陣列感應(yīng)資料處理培訓(xùn)ppt課件

1、12345陣列感應(yīng)MIT5530儀器67電源帶通濾波前置放大線圈系壓力平衡發(fā)射驅(qū)動數(shù)據(jù)采集處置與控制陣列感應(yīng)MIT5530配套100KBPS遙測處置軟件刻度安裝1.1 MIT5530陣列感應(yīng)儀器總體組成陣列感應(yīng)儀器總體組成MIT5530陣列感應(yīng)儀器線圈系構(gòu)造陣列感應(yīng)儀器線圈系構(gòu)造1.2 MIT5530陣列感應(yīng)線圈系構(gòu)造陣列感應(yīng)線圈系構(gòu)造1.2 MIT5530陣列感應(yīng)線圈系構(gòu)造陣列感應(yīng)線圈系構(gòu)造MIT5530原始丈量信號原始丈量信號1.3 MIT5530陣列感應(yīng)丈量信號陣列感應(yīng)丈量信號1.3 MIT陣列感應(yīng)呼應(yīng)特性陣列感應(yīng)呼應(yīng)特性012345-0.50.00.51.01.52.02.53.03.

2、54.04.5 RGF (1/m) (m) 子 陣列1 子 陣列2 子 陣列3 子 陣列4 子 陣列5 子 陣列6 子 陣列7 子 陣列8012345-0.10.00.10.20.30.40.50.60.70.80.91.0 IRGFR (m) 子 陣列1 子 陣列2 子 陣列3 子 陣列4 子 陣列5 子 陣列6 子 陣列7 子 陣列8-5-4-3-2-1012345-0.50.00.51.01.52.02.53.03.54.0 VGF (1/m)z (m) 子 陣列1 子 陣列2 子 陣列3 子 陣列4 子 陣列5 子 陣列6 子 陣列7 子 陣列81.4 MIT5530陣列感應(yīng)技術(shù)目的陣

3、列感應(yīng)技術(shù)目的1.5 MIT5530陣列感應(yīng)儀器順應(yīng)范圍陣列感應(yīng)儀器順應(yīng)范圍MIT55305530短陣列丈量誤差較大nMIT55305530最正確任務(wù)范圍：Rt 在0.2-100m， Rt/Rm應(yīng)在白色區(qū)域內(nèi)。nMIT5530陣列感應(yīng)儀器適用最正確井眼條件：鉆頭直徑在6150cm- 12(300cm)，當井眼尺寸大于12時，合成的誤差能夠較大。MIT55305530一切陣列丈量誤差較大1.6 MIT5530陣列感應(yīng)儀器優(yōu)點陣列感應(yīng)儀器優(yōu)點v監(jiān)控曲線監(jiān)控曲線QCQC斷定斷定v測井曲線合理性斷定測井曲線合理性斷定 QCQC曲線斷定：曲線斷定：MIT5530MIT5530儀器質(zhì)量監(jiān)控曲線儀器質(zhì)量監(jiān)控

4、曲線QCQC數(shù)值變化范圍應(yīng)小于數(shù)值變化范圍應(yīng)小于1010。且。且QCQC曲線無突變。否那么需重新加電測井。曲線無突變。否那么需重新加電測井。 原始曲線合理性斷定：原始曲線合理性斷定： MIT5530MIT5530原始曲線在典型地層情況下應(yīng)符合實際呼應(yīng)。其典型原始曲線在典型地層情況下應(yīng)符合實際呼應(yīng)。其典型地層主要有：均質(zhì)地層呼應(yīng)，有井眼無侵入厚層，高侵厚層，低地層主要有：均質(zhì)地層呼應(yīng)，有井眼無侵入厚層，高侵厚層，低侵厚層情況下實際呼應(yīng)。在判別原始曲線關(guān)系時，應(yīng)選擇典型厚侵厚層情況下實際呼應(yīng)。在判別原始曲線關(guān)系時，應(yīng)選擇典型厚層進展曲線關(guān)系分析，假設(shè)與實際圖版相符，即儀器任務(wù)形狀正層進展曲線關(guān)系分

5、析，假設(shè)與實際圖版相符，即儀器任務(wù)形狀正常。常。0.010.11101000.010.1110100地層電導(dǎo)率（S/m）視電導(dǎo)率（S/m） .A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfLMIT5530均質(zhì)地層呼應(yīng)MIT5530常見問題：原始曲線缺失字符未安裝間隔器儀器預(yù)熱缺乏刻度文件加載錯誤測井遇卡硬件缺點3.1 MIT5530陣列感應(yīng)曲線命名規(guī)范3.2 MIT5530陣列感應(yīng)不同扶正器方案測試3.2 MIT5530陣列感應(yīng)不同扶正器對短陣列影響 MIT5530測井影響要素: 溫度影響 井眼影

6、響 趨膚效應(yīng) 圍巖影響4.2 趨膚效應(yīng)影響趨膚效應(yīng)影響0.010.11101000.010.1110100地層電導(dǎo)率（S/m）視電導(dǎo)率（S/m） .A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MRmspfL偏心度偏心度dhdh井眼直徑井眼直徑RFRFMudMudRMRM深度深度=0.25m, =0.25m, 分辨率分辨率=0.3m=0.3m深度深度=0.50m, =0.50m, 分辨率分辨率=0.6m=0.6m深度深度=0.75m, =0.75m, 分辨率分辨率=1.2m=1.2m深度深度=1.5m, =1

7、.5m, 分辨率分辨率=1.5m=1.5m深度深度=2.25, =2.25, 分辨率分辨率=1.8m=1.8m4.5 MIT5530預(yù)處置預(yù)處置4.6 MIT5530井眼校正井眼校正的，探測深度深必定分辨率低，探測深度淺那么分辨率高。4.7 MIT5530合成處置合成處置AT90n四英尺匹配 AF10、AF20、AF30、AF60、AF904.8 MIT5530反演反演處置環(huán)節(jié)質(zhì)量控制處置環(huán)節(jié)質(zhì)量控制 處置環(huán)節(jié)質(zhì)量控制主要是斷定處置過程中參數(shù)處置環(huán)節(jié)質(zhì)量控制主要是斷定處置過程中參數(shù)選取能否適宜，井段的選擇應(yīng)以井眼相對規(guī)那么的選取能否適宜，井段的選擇應(yīng)以井眼相對規(guī)那么的大段泥巖段作為判別點，結(jié)合

8、浸透層曲線進展綜合大段泥巖段作為判別點，結(jié)合浸透層曲線進展綜合判別；處置效果可以經(jīng)過井眼校正曲線和真分辨率判別；處置效果可以經(jīng)過井眼校正曲線和真分辨率聚焦曲線來綜合斷定。聚焦曲線來綜合斷定。圖20正演模擬無侵地層合格的處置效果 圖21正演模擬無侵地層過校正效果圖正演模擬無侵地層欠校正效果圖 吉林紅井合格的處置效果吉林紅井過欠校正處置效果 在井眼相對規(guī)那么的大段泥巖段，合格的井眼校正曲線經(jīng)過真分辨率聚焦，其聚焦曲線關(guān)系應(yīng)與其分辨率關(guān)系相一致。即合成淺探測曲線分辨率高，合成深探測分辨率低。在非浸透層即出現(xiàn)短陣列在長陣列左右擺動的景象。這是由于其分辨率差別導(dǎo)致。 井眼相對規(guī)那么的大段泥巖段，井眼校正過校正或欠校正那么在其合成曲線中會出現(xiàn)短陣列在長陣列左側(cè)或右側(cè)的景象。此景象為校正不當，需求適當調(diào)整處置參數(shù)。 MIT5530匹配曲線關(guān)系：匹配曲線關(guān)系：MIT5530匹配曲線在在典型浸透層低阻環(huán)帶除外情況下應(yīng)匹配曲線在在典型浸透層低阻環(huán)帶除外情況下應(yīng)滿足：滿足：當當Rmf Rw 時：時： AX10=AX20=AX30=AX60 Rw時：時： A