《可測(cè)性設(shè)計(jì)》PPT課件

系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù) 第二部分計(jì)劃學(xué)時(shí) 總20航空航天學(xué)院何羚heling 前言 可測(cè)性是什么 1 相關(guān)技術(shù)發(fā)展歷程 2 授課內(nèi)容 3 要求和期望 4 1 什么是可測(cè)性 測(cè)試性 定義可測(cè)性 Testability 亦稱測(cè)試性 系統(tǒng)及設(shè)備能及時(shí) 準(zhǔn)確地確定其工作狀態(tài) 可工作 不可工作或工作性能下降 并隔離其內(nèi)部故障的一種設(shè)計(jì)特性 通常用故障檢測(cè)率 FDR 故障隔離率 FIR 虛警率 FAR 度量 廣義角度上 可測(cè)性的內(nèi)涵主要包括 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 AutomaticTestEquipment ATE 機(jī)內(nèi)測(cè)試 Built InTest BIT 重要性可測(cè)性與維修性 可靠性密切相關(guān) 具有良好的測(cè)試性將減少故障檢測(cè)及隔離時(shí)間 進(jìn)而減少維修時(shí)間 改善維修性 系統(tǒng)可測(cè)性與系統(tǒng)可靠性共同決定了系統(tǒng)的可信性應(yīng)用測(cè)試性設(shè)計(jì) DFT 是實(shí)現(xiàn)電子系統(tǒng) 電子設(shè)備故障檢測(cè)和故障隔離的重要手段 在復(fù)雜系統(tǒng)中的應(yīng)用可極大地提高系統(tǒng)的可靠性 可維修性 如要求系統(tǒng)具有高可靠性 測(cè)試性設(shè)計(jì)是系統(tǒng)開發(fā)的關(guān)鍵 Why HowDFT Why測(cè)試和評(píng)價(jià)復(fù)雜系統(tǒng)是困難的事 僅由輸入 輸出特性檢測(cè)來評(píng)估系統(tǒng)整體性能的方法不適于復(fù)雜系統(tǒng)沒有可測(cè)試性設(shè)計(jì)的后果 使用前難以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)缺陷 工作時(shí)難以檢測(cè)和診斷故障采用可測(cè)試性設(shè)計(jì)可增加系統(tǒng)的可靠性 提高產(chǎn)品質(zhì)量 并減少產(chǎn)品投放市場(chǎng)的時(shí)間及測(cè)試費(fèi)用How從規(guī)范開始 必須在規(guī)范中增加系統(tǒng)級(jí)測(cè)試要求 以增加可控性和可觀性 而后 將獨(dú)立的測(cè)試要求轉(zhuǎn)變?yōu)閷?shí)際的軟 硬件要求系統(tǒng)劃分 明確分離系統(tǒng)的功能和實(shí)際軟 硬件的運(yùn)行插入測(cè)試功能 單個(gè)模塊測(cè)試 模塊間交互測(cè)試 系統(tǒng)測(cè)試 DesignForTestability 2 相關(guān)技術(shù)的發(fā)展歷程 20世紀(jì)80年代 提出 測(cè)試性 概念 測(cè)試性成為與可靠性 維修性并列的獨(dú)立學(xué)科 在復(fù)雜系統(tǒng) 大型裝備的研制 生產(chǎn)和使用中 運(yùn)用測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行總體測(cè)試性分析 設(shè)計(jì)與驗(yàn)證 已經(jīng)成為通信 導(dǎo)航 航空航天等技術(shù)領(lǐng)域的必然 20世紀(jì)70年代 F Liour等 設(shè)備自動(dòng)測(cè)試性設(shè)計(jì) 1975年 國外研究歷程 20世紀(jì)70年代以后 半導(dǎo)體集成電路及數(shù)字技術(shù)迅速發(fā)展 設(shè)備診斷能力 機(jī)內(nèi)測(cè)試 BIT 成為測(cè)試性設(shè)計(jì)的重要內(nèi)容 BIT技術(shù)也成為改進(jìn)電子設(shè)備維修性的重要途徑 國外廣泛開展了測(cè)試性 BIT方面的研究 1978 12 美國防部頒發(fā) 設(shè)備或系統(tǒng)的BIT 外部測(cè)試故障隔離和測(cè)試性特性要求的驗(yàn)證及評(píng)價(jià) MIL STD 471通告2 20世紀(jì)80年代以后 計(jì)算機(jī)部件小型化和集成化程度越來越高 可測(cè)性設(shè)計(jì)和BIT技術(shù)迅速發(fā)展并獲得廣泛應(yīng)用1985 美國防部頒發(fā) 電子系統(tǒng)及設(shè)備的測(cè)試性大綱 MIL STD 2165 1993 2頒發(fā) 系統(tǒng)和設(shè)備的測(cè)試性大綱 MIL STD 2165A 美 英等國相繼開展診斷和人工智能技術(shù)應(yīng)用的研究 以提高武器系統(tǒng)的故障診斷能力 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 國內(nèi)開展測(cè)試性 BIT的研究與推廣應(yīng)用比國外晚 近年來進(jìn)步速度快開展測(cè)試性 BIT設(shè)計(jì)分析工作 開發(fā)測(cè)試性計(jì)算機(jī)輔助分析軟件開展了較系統(tǒng)的研究 除數(shù)字電路測(cè)試性 BIT領(lǐng)域外的文獻(xiàn) 系統(tǒng)級(jí)可測(cè)試性理論研究 邵高平 系統(tǒng)級(jí)可測(cè)試性設(shè)計(jì)的研究 J 申宇皓等 系統(tǒng)級(jí)可測(cè)試性設(shè)計(jì) J 航空設(shè)備和電子設(shè)備領(lǐng)域 楊冬健等 航空設(shè)備的測(cè)試性設(shè)計(jì)和驗(yàn)證技術(shù)概述 J 魏忠林等 電子設(shè)備測(cè)試性設(shè)計(jì)及系統(tǒng)劃分的研究 J 張向榮 電子系統(tǒng)維修性 測(cè)試性分析與設(shè)計(jì)方法討論 J 王立梅等 航空電子系統(tǒng)的測(cè)試性及仿真研究 J 黃考利等 地空導(dǎo)彈系統(tǒng)可測(cè)試性設(shè)計(jì) J 軍用裝備領(lǐng)域裝備可測(cè)性設(shè)計(jì)與維修診斷一體化方面 連光耀等 裝備測(cè)試性設(shè)計(jì)關(guān)鍵技術(shù)研究 J 連光耀等 復(fù)雜電子裝備智能測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù) J 連光耀等 裝備測(cè)試性設(shè)計(jì)與維修診斷一體化關(guān)鍵技術(shù)研究 J 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 續(xù)1 在重要系統(tǒng)和設(shè)備研制中明確提出了測(cè)試性要求 使其故障率降低 檢測(cè)率提高 并延長(zhǎng)全壽命周期 降低全壽命周期費(fèi)用80年代中期 對(duì)新研武器裝備提出測(cè)試性設(shè)計(jì)要求 90年代后期 對(duì)所有武器裝備提出測(cè)試性要求 特別是軍用飛機(jī)上電子設(shè)備國軍標(biāo) 裝備測(cè)試性大綱 GJB 2547 95 測(cè)試與診斷術(shù)語 GJB 3385 98 等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) QJ 3050 航天產(chǎn)品故障模式 影響及危害性分析指南 QJ 3051 航天產(chǎn)品測(cè)試性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則 等 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 續(xù)2 目前國內(nèi)測(cè)試性 BIT技術(shù)知識(shí)尚不夠普及 軟件工具開發(fā)和實(shí)用經(jīng)驗(yàn)方面與先進(jìn)國家還有差距大部分針對(duì)數(shù)字電路領(lǐng)域 對(duì)于軍用裝備以及航空航天等復(fù)雜系統(tǒng)的系統(tǒng)級(jí)可測(cè)性設(shè)計(jì)的研究仍然嫌少尤應(yīng)在人工智能應(yīng)用 計(jì)算機(jī)輔助工具開發(fā)和自動(dòng)化測(cè)試性驗(yàn)證技術(shù)方面開展研究以航天產(chǎn)品為例 系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)存在的問題 在頂層設(shè)計(jì)中對(duì)系統(tǒng)測(cè)試性有總體考慮 但缺乏明確的技術(shù)途徑 少有具體的設(shè)計(jì)要求和指標(biāo)部分分系統(tǒng)或單機(jī)的設(shè)計(jì)人員自發(fā)進(jìn)行測(cè)試性設(shè)計(jì) 而非有系統(tǒng) 有組織 未發(fā)揮系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)的優(yōu)勢(shì)未形成系統(tǒng)的測(cè)試性工作流程 測(cè)試性設(shè)計(jì)研制程序與產(chǎn)品設(shè)計(jì)不同步未形成有效的測(cè)試性設(shè)計(jì)集成環(huán)境 設(shè)計(jì)中更多依賴于設(shè)計(jì)師的重視程度 設(shè)計(jì)水平和經(jīng)驗(yàn) 本課程 可測(cè)性設(shè)計(jì)部分 所討論的中心問題 在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中 應(yīng)采用怎樣的設(shè)計(jì)思路和方法 才能最大限度地為故障檢測(cè)和診斷提供方便 以提高系統(tǒng)的測(cè)試性水平 Storiesaboutsurvivingfromaccidents 前蘇聯(lián) 上升2號(hào) 人類首個(gè)太空英雄的戲劇經(jīng)歷美 阿波羅12號(hào) 雷神之吻美 阿波羅13號(hào) 失敗的成功中 神舟七號(hào) 虛驚一場(chǎng)的假火災(zāi) When HowshouldwefulfillDFT 測(cè)試性設(shè)計(jì)工作流程 功能 性能設(shè)計(jì)與測(cè)試性設(shè)計(jì)并行 3 本部分課程的主要內(nèi)容 1 概述 故障 診斷及測(cè)試性等常用術(shù)語基本概念 2 系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)及其通則 指南性質(zhì) 3 BIT設(shè)計(jì)技術(shù)系統(tǒng)BIT技術(shù)常用BIT設(shè)計(jì)技術(shù)測(cè)試點(diǎn)的選擇與設(shè)置4 系統(tǒng)級(jí)BIT系統(tǒng)級(jí)測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)綜述故障模式 影響及危害性分析 FMECA 一種適用的系統(tǒng)級(jí)BIT架構(gòu)方案測(cè)試性分配5 測(cè)試性驗(yàn)證技術(shù)測(cè)試性驗(yàn)證概述故障樣本優(yōu)化選取方法故障注入方法與注入策略優(yōu)化測(cè)試性綜合評(píng)估方法 主要參考書籍及論文資料 田仲 石君友 系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證 M 北京航空航天大學(xué)出版社 2009年10月 張威 王仲 電子系統(tǒng)測(cè)試原理 M 機(jī)械工業(yè)出版社 2007年1月 曾天翔 電子設(shè)備測(cè)試性及診斷技術(shù) M 航空工業(yè)出版社 1996年 GJB 1391 2006 故障模式 影響及危害性分析指南 S 中華人民共和國國家軍用標(biāo)準(zhǔn) GJB 2547 95 裝備測(cè)試性大綱 S 中華人民共和國國家軍用標(biāo)準(zhǔn) 朱敏 電子系統(tǒng)內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)研究 D 哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2010年 羅志勇 雷達(dá)系統(tǒng)智能故障診斷技術(shù)研究 D 西北工業(yè)大學(xué) 2006年 李天梅 裝備測(cè)試性驗(yàn)證試驗(yàn)優(yōu)化設(shè)計(jì)與綜合評(píng)估方法研究 D 國防科技大學(xué) 2010年 4 要求和希望 作為系統(tǒng)工程相關(guān)專業(yè)的碩士研究生 在學(xué)習(xí)電路與系統(tǒng)的仿真及設(shè)計(jì)的同時(shí) 理應(yīng)了解測(cè)試性概念 并掌握系統(tǒng)級(jí)測(cè)試性設(shè)計(jì)的基本方法理論與工程實(shí)際相結(jié)合 通過對(duì)如機(jī)載電子系統(tǒng) 通信系統(tǒng)等復(fù)雜電子系統(tǒng)的FMECA應(yīng)用實(shí)例 給出完整的系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)的基本方法和實(shí)現(xiàn)過程啟發(fā)培養(yǎng)分析解決工程問題的能力 為今后復(fù)雜電子系統(tǒng)研究和設(shè)計(jì)打下良好的基礎(chǔ) 認(rèn)真 主動(dòng)耕耘必有收獲 1 概述 計(jì)劃學(xué)時(shí) 2 1 1故障 診斷及測(cè)試性的基本概念1 1 1故障及其后果1 1 2故障診斷1 1 3測(cè)試性和機(jī)內(nèi)測(cè)試1 1 4測(cè)試性驗(yàn)證1 2測(cè)試性及診斷技術(shù)的發(fā)展1 2 1由外部測(cè)試到機(jī)內(nèi)測(cè)試1 2 2綜合診斷 人工智能及CAD的應(yīng)用1 3常用測(cè)試性與診斷術(shù)語 1 1故障 診斷及測(cè)試性的基本概念 故障 Fault 產(chǎn)品不能執(zhí)行規(guī)定功能的狀態(tài) 即 故障是產(chǎn)品已處于一種不合格的狀況 是對(duì)產(chǎn)品正確狀態(tài)的任何一種可識(shí)別的偏離 這種偏離對(duì)特定使用者要求來說是不合格的 已經(jīng)不能完成規(guī)定功能 故障的分類功能故障 潛在故障系統(tǒng)故障 局部故障永久故障 間歇故障硬件故障 軟件故障定值故障 非定值故障單故障 多故障不同的故障類型需要不同的檢測(cè)與診斷方法 一般而言 永久故障 硬件故障 定值故障及單故障的檢測(cè)和診斷相對(duì)較易 討論對(duì)象 而對(duì)應(yīng)的間歇故障 軟件故障 非定值故障及多故障檢查與診斷較難 故障影響的后果 安全性后果 發(fā)生故障會(huì)對(duì)設(shè)備使用安全性有直接不利的影響 后果可能會(huì)引起人身傷害 甚至機(jī)毀人亡 這種后果除來源于對(duì)使用安全有直接影響的功能喪失外 還可能來自因某種功能喪失所造成的繼發(fā)性二次損傷 使用性后果 故障對(duì)設(shè)備使用能力具有直接不利影響 包括間接經(jīng)濟(jì)損失 如工作進(jìn)度拖延 停工等造成的損失 直接修理費(fèi)用 故 每當(dāng)因排除故障而打斷計(jì)劃好的正常運(yùn)行時(shí) 該故障就具有使用性后果 非使用性后果 故障對(duì)設(shè)備的使用能力沒有直接的不利影響 僅影響直接的修理費(fèi)用 經(jīng)濟(jì)性后果 如 多余度領(lǐng)航系統(tǒng)的飛機(jī)中的1個(gè)領(lǐng)航裝置出故障 其余領(lǐng)航裝置仍可完成領(lǐng)航任務(wù) 隱患性后果 沒有直接不利影響 但增加了發(fā)生多故障的可能 隱含產(chǎn)生直接的不利影響 屬于隱蔽功能項(xiàng)目的故障后果 如滅火系統(tǒng)在無需滅火時(shí) 表現(xiàn)不出功能是否喪失 所有故障后果都由系統(tǒng)或設(shè)備的設(shè)計(jì)特性所決定 只有從設(shè)計(jì)上采取改進(jìn)措施 才能改變故障后果 故障診斷 故障檢測(cè) 利用各種檢查和測(cè)試方法 發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)和設(shè)備是否存在故障的過程 故障定位 在故障檢測(cè)之后 進(jìn)一步確定故障所在大致部位的過程 故障隔離 要求把故障定位到實(shí)施修理時(shí)可更換的產(chǎn)品層次 如可更換單元 的過程 故障診斷是依據(jù)診斷對(duì)象運(yùn)行狀態(tài)信息 判斷其 健康 狀況和進(jìn)行狀態(tài)識(shí)別的過程 與設(shè)計(jì)人員密切相關(guān) 故障診斷 檢測(cè) 隔離 故障診斷的研究?jī)?nèi)容 故障分析一般包括診斷對(duì)象的故障機(jī)理 故障模式及影響 故障發(fā)生概率和故障發(fā)展變化規(guī)律等 檢測(cè)技術(shù)將代表系統(tǒng) 設(shè)備或器件特性和功能的各種參量 物理 化學(xué) 通過各種手段轉(zhuǎn)變?yōu)槟軌蛘f明其性能質(zhì)量指標(biāo) 故障診斷理論與方法矩陣?yán)碚?模糊數(shù)學(xué) 信息論 信號(hào)處理 狀態(tài)識(shí)別 控制論及人工智能等都已應(yīng)用到故障診斷中 在診斷理論的指導(dǎo)下 形成了各種診斷方法 涉及診斷對(duì)象描述與建模方法 故障特征的建立 診斷策略的設(shè)計(jì) 故障模式的識(shí)別等 測(cè)試設(shè)備的綜合通用 專用測(cè)試設(shè)備 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 ATE 和機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)備 BITE 等 用于獲得診斷對(duì)象的狀態(tài)信息和故障的特征值 概念析義 測(cè)試性 固有測(cè)試性 兼容性 測(cè)試性 設(shè)計(jì)時(shí)賦予產(chǎn)品的一種固有屬性測(cè)試是確定產(chǎn)品某種特性的技術(shù)操作過程 測(cè)試性是產(chǎn)品為故障診斷提供方便的特性 測(cè)試性設(shè)計(jì) DFT 是為了提高產(chǎn)品自診斷和外部診斷能力 能方便有效地確定產(chǎn)品狀態(tài)和隔離故障而進(jìn)行的設(shè)計(jì)良好的測(cè)試性主要標(biāo)志 自診斷 或自檢 能力強(qiáng) 檢查維修方便 便于使用外部測(cè)試設(shè)備進(jìn)行診斷測(cè)試固有測(cè)試性 僅取決于系統(tǒng)和設(shè)備的硬件設(shè)計(jì) 而不受測(cè)試激勵(lì)和響應(yīng)數(shù)據(jù)影響的測(cè)試性對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行功能和結(jié)構(gòu)劃分 便于隔離一鍵初始化 利于重復(fù)測(cè)試提供觀測(cè)特性數(shù)據(jù) 控制產(chǎn)品內(nèi)部元器件 組件工作和輸入測(cè)試激勵(lì)的通路和電路 便于檢測(cè)內(nèi)部故障兼容性 被測(cè)試對(duì)象與外部測(cè)試設(shè)備 ETE 在信號(hào)傳輸 電氣和機(jī)械接口上相匹配的設(shè)計(jì)特性 目的是為ATE ETE測(cè)試提供方便 減少或消除大量專用接口裝置提高系統(tǒng)和設(shè)備的測(cè)試性主要途徑和方法 進(jìn)行固有測(cè)試性設(shè)計(jì) 兼容性設(shè)計(jì) 機(jī)內(nèi)測(cè)試 BIT 設(shè)計(jì) 概念析義 機(jī)內(nèi)測(cè)試 BIT 機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)備 BITE BIT 系統(tǒng)或設(shè)備內(nèi)部提供的自我檢測(cè)和隔離故障的自動(dòng)測(cè)試能力 也是利用內(nèi)置的BITE或自測(cè)試軟 硬件 對(duì)產(chǎn)品全部或一部分進(jìn)行測(cè)試的方法 連續(xù)BIT周期BIT啟動(dòng)BIT通電BIT主動(dòng)BIT被動(dòng)BIT任務(wù)前BIT任務(wù)中BIT維修BIT分布式BIT集中式BITBITE 完成BIT功能的裝置 可以識(shí)別的硬件和 或軟件 定義 BIT BITE示例 一種簡(jiǎn)單易行的RAMBIT通過讀 寫功能檢查來判定是否存在故障 脈沖信號(hào)的機(jī)內(nèi)測(cè)試器件 BITD 該BITD作為集成固件出現(xiàn) 可用于高頻 中頻和視頻接收機(jī)電路中的故障檢測(cè)與隔離 是模擬電路BITE的主要組成部分 2端 輸入被測(cè)視頻脈沖 微波信號(hào)經(jīng)檢波后的視頻脈沖3端 輸入被測(cè)中頻脈沖信號(hào)4端 外接偏置電阻 改變比較器參考電壓從而調(diào)節(jié)2 3端信號(hào)的檢測(cè)靈敏度6端 輸出TTL電平的狀態(tài)信號(hào) 表示被測(cè)信號(hào)的狀態(tài)10端 測(cè)試同步脈沖 BITD應(yīng)用示例 A320飛機(jī)的BIT系統(tǒng) 測(cè)試性驗(yàn)證 測(cè)試性驗(yàn)證 通過注入一定數(shù)量的故障模式來驗(yàn)證故障診斷能力 主要用于評(píng)估故障檢測(cè)率 故障隔離率指標(biāo) 及判斷測(cè)試性設(shè)計(jì)是否合格 1 2測(cè)試性及診斷技術(shù)的發(fā)展 1 2 1由外部測(cè)試到機(jī)內(nèi)測(cè)試外部測(cè)試設(shè)備 ETE 單機(jī) 信號(hào)源 示波器 動(dòng)態(tài)信號(hào)分析儀 標(biāo)準(zhǔn)化 模塊化的系列產(chǎn)品 總線系列 數(shù)采系列 信號(hào)調(diào)理系列 波形分析系列 接口系列 標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱 機(jī)柜和電纜組件測(cè)控軟件開發(fā)平臺(tái)外部測(cè)試不能滿足實(shí)時(shí)監(jiān)控與診斷需求 產(chǎn)生機(jī)內(nèi)測(cè)試故障診斷測(cè)試由簡(jiǎn)單到先進(jìn) 由外部到機(jī)內(nèi)外部測(cè)試 簡(jiǎn)單 手工測(cè)試 高水平自動(dòng)化測(cè)試機(jī)內(nèi)測(cè)試 簡(jiǎn)單的參數(shù)監(jiān)測(cè)電路 可自動(dòng)檢測(cè)與隔離故障的BITE 先進(jìn)的機(jī)載維修測(cè)試系統(tǒng) 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 1 2 2綜合診斷 人工智能及CAD的應(yīng)用 常規(guī)的基本型BIT存在問題 使用中 特別是使用初期 BIT不滿足使用要求 診斷能力差 虛警率高 1991年4月 美國防部頒發(fā) 綜合診斷 MIL STD 1814 作為提高新一代武器系統(tǒng)的戰(zhàn)備完好性和降低使用保障費(fèi)用的主要技術(shù)途徑 標(biāo)志著測(cè)試性技術(shù)發(fā)展進(jìn)入新階段1993年2月 美國防部頒發(fā) 系統(tǒng)和設(shè)備的測(cè)試性大綱 MIL STD 2165A 取代原MIL STD 2165 以與診斷相協(xié)調(diào) 并考慮非電子產(chǎn)品的測(cè)試性 在故障診斷中應(yīng)用人工智能 靈巧 BIT 應(yīng)用簡(jiǎn)單的人工智能技術(shù) 用計(jì)算機(jī)模擬人的思維過程和處理問題的方法 對(duì)基本BIT的輸出結(jié)果進(jìn)行分析 推理和判斷綜合分析型BIT 將分 子系統(tǒng)得到的BIT報(bào)告信息傳到高級(jí)的系統(tǒng)進(jìn)行綜合分析處理 再將結(jié)果返回低級(jí) 提高診斷的準(zhǔn)確性信息增強(qiáng)型BIT BIT的最終決斷不僅根據(jù)被測(cè)單元內(nèi)的基本BIT信息 還要根據(jù)其他裝置提供的信息 提高決斷準(zhǔn)確性 減少虛警改進(jìn)決斷型BIT BIT采用更可靠的決斷規(guī)則 如 動(dòng)態(tài)設(shè)置門限 暫存監(jiān)控 驗(yàn)證假設(shè)等 提高診斷的準(zhǔn)確性維修經(jīng)歷型BIT BIT利用被測(cè)單元的維修歷史數(shù)據(jù)及相近或相關(guān)單元的歷史數(shù)據(jù) 綜合分析在執(zhí)行任務(wù)期間得到的BIT信息 有效確定間歇故障 區(qū)分間歇故障和虛警 在故障診斷中應(yīng)用CAD技術(shù) 自20世紀(jì)80年代以來 CAD 計(jì)算機(jī)輔助 測(cè)試性設(shè)計(jì)開始應(yīng)用于航空電子系統(tǒng) 分系統(tǒng)和電路板設(shè)計(jì)代表性軟件工具 BIT計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì) CADBIT 系統(tǒng)測(cè)試與維修程序 STAMP 綜合診斷保障系統(tǒng) IDSS 測(cè)試性工程和維護(hù)系統(tǒng) TEAMS 等CADBIT 適用于PCB級(jí)產(chǎn)品的BIT設(shè)計(jì)STAMP 適用于各類系統(tǒng)和設(shè)備的測(cè)試性 診斷的頂層設(shè)計(jì)IDSS 適用于系統(tǒng)的設(shè)計(jì)研制和使用各階段 包括多個(gè)軟件工具 武器系統(tǒng)測(cè)試性分析器 自適應(yīng)診斷分系統(tǒng) 自適應(yīng)診斷編輯工具 反饋分析器和技術(shù)信息與訓(xùn)練編輯工具TEAMS 適用于系統(tǒng)可測(cè)試性設(shè)計(jì) 提供集成的工具集 包括TEAMS Designer 用于測(cè)試性設(shè)計(jì)和評(píng)估 生成診斷測(cè)試策略 TEAM ATE 自適應(yīng)現(xiàn)場(chǎng)診斷指導(dǎo) TEAMS RDS 故障測(cè)試與診斷引擎 TEAMS RT 被測(cè)對(duì)象的實(shí)時(shí)診斷和系統(tǒng)健康監(jiān)視 1 3常用測(cè)試性與診斷術(shù)語 測(cè)試性 testability 使系統(tǒng)或設(shè)備 產(chǎn)品 能及時(shí)準(zhǔn)確地確定其狀態(tài) 可工作 不可工作或性能下降 并隔離其內(nèi)部故障的一種設(shè)計(jì)特性 固有測(cè)試性 inherenttestability 僅取決于系統(tǒng)或設(shè)備硬件設(shè)計(jì) 不受外部測(cè)試激勵(lì)和響應(yīng)數(shù)據(jù)影響的測(cè)試性 機(jī)內(nèi)測(cè)試Built InTest BIT 系統(tǒng)或設(shè)備內(nèi)部提供的檢測(cè)和隔離故障的自動(dòng)測(cè)試能力 利用設(shè)計(jì)到系統(tǒng)或設(shè)備內(nèi)的測(cè)試硬件和軟件對(duì)系統(tǒng)或設(shè)備全部或局部進(jìn)行測(cè)試的方法 機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)備Built InTestEquipment BITE 完成機(jī)內(nèi)測(cè)試功能的裝置 包括硬件和軟件 被測(cè)單元中用于測(cè)試的 可以識(shí)別的裝置 主動(dòng)BIT activeBIT 測(cè)試時(shí)需要施加激勵(lì)信號(hào)到被測(cè)單元之內(nèi) 并中斷其工作 被動(dòng)BIT passiveBIT 測(cè)試時(shí)無需加入激勵(lì) 也不中斷被測(cè)單元工作 連續(xù)BIT continuousBIT 連續(xù)不間斷地監(jiān)測(cè)系統(tǒng)工作 周期BITPeriodicBIT PBIT 以規(guī)定時(shí)間間隔周期地啟動(dòng)測(cè)試 啟動(dòng)BITInitiatedBIT IBIT 由某種事件或操作者啟動(dòng)進(jìn)行測(cè)試 它可能中斷系統(tǒng)工作 也允許操作者參與故障檢測(cè)和隔離過程 加電BIT power onBIT 當(dāng)系統(tǒng)接通電源時(shí) 啟動(dòng)規(guī)定測(cè)試程序 檢測(cè)到故障或完成規(guī)定測(cè)試程序后就結(jié)束 是啟動(dòng)BIT的特例 常用測(cè)試性與診斷術(shù)語 續(xù)1 維修BIT maintenanceBIT 在系統(tǒng)完成任務(wù)后用于進(jìn)行維修 檢查和校驗(yàn)測(cè)試的BIT 它可以啟動(dòng)運(yùn)行系統(tǒng)所具有的任一種BIT 屬于啟動(dòng)BIT類型 靈巧BIT smartBIT 應(yīng)用了人工智能技術(shù)的BIT 被測(cè)單元UnitUnderTest UUT 被測(cè)試的系統(tǒng) 分系統(tǒng) 設(shè)備 組件或部件等 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備AutomaticTestEquipment ATE 自動(dòng)進(jìn)行功能和 或 參數(shù)測(cè)試 評(píng)價(jià)性能下降程度或隔離故障的設(shè)備 外部測(cè)試設(shè)備ExternalTestEquipment ETE 在機(jī)械上與被測(cè)單元分開的測(cè)試設(shè)備 測(cè)試點(diǎn)TestPoint TP UUT中用于測(cè)量或注入信號(hào)的電氣連接點(diǎn) 故障檢測(cè)FaultDetection FD 發(fā)現(xiàn)故障存在的過程 為確定UUT是否存在故障而進(jìn)行的一次或多次測(cè)試 故障隔離FaultIsolation FI 把故障定位到實(shí)施修理所要更換的產(chǎn)品組成單元的過程 在知道有故障的情況下 準(zhǔn)確確定發(fā)生故障部位的過程 故障定位 faultlocalization 在已知有故障的情況下 確定發(fā)生故障的大致部位的過程 不及故障隔離準(zhǔn)確 模糊組 ambiguitygroup 具有相同或類似的故障特征 在故障隔離中不能分清故障真實(shí)部位的一組可更換單元 其中每個(gè)可更換單元都可能有故障 常用測(cè)試性與診斷術(shù)語 續(xù)2 模糊度 ambiguitygroupsize 模糊組中包含的信號(hào)或可更換單元數(shù) 故障檢測(cè)率FaultDetectionRate FDR 在規(guī)定足夠長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi) 用規(guī)定的方法正確檢測(cè)到的故障數(shù)與發(fā)生故障總數(shù)之比 用百分?jǐn)?shù)表示 故障隔離率FaultIsolationRate FIR 在規(guī)定的時(shí)間內(nèi) 用規(guī)定的方法將檢測(cè)到的故障正確隔離到不大于規(guī)定的可更換單元數(shù) 模糊度 的故障數(shù)與檢測(cè)到的故障總數(shù)之比 用百分?jǐn)?shù)表示 故障潛伏時(shí)間 faultlatencytime 從故障發(fā)生到給出故障指示所經(jīng)歷的時(shí)間 故障檢測(cè)時(shí)間 faultdetectiontime 從開始檢測(cè)故障到給出故障指示所經(jīng)歷的時(shí)間 故障隔離時(shí)間 faultisolationtime 從檢出故障到完成故障隔離所經(jīng)歷的時(shí)間 從開始隔離故障到指出有故障的可更換單元所經(jīng)歷的時(shí)間 虛警FalseAlarm FA BIT或其他監(jiān)測(cè)電路指示有故障而實(shí)際不存在故障的情況 虛警率FalseAlarmRate FAR 在規(guī)定的時(shí)間內(nèi) 發(fā)生的虛警數(shù)與同一時(shí)間內(nèi)故障指示總數(shù)之比 用百分比表示 不能復(fù)現(xiàn)CannotDuplicate CND 由或其他監(jiān)測(cè)電路指示的故障 在基層級(jí)維修時(shí)得不到證實(shí)的現(xiàn)象 不能復(fù)現(xiàn)率 CannotDuplicateRate 在基層級(jí)維修時(shí) BIT和其他監(jiān)測(cè)電路指示的故障總數(shù)中不能復(fù)現(xiàn)的比例 用百分?jǐn)?shù)表示 常用測(cè)試性與診斷術(shù)語 續(xù)3 重測(cè)合格RetestOkay RTOK 在某維修級(jí)別測(cè)試中識(shí)別出有故障的UUT 在更高級(jí)維修級(jí)別測(cè)試時(shí)卻是合格的現(xiàn)象 重測(cè)合格率 RetestOkayRate 有故障的UUT在中繼級(jí)或基地級(jí)維修時(shí) 測(cè)試結(jié)果為重測(cè)合格的比例 用百分?jǐn)?shù)表示 測(cè)試程序接口組合TestProgramSet TPS 啟動(dòng)被測(cè)單元 UUT 執(zhí)行一給定測(cè)試所需的測(cè)試程序 接口裝置 測(cè)試程序說明文件和輔助數(shù)據(jù)的組合 兼容性 compatibility UUT在功能 電氣和機(jī)械上與期望的ATE接口配合的一種設(shè)計(jì)特性 現(xiàn)場(chǎng)可更換單元LineReplaceableUnit LRU 在工作現(xiàn)場(chǎng) 中繼級(jí) 從系統(tǒng)或設(shè)備上拆卸并更換的單元 同義詞 外場(chǎng)可更換單元 武器可更換組件 車間可更換單元ShopReplaceableUnit SRU 在維修車間 基層級(jí) 從LRU上拆卸并更換的單元 同義詞 車間可更換組件 內(nèi)場(chǎng)可更換單元 診斷 diagnostics 檢測(cè)和隔離故障的活動(dòng) 診斷要素 diagnosticelement 用于故障診斷的自動(dòng)和人工測(cè)試方法 維修輔助信息 技術(shù)資料 人員和培訓(xùn)等 診斷能力 diagnosticcapability 利用診斷要素對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行故障檢測(cè)和隔離的能力 綜合診斷 integrateddiagnostics 通過考慮與綜合全部有關(guān)診斷要素 使系統(tǒng)的診斷能力達(dá)到最佳的設(shè)計(jì)和管理過程 包括確定設(shè)計(jì) 工程活動(dòng) 測(cè)試性 可靠性 維修性 人機(jī)工程和保障性分析之間的接口 目標(biāo)是以最少的費(fèi)用 最有效地檢測(cè) 隔離系統(tǒng)及設(shè)備內(nèi)已知和預(yù)期發(fā)生的所有故障 常用測(cè)試性與診斷術(shù)語 續(xù)4 維修輔助信息 maintenanceaid 維修輔助信息是給維修技術(shù)人員提供幫助的信息 包括簡(jiǎn)便的維修操作方法 出版物或指南等 它可提供判斷故障的歷史信息 故障查找邏輯以及發(fā)現(xiàn)和修復(fù)故障的程序等 診斷方案 diagnosticconcept 對(duì)系統(tǒng)或設(shè)備進(jìn)行診斷的范圍 功能和運(yùn)用的初步安排 診斷測(cè)試 diagnostictest 為確定發(fā)生了故障和隔離故障所進(jìn)行的測(cè)試 自測(cè)試 selftest 由產(chǎn)品本身進(jìn)行的檢查其是否在容限內(nèi)工作的一個(gè)或一系列測(cè)試 性能監(jiān)測(cè) performancemonitoring 在不中斷系統(tǒng)工作的情況下 對(duì)選定性能參數(shù)進(jìn)行連續(xù)或周期性的觀測(cè) 以確定系統(tǒng)是否在規(guī)定的極限范圍內(nèi)工作的過程 通過 不通過測(cè)試 GO NOGOTest 為判定系統(tǒng)能否正常工作的測(cè)試 GO表示工作正常 NOGO表示工作不正常 環(huán)繞測(cè)試 wrap aroundtest 借助UUT內(nèi)轉(zhuǎn)換網(wǎng)絡(luò)或自檢適配器 把輸出端連接到輸入端來完成的測(cè)試 功能測(cè)試 functionaltest 確定UUT功能是否正常的測(cè)試 測(cè)試的工作環(huán)境 如激勵(lì)和負(fù)載 可以是實(shí)際的 也可以是模擬的 聯(lián)機(jī)測(cè)試 on linetesting 在正常工作環(huán)境下對(duì)其進(jìn)行的測(cè)試 同義詞 在線測(cè)試 脫機(jī)測(cè)試 off linetesting 在脫離產(chǎn)品正常工作環(huán)境下對(duì)其進(jìn)行的測(cè)試 同義詞 離線測(cè)試 常用測(cè)試性與診斷術(shù)語 續(xù)5 測(cè)試可控性 testcontrollability 確定或描述系統(tǒng)和設(shè)備有關(guān)信號(hào)可被控制程度的一種設(shè)計(jì)特性 測(cè)試可觀測(cè)性 testobservability 確定或描述系統(tǒng)和設(shè)備有關(guān)信號(hào)可被觀測(cè)程度的一種設(shè)計(jì)特性 測(cè)試適配器 testadapter 在和測(cè)試設(shè)備之間提供電子 電氣和機(jī)械上兼容的一個(gè)或一系列裝置 可以包括測(cè)試設(shè)備中不具備的適當(dāng)激勵(lì)和負(fù)載 故障 fault 產(chǎn)品不能執(zhí)行規(guī)定功能的狀態(tài) 故障注入 faultinsertion 為了驗(yàn)證BIT TPS及ATE的功能 在UUT中引入實(shí)際故障或模擬故障的過程 故障特征 faultsigna