靜電放電需求

1、靜電放電需求一適用範(fàn)圍二名詞解釋三測(cè)試位準(zhǔn)四試驗(yàn)設(shè)備配置五測(cè)試程序六測(cè)試結(jié)果評(píng)估七與其他法規(guī)之差異一適用範(fàn)圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定EN 61000-4-2IEC 61000-4-2用以承受直接來(lái)自操作者及相接物件對(duì)設(shè)備產(chǎn)生之靜電放電之需求及其測(cè)試方法。依不同之環(huán)境及安裝狀態(tài)而有不同之測(cè)試位準(zhǔn)，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之測(cè)試方法可作為遭受靜電放電之工業(yè)程序量測(cè)及控制儀器功能評(píng)估之一般基準(zhǔn)。二名詞解釋ESD：靜電放電。EUT：待測(cè)設(shè)備。GRP：一平坦之導(dǎo)體表面並以其電位做為一共同基準(zhǔn)。耦合面：為一金屬版或面對(duì)其施以放電以模擬對(duì)鄰接於EUT物體的靜電放電。HCP：水平耦合面。VCP：垂直耦合面。接觸放電：測(cè)試方法之一，其試

2、驗(yàn)產(chǎn)生器之電極保持與EUT 之接觸且由產(chǎn)生器放電開(kāi)關(guān)啟動(dòng)放電?？臻g放電：測(cè)試方法之一，其試驗(yàn)產(chǎn)生器之充電電極接近 EUT且由對(duì)EUT產(chǎn)生火花放電。三測(cè)試位準(zhǔn)位準(zhǔn)接觸放電測(cè)試電壓空間放電測(cè)試電壓1234X2kV4kV6kV8kV特定值2kV4kV8kV15kV特定值X：表示開(kāi)放位準(zhǔn)，此位準(zhǔn)一特定設(shè)備需求而由買賣雙方 規(guī)定，指定之電壓則需要特別之測(cè)試設(shè)備。四試驗(yàn)設(shè)備配置 試驗(yàn)設(shè)備的配置包括試驗(yàn)產(chǎn)生器、EUT及輔助儀器並以下列方式對(duì)EUT實(shí)行直接或間接放電。（1） 對(duì)導(dǎo)體表面及耦合面接觸放電。（2） 對(duì)絕緣表面空間放電。試驗(yàn)可分為下列兩種不同形式。（1） 於試驗(yàn)場(chǎng)所中施行之形式試驗(yàn)。（2） 於安裝場(chǎng)

3、所對(duì)完成最終安裝條件之設(shè)備試驗(yàn)。EUT儘量以接近最終安裝條件之形式試驗(yàn)為最佳方法。1. 試驗(yàn)場(chǎng)所試驗(yàn)設(shè)備 試驗(yàn)場(chǎng)所地面應(yīng)有一銅或鋁製之金屬版的基準(zhǔn)面，其厚度至少0.25mm，若使用其他金屬材料其厚度至少0.65mm，基準(zhǔn)面大小至少1，其最終大小應(yīng)由EUT尺寸而定，每一側(cè)邊應(yīng)比EUT或耦合面多0.5m且連接至接地保護(hù)系統(tǒng)應(yīng)符合一般安全規(guī)定。測(cè)試設(shè)備與試驗(yàn)場(chǎng)所牆面及其他金屬物質(zhì)之距離至少1m，EUT依製造廠商安裝規(guī)定接地切勿而外增加接地。試驗(yàn)產(chǎn)生器地接地線應(yīng)與GRP連接且長(zhǎng)度為2m，測(cè)試時(shí)，若試驗(yàn)產(chǎn)生器地接地線太長(zhǎng)，則太長(zhǎng)部份應(yīng)至於GRP上之非導(dǎo)體區(qū)域，且應(yīng)遠(yuǎn)於測(cè)試架構(gòu)之認(rèn)何導(dǎo)體至少0.2m以上。

4、測(cè)試用的耦合面如（HCP、VCP）應(yīng)使用470k電阻X2串連於耦合面與GRP兩端。（a）桌上型設(shè)備 木製測(cè)試桌距基準(zhǔn)面0.8m，水平耦合面1.6m*0.8m置於桌面上，EUT及電纜與水平耦合面應(yīng)以0.5mm之絕緣物隔離，若EUT太大無(wú)法符合距HCP每邊至少0.1m時(shí)，可利用相同之HCP以短邊相接但須相距0.3m且各自用470k電阻串連至GRP。其set-up圖如下。（b）落地型設(shè)備 EUT及電纜與基準(zhǔn)面應(yīng)以0.1m之絕緣物隔離，且任何EUT之固定腳與其他週邊應(yīng)保持適當(dāng)位置。其set-up圖如下。2.安裝場(chǎng)所試驗(yàn)設(shè)備 此種試驗(yàn)為選擇性而由買賣雙方共同協(xié)議實(shí)施，此種試驗(yàn)須考量其他共同放置之設(shè)備可能

5、無(wú)法承受之因素。此設(shè)備或系統(tǒng)應(yīng)在安裝完成條件下加以測(cè)試，為了使放電迴路接的電纜容易連接，基準(zhǔn)面應(yīng)位於安裝地面距EUT離0.1m處，且ESD產(chǎn)生器之放電迴路電纜應(yīng)連接至基準(zhǔn)面，其厚度至少0.25mm（銅或鋁），若使用其他金屬材料其厚度至少0.65mm，基準(zhǔn)面大小至少0.3m*2m，基準(zhǔn)面應(yīng)連接至保護(hù)接地系統(tǒng)。若此種措施不易達(dá)成，則GRP應(yīng)連接至EUT之接地點(diǎn)。其set-up圖如下。五測(cè)試程序環(huán)境狀態(tài)：1. 溫度：15- 35。2. 溼度：30- 60。3. 大氣壓力：68kPa（680mbar）- 106kPa（1060mbar） （645mmHg）-（795mmHg）。EUT操作：所選擇之測(cè)試

6、程式及軟體應(yīng)可執(zhí)行所有EUT一般模式之操作，本規(guī)範(fàn)亦鼓勵(lì)使用特殊軟體但須可執(zhí)行所有EUT一般模式之操作。靜電放電操作：測(cè)試應(yīng)依照測(cè)試計(jì)畫(huà)進(jìn)行其內(nèi)容包含下列幾點(diǎn)：1. 代表性之EUT操作狀態(tài)。2. EUT應(yīng)為桌上型設(shè)備或落地型設(shè)備。3. 是否需要對(duì)HCP或VCP進(jìn)行間接測(cè)試及VCP位置。4. 進(jìn)行放電之點(diǎn)。5. 每一點(diǎn)為接觸放電或空間放電。6. 實(shí)行測(cè)試之位準(zhǔn)。7. 每一點(diǎn)之放電次數(shù)。直接對(duì)EUT施予放電：靜電放電應(yīng)僅對(duì)在一般使用狀態(tài)或維護(hù)下與人體接觸之EUT表面或其上各點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，對(duì)以其他以維護(hù)目的之各點(diǎn)除了買賣雙方有協(xié)議外不得加以放電測(cè)試。測(cè)試電壓應(yīng)由最低之要求逐次往上遞增至測(cè)定之要求位準(zhǔn)已

7、判定之實(shí)際狀態(tài)，最終位準(zhǔn)不應(yīng)超過(guò)製造廠商制定之要求值以免損壞設(shè)備。測(cè)試時(shí)應(yīng)使用單擊放電，於預(yù)先選定之測(cè)試點(diǎn)上加以放電測(cè)試，每點(diǎn)至少加以放電十次，每次放電時(shí)間至少相鄰1秒，若有需要時(shí)間可加長(zhǎng)。間接對(duì)EUT施予放電：對(duì)靠近於EUT之平面或週邊由ESD產(chǎn)生器對(duì)耦合面加以接觸放電：水平耦合面測(cè)試：在距EUT四週0.1m處之水平耦合面加以接觸放電，每點(diǎn)至少加以放電十次。垂直耦合面測(cè)試：在距EUT四週0.1m處之垂直耦合面加以接觸放電，每點(diǎn)至少加以放電十次。其垂直耦合面尺寸為0.5m*0.5m。註：精密測(cè)試其放電測(cè)試點(diǎn)之放電頻率可使用每秒20次或更高。ESD產(chǎn)生器應(yīng)保持與放電表面垂直，其放電迴路應(yīng)與EUT

8、至少距離0.2m。在做接觸放電前，ESD產(chǎn)生器放電電極尖端應(yīng)與EUT接觸，若導(dǎo)體表面塗有漆或絕緣物質(zhì)應(yīng)有以下之處置程序：若製造商未標(biāo)明該塗裝為絕緣性，則ESD產(chǎn)生器放電電極尖端應(yīng)透入塗裝面與導(dǎo)體進(jìn)行接觸放電；若製造商標(biāo)明該塗裝為絕緣性，則可進(jìn)行空間放電，若塗裝絕緣超過(guò)空間放電之位準(zhǔn)也不可使用接觸放電測(cè)試程序。在做空間放電時(shí)，圓形放電端應(yīng)儘可能接近EUT，放電後應(yīng)由EUT移開(kāi)再進(jìn)行下次放電。若測(cè)試場(chǎng)地、設(shè)備、程序及環(huán)境條件符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)，其對(duì)EUT所進(jìn)行耐電壓能力測(cè)試，若告知EUT性能無(wú)法通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)或買賣雙方所定之標(biāo)準(zhǔn)，則認(rèn)定EUT無(wú)法通過(guò)ESD此項(xiàng)測(cè)試。六測(cè)試結(jié)果評(píng)估 由於待測(cè)設(shè)備及系統(tǒng)的不同

9、造成對(duì)靜電放電之影響評(píng)估困難，應(yīng)此建立一般評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)，其包含待測(cè)設(shè)備及系統(tǒng)的操作狀態(tài)及功能：1. 在規(guī)範(fàn)限度中待測(cè)設(shè)備及系統(tǒng)的操作狀態(tài)及功能正常，Criterion A。2. 在規(guī)範(fàn)限度中待測(cè)設(shè)備及系統(tǒng)的操作狀態(tài)及功能劣化或 喪失，但可自行恢復(fù)，Criterion B。3. 在規(guī)範(fàn)限度中待測(cè)設(shè)備及系統(tǒng)的操作狀態(tài)及功能劣化或 喪失，需操作人員處理或系統(tǒng)重新設(shè)定方可恢復(fù)，Criterion C。4. 在規(guī)範(fàn)限度中待測(cè)設(shè)備及系統(tǒng)由於設(shè)備或軟體損壞或流 失，而無(wú)法恢復(fù)，Criterion D。在驗(yàn)收試驗(yàn)中，測(cè)試計(jì)畫(huà)及測(cè)試結(jié)果之解釋將由買賣雙方協(xié)議訂定，測(cè)試狀態(tài)即結(jié)果應(yīng)包含於測(cè)試文件中。七與其他法規(guī)之差異

10、 EN 50082-1（1997）為居住地、商業(yè)及輕工業(yè)環(huán)境電子產(chǎn)品之一般電磁耐受測(cè)試之規(guī)範(fàn)，目前銷售歐洲共同市場(chǎng)之資訊技術(shù)設(shè)備（ITE）產(chǎn)品普遍引用此規(guī)範(fàn)。EN55024（1998）為新制訂的資訊技術(shù)設(shè)備（ITE）產(chǎn)品之電磁耐受測(cè)試規(guī)範(fàn)，其強(qiáng)制實(shí)施日期為西元2001年7月1日。EN 50082-1（1997） 之靜電耐受測(cè)試依據(jù)EN 61000-4-2之規(guī)定；EN55024（1998）之靜電耐受測(cè)試依據(jù)IEC 61000-4-2之規(guī)定，並加以修訂。其差異如下：靜電耐受測(cè)試時(shí)，應(yīng)測(cè)試EUT表面及使用期間會(huì)被使用者接觸之點(diǎn)，亦包含EUT耦合面。有兩種方法在靜電耐受測(cè)試中被應(yīng)用：1. 針對(duì)EUT之導(dǎo)體面及其耦合面實(shí)施接觸放電。2. 針對(duì)EUT之夾縫、孔洞及絕緣表面實(shí)空間觸放電。1. 針對(duì)EUT之導(dǎo)體面及其耦合面實(shí)施接觸放電：對(duì)每一EUT至少應(yīng)實(shí)施200次接觸放電，即正、負(fù)極性至少100次。EUT應(yīng)至少選擇四個(gè)點(diǎn)實(shí)施接觸放電，其中EUT中心前之HCP邊緣應(yīng)