單板硬件調(diào)試報(bào)告

1、XXX有限公司 文檔中心 產(chǎn)品版本 密級(jí) 產(chǎn)品名稱： 共17頁(yè) XX單板硬件調(diào)試和單元測(cè)試報(bào)告 （僅供內(nèi)部使用） 擬制： 日期： yyyy-mm-dd 審核： 日期： yyyy-mm-dd 審核： 日期： yyyy-mm-dd 批準(zhǔn)： 日期： yyyy-mm-dd 日期 版本 描述 作者 2001-06-08 1.00 初稿完成 作者名: yyyy-mm-dd 1.01 修改XXX 作者名 yyyy-mm-dd 1.02 修改XXX 作者名 yyyy-mm-dd 2.00 修改XXX 作者名 1概述6 1.1基本情況介紹6 1.2單板模塊劃分6 1.3調(diào)試測(cè)試組網(wǎng)圖6 1.4調(diào)試時(shí)間、地點(diǎn)及人

2、員6 2調(diào)試測(cè)試用例記錄6 2.1功能部分調(diào)試6 2.1.1 模塊 16 2.1.1.1調(diào)試用例16 2.1.1.2調(diào)試用例26 2.1.2 模塊 26 2.1.3問(wèn)題列表7 2.2信號(hào)質(zhì)量測(cè)試用例7 2.2.1電源8 2.2.1.1測(cè)試數(shù)據(jù)8 2.2.1.2測(cè)試波形及分析8 2.2.1.3問(wèn)題列表8 2.2.2邏輯信號(hào)9 2.2.2.1測(cè)試結(jié)果9 2.2.2.2測(cè)試波形及分析9 2.2.2.3問(wèn)題列表9 2.2.3時(shí)鐘信號(hào)10 2.2.3.1測(cè)試結(jié)果10 2.2.3.2實(shí)測(cè)波形及分析10 2.2.3.3問(wèn)題列表10 2.3時(shí)序測(cè)試用例10 2.3.1CPU接口部分時(shí)序11 2.3.1.1測(cè)試

3、結(jié)果11 2.3.1.2測(cè)試時(shí)序及分析11 2.3.2業(yè)務(wù)接口部分時(shí)序11 2.3.2.1測(cè)試結(jié)果11 2.3.2.2測(cè)試時(shí)序及分析12 2.3.3問(wèn)題列表12 2.4失效器件原因分析12 3調(diào)試測(cè)試總結(jié)12 3.1調(diào)試測(cè)試結(jié)果12 3.2遺留問(wèn)題報(bào)告13 3.3調(diào)試測(cè)試經(jīng)驗(yàn)總結(jié)14 4其他14 5評(píng)審報(bào)告14 表目錄 表1有冋題信號(hào)記錄表格9 表2有冋題信號(hào)記錄表格 10 表3有冋題信號(hào)記錄表格 10 表4時(shí)序測(cè)試遺留問(wèn)題 12 表5調(diào)試測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)一 12 表6調(diào)試測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)二 12 表7調(diào)試測(cè)試問(wèn)題列表 13 表8信號(hào)質(zhì)量遺留問(wèn)題統(tǒng)計(jì)表 13 表9時(shí)序遺留問(wèn)題統(tǒng)計(jì)表 13 表10功能遺

4、留問(wèn)題統(tǒng)計(jì)表 13 圖目錄 圖1 XX圖 文檔名稱 關(guān)鍵詞： 調(diào)試測(cè)試、計(jì)劃、其它關(guān)鍵詞 摘要： 縮略語(yǔ)清單：對(duì)本文所用縮略語(yǔ)進(jìn)行說(shuō)明，要求提供每個(gè)縮略語(yǔ)的英文全名和中文解釋。 概述 （本章節(jié)內(nèi)容在計(jì)劃模板中都有體現(xiàn)，在確保內(nèi)容沒(méi)有改變的情況下，可以 直接拷貝） 1.1基本情況介紹 簡(jiǎn)單介紹產(chǎn)品，并說(shuō)明單板正式名稱和PCB版本號(hào)。 1.2單板模塊劃分 從調(diào)試測(cè)試的角度簡(jiǎn)要說(shuō)明單板硬件功能模塊的劃分情況，以及各個(gè)模塊 的功能和相互關(guān)系。 1.3調(diào)試測(cè)試組網(wǎng)圖 簡(jiǎn)單描述調(diào)試測(cè)試的組網(wǎng)圖?？梢耘湟圆鍒D進(jìn)行說(shuō)明。 1.4調(diào)試時(shí)間、地點(diǎn)及人員 描述本次調(diào)試的時(shí)間，地點(diǎn)和開(kāi)發(fā)調(diào)試人員。 2調(diào)試測(cè)試用例記錄

5、 2.1功能部分調(diào)試 2.1.1模塊1 2.1.1.1調(diào)試用例1 |調(diào)試測(cè)試是否通過(guò)：(OK, POK , NG , NT) 1.1.1.1調(diào)試用例2 1.1.2模塊2 1.1.3問(wèn)題列表 1.2信號(hào)質(zhì)量測(cè)試用例 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試要保證全面性，即單板上的每個(gè)信號(hào)都要保證測(cè)試到，為了 保證測(cè)試不遺漏，可以先將單板按照功能模塊劃分，并列舉出每個(gè)功能模 塊中的器件，每個(gè)器件 涉及到的信號(hào)再按照實(shí)現(xiàn)的功能分類，要列出每類信號(hào)的的 判斷標(biāo)準(zhǔn)，隨后給出測(cè)試記錄的表格。 功能模塊的劃分可以為：電源模塊、時(shí)鐘模塊、交叉模塊、業(yè)務(wù)處理模塊、接口模 塊、CPU控制模塊、主備倒換模塊等等，或者參照前面 2.單板硬件功能

6、模塊劃分”。 對(duì)于不同的模塊，包含或涉及到不同類型的信號(hào)，芯片對(duì)不同信號(hào)的質(zhì)量要求是不一 樣的，例如對(duì)電源的質(zhì)量要求是幅度、上電時(shí)間、上電順序、紋波等；對(duì)時(shí)鐘信號(hào)的 質(zhì)量要求是邊沿單調(diào)性、上升時(shí)間、下降時(shí)間、占空比、上沖、下沖、回沖、時(shí)鐘頻 率、抖動(dòng)等；對(duì)控制信號(hào)的質(zhì)量要求則是電平幅度、有效寬度、上沖、下沖、回沖 等；對(duì)業(yè)務(wù)信號(hào)的質(zhì)量要求則是電平幅度、上沖、下沖、回沖、眼圖等。 信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試點(diǎn)要選在信號(hào)的終端。 在表格中結(jié)果判斷一欄中，注明OK、POK、NG、NT，其中： OK:測(cè)試結(jié)果全部正確 POK :測(cè)試結(jié)果大部分正確 NG:測(cè)試結(jié)果不通過(guò) NT：由于各種原因本次無(wú)法測(cè)試 以下的測(cè)試結(jié)

7、果記錄中，對(duì)測(cè)試通過(guò)的信號(hào)，只要求提供其列表；測(cè)試不通過(guò)的信 號(hào)，要求提供測(cè)試波形記錄、原因分析、解決措施和解決計(jì)劃。 以下提供的表格為通用的信號(hào)質(zhì)量規(guī)范要求和一些通用的電平信號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)，可作為信 號(hào)質(zhì)量判斷的標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)需要參考器件手冊(cè)；以下給出的標(biāo)準(zhǔn)與芯片要求不符的，以 芯片要求為準(zhǔn)，并要求在芯片的測(cè)試實(shí)測(cè)記錄前，列出其特殊要求。 信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)特性 | 信號(hào)類型|vcc|VOHPVIhVT TTL、ABT 5 2.4 2 1.5 LVTTL、LVT、LVC、 ALVC、LV 3.3 2.4 2 1.5 CMOS 5 4.44 3.5 2.5 PECL 5 4.19 3.87 3.7 LVPECL

8、3.3 2.42 2.06 2 GTL 1.2 0.86 0.8 GTL+ 1.5 1.05 1 ETL 5 2.4 1.6 1.5 BTL （低電平為1V） 2.1 1.62 1.55 通用信號(hào)規(guī)范 信號(hào)類 型 正向 過(guò)沖 負(fù)向 過(guò)沖 正向回 沖 負(fù)向 回沖 正向毛刺 負(fù)向毛 刺 邊沿特性 實(shí)測(cè)VIH要求 PECL 0.2V 3.87V 3.52 V 3.87V 必須單調(diào) 3.87 TTL 1V 2.4V 0.8V 2.4V 必須單調(diào) 3V TTL(3V ) 0.6V 2.4V 0.8V 2.4V 必須單調(diào) 2.8V CMOS 1V 3.5V 1.5V 3.5V 必須單調(diào) 3.5V GTL+

9、 0.4V 1.2V 0.3V 1.2V 必須單調(diào) 1.4V GTL 0.3V 0.95V 0.25 V 0.95V 必須單調(diào) 1.15V 邊沿特性：對(duì)通用信號(hào)中的控制信號(hào)一般要求邊沿必須單調(diào)；對(duì)數(shù)據(jù)、地址等信號(hào) 可結(jié)合時(shí)序的測(cè)試結(jié)果來(lái)作相應(yīng)的要求。 通用時(shí)鐘信號(hào)規(guī)范* 信號(hào)類型 占空比 上升單調(diào)性 上升時(shí)間 下降單調(diào)性 下降時(shí)間 抖動(dòng)特性 PECL 40%-60% 必須單調(diào) 必須單調(diào) 待定。 建議：對(duì)于存在指標(biāo) 規(guī)定的信號(hào)，應(yīng)滿足 指標(biāo)；無(wú)指標(biāo)規(guī)定或 無(wú)法明確界定的情況 下，應(yīng)滿足可靠性要 求。 TTL 40%-60% 必須單調(diào) 必須單調(diào) TTL(3V) 40%-60% 必須單調(diào) 必須單調(diào)

10、CMOS 40%-60% 必須單調(diào) 必須單調(diào) GTL+ 40%-60% 必須單調(diào) 必須單調(diào) * :通用時(shí)鐘信號(hào)規(guī)范描述了時(shí)鐘信號(hào)要特殊關(guān)注的特性，測(cè)試中要注意，時(shí)鐘信號(hào) 必須同時(shí)滿足信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)特性和通用信號(hào)規(guī)范。 1.1.1電源 1.1.1.1測(cè)試數(shù)據(jù) 幅度允許變化范圍 VCC1推薦電源電壓* 紋波 地線噪 要求指標(biāo) % 曲 2% 實(shí)測(cè)值 * :單電源工作的不分VCC1、VCC2等 1.1.1.1測(cè)試波形及分析 在此粘貼上測(cè)試的所有波形，實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都 做為以后問(wèn)題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘 貼或者做為單獨(dú)的附件提供。 1.1.1.2問(wèn)題列表 在

11、此需要提供有問(wèn)題信號(hào)的波形、問(wèn)題產(chǎn)生的原因分析、改進(jìn)措施和修改 計(jì)劃。也可以用表格形式記錄，在問(wèn)題描述欄中說(shuō)明是信號(hào)的哪個(gè)特性不 滿足要求，具體波形見(jiàn)圖XX。參考表格如下： n有問(wèn)題信號(hào)記錄表格 信號(hào)名 /網(wǎng)絡(luò) 名 測(cè)試點(diǎn) 問(wèn)題描述 原因分 析 改進(jìn)措 施 是否填 寫(xiě)了缺 陷跟蹤 電子流 1.1.1邏輯信號(hào) 1.1.1.1測(cè)試結(jié)果 1. 接口模塊 U1 : 信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名 測(cè)試點(diǎn)（管腳） 結(jié)果判斷 備注 如：CLK U1 1 OK 可以 在此 填寫(xiě) 為了 產(chǎn)生 這些 信 號(hào)， 采取 了什 么樣 的的 激勵(lì) 方式 或方 法 U2 : 信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名 測(cè)試點(diǎn)（管腳） 結(jié)果判斷 備注 如：CLK U

12、1 1 OK 可以 在此 填寫(xiě) 為了 產(chǎn)生 這些 信 號(hào)， 采取 了什 么樣 的的 激勵(lì) 方式 或方 法 JJ 000000 2. 業(yè)務(wù)處理模塊 3. XXX模塊 1.1.1.1測(cè)試波形及分析 在此粘貼上測(cè)試的所有波形、實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都 做為以后問(wèn)題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘 貼或者做為單獨(dú)的附件提供。 1.1.1.2問(wèn)題列表 在此需要提供有問(wèn)題信號(hào)的波形、問(wèn)題產(chǎn)生的原因分析、改進(jìn)措施和修改 計(jì)劃。也可以用表格形式記錄，在問(wèn)題描述欄中說(shuō)明是信號(hào)的哪個(gè)特性不 滿足要求，具體波形見(jiàn)圖XX。參考表格如下： n有問(wèn)題信號(hào)記錄表格 信號(hào)名 /網(wǎng)絡(luò) 名 測(cè)試

13、點(diǎn) 問(wèn)題描述 原因分析 改進(jìn)措 施 是否填 寫(xiě)了缺 陷跟蹤 電子流 1.1.1時(shí)鐘信號(hào) 1.1.1.1測(cè)試結(jié)果 信號(hào)名/網(wǎng)絡(luò)名 測(cè)試點(diǎn)（管 腳） 結(jié)果判斷 備注 如：CLK U1 1 OK 可以在 此填寫(xiě) 為了產(chǎn) 生這些 信號(hào)， 采取了 什么樣 的的激 勵(lì)方式 或方法 1.1.1.1實(shí)測(cè)波形及分析 在此粘貼上測(cè)試的所有波形、實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都 做為以后問(wèn)題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘 貼或者做為單獨(dú)的附件提供。 1.1.1.2問(wèn)題列表 在此需要提供有問(wèn)題信號(hào)的波形、問(wèn)題產(chǎn)生的原因分析、改進(jìn)措施和修改 計(jì)劃。也可以用表格形式記錄，在問(wèn)題描述欄中說(shuō)明是信

14、號(hào)的哪個(gè)特性不 滿足要求，具體波形見(jiàn)圖XX。參考表格如下： n有問(wèn)題信號(hào)記錄表格 信號(hào)名 /網(wǎng)絡(luò) 名 測(cè)試點(diǎn) 問(wèn)題描述 原因分 析 改進(jìn)措 施 是否填 寫(xiě)了缺 陷跟蹤 電子流 1.1時(shí)序測(cè)試用例 時(shí)序測(cè)試包括了 CPU的讀寫(xiě)時(shí)序、存儲(chǔ)器的操作時(shí)序、業(yè)務(wù)處理器件的數(shù)據(jù) 輸入輸出時(shí)序等。具體應(yīng)按單板實(shí)際設(shè)計(jì)進(jìn)行劃分。 在時(shí)序測(cè)試之前要列出涉及到時(shí)序要求的器件，如U3 , U4；然后可按照 器件分別來(lái)記錄時(shí)序測(cè)試結(jié)果，在記錄每個(gè)器件的測(cè)試結(jié)果之前，與信號(hào) 質(zhì)量測(cè)試類似，也要先列出器件對(duì)時(shí)序的要求。 表中標(biāo)識(shí)符應(yīng)與器件手冊(cè)對(duì)應(yīng)。 在表格中結(jié)果判斷一欄中，注明OK、POK、NG、NT，其中： OK:測(cè)試

15、結(jié)果全部正確 POK :測(cè)試結(jié)果大部分正確 NG：測(cè)試結(jié)果有較大的錯(cuò)誤 NT:由于各種原因本次無(wú)法測(cè)試 1.1.1 CPU接口部分時(shí)序 1.1.1.1測(cè)試結(jié)果 (下面表形式供參考使用，也可直接分別給出設(shè)計(jì)要求和實(shí)際測(cè)試得到的 時(shí)序圖，但必須明確給出測(cè)試結(jié)論和修改措施、計(jì)劃) 參數(shù) 標(biāo)識(shí) 符 最小值要 求(ns) 最大值要 求(ns) 實(shí)測(cè)值 (ns) 結(jié)論 改進(jìn) 措施 修改計(jì)劃 命令(/CS， /RAS，/CAS， /WE，DQM ) 的建立時(shí)間 tCS 修改計(jì)劃 中需寫(xiě)明 本板解 決、下一 板解決或 給出明確 的修改完 成日期。 命令（/CS， /RAS，/CAS， /WE，DQM） 的保持

16、時(shí)間 tCH 地址建立時(shí)間 tAS 地址保持時(shí)間 tAH 數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)建立時(shí) 間 tDS 數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)保持時(shí) 間 tDH 1.1.1.1測(cè)試時(shí)序及分析 在此粘貼上測(cè)試的所有波形、實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都 做為以后問(wèn)題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘 貼或者做為單獨(dú)的附件提供。 1.1.2業(yè)務(wù)接口部分時(shí)序 1.121測(cè)試結(jié)果 （下面表形式供參考使用，也可分別直接給出設(shè)計(jì)要求和實(shí)際測(cè)試得到的 時(shí)序圖，但必須明確給出測(cè)試結(jié)論和修改措施、計(jì)劃） 參數(shù) 標(biāo)識(shí)符 最小值要求（ns） 最大值要求（ns） 實(shí)測(cè)值 （ns） 結(jié)論 改進(jìn) 措施 修改計(jì)劃 時(shí)鐘周期 tCK 修改計(jì)劃中需寫(xiě)

17、 明本板解決、下 一板解決或給出 明確的修改完成 日期。 數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)建 立時(shí)間 tDS 數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)保 持時(shí)間 tDH 幀建立時(shí)間 幀保持時(shí)間 1.1.1.1測(cè)試時(shí)序及分析 在此粘貼上測(cè)試的所有波形、實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，并加以簡(jiǎn)單分析。所有的波形都 做為以后問(wèn)題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘 貼或者做為單獨(dú)的附件提供。 1.1.2問(wèn)題列表 將有問(wèn)題的信號(hào)列舉出來(lái)，如果完全滿足情況，填寫(xiě)無(wú) *時(shí)序測(cè)試遺留問(wèn)題 信號(hào)名 /網(wǎng)絡(luò) 名 測(cè)試點(diǎn) 問(wèn)題描述 原因分 析 改進(jìn)措 施 是否填 寫(xiě)了缺 陷跟蹤 電子流 1.1失效器件原因分析 描述對(duì)關(guān)鍵器件的失效分析結(jié)果和可靠性改進(jìn)和預(yù)防措施。 2調(diào)試測(cè)試

18、總結(jié) 2.1調(diào)試測(cè)試結(jié)果 對(duì)本次調(diào)試的項(xiàng)目進(jìn)行總結(jié)，包括完成總項(xiàng)數(shù)，通過(guò)多少項(xiàng)，失敗多少 項(xiàng)，部分通過(guò)多少項(xiàng)及百分比等，詳細(xì)的調(diào)試項(xiàng)目通過(guò)情況清單應(yīng)放在附 件部分，并在此處說(shuō)明該附件的位置。此處的總結(jié)一般用以下表格進(jìn)行表 現(xiàn)： 調(diào)試測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì) 計(jì)劃測(cè)試項(xiàng) 新增測(cè)試項(xiàng) 實(shí)際測(cè)試項(xiàng) 計(jì)劃花費(fèi)時(shí)間 （人時(shí)） 實(shí)際花費(fèi)時(shí)間 （人時(shí)） 調(diào)試測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)二 總項(xiàng)目數(shù) OK項(xiàng) POK項(xiàng) NG項(xiàng) NT項(xiàng) 數(shù)目 百分比 其中: OK:測(cè)試結(jié)果全部正確 POK：測(cè)試結(jié)果大部分正確 NG：測(cè)試結(jié)果有較大的錯(cuò)誤 NT:由于各種原因本次無(wú)法測(cè)試 總結(jié)調(diào)試的結(jié)果，確定所有已解決了的問(wèn)題，并對(duì)解決結(jié)果進(jìn)行總結(jié)，確 定未解

19、決的問(wèn)題。 為每個(gè)被測(cè)對(duì)象給出總結(jié)性的評(píng)價(jià)，包括其局限性，評(píng)價(jià)必須基于調(diào)試結(jié) 果和被測(cè)對(duì)象的通過(guò)/失敗準(zhǔn)則。對(duì)失敗風(fēng)險(xiǎn)的估計(jì)應(yīng)包括在內(nèi)。 總結(jié)主要的調(diào)試活動(dòng)和事件?？偨Y(jié)資源消耗數(shù)據(jù)，如總?cè)藛T、總機(jī)時(shí)，每 個(gè)主要調(diào)試活動(dòng)花費(fèi)的時(shí)間。 1.1遺留問(wèn)題報(bào)告 遺留問(wèn)題是指調(diào)試過(guò)程中發(fā)生的并且在調(diào)試報(bào)告時(shí)仍沒(méi)有得到解決需要投 下一版PCB回歸測(cè)試驗(yàn)證的問(wèn)題。 建立遺留問(wèn)題統(tǒng)計(jì)表格，可對(duì)遺留問(wèn)題數(shù)和級(jí)別進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，包括問(wèn)題總 數(shù)，致命，嚴(yán)重，一般和提示問(wèn)題的數(shù)目及百分比等，遺留問(wèn)題統(tǒng)計(jì)一般 可用以下表格描述，其中的字段可根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行設(shè)計(jì)和裁剪。 n調(diào)試測(cè)試問(wèn)題列表 總共發(fā)現(xiàn)問(wèn)題總數(shù) 致命問(wèn)題 嚴(yán)重問(wèn)題

20、一般問(wèn)題 提示問(wèn)題 問(wèn)題分四個(gè)級(jí)別來(lái)定義，各級(jí)別含義如下： 致命：引起系統(tǒng)死機(jī)或系統(tǒng)崩潰的問(wèn)題 嚴(yán)重：引起系統(tǒng)某一功能失效且不能簡(jiǎn)單恢復(fù)（如插拔單板）的問(wèn)題 一般：引起系統(tǒng)某一功能失效但可簡(jiǎn)單恢復(fù)或較難重現(xiàn)的問(wèn)題 提示：從操作或維護(hù)的角度發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題或建議 信號(hào)質(zhì)量遺留問(wèn)題統(tǒng)計(jì)表 問(wèn)題總數(shù) 致命問(wèn)題 嚴(yán)重問(wèn)題 一般問(wèn)題 提示問(wèn)題 其他統(tǒng)計(jì)項(xiàng) 數(shù)目 百分比 n時(shí)序遺留問(wèn)題統(tǒng)計(jì)表 問(wèn)題總數(shù) 致命問(wèn)題 嚴(yán)重問(wèn)題 一般問(wèn)題 提示問(wèn)題 其他統(tǒng)計(jì)項(xiàng) 數(shù)目 百分比 n功能遺留問(wèn)題統(tǒng)計(jì)表 問(wèn)題總數(shù) 致命問(wèn)題 嚴(yán)重問(wèn)題 一般問(wèn)題 提示問(wèn)題 其他統(tǒng)計(jì)項(xiàng) 數(shù)目 百分比 問(wèn)題分四個(gè)級(jí)別來(lái)定義，各級(jí)別含義如下： 致命：引起系統(tǒng)死機(jī)或系統(tǒng)崩潰的問(wèn)題 嚴(yán)重：引起系統(tǒng)某一功能失效且不