四條( 或五條) 數(shù)據(jù)線對電路板上掃描鏈路進(jìn)行數(shù)據(jù)掃入和掃出的過程，整個過程通常針對數(shù)字電路部分，但是在實際電路中往往存在數(shù)?；旌匣蚴欠浅?fù)雜的電路結(jié)構(gòu)，因此為了優(yōu)化測試程序縮短測試時間，根據(jù)實際電路板復(fù)雜程度的不同，測試工作又有四種基本的工作模式：1 )串行鏈工作串行鏈?zhǔn)绞亲詈唵?、?yīng)用最廣泛的工作方式。電路板上所有可掃描器件公用t c k 、t m s 信號，器件之間用t d i 、t d o 相連，即第一個芯片的輸入接t d i ，輸出接第二個芯片的輸入以此類推，最后一個芯片的第二章b s t 技術(shù)及應(yīng)用t d o 接總輸出的t 1 3 0 。2 ) 并行鏈工作對于串行鏈而言，其工作方式的缺陷在于如果電路板上的器件有所更改，則整條掃描鏈都將不可使用，而且對于多器件構(gòu)成的單掃描鏈會用較長的掃描時間。并行鏈工作方式則彌補(bǔ)了串行鏈的不足。并行鏈工作是將電路板上可掃描器件分成幾部分，每一部分單獨(dú)成鏈，但是各獨(dú)立鏈路之間共用t c k 信號和t d o 信號只有t d i 和t m s 信號是各自獨(dú)立的，完成對不同掃描鏈可以加載不同測試矢量，因此各掃描鏈可實現(xiàn)獨(dú)立控制。而且，當(dāng)一條掃描鏈?zhǔn)艿接绊憰r，其它鏈路可以正常運(yùn)行，而且相對縮短了掃描測試時間。魏畫盟盟a 、并行工作方式b 、多輸出工作c 、旁路工作方式圖2 4 、測試工作模式3 ) 多輸出工作多輸出工作模式是對串行工作模式的一種改進(jìn)。在同一條掃描鏈上t m s 和t c k 信號是共用的，有一個t d i 輸入端，但是卻有多個t d o輸出端。t d o 輸出是鏈上的每個芯片或是芯片組的t d o 的輸出集合。采用這種多輸出的方式可以實現(xiàn)更精確的故障定位。4 ) 旁路工作在正常測試流程中每經(jīng)過一個t c k 脈沖，測試數(shù)據(jù)在邊界掃描寄存器中移動一位，這樣對不需要進(jìn)行測試的元件而言則浪費(fèi)了大量的時間。對于i e e e l l 4 9 1 標(biāo)準(zhǔn)，它規(guī)定旁路寄存器是必須的。在旁路方式下掃描鏈上通過旁路寄存器直接將不需要進(jìn)行掃描元件的t d i 和t d o 直接相連，可以加快測試速度。根據(jù)實際電路情況選擇不同的測試工作模式就可以使p c b 電路板上所有“實際”節(jié)點具有可觀察和可控制性。在電路板存在故障的情況下，根據(jù)節(jié)點測試數(shù)據(jù)輸出結(jié)果對應(yīng)的故障類型就可以對電路板故障進(jìn)行定位，故障的類型與所檢測到的數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系需要通過對各種故障模型的響應(yīng)來分析，具體的故障模型將在下一節(jié)中討論。2 2 故障及故障模型1 0電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文在電路板生產(chǎn)過程中，由于工藝、裝配等原因，經(jīng)常會出現(xiàn)開路和短路故障。對于p c b 生產(chǎn)，除了對故障進(jìn)行診斷，還要進(jìn)行診斷修復(fù)，因此對p c b 電路要建立能夠包含故障診斷結(jié)果的故障模型嘲。2 2 1 基本概念網(wǎng)絡(luò)：網(wǎng)絡(luò)是由通過導(dǎo)線連接的一系列輸入、輸出節(jié)點構(gòu)成的，記為n ，j = l ，2 ，n 。邊界掃描測試的主要任務(wù)實質(zhì)上就是測試這些網(wǎng)絡(luò)是否正常。并行測試向量p t v ( p a r a l le 1t e s tv e c t o r ) ：在一次邊界掃描測試循環(huán)中，加載到各網(wǎng)絡(luò)上的測試代碼構(gòu)成的向量，記為v ? ，j = 1 ，2 ，p 。采用某個p t v 進(jìn)行測試所得到的測試響應(yīng)向量稱為并行響應(yīng)向量p r v ( p a r a l l e lr e $ p 0 1 s ev e c t o r ) ，記為，? ，j = 1 ，2 ，p 。對于某個固定的電路板而言，它的p t v 維數(shù)是確定的，等于網(wǎng)絡(luò)的總數(shù)n 。測試向量集及測試矩陣：由并行測試向量構(gòu)成的集合稱為測試向量集，由p t v 為列向量構(gòu)成的布爾矩陣稱為測試矩陣，記為t 。相應(yīng)地，可以定義由測試響應(yīng)向量構(gòu)成的響應(yīng)向量集和響應(yīng)矩陣，記為r 。貫序測試向量( s e q u e n t i a lt e s tv e c t o r ) ：在測試矩陣中，對應(yīng)于在多次邊界掃描測試循環(huán)中施加到同一網(wǎng)絡(luò)的測試代碼的行向量，記為v ? ，j = l ，2 ，n 。顯然，s t v 的數(shù)目等于網(wǎng)絡(luò)的總數(shù)n ，其維數(shù)p 等于邊界掃描測試循環(huán)的次數(shù)( 或p t v 的數(shù)目) 。相應(yīng)地，網(wǎng)絡(luò)在輸入一定的s t v 后的輸出響應(yīng)向量為貫序測試響應(yīng)向量s r v ( s e q u e n t i a lr e s p o n s ev e c t o r ) ，記為，i = l ，2 ，n 。顯然，當(dāng)網(wǎng)絡(luò)無故障時，s r v 與輸入的s t v相同。當(dāng)某個網(wǎng)絡(luò)存在故障時，表征故障的s r v 稱為故障征兆，記為夥。表2 1 測試矩陣示例并行測試矢量p t v貫序測試網(wǎng)絡(luò)v fv ：v ?矢量s t v月1000v 產(chǎn)n2001v h30l0v 宇nd0l1v pn51oov ”6l0lv ?”l10v pnslllv f混疊癥候( a l i a s i n gs y n d r o m e ) ：對測試矢量集，電路中某個網(wǎng)絡(luò)或某些網(wǎng)絡(luò)的故障響應(yīng)和正常響應(yīng)相同時，將無法確定這( 些) 網(wǎng)絡(luò)是第二章b s t 技術(shù)及應(yīng)用否有故障，這種現(xiàn)象稱為混疊癥候?；煜Y候( c o n f o u n d i n gs y n d r o m e ) ：對測試矢量集，相同的故障響應(yīng)存在多種故障與之對應(yīng)，這種現(xiàn)象稱為混淆癥候。將具有同樣測試結(jié)果的所潛在的獨(dú)立故障的最大數(shù)目定義為混淆度f 。2 2 2 故障及模型電路板上的故障從物理上可以劃分為開路故障和短路故障，從邏輯上可劃分為s a 一1 故障( s t u c ka ti ，節(jié)點值固定為“l(fā) ”) 、s a 一0故障( s t u c ka t0 ，節(jié)點值固定為0 ) 和橋接短路故障。首先討論物理上的開路故障。對開路故障，從邏輯上表征為s a 一1 、s a 一0 故障。開路故障根據(jù)短路工藝的不同( t t l 、c m o s 、e c l 等) 在邏輯現(xiàn)象上可以等效為s a 一0 或s a l ，因為在t t l 工藝中，假設(shè)驅(qū)動節(jié)點的值為x ，輸出為y ，對應(yīng)的邏輯算子為f ，則正常情況下有：y = f 伍) 。在出現(xiàn)開路故障時無論x 為何值，均有y ；1 ：而在c m o s 和e c l 工藝中有y s 0 。但是開路故障并不完全等效于s a l 或s a 一0 故障，因為s a 型故障可以影響于該節(jié)點相連的所有節(jié)點，而開路故障只影響與其相連的部分節(jié)點。為了對故障進(jìn)行進(jìn)一步的分析建模，將與開路故障相連的所有節(jié)點分為兩部分，選取1 個子節(jié)點作為原始節(jié)點的一部分，剩余的節(jié)點作為一組，并處于靜止?fàn)顟B(tài)。假設(shè)存在一個由尸個i c 組成的故障網(wǎng)絡(luò)，除去作為原始節(jié)點的子節(jié)點，剩下的靜態(tài)節(jié)點，的范圍為p 一1 ，因此最多j 的可能組合為：c ；2 p 蘭南( f ea ，2 一，p 一1 其中尸為整數(shù)) ( 2 - 1 )因為把p 分為a ，b 兩組和分成b ，a 兩組的結(jié)果是一樣的，所以j的值應(yīng)該是式( 2 1 ) 的一半，所以最終的組合數(shù)為：，p 一1i 1 厶一- e ，i = 2 9 一1( 2 2 )li = l對于實際電路中一對一的節(jié)點，其組合數(shù)為1 。對于多的節(jié)點網(wǎng)絡(luò)，可以通過分離出一個節(jié)點作為驅(qū)動，檢測其它節(jié)點的方法對組合數(shù)進(jìn)行簡化，這樣可以減化組合數(shù)至p 一- ，進(jìn)而減少對測試矢量的需求。如圖2 5 ，對一個4 節(jié)點網(wǎng)絡(luò)，理論組合數(shù)為7 ，而簡化后為3 。電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文a t 一ci 卜ab l 一dbcd圖2 - 5 、網(wǎng)絡(luò)等效簡化下面討論短路情況。對電源和地之間的短路不做考慮，因為其一電源設(shè)計中沒有采用b s t 技術(shù)，其二b s t 是帶電測試，測試前就要求電路板處于正常的帶電狀態(tài)。所以電源和地短路的故障只能通過其他方法測試。信號線之間的短路對于不同的狀況又分為以下三種類型：1 線與短路：節(jié)點上的驅(qū)動能力是邏輯“0 ”占支配地位，最終節(jié)點表現(xiàn)出來的邏輯值體現(xiàn)為各節(jié)點的“與”邏輯。2 線或短路：節(jié)點上的驅(qū)動能力是邏輯“1 ”占支配地位，最終節(jié)點表現(xiàn)出來的邏輯值體現(xiàn)為各節(jié)點的“或”邏輯。3 弱短路：無法確定節(jié)點上最終得值，但位于“0 1 ”之間。信號線與電源或地之間的短路診斷比較容易。由于電源和地的阻抗非常低，所以對電源短路會使信號固定為電源電平，對地短路使信號固定零電平，即對電源和地短路可以轉(zhuǎn)換成s a 一1 故障和s a 一0 故障。對一個短路故障的發(fā)生，至少存在于兩個節(jié)點之間。對于一個存在7 個節(jié)點的網(wǎng)絡(luò)，假設(shè)在j 個節(jié)點之間發(fā)生短路故障，那么可能發(fā)生的故障總數(shù)就是從1 7 中取j 的組合，即：c ：型( 2 i n )( 2 3 )伽一f ) ! f f對于兩節(jié)點的短路則有：c ：杰：i 1n 1 7 , n 一2 )( 2 4 )。n2 硒2 j n 叫jl p 4 對于多節(jié)點短路有：c 卜2 “一n l( 2 5 )表2 2 列出了兩節(jié)點和多節(jié)點故障的對比：表2 - 2 兩節(jié)點和多節(jié)點短路的對比節(jié)點數(shù)二節(jié)點短路多節(jié)點短路1 2 n ( n 一1 ) 】2 ”一 一l第二章b s t 技術(shù)及應(yīng)用51 01 52 05 0t 04 51 0 51 9 01 2 2 5由表中可以看出對于多節(jié)點短路其可能短路數(shù)目隨著節(jié)點數(shù)目的增加呈指數(shù)上升，測試效率很低，而兩節(jié)點短路故障的數(shù)目是比較合理的。而且多節(jié)點短路實際上可以看作是兩節(jié)點短路的集合，因此可以采用考慮兩節(jié)點之問的短路來代替多節(jié)點短路的情況以提高測試效率。2 3邊界掃描測試數(shù)學(xué)模型邊界掃描測試是將由一定數(shù)量測試向量構(gòu)成的測試矩陣t 輸入電路板a ，依據(jù)響應(yīng)矩陣r 進(jìn)行診斷。測試矩陣中的每個p t v 向量維數(shù)為n ，它對應(yīng)于n 個網(wǎng)絡(luò)布爾輸入，而r 矩陣中的每個p r v 向量的維數(shù)也為n ，它對應(yīng)于n 個網(wǎng)絡(luò)的布爾輸出。因此，實質(zhì)上我們可以將被測電路板看作一個n 輸入n 輸出的系統(tǒng)，其輸入和輸出均為布爾向量。7 = n ，v ；la圖2 - 6 、n 輸入n 輸出系統(tǒng)對于。個一般的n 輸入n 輸出靜態(tài)系統(tǒng)( 輸出、輸出為實數(shù)向量) ，在不考慮噪聲的理想情況下，上述過程可以通過個簡單線性方程表達(dá)：y = d x( 2 - 6 )其中，x 和y 分別代表輸入和輸出矩陣，d 為系統(tǒng)特征矩陣。對n 輸入n 輸出系統(tǒng)的故障診斷問題轉(zhuǎn)化為已知y 和x 矩陣求d 的辨識問題，這實質(zhì)上可以歸結(jié)為矩陣求逆過程。對于邊界掃描測試，可以建立起同式( 2 - 6 ) 相類似的模型。顯然，所需建立的邊界掃描過程描述模型應(yīng)具備如式( 2 7 ) 的形式，其中，r 和t 矩陣分別為測試矩陣和響應(yīng)矩陣，而a矩陣為表征電路板故障特征的矩陣。r = c ，t )( 2 7 )要使式( 2 7 ) 成立，首先必須合理地構(gòu)造短路故障特征矩陣a ，使它同電路板的短路故障之間具備一一映射的關(guān)系。然后還必須構(gòu)造一種合理的算子c ，建立a ，t 矩陣同r 矩陣之間的映射關(guān)系。急焉電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文對于s a l 或s - a - 0 故障，其故障特征矩陣表現(xiàn)為在n n 階矩陣中a i d 對f 網(wǎng)絡(luò)中任意輸入的v ? 其結(jié)果都固定為1 或o 。對于線或短路故障，可以建立具備如下形式的n x n 階短路故障特征矩陣：第第第i 行第j 行鰳飄1o00ooloooo一00_0oo00l對線或故障電路板上第i 個網(wǎng)絡(luò)和第j 個網(wǎng)絡(luò)短路，則故障征兆矩陣中的元素a j 和口，為1 ，矩陣中其余的無故障特征的元素均為0 。此外該矩陣中對角線上的元素為1 ，表示任意一個網(wǎng)絡(luò)同其本身都是短路的。短路故障特征矩陣為對稱布爾矩陣。當(dāng)沒有短路故障發(fā)生時。故障特征矩陣退化為單位布爾矩陣i ，即無故障特征矩陣為單位矩陣( 單位布爾矩陣定義為矩陣 4 ， ，其中巧，= 1 ，若i - - - j ：毒，= o ，若i j ) 。顯然，故障特征矩陣能準(zhǔn)確地描述各網(wǎng)絡(luò)之間是否存在短路，它同短路故障之間存在一一對應(yīng)的關(guān)系。在建立了上述短路故障特征矩陣后，下一步的工作是尋找一個合理的算子建立r 與a 和t 矩陣之間的映射。對線或故障，利用布爾矩陣乘法可將該式轉(zhuǎn)化為如下形式：s j = u ”，v o j上式中，向量i o0 1 l o i 同短路故障特征矩陣a 的行向量具備同樣的形式。因此，我們可以利用布爾矩陣乘法構(gòu)造邊界掃描測試的布爾矩陣模型：r = 爿 t( 2 - 9 )符號 代表布爾矩陣乘法運(yùn)算。布爾矩陣是建立在布爾代數(shù)基礎(chǔ)上的矩陣?yán)碚?，布爾矩陣的加法和乘法操作同實?shù)矩陣相類似，區(qū)別在于螺曙礙。一曲，+唧夠一陋牡小+一嵋+中ooh r第二章b s t 技術(shù)及應(yīng)用所進(jìn)行的操作為布爾運(yùn)算。布爾矩陣的轉(zhuǎn)置、對稱性等概念與實數(shù)矩陣相同。式( 2 9 ) 的含義為，邊界掃描測試的響應(yīng)矩陣r 為短路故障特征矩陣a 同測試矩陣t 的布爾積。此時，邊界掃描測試診斷過程可以對應(yīng)于已知r 和t 矩陣求a 矩陣的識別問題。2 4測試算法及故障診斷邊界掃描測試中考慮的因素主要有兩個：一個是測試所需要的時間，它體現(xiàn)測試的總體代價和費(fèi)用；另一個是故障的覆蓋率以及故障定位的精度，它體現(xiàn)出測試的效用。在邊界掃描測試過程中，測試時間取決于邊界掃描測試向量的數(shù)量，即測試向量集的大小( 緊湊性指標(biāo)) ；而邊界掃描測試的故障覆蓋率和故障定位精度則取決于測試向量集的故障診斷能力( 完備性指標(biāo)) 。本節(jié)就互連測試算法以及對故障的診斷定位作一定討論。2 4 ，1 算法h k a u t z 于1 9 7 4 發(fā)表在1 e e e 計算機(jī)學(xué)報上的文章首次提出了線網(wǎng)中故障測試的方法，稱二進(jìn)制計數(shù)( c s a ) 算法。給出了檢測網(wǎng)絡(luò)短路的充分條件是v o ( i = l ，2 n ) 必須唯，可以得出檢測n 個網(wǎng)絡(luò)互連故障的最優(yōu)p t v 矢量數(shù)為( 1 0 9 ，) ”】。c s a 算法是在無源測試中提出的，適于可接觸網(wǎng)絡(luò)的脫機(jī)測試，可用于稀疏p c b 互連測試中。該方法如果用于邊界掃描測試，這種檢測算法對呆滯型故障存在混疊癥候。1 9 8 2 年p g o e l 和m t i c m a h o n 針對芯片在位測試對c s a 算法進(jìn)行修改，增加全0 和全ls t v ，使其具有檢測呆滯型故障的能力。這樣測試矢量p t v 增加為( 1 0 9 ，( + 2 ) ) m ，稱為改進(jìn)的二進(jìn)制計數(shù)算法( m c s a ) 。1 9 8 7 年p t w a g n e r 就g o e l 和b c m a h o n 算法在故障診斷上的局限，增加互補(bǔ)的測試矢量集，提出了p t v 為( 2 l o g ，( n + 2 ) ) o0 1 的算法，增加了故障區(qū)分的能力。1 9 9 2 年w u t u n gc h e n g 等人在不降低診斷能力的條件下，對測試矢量進(jìn)行了壓縮，系統(tǒng)地提出了三種優(yōu)化的測試矢量生成算法 i u 。表2 - 3 是以上幾種算法針對8 網(wǎng)絡(luò)生成的測試矢量集，表2 - 4 列出了一定數(shù)量的p t v 所能測試的網(wǎng)絡(luò)數(shù)。表2 - 3 幾神經(jīng)典算法針對8 網(wǎng)絡(luò)生成的測試矢量集網(wǎng)c s aw a g n e rw u t u n gc h e n gm c s a絡(luò)檢測檢測診斷法1法2法36電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文1 3j0 0 00 0 0 10 0 0 l1 1 1 00 0 l l l0 0 0 00 0 01 11 32o o l0 0 1 00 0 1 01 1 0 l0 1 1 1 01 0 0 00 0 11 00 1 00 0 1 l0 0 1 11 1 0 00 1 1 0 10 1 0 00 1 01 0n40 l l0 1