3原子吸收光譜分析.ppt

4 2原子吸收光譜分析 AAS 4 2 1概述 原子吸收光譜分析 AtomicAbsorptionSpectrometry AAS 又稱原子吸收分光光度分析 原子吸收光譜分析是基于試樣蒸氣相中被測(cè)元素的基態(tài)原子對(duì)由光源發(fā)出的該原子的特征性窄頻輻射產(chǎn)生共振吸收 其吸光度在一定范圍內(nèi)與蒸氣相中被測(cè)元素的基態(tài)原子濃度成正比 以此測(cè)定試樣中該元素含量的一種儀器分析方法 原子吸收分光光度法具有以下特點(diǎn) 1 靈敏度高火焰原子吸收分光光度法測(cè)定大多數(shù)金屬元素的相對(duì)靈敏度為1 0 10 8 1 0 10 10g mL 1 非火焰原子吸收分光光度法的絕對(duì)靈敏度為1 0 10 12 1 0 10 14g 這是由于原子吸收分光光度法測(cè)定的是占原子總數(shù)99 以上的基態(tài)原子 而原子發(fā)射光譜測(cè)定的是占原子總數(shù)不到1 的激發(fā)態(tài)原子 所以前者的靈敏度和準(zhǔn)確度比后者高的多 2 精密度好由于溫度的變化對(duì)測(cè)定影響較小 該法具有良好的穩(wěn)定性和重現(xiàn)性 精密度好 一般儀器的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差為1 2 性能好的儀器可達(dá)0 1 0 5 3 選擇性好 方法簡(jiǎn)便由光源發(fā)出特征性入射光很簡(jiǎn)單 且基態(tài)原子是窄頻吸收 元素之間的干擾較小 可不經(jīng)分離在同一溶液中直接測(cè)定多種元素 操作簡(jiǎn)便 4 準(zhǔn)確度高 分析速度快測(cè)定微 痕量元素的相對(duì)誤差可達(dá)0 1 0 5 分析一個(gè)元素只需數(shù)十秒至數(shù)分鐘 5 應(yīng)用廣泛可直接測(cè)定巖礦 土壤 大氣飄塵 水 植物 食品 生物組織等試樣中70多種微量金屬元素 還能用間接法測(cè)度硫 氮 鹵素等非金屬元素及其化合物 該法已廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù) 化工 生物技術(shù) 食品科學(xué) 食品質(zhì)量與安全 地質(zhì) 國(guó)防 衛(wèi)生檢測(cè)和農(nóng)林科學(xué)等各部門(mén) 對(duì)原子吸收分析法基本理論的討論 主要是解決兩個(gè)方面的問(wèn)題 基態(tài)原子的產(chǎn)生以及它的濃度與試樣中該元素含量之間的定量關(guān)系 基態(tài)原子吸收光譜的特性及基態(tài)原子的濃度與吸光度之間的關(guān)系 4 2 2原子吸收光譜分析的基本原理 1原子吸收光譜的產(chǎn)生基態(tài)原子吸收其共振輻射 外層電子由基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)而產(chǎn)生原子吸收光譜 原子吸收光譜位于光譜的紫外區(qū)和可見(jiàn)區(qū) 2原子吸收光譜的譜線輪廓 原子吸收光譜線并不是嚴(yán)格地幾何意義上的線 幾何線無(wú)寬度 而是有相當(dāng)窄的頻率或波長(zhǎng)范圍 即有一定的寬度 一束不同頻率強(qiáng)度為I0的平行光通過(guò)厚度為l的原子蒸氣 一部分光被吸收 透過(guò)光的強(qiáng)度Iv服從吸收定律Iv I0 exp kvl 4 34 式中kv是基態(tài)原子對(duì)頻率為v的光的吸收系數(shù) 不同元素原子吸收不同頻率的光 透過(guò)光強(qiáng)度對(duì)吸收光頻率作圖 圖4 15Iv與v的關(guān)系圖4 16原子吸收光譜輪廓圖 半寬度受到很多因素的影響 1 自然寬度沒(méi)有外界影響 譜線仍有一定的寬度稱為自然寬度 它與激發(fā)態(tài)原子的平均壽命有關(guān) 平均壽命愈長(zhǎng) 譜線寬度愈窄 不同譜線有不同的自然寬度 在多數(shù)情況下約為10 5nm數(shù)量級(jí) 2 Doppler 多普勒 變寬 通常在原子吸收光譜法測(cè)定條件下 Doppler變寬是影響原子吸收光譜線寬度的主要因素 Doppler寬度是由于原子熱運(yùn)動(dòng)引起的 又稱為熱變寬 從物理學(xué)中可知 無(wú)規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)的發(fā)光的原子運(yùn)動(dòng)方向背離檢測(cè)器 則檢測(cè)器接收到的光的頻率較靜止原子所發(fā)的光的頻率低 反之 發(fā)光原子向著檢測(cè)器運(yùn)動(dòng) 檢測(cè)器接受光的頻率較靜止原子發(fā)的光頻率高 這就是Doppler效應(yīng) 4 35 3 壓力變寬 當(dāng)原子吸收區(qū)氣體壓力變大時(shí) 相互碰撞引起的變寬是不可忽略的 原子之間的相互碰撞導(dǎo)致激發(fā)態(tài)原子平均壽命縮短 引起譜線變寬 根據(jù)與其碰撞的原子不同 又可分為L(zhǎng)orentz變寬及Holtsmark變寬兩種 Lorentz 勞倫茨 變寬是指被測(cè)元素原子和其它種粒子碰撞引起的變寬 它隨原子區(qū)內(nèi)氣體壓力增大和溫度升高而增大 Holtsmark 赫魯茲馬克 變寬是指和同種原子碰撞而引起的變寬 也稱為共振變寬 只有在被測(cè)元素濃度高時(shí)才起作用 在原子吸收法中可忽略不計(jì) Lorentz變寬與Doppler變寬有相同的數(shù)量級(jí) 也可達(dá)10 3nm 4 自吸變寬 由自吸現(xiàn)象而引起的譜線變寬稱為自吸變寬 光源空心陰極燈發(fā)射的共振線被燈內(nèi)同種基態(tài)原子所吸收產(chǎn)生自吸現(xiàn)象 從而使譜線變寬 燈電流愈大 自吸變寬愈嚴(yán)重 此外 由于外界電場(chǎng)或帶電粒子 離子形成的電場(chǎng)及磁場(chǎng)的作用 使譜線變寬稱為場(chǎng)致變寬 這種變寬影響不大 3原子吸收光譜的測(cè)量 1 積分吸收在吸收線輪廓內(nèi) 吸收系數(shù)的積分稱為積分吸收系數(shù) 簡(jiǎn)稱為積分吸收 它表示吸收的全部能量 從理論上可以得出 積分吸收與原子蒸氣中吸收輻射的原子數(shù)成正比 數(shù)學(xué)表達(dá)式為 4 38 式中 e為電子電荷 m為電子質(zhì)量 c為光速 N0為單位體積內(nèi)基態(tài)原子數(shù) f為振子強(qiáng)度 即能被入射輻射激發(fā)的每個(gè)原子的平均電子數(shù) 它正比于原子對(duì)特定波長(zhǎng)輻射的吸收幾率 式 4 38 是原子吸收光譜法的重要理論依據(jù) 2 峰值吸收 1955年WalshA提出 在溫度不太高的穩(wěn)定火焰條件下 峰值吸收系數(shù)與火焰中被測(cè)元素的原子濃度也成正比 吸收線中心波長(zhǎng)處的吸收系數(shù)K0為峰值吸收系數(shù) 簡(jiǎn)稱峰值吸收 前面指出 在通常原子吸收測(cè)定條件下 原子吸收線輪廓取決于Doppler寬度 吸收系數(shù)為 4 39 積分式 4 39 得將式 4 38 代入 得峰值吸收系數(shù)與原子濃度成正比 只要能測(cè)出K0就可得到N0 4 40 4 41 3 銳線光源 峰值吸收的測(cè)定是至關(guān)重要的 在分子光譜中光源都是使用連續(xù)光譜 連續(xù)光譜的光源很難測(cè)準(zhǔn)峰值吸收 Walsh還提出用銳線光源測(cè)量峰值吸收 從而解決了原子吸收的實(shí)用測(cè)量問(wèn)題 銳線光源是發(fā)射線半寬度遠(yuǎn)小于吸收線半寬度的光源 如空心陰極燈 在使用銳線光源時(shí) 光源發(fā)射線半寬度很小 并且發(fā)射線與吸收線的中心頻率一致 這時(shí)發(fā)射線的輪廓可看作一個(gè)很窄的矩形 即峰值吸收系數(shù)Kv在此輪廓內(nèi)不隨頻率而改變 吸收只限于發(fā)射線輪廓內(nèi) 這樣 一定的K0即可測(cè)出一定的原子濃度 見(jiàn)圖4 17 圖4 17峰值吸收測(cè)量示意圖 4 實(shí)際測(cè)量 強(qiáng)度為I0的某一波長(zhǎng)的輻射通過(guò)均勻的原子蒸氣時(shí) 根據(jù)吸收定律 有I I0 exp Kvl 式中 I0與I分別為入射光與透射光的強(qiáng)度 Kv為峰值吸收系數(shù) l為原子蒸氣吸收層厚度 當(dāng)在原子吸收線中心頻率附近一定頻率范圍 v測(cè)量 則 4 42 4 43 使用銳線光源 v很小 用中心頻率處的峰值吸收系數(shù)K0來(lái)表示原子對(duì)輻射的吸收 吸光度A為 4 44 將 4 41 式代入 4 44 式 得到 4 55 在原子吸收測(cè)定條件下 如前所述原子蒸氣中基態(tài)原子數(shù)N0近似地等于原子總數(shù)N 在實(shí)際測(cè)量中 要測(cè)定的是試樣中某元素的含量而不是蒸氣中的原子總數(shù) 但是 實(shí)驗(yàn)條件一定 被測(cè)元素的濃度c與原子蒸氣中原子總數(shù)保持一定的比例關(guān)系 即N0 ac 4 56 式中a為比例常數(shù)代入式 4 55 中 則實(shí)驗(yàn)條件一定 各有關(guān)的參數(shù)都是常數(shù) 吸光度為A kc 4 58 式中k為常數(shù) 4 58 式為原子吸收測(cè)量的基本關(guān)系式 4 57 4基態(tài)原子數(shù)與原子吸收定量基礎(chǔ) 在通常的原子吸收測(cè)定條件下 原子蒸氣中基態(tài)原子數(shù)近似地等于總原子數(shù) 在原子蒸氣中 包括被測(cè)元素原子 可能會(huì)有基態(tài)與激發(fā)態(tài)存在 根據(jù)熱力學(xué)原理 在一定溫度下達(dá)到熱平衡時(shí) 基態(tài)與激發(fā)態(tài)的原子數(shù)的比例遵循Boltzmann分布定律 式中 Ni與N0分別為激發(fā)態(tài)與基態(tài)的原子數(shù) gi與g0為激發(fā)態(tài)與基態(tài)能級(jí)的統(tǒng)計(jì)權(quán)重 它表示能級(jí)的簡(jiǎn)并度 k為Boltzmann常數(shù) 其值為1 38 10 23J K 1 T為熱力學(xué)溫度 Ei為激發(fā)能 在原子吸收光譜法中 原子化溫度一般小于3000K 大多數(shù)元素的最強(qiáng)共振線都低于600nm Ni N0值絕大部分都在10 3以下 激發(fā)態(tài)和基態(tài)原子數(shù)之比小于千分之一 激發(fā)態(tài)原子可以忽略 因此 可以認(rèn)為 基態(tài)原子數(shù)N0近似地等于總原子數(shù)N 4 2 3原子吸收分光光度計(jì) 原子吸收分光光度計(jì)由光源 原子化器 分光器 檢測(cè)系統(tǒng)等幾部分組成 基本構(gòu)造見(jiàn)圖4 18 圖4 18原子吸收分光光度計(jì)基本構(gòu)造示意圖 1光源 光源的功能是發(fā)射被測(cè)元素的特征共振輻射 對(duì)光源的基本要求是 發(fā)射的共振輻射的半寬度要明顯小于吸收線的半寬度 輻射強(qiáng)度大 背景低 低于特征共振輻射強(qiáng)度的1 穩(wěn)定性好 30min之內(nèi)漂移不超過(guò)1 噪聲小于0 1 使用壽命長(zhǎng)于5A h 空心陰極燈放電是一種特殊形式的低壓輝光放電 放電集中于陰極空腔內(nèi) 當(dāng)兩極之間施加幾百伏電壓時(shí) 便產(chǎn)生輝光放電 在電場(chǎng)作用下 電子在飛向陽(yáng)極的途中 與載氣原子碰撞并使之電離 放出二次電子 使電子與正離子數(shù)目增加 以維持放電 正離子從電場(chǎng)獲得動(dòng)能 如果正離子的動(dòng)能足以克服金屬陰極表面的晶格能 當(dāng)其撞擊在陰極表面時(shí) 就可以將原子從晶格中濺射出來(lái) 除濺射作用之外 陰極受熱也要導(dǎo)致陰極表面元素的熱蒸發(fā) 濺射與蒸發(fā)出來(lái)的原子進(jìn)入空腔內(nèi) 再與電子 原子 離子等發(fā)生第二類碰撞而受到激發(fā) 發(fā)射出相應(yīng)元素的特征共振輻射 2原子化器 原子化器的功能是提供能量 使試樣干燥 蒸發(fā)和原子化 在原子吸收光譜分析中 試樣中被測(cè)元素的原子化是整個(gè)分析過(guò)程的關(guān)鍵環(huán)節(jié) 實(shí)現(xiàn)原子化的方法 最常用有兩種 一種是火焰原子化法 是原子光譜分析中最早使用的原子化方法 至今仍在廣泛地被應(yīng)用 另一種是非火焰原子化法 其中應(yīng)用最廣的是石墨爐電熱原子化法 1 火焰原子化器 火焰原子化法中常用的預(yù)混合型原子化器 其結(jié)構(gòu)如圖4 20所示 這種原子化器由霧化器 混合室和燃燒器組成 圖4 20預(yù)混合型火焰原子化器示意圖 2 非火焰原子化器 非火焰原子化器中 常用的是管式石墨爐原子化器 其結(jié)構(gòu)如圖4 21所示 圖4 21管式石墨爐原子化器示意圖 石墨爐原子化器的操作分為干燥 灰化 原子化和凈化4步 由微機(jī)控制實(shí)行程序升溫 圖4 22為一程序升溫過(guò)程的示意圖 圖4 22無(wú)火焰原子化器程序升溫過(guò)程 3 低溫原子化器 低溫原子化是利用某些元素 如Hg 本身或元素的氫化物 如AsH3 在低溫下的易揮發(fā)性 將其導(dǎo)入氣體流動(dòng)吸收池內(nèi)進(jìn)行原子化 目前通過(guò)該原子化方式測(cè)定的元素有Hg As Sb Se Sn Bi Ge Pb Te等 生成氫化物是一個(gè)氧化還原過(guò)程 所生成的氫化物是共價(jià)分子型化合物 沸點(diǎn)低 易揮發(fā)分離分解 以As為例 反應(yīng)過(guò)程可表示如下 AsCl3 4NaBH4 HCl 8H2O AsH3 4KCI 4HBO2 13H2AsH3在熱力學(xué)上是不穩(wěn)定的 在900 溫度下就能分解出自由As原子 實(shí)現(xiàn)快速原子化 3分光器 分光器由入射和出射狹縫 反射鏡和色散元件組成 其作用是將所需要的共振吸收線分離出來(lái) 分光器的關(guān)鍵部件是色散元件 現(xiàn)在商品儀器都是使用光柵 原子吸收光譜儀對(duì)分光器的分辨率要求不高 曾以能分辨開(kāi)鎳三線Ni230 003 Ni231 603 Ni231 096nm為標(biāo)準(zhǔn) 后采用Mn279 5和Mn279 8nm代替Ni三線來(lái)檢定分辨率 光柵放置在原子化器之后 以阻止來(lái)自原子化器內(nèi)的所有不需要的輻射進(jìn)入檢測(cè)器 4檢測(cè)系統(tǒng) 原子吸收光譜儀中廣泛使用的檢測(cè)器是光電倍增管 最近一些儀器也采用CCD作為檢測(cè)器 4 2 4干擾及其消除方法 1物理干擾物理干擾是指試樣在轉(zhuǎn)移 蒸發(fā)過(guò)程中任何物理因素變化而引起的干擾效應(yīng) 屬于這類干擾的因素有 試液的粘度 溶劑的蒸汽壓 霧化氣體的壓力等 物理干擾是非選擇性干擾 對(duì)試樣各元素的影響基本是相似的 配制與被測(cè)試樣相似的標(biāo)準(zhǔn)樣品 是消除物理干擾的常用的方法 在不知道試樣組成或無(wú)法匹配試樣時(shí) 可采用標(biāo)準(zhǔn)加入法或稀釋法來(lái)減小和消除物理干擾 2化學(xué)干擾 化學(xué)干擾是指待測(cè)元素與其它組分之間的化學(xué)作用所引起的干擾效應(yīng) 它主要影響待測(cè)元素的原子化效率 是原子吸收分光光度法中的主要干擾來(lái)源 它是由于液相或氣相中被測(cè)元素的原子與干擾物質(zhì)組成之間形成熱力學(xué)更穩(wěn)定的化合物 從而影響被測(cè)元素化合物的解離及其原子化 消除化學(xué)干擾的方法有 化學(xué)分離 使用高溫火焰 加入釋放劑和保護(hù)劑 使用基體改進(jìn)劑等 3電離干擾 在高溫下原子電離 使基態(tài)原子的濃度減少 引起原子吸收信號(hào)降低 此種干擾稱為電離干擾 電離效應(yīng)隨溫度升高 電離平衡常數(shù)增大而增大 隨被測(cè)元素濃度增高而減小 加入更易電離的堿金屬元素 可以有效地消除電離干擾 4光譜干擾 光譜干擾包括譜線重疊 光譜通帶內(nèi)存在非吸收線 原子化池內(nèi)的直流發(fā)射 分子吸收 光散射等 當(dāng)采用銳線光源和交流調(diào)制技術(shù)時(shí) 前3種因素一般可以不予考慮 主要考慮分子吸收和光散射地影響 它們是形成光譜背景的主要因素 分子吸收干擾是指在原子化過(guò)程中生成的氣體分子 氧化物及鹽類分子對(duì)輻射吸收而引起的干擾 光散射是指在原子化過(guò)程中產(chǎn)生的固體微粒對(duì)光產(chǎn)生散射 使被散射的光偏離光路而不為檢測(cè)器所檢測(cè) 導(dǎo)致吸光度值偏高 在石墨爐原子吸收法中 背景吸收的影響比火焰原子吸收法嚴(yán)重 若不扣除背景 有時(shí)根本無(wú)法進(jìn)行測(cè)定 測(cè)量時(shí)必須予以校正 1 用鄰近非共振線校正背景 先用分析線測(cè)量原子吸收與背景吸收的總吸光度 再用鄰近線測(cè)量背景吸收的吸光度 兩次測(cè)量值相減即得到校正了背景之后原子吸收的吸光度 非共振線與分析線波長(zhǎng)相近 可以模擬分析線的背景吸收 但這種方法只適用于分析線附近背景分布比較均勻的場(chǎng)合 先用分析線測(cè)量原子吸收與背景吸收的總吸光度 再用鄰近線測(cè)量背景吸收的吸光度 兩次測(cè)量值相減即得到校正了背景之后原子吸收的吸光度 非共振線與分析線波長(zhǎng)相近 可以模擬分析線的背景吸收 但這種方法只適用于分析線附近背景分布比較均勻的場(chǎng)合 2 連續(xù)光源校正背景 先用銳線光源測(cè)量分析線的原子吸收和背景吸收的總吸光度 再用氘燈 紫外區(qū) 或碘鎢燈 氙燈 可見(jiàn)區(qū) 測(cè)量同一波長(zhǎng)處的背景吸收 由于原子吸收譜線波長(zhǎng)范圍僅10 3 10 2nm 所以原子吸收可以忽略 計(jì)算兩次測(cè)量的吸光度之差 即得到校正了背景的原子吸收 由于商品儀器多采用氘燈為連續(xù)光源扣除背景 故此法亦常稱為氘燈扣除背景法 3 塞曼效應(yīng)校正背景塞曼效應(yīng)校正背景是基于光的偏振特性 分為光源調(diào)制法和吸收線調(diào)制法兩大類 后者應(yīng)用較廣 調(diào)制吸收線的方式有恒定磁場(chǎng)調(diào)制方式和可變磁場(chǎng)調(diào)制方式 兩種調(diào)制方式儀器的光路如圖4 23和圖4 24所示 圖4 23恒定磁場(chǎng)調(diào)制方式光路圖 圖4 24可變磁場(chǎng)調(diào)制方式光路圖 塞曼效應(yīng)校正背景不受波長(zhǎng)限制 可校正吸光度高達(dá)1 5 2 0的背景 而氘燈只能校正吸光度小于1的背景 背景校正的準(zhǔn)確度較高 恒定磁場(chǎng)調(diào)制方式 測(cè)量靈敏度比常規(guī)原子吸收法有所降低 可變磁場(chǎng)調(diào)制方式的測(cè)量靈敏度與常規(guī)原子吸收法相當(dāng) 4 自吸效應(yīng)校正背景 低電流脈沖供電時(shí) 空心陰極燈發(fā)射銳線光譜 測(cè)定的是原子吸收和背景吸收的總吸光度 高電流脈沖供電時(shí) 空心陰極燈發(fā)射線變寬 當(dāng)空心陰極燈內(nèi)積聚的原子濃度足夠高時(shí) 發(fā)射線產(chǎn)生自吸 在極端的情況下出現(xiàn)譜線自蝕 這是測(cè)得的是背景吸收的吸光度 上述兩種脈沖供電條件下測(cè)得的吸光度之差 即為校正了背景吸收的原子吸收的吸光度 4 2 5原子吸收光譜分析的實(shí)驗(yàn)技術(shù) 1測(cè)量條件的選擇 1 分析線通常選用共振吸收線為分析線 測(cè)定高含量元素時(shí) 可以選用靈敏度較低的非共振吸收線為分析線 2 狹縫寬度 狹縫寬度影響光譜通帶寬度與檢測(cè)器接受的能量 原子吸收光譜分析中 光譜重疊干擾的幾率小 可以允許使用較寬的狹縫 調(diào)節(jié)不同的狹縫寬度 測(cè)定吸光度隨狹縫寬度而變化 當(dāng)有其他的譜線或非吸收光進(jìn)入光譜通帶內(nèi) 吸光度將立即減小 不引起吸光度減小的最大狹縫寬度 即為應(yīng)選取的合適的狹縫寬度 3 空心陰極燈的工作電流 空心陰極燈一般需要預(yù)熱10 30min才能達(dá)到穩(wěn)定輸出 燈電流過(guò)小 放電不穩(wěn)定 故光譜輸出不穩(wěn)定 且光譜輸出強(qiáng)度小 燈電流過(guò)大 發(fā)射譜線變寬 導(dǎo)致靈敏度下降 校正曲線彎曲 燈壽命縮短 選用燈電流的一般原則是 在保證有足夠強(qiáng)且穩(wěn)定的光強(qiáng)輸出條件下 盡量使用較低的工作電流 通常以空心陰極燈上標(biāo)明的最大電流的1 2 2 3作為工作電流 在具體的分析場(chǎng)合 最適宜的工作電流由實(shí)驗(yàn)確定 4 原子化條件的選擇 在火焰原子化法中 火焰類型和特征是影響原子化效率的主要因素 對(duì)低 中溫元素 使用空氣 乙炔火焰 對(duì)高溫元素 采用氧化亞氮 乙炔高溫火焰 對(duì)分析線位于短波區(qū) 200nm以下 的元素 使用空氣 氫火焰是合適的 5 進(jìn)樣量 進(jìn)樣量過(guò)小 吸收信號(hào)弱 不便于測(cè)量 進(jìn)樣量過(guò)大 在火焰原子化法中 對(duì)火焰產(chǎn)生冷卻效應(yīng) 在石墨爐原子化法中 會(huì)增加除殘的困難 在實(shí)際工作中 應(yīng)測(cè)定吸光度隨進(jìn)樣量的變化 達(dá)到最滿意的吸光度的進(jìn)樣量 即為應(yīng)選擇的進(jìn)樣量 2定量分析方法 1 標(biāo)準(zhǔn)曲線法配制一組合適的標(biāo)準(zhǔn)溶液 由低濃度到高濃度 依次噴入火焰 分別測(cè)定其吸光度A 以測(cè)得的吸光度為縱坐標(biāo) 待測(cè)元素的含量或濃度c為橫坐標(biāo) 繪制A c標(biāo)準(zhǔn)曲線 在相同的試驗(yàn)條件下 噴入待測(cè)試樣溶液 根據(jù)測(cè)得的吸光度 由標(biāo)準(zhǔn)曲線求出試樣中待測(cè)元素的含量 在使用本法時(shí)要注意以下幾點(diǎn) 所配制的標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度 應(yīng)在吸光度與濃度呈直線關(guān)系的范圍內(nèi) 1 標(biāo)準(zhǔn)溶液與試樣溶液都應(yīng)用相同的試劑處理 2 應(yīng)該扣除空白值 3 在整個(gè)分析過(guò)程中操作條件應(yīng)保持不變 4 由于噴霧效率和火焰狀態(tài)經(jīng)常變動(dòng) 標(biāo)準(zhǔn)曲線的斜率也隨之變動(dòng) 因此 每次測(cè)定前應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)溶液對(duì)吸光度進(jìn)行檢查和校正 2 標(biāo)準(zhǔn)加入法 取相同體積的試樣溶液兩份 分別移入容量瓶A及B中 另取一定量的標(biāo)準(zhǔn)溶液加入B中 然后將兩份溶液稀釋至刻度 測(cè)出A及B兩溶液的吸光度 設(shè)試樣中待測(cè)元素 容量瓶A中 的濃度為cx 加入標(biāo)準(zhǔn)溶液 容量瓶B中 的濃度為c0 A溶液的吸光度為Ax B溶液的吸光度為A0 則可得 Ax kcxA0 k c0 cx 由上兩式得 cx c0 實(shí)際測(cè)定中 都采用下述作圖法 取若干份 例如四份 體積相同的試樣溶液 從第二份開(kāi)始按比例加入不同量的待測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液 然后用溶劑稀釋至一定體積 設(shè)試樣中待測(cè)元素的濃度為cx 加入標(biāo)準(zhǔn)溶液后濃度分別為cx c0 cx 2c0 cx 4c0 分別測(cè)得其吸光度 Ax A1 A2及A3 以A對(duì)加入量作圖 得圖4 25所示的直線 這時(shí)曲線并不通過(guò)原點(diǎn) 顯然 相應(yīng)的截距所反映的吸收值正是試樣中待測(cè)元素所引起的效應(yīng) 如果外延此曲線使與橫坐標(biāo)相交 相