《可測性設(shè)計》PPT課件

系統(tǒng)可測性設(shè)計技術(shù) 第二部分計劃學時 總20航空航天學院何羚heling 前言 可測性是什么 1 相關(guān)技術(shù)發(fā)展歷程 2 授課內(nèi)容 3 要求和期望 4 1 什么是可測性 測試性 定義可測性 Testability 亦稱測試性 系統(tǒng)及設(shè)備能及時 準確地確定其工作狀態(tài) 可工作 不可工作或工作性能下降 并隔離其內(nèi)部故障的一種設(shè)計特性 通常用故障檢測率 FDR 故障隔離率 FIR 虛警率 FAR 度量 廣義角度上 可測性的內(nèi)涵主要包括 自動測試設(shè)備 AutomaticTestEquipment ATE 機內(nèi)測試 Built InTest BIT 重要性可測性與維修性 可靠性密切相關(guān) 具有良好的測試性將減少故障檢測及隔離時間 進而減少維修時間 改善維修性 系統(tǒng)可測性與系統(tǒng)可靠性共同決定了系統(tǒng)的可信性應(yīng)用測試性設(shè)計 DFT 是實現(xiàn)電子系統(tǒng) 電子設(shè)備故障檢測和故障隔離的重要手段 在復雜系統(tǒng)中的應(yīng)用可極大地提高系統(tǒng)的可靠性 可維修性 如要求系統(tǒng)具有高可靠性 測試性設(shè)計是系統(tǒng)開發(fā)的關(guān)鍵 Why HowDFT Why測試和評價復雜系統(tǒng)是困難的事 僅由輸入 輸出特性檢測來評估系統(tǒng)整體性能的方法不適于復雜系統(tǒng)沒有可測試性設(shè)計的后果 使用前難以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計缺陷 工作時難以檢測和診斷故障采用可測試性設(shè)計可增加系統(tǒng)的可靠性 提高產(chǎn)品質(zhì)量 并減少產(chǎn)品投放市場的時間及測試費用How從規(guī)范開始 必須在規(guī)范中增加系統(tǒng)級測試要求 以增加可控性和可觀性 而后 將獨立的測試要求轉(zhuǎn)變?yōu)閷嶋H的軟 硬件要求系統(tǒng)劃分 明確分離系統(tǒng)的功能和實際軟 硬件的運行插入測試功能 單個模塊測試 模塊間交互測試 系統(tǒng)測試 DesignForTestability 2 相關(guān)技術(shù)的發(fā)展歷程 20世紀80年代 提出 測試性 概念 測試性成為與可靠性 維修性并列的獨立學科 在復雜系統(tǒng) 大型裝備的研制 生產(chǎn)和使用中 運用測試性設(shè)計技術(shù)對系統(tǒng)進行總體測試性分析 設(shè)計與驗證 已經(jīng)成為通信 導航 航空航天等技術(shù)領(lǐng)域的必然 20世紀70年代 F Liour等 設(shè)備自動測試性設(shè)計 1975年 國外研究歷程 20世紀70年代以后 半導體集成電路及數(shù)字技術(shù)迅速發(fā)展 設(shè)備診斷能力 機內(nèi)測試 BIT 成為測試性設(shè)計的重要內(nèi)容 BIT技術(shù)也成為改進電子設(shè)備維修性的重要途徑 國外廣泛開展了測試性 BIT方面的研究 1978 12 美國防部頒發(fā) 設(shè)備或系統(tǒng)的BIT 外部測試故障隔離和測試性特性要求的驗證及評價 MIL STD 471通告2 20世紀80年代以后 計算機部件小型化和集成化程度越來越高 可測性設(shè)計和BIT技術(shù)迅速發(fā)展并獲得廣泛應(yīng)用1985 美國防部頒發(fā) 電子系統(tǒng)及設(shè)備的測試性大綱 MIL STD 2165 1993 2頒發(fā) 系統(tǒng)和設(shè)備的測試性大綱 MIL STD 2165A 美 英等國相繼開展診斷和人工智能技術(shù)應(yīng)用的研究 以提高武器系統(tǒng)的故障診斷能力 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 國內(nèi)開展測試性 BIT的研究與推廣應(yīng)用比國外晚 近年來進步速度快開展測試性 BIT設(shè)計分析工作 開發(fā)測試性計算機輔助分析軟件開展了較系統(tǒng)的研究 除數(shù)字電路測試性 BIT領(lǐng)域外的文獻 系統(tǒng)級可測試性理論研究 邵高平 系統(tǒng)級可測試性設(shè)計的研究 J 申宇皓等 系統(tǒng)級可測試性設(shè)計 J 航空設(shè)備和電子設(shè)備領(lǐng)域 楊冬健等 航空設(shè)備的測試性設(shè)計和驗證技術(shù)概述 J 魏忠林等 電子設(shè)備測試性設(shè)計及系統(tǒng)劃分的研究 J 張向榮 電子系統(tǒng)維修性 測試性分析與設(shè)計方法討論 J 王立梅等 航空電子系統(tǒng)的測試性及仿真研究 J 黃考利等 地空導彈系統(tǒng)可測試性設(shè)計 J 軍用裝備領(lǐng)域裝備可測性設(shè)計與維修診斷一體化方面 連光耀等 裝備測試性設(shè)計關(guān)鍵技術(shù)研究 J 連光耀等 復雜電子裝備智能測試性設(shè)計技術(shù) J 連光耀等 裝備測試性設(shè)計與維修診斷一體化關(guān)鍵技術(shù)研究 J 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 續(xù)1 在重要系統(tǒng)和設(shè)備研制中明確提出了測試性要求 使其故障率降低 檢測率提高 并延長全壽命周期 降低全壽命周期費用80年代中期 對新研武器裝備提出測試性設(shè)計要求 90年代后期 對所有武器裝備提出測試性要求 特別是軍用飛機上電子設(shè)備國軍標 裝備測試性大綱 GJB 2547 95 測試與診斷術(shù)語 GJB 3385 98 等行業(yè)標準 QJ 3050 航天產(chǎn)品故障模式 影響及危害性分析指南 QJ 3051 航天產(chǎn)品測試性設(shè)計準則 等 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 續(xù)2 目前國內(nèi)測試性 BIT技術(shù)知識尚不夠普及 軟件工具開發(fā)和實用經(jīng)驗方面與先進國家還有差距大部分針對數(shù)字電路領(lǐng)域 對于軍用裝備以及航空航天等復雜系統(tǒng)的系統(tǒng)級可測性設(shè)計的研究仍然嫌少尤應(yīng)在人工智能應(yīng)用 計算機輔助工具開發(fā)和自動化測試性驗證技術(shù)方面開展研究以航天產(chǎn)品為例 系統(tǒng)測試性設(shè)計存在的問題 在頂層設(shè)計中對系統(tǒng)測試性有總體考慮 但缺乏明確的技術(shù)途徑 少有具體的設(shè)計要求和指標部分分系統(tǒng)或單機的設(shè)計人員自發(fā)進行測試性設(shè)計 而非有系統(tǒng) 有組織 未發(fā)揮系統(tǒng)測試性設(shè)計的優(yōu)勢未形成系統(tǒng)的測試性工作流程 測試性設(shè)計研制程序與產(chǎn)品設(shè)計不同步未形成有效的測試性設(shè)計集成環(huán)境 設(shè)計中更多依賴于設(shè)計師的重視程度 設(shè)計水平和經(jīng)驗 本課程 可測性設(shè)計部分 所討論的中心問題 在系統(tǒng)設(shè)計過程中 應(yīng)采用怎樣的設(shè)計思路和方法 才能最大限度地為故障檢測和診斷提供方便 以提高系統(tǒng)的測試性水平 Storiesaboutsurvivingfromaccidents 前蘇聯(lián) 上升2號 人類首個太空英雄的戲劇經(jīng)歷美 阿波羅12號 雷神之吻美 阿波羅13號 失敗的成功中 神舟七號 虛驚一場的假火災(zāi) When HowshouldwefulfillDFT 測試性設(shè)計工作流程 功能 性能設(shè)計與測試性設(shè)計并行 3 本部分課程的主要內(nèi)容 1 概述 故障 診斷及測試性等常用術(shù)語基本概念 2 系統(tǒng)測試性設(shè)計及其通則 指南性質(zhì) 3 BIT設(shè)計技術(shù)系統(tǒng)BIT技術(shù)常用BIT設(shè)計技術(shù)測試點的選擇與設(shè)置4 系統(tǒng)級BIT系統(tǒng)級測試性設(shè)計技術(shù)綜述故障模式 影響及危害性分析 FMECA 一種適用的系統(tǒng)級BIT架構(gòu)方案測試性分配5 測試性驗證技術(shù)測試性驗證概述故障樣本優(yōu)化選取方法故障注入方法與注入策略優(yōu)化測試性綜合評估方法 主要參考書籍及論文資料 田仲 石君友 系統(tǒng)測試性設(shè)計分析與驗證 M 北京航空航天大學出版社 2009年10月 張威 王仲 電子系統(tǒng)測試原理 M 機械工業(yè)出版社 2007年1月 曾天翔 電子設(shè)備測試性及診斷技術(shù) M 航空工業(yè)出版社 1996年 GJB 1391 2006 故障模式 影響及危害性分析指南 S 中華人民共和國國家軍用標準 GJB 2547 95 裝備測試性大綱 S 中華人民共和國國家軍用標準 朱敏 電子系統(tǒng)內(nèi)建自測試技術(shù)研究 D 哈爾濱工業(yè)大學 2010年 羅志勇 雷達系統(tǒng)智能故障診斷技術(shù)研究 D 西北工業(yè)大學 2006年 李天梅 裝備測試性驗證試驗優(yōu)化設(shè)計與綜合評估方法研究 D 國防科技大學 2010年 4 要求和希望 作為系統(tǒng)工程相關(guān)專業(yè)的碩士研究生 在學習電路與系統(tǒng)的仿真及設(shè)計的同時 理應(yīng)了解測試性概念 并掌握系統(tǒng)級測試性設(shè)計的基本方法理論與工程實際相結(jié)合 通過對如機載電子系統(tǒng) 通信系統(tǒng)等復雜電子系統(tǒng)的FMECA應(yīng)用實例 給出完整的系統(tǒng)可測性設(shè)計的基本方法和實現(xiàn)過程啟發(fā)培養(yǎng)分析解決工程問題的能力 為今后復雜電子系統(tǒng)研究和設(shè)計打下良好的基礎(chǔ) 認真 主動耕耘必有收獲 1 概述 計劃學時 2 1 1故障 診斷及測試性的基本概念1 1 1故障及其后果1 1 2故障診斷1 1 3測試性和機內(nèi)測試1 1 4測試性驗證1 2測試性及診斷技術(shù)的發(fā)展1 2 1由外部測試到機內(nèi)測試1 2 2綜合診斷 人工智能及CAD的應(yīng)用1 3常用測試性與診斷術(shù)語 1 1故障 診斷及測試性的基本概念 故障 Fault 產(chǎn)品不能執(zhí)行規(guī)定功能的狀態(tài) 即 故障是產(chǎn)品已處于一種不合格的狀況 是對產(chǎn)品正確狀態(tài)的任何一種可識別的偏離 這種偏離對特定使用者要求來說是不合格的 已經(jīng)不能完成規(guī)定功能 故障的分類功能故障 潛在故障系統(tǒng)故障 局部故障永久故障 間歇故障硬件故障 軟件故障定值故障 非定值故障單故障 多故障不同的故障類型需要不同的檢測與診斷方法 一般而言 永久故障 硬件故障 定值故障及單故障的檢測和診斷相對較易 討論對象 而對應(yīng)的間歇故障 軟件故障 非定值故障及多故障檢查與診斷較難 故障影響的后果 安全性后果 發(fā)生故障會對設(shè)備使用安全性有直接不利的影響 后果可能會引起人身傷害 甚至機毀人亡 這種后果除來源于對使用安全有直接影響的功能喪失外 還可能來自因某種功能喪失所造成的繼發(fā)性二次損傷 使用性后果 故障對設(shè)備使用能力具有直接不利影響 包括間接經(jīng)濟損失 如工作進度拖延 停工等造成的損失 直接修理費用 故 每當因排除故障而打斷計劃好的正常運行時 該故障就具有使用性后果 非使用性后果 故障對設(shè)備的使用能力沒有直接的不利影響 僅影響直接的修理費用 經(jīng)濟性后果 如 多余度領(lǐng)航系統(tǒng)的飛機中的1個領(lǐng)航裝置出故障 其余領(lǐng)航裝置仍可完成領(lǐng)航任務(wù) 隱患性后果 沒有直接不利影響 但增加了發(fā)生多故障的可能 隱含產(chǎn)生直接的不利影響 屬于隱蔽功能項目的故障后果 如滅火系統(tǒng)在無需滅火時 表現(xiàn)不出功能是否喪失 所有故障后果都由系統(tǒng)或設(shè)備的設(shè)計特性所決定 只有從設(shè)計上采取改進措施 才能改變故障后果 故障診斷 故障檢測 利用各種檢查和測試方法 發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)和設(shè)備是否存在故障的過程 故障定位 在故障檢測之后 進一步確定故障所在大致部位的過程 故障隔離 要求把故障定位到實施修理時可更換的產(chǎn)品層次 如可更換單元 的過程 故障診斷是依據(jù)診斷對象運行狀態(tài)信息 判斷其 健康 狀況和進行狀態(tài)識別的過程 與設(shè)計人員密切相關(guān) 故障診斷 檢測 隔離 故障診斷的研究內(nèi)容 故障分析一般包括診斷對象的故障機理 故障模式及影響 故障發(fā)生概率和故障發(fā)展變化規(guī)律等 檢測技術(shù)將代表系統(tǒng) 設(shè)備或器件特性和功能的各種參量 物理 化學 通過各種手段轉(zhuǎn)變?yōu)槟軌蛘f明其性能質(zhì)量指標 故障診斷理論與方法矩陣理論 模糊數(shù)學 信息論 信號處理 狀態(tài)識別 控制論及人工智能等都已應(yīng)用到故障診斷中 在診斷理論的指導下 形成了各種診斷方法 涉及診斷對象描述與建模方法 故障特征的建立 診斷策略的設(shè)計 故障模式的識別等 測試設(shè)備的綜合通用 專用測試設(shè)備 自動測試設(shè)備 ATE 和機內(nèi)測試設(shè)備 BITE 等 用于獲得診斷對象的狀態(tài)信息和故障的特征值 概念析義 測試性 固有測試性 兼容性 測試性 設(shè)計時賦予產(chǎn)品的一種固有屬性測試是確定產(chǎn)品某種特性的技術(shù)操作過程 測試性是產(chǎn)品為故障診斷提供方便的特性 測試性設(shè)計 DFT 是為了提高產(chǎn)品自診斷和外部診斷能力 能方便有效地確定產(chǎn)品狀態(tài)和隔離故障而進行的設(shè)計良好的測試性主要標志 自診斷 或自檢 能力強 檢查維修方便 便于使用外部測試設(shè)備進行診斷測試固有測試性 僅取決于系統(tǒng)和設(shè)備的硬件設(shè)計 而不受測試激勵和響應(yīng)數(shù)據(jù)影響的測試性對系統(tǒng)進行功能和結(jié)構(gòu)劃分 便于隔離一鍵初始化 利于重復測試提供觀測特性數(shù)據(jù) 控制產(chǎn)品內(nèi)部元器件 組件工作和輸入測試激勵的通路和電路 便于檢測內(nèi)部故障兼容性 被測試對象與外部測試設(shè)備 ETE 在信號傳輸 電氣和機械接口上相匹配的設(shè)計特性 目的是為ATE ETE測試提供方便 減少或消除大量專用接口裝置提高系統(tǒng)和設(shè)備的測試性主要途徑和方法 進行固有測試性設(shè)計 兼容性設(shè)計 機內(nèi)測試 BIT 設(shè)計 概念析義 機內(nèi)測試 BIT 機內(nèi)測試設(shè)備 BITE BIT 系統(tǒng)或設(shè)備內(nèi)部提供的自我檢測和隔離故障的自動測試能力 也是利用內(nèi)置的BITE或自測試軟 硬件 對產(chǎn)品全部或一部分進行測試的方法 連續(xù)BIT周期BIT啟動BIT通電BIT主動BIT被動BIT任務(wù)前BIT任務(wù)中BIT維修BIT分布式BIT集中式BITBITE 完成BIT功能的裝置 可以識別的硬件和 或軟件 定義 BIT BITE示例 一種簡單易行的RAMBIT通過讀 寫功能檢查來判定是否存在故障 脈沖信號的機內(nèi)測試器件 BITD 該BITD作為集成固件出現(xiàn) 可用于高頻 中頻和視頻接收機電路中的故障檢測與隔離 是模擬電路BITE的主要組成部分 2端 輸入被測視頻脈沖 微波信號經(jīng)檢波后的視頻脈沖3端 輸入被測中頻脈沖信號4端 外接偏置電阻 改變比較器參考電壓從而調(diào)節(jié)2 3端信號的檢測靈敏度6端 輸出TTL電平的狀態(tài)信號 表示被測信號的狀態(tài)10端 測試同步脈沖 BITD應(yīng)用示例 A320飛機的BIT系統(tǒng) 測試性驗證 測試性驗證 通過注入一定數(shù)量的故障模式來驗證故障診斷能力 主要用于評估故障檢測率 故障隔離率指標 及判斷測試性設(shè)計是否合格 1 2測試性及診斷技術(shù)的發(fā)展 1 2 1由外部測試到機內(nèi)測試外部測試設(shè)備 ETE 單機 信號源 示波器 動態(tài)信號分析儀 標準化 模塊化的系列產(chǎn)品 總線系列 數(shù)采系列 信號調(diào)理系列 波形分析系列 接口系列 標準機箱 機柜和電纜組件測控軟件開發(fā)平臺外部測試不能滿足實時監(jiān)控與診斷需求 產(chǎn)生機內(nèi)測試故障診斷測試由簡單到先進 由外部到機內(nèi)外部測試 簡單 手工測試 高水平自動化測試機內(nèi)測試 簡單的參數(shù)監(jiān)測電路 可自動檢測與隔離故障的BITE 先進的機載維修測試系統(tǒng) 自動測試系統(tǒng) 1 2 2綜合診斷 人工智能及CAD的應(yīng)用 常規(guī)的基本型BIT存在問題 使用中 特別是使用初期 BIT不滿足使用要求 診斷能力差 虛警率高 1991年4月 美國防部頒發(fā) 綜合診斷 MIL STD 1814 作為提高新一代武器系統(tǒng)的戰(zhàn)備完好性和降低使用保障費用的主要技術(shù)途徑 標志著測試性技術(shù)發(fā)展進入新階段1993年2月 美國防部頒發(fā) 系統(tǒng)和設(shè)備的測試性大綱 MIL STD 2165A 取代原MIL STD 2165 以與診斷相協(xié)調(diào) 并考慮非電子產(chǎn)品的測試性 在故障診斷中應(yīng)用人工智能 靈巧 BIT 應(yīng)用簡單的人工智能技術(shù) 用計算機模擬人的思維過程和處理問題的方法 對基本BIT的輸出結(jié)果進行分析 推理和判斷綜合分析型BIT 將分 子系統(tǒng)得到的BIT報告信息傳到高級的系統(tǒng)進行綜合分析處理 再將結(jié)果返回低級 提高診斷的準確性信息增強型BIT BIT的最終決斷不僅根據(jù)被測單元內(nèi)的基本BIT信息 還要根據(jù)其他裝置提供的信息 提高決斷準確性 減少虛警改進決斷型BIT BIT采用更可靠的決斷規(guī)則 如 動態(tài)設(shè)置門限 暫存監(jiān)控 驗證假設(shè)等 提高診斷的準確性維修經(jīng)歷型BIT BIT利用被測單元的維修歷史數(shù)據(jù)及相近或相關(guān)單元的歷史數(shù)據(jù) 綜合分析在執(zhí)行任務(wù)期間得到的BIT信息 有效確定間歇故障 區(qū)分間歇故障和虛警 在故障診斷中應(yīng)用CAD技術(shù) 自20世紀80年代以來 CAD 計算機輔助 測試性設(shè)計開始應(yīng)用于航空電子系統(tǒng) 分系統(tǒng)和電路板設(shè)計代表性軟件工具 BIT計算機輔助設(shè)計 CADBIT 系統(tǒng)測試與維修程序 STAMP 綜合診斷保障系統(tǒng) IDSS 測試性工程和維護系統(tǒng) TEAMS 等CADBIT 適用于PCB級產(chǎn)品的BIT設(shè)計STAMP 適用于各類系統(tǒng)和設(shè)備的測試性 診斷的頂層設(shè)計IDSS 適用于系統(tǒng)的設(shè)計研制和使用各階段 包括多個軟件工具 武器系統(tǒng)測試性分析器 自適應(yīng)診斷分系統(tǒng) 自適應(yīng)診斷編輯工具 反饋分析器和技術(shù)信息與訓練編輯工具TEAMS 適用于系統(tǒng)可測試性設(shè)計 提供集成的工具集 包括TEAMS Designer 用于測試性設(shè)計和評估 生成診斷測試策略 TEAM ATE 自適應(yīng)現(xiàn)場診斷指導 TEAMS RDS 故障測試與診斷引擎 TEAMS RT 被測對象的實時診斷和系統(tǒng)健康監(jiān)視 1 3常用測試性與診斷術(shù)語 測試性 testability 使系統(tǒng)或設(shè)備 產(chǎn)品 能及時準確地確定其狀態(tài) 可工作 不可工作或性能下降 并隔離其內(nèi)部故障的一種設(shè)計特性 固有測試性 inherenttestability 僅取決于系統(tǒng)或設(shè)備硬件設(shè)計 不受外部測試激勵和響應(yīng)數(shù)據(jù)影響的測試性 機內(nèi)測試Built InTest BIT 系統(tǒng)或設(shè)備內(nèi)部提供的檢測和隔離故障的自動測試能力 利用設(shè)計到系統(tǒng)或設(shè)備內(nèi)的測試硬件和軟件對系統(tǒng)或設(shè)備全部或局部進行測試的方法 機內(nèi)測試設(shè)備Built InTestEquipment BITE 完成機內(nèi)測試功能的裝置 包括硬件和軟件 被測單元中用于測試的 可以識別的裝置 主動BIT activeBIT 測試時需要施加激勵信號到被測單元之內(nèi) 并中斷其工作 被動BIT passiveBIT 測試時無需加入激勵 也不中斷被測單元工作 連續(xù)BIT continuousBIT 連續(xù)不間斷地監(jiān)測系統(tǒng)工作 周期BITPeriodicBIT PBIT 以規(guī)定時間間隔周期地啟動測試 啟動BITInitiatedBIT IBIT 由某種事件或操作者啟動進行測試 它可能中斷系統(tǒng)工作 也允許操作者參與故障檢測和隔離過程 加電BIT power onBIT 當系統(tǒng)接通電源時 啟動規(guī)定測試程序 檢測到故障或完成規(guī)定測試程序后就結(jié)束 是啟動BIT的特例 常用測試性與診斷術(shù)語 續(xù)1 維修BIT maintenanceBIT 在系統(tǒng)完成任務(wù)后用于進行維修 檢查和校驗測試的BIT 它可以啟動運行系統(tǒng)所具有的任一種BIT 屬于啟動BIT類型 靈巧BIT smartBIT 應(yīng)用了人工智能技術(shù)的BIT 被測單元UnitUnderTest UUT 被測試的系統(tǒng) 分系統(tǒng) 設(shè)備 組件或部件等 自動測試設(shè)備AutomaticTestEquipment ATE 自動進行功能和 或 參數(shù)測試 評價性能下降程度或隔離故障的設(shè)備 外部測試設(shè)備ExternalTestEquipment ETE 在機械上與被測單元分開的測試設(shè)備 測試點TestPoint TP UUT中用于測量或注入信號的電氣連接點 故障檢測FaultDetection FD 發(fā)現(xiàn)故障存在的過程 為確定UUT是否存在故障而進行的一次或多次測試 故障隔離FaultIsolation FI 把故障定位到實施修理所要更換的產(chǎn)品組成單元的過程 在知道有故障的情況下 準確確定發(fā)生故障部位的過程 故障定位 faultlocalization 在已知有故障的情況下 確定發(fā)生故障的大致部位的過程 不及故障隔離準確 模糊組 ambiguitygroup 具有相同或類似的故障特征 在故障隔離中不能分清故障真實部位的一組可更換單元 其中每個可更換單元都可能有故障 常用測試性與診斷術(shù)語 續(xù)2 模糊度 ambiguitygroupsize 模糊組中包含的信號或可更換單元數(shù) 故障檢測率FaultDetectionRate FDR 在規(guī)定足夠長的時間內(nèi) 用規(guī)定的方法正確檢測到的故障數(shù)與發(fā)生故障總數(shù)之比 用百分數(shù)表示 故障隔離率FaultIsolationRate FIR 在規(guī)定的時間內(nèi) 用規(guī)定的方法將檢測到的故障正確隔離到不大于規(guī)定的可更換單元數(shù) 模糊度 的故障數(shù)與檢測到的故障總數(shù)之比 用百分數(shù)表示 故障潛伏時間 faultlatencytime 從故障發(fā)生到給出故障指示所經(jīng)歷的時間 故障檢測時間 faultdetectiontime 從開始檢測故障到給出故障指示所經(jīng)歷的時間 故障隔離時間 faultisolationtime 從檢出故障到完成故障隔離所經(jīng)歷的時間 從開始隔離故障到指出有故障的可更換單元所經(jīng)歷的時間 虛警FalseAlarm FA BIT或其他監(jiān)測電路指示有故障而實際不存在故障的情況 虛警率FalseAlarmRate FAR 在規(guī)定的時間內(nèi) 發(fā)生的虛警數(shù)與同一時間內(nèi)故障指示總數(shù)之比 用百分比表示 不能復現(xiàn)CannotDuplicate CND 由或其他監(jiān)測電路指示的故障 在基層級維修時得不到證實的現(xiàn)象 不能復現(xiàn)率 CannotDuplicateRate 在基層級維修時 BIT和其他監(jiān)測電路指示的故障總數(shù)中不能復現(xiàn)的比例 用百分數(shù)表示 常用測試性與診斷術(shù)語 續(xù)3 重測合格RetestOkay RTOK 在某維修級別測試中識別出有故障的UUT 在更高級維修級別測試時卻是合格的現(xiàn)象 重測合格率 RetestOkayRate 有故障的UUT在中繼級或基地級維修時 測試結(jié)果為重測合格的比例 用百分數(shù)表示 測試程序接口組合TestProgramSet TPS 啟動被測單元 UUT 執(zhí)行一給定測試所需的測試程序 接口裝置 測試程序說明文件和輔助數(shù)據(jù)的組合 兼容性 compatibility UUT在功能 電氣和機械上與期望的ATE接口配合的一種設(shè)計特性 現(xiàn)場可更換單元LineReplaceableUnit LRU 在工作現(xiàn)場 中繼級 從系統(tǒng)或設(shè)備上拆卸并更換的單元 同義詞 外場可更換單元 武器可更換組件 車間可更換單元ShopReplaceableUnit SRU 在維修車間 基層級 從LRU上拆卸并更換的單元 同義詞 車間可更換組件 內(nèi)場可更換單元 診斷 diagnostics 檢測和隔離故障的活動 診斷要素 diagnosticelement 用于故障診斷的自動和人工測試方法 維修輔助信息 技術(shù)資料 人員和培訓等 診斷能力 diagnosticcapability 利用診斷要素對系統(tǒng)進行故障檢測和隔離的能力 綜合診斷 integrateddiagnostics 通過考慮與綜合全部有關(guān)診斷要素 使系統(tǒng)的診斷能力達到最佳的設(shè)計和管理過程 包括確定設(shè)計 工程活動 測試性 可靠性 維修性 人機工程和保障性分析之間的接口 目標是以最少的費用 最有效地檢測 隔離系統(tǒng)及設(shè)備內(nèi)已知和預期發(fā)生的所有故障 常用測試性與診斷術(shù)語 續(xù)4 維修輔助信息 maintenanceaid 維修輔助信息是給維修技術(shù)人員提供幫助的信息 包括簡便的維修操作方法 出版物或指南等 它可提供判斷故障的歷史信息 故障查找邏輯以及發(fā)現(xiàn)和修復故障的程序等 診斷方案 diagnosticconcept 對系統(tǒng)或設(shè)備進行診斷的范圍 功能和運用的初步安排 診斷測試 diagnostictest 為確定發(fā)生了故障和隔離故障所進行的測試 自測試 selftest 由產(chǎn)品本身進行的檢查其是否在容限內(nèi)工作的一個或一系列測試 性能監(jiān)測 performancemonitoring 在不中斷系統(tǒng)工作的情況下 對選定性能參數(shù)進行連續(xù)或周期性的觀測 以確定系統(tǒng)是否在規(guī)定的極限范圍內(nèi)工作的過程 通過 不通過測試 GO NOGOTest 為判定系統(tǒng)能否正常工作的測試 GO表示工作正常 NOGO表示工作不正常 環(huán)繞測試 wrap aroundtest 借助UUT內(nèi)轉(zhuǎn)換網(wǎng)絡(luò)或自檢適配器 把輸出端連接到輸入端來完成的測試 功能測試 functionaltest 確定UUT功能是否正常的測試 測試的工作環(huán)境 如激勵和負載 可以是實際的 也可以是模擬的 聯(lián)機測試 on linetesting 在正常工作環(huán)境下對其進行的測試 同義詞 在線測試 脫機測試 off linetesting 在脫離產(chǎn)品正常工作環(huán)境下對其進行的測試 同義詞 離線測試 常用測試性與診斷術(shù)語 續(xù)5 測試可控性 testcontrollability 確定或描述系統(tǒng)和設(shè)備有關(guān)信號可被控制程度的一種設(shè)計特性 測試可觀測性 testobservability 確定或描述系統(tǒng)和設(shè)備有關(guān)信號可被觀測程度的一種設(shè)計特性 測試適配器 testadapter 在和測試設(shè)備之間提供電子 電氣和機械上兼容的一個或一系列裝置 可以包括測試設(shè)備中不具備的適當激勵和負載 故障 fault 產(chǎn)品不能執(zhí)行規(guī)定功能的狀態(tài) 故障注入 faultinsertion 為了驗證BIT TPS及ATE的功能 在UUT中引入實際故障或模擬故障的過程 故障特征 faultsigna