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文檔簡介

1、測試技術(shù)協(xié)議 測試技術(shù)協(xié)議 測試技術(shù)協(xié)議 上海集成電路設(shè)計(jì)研究中心(甲方)和XXXXXXXXXXXXX公司(乙方)經(jīng)友好協(xié)商，對XXXXXXXX項(xiàng)目的有關(guān)測試技術(shù)指標(biāo)問題達(dá)成如下協(xié)議： 一：乙方應(yīng)在本協(xié)議簽定 天內(nèi)將芯片資料，測試碼提供給甲方。 二：甲方在乙方提供封裝好的芯片后 天內(nèi)，將測試分析結(jié)果提交給乙方。 三：具體測試要求 甲方按乙方要求，在測試時(shí)將PA4、PA5、PA6、PA7端經(jīng)3.3K電阻上拉至5伏。 甲方在測試分析時(shí)，應(yīng)讓XXXX芯片工作在5V。 乙方提供XXXX功能測試碼文件(TXT格式)兩份。 甲方使用乙方提供的功能測試碼文件，在1MHZ下對樣品進(jìn)行測試分析。 乙方認(rèn)為正常情

2、況下，樣品的功能測試應(yīng)全部通過，參數(shù)測試結(jié)果應(yīng)在下表給定的范圍內(nèi)。 測試參數(shù)(常溫) 測試條件 最大值 典型值 最大值 單位 靜態(tài)工作電流 VDD=5V uA 動(dòng)態(tài)工作電流 VDD=5V uA 輸入高電平電壓 VDD=5V V 輸入低電平電壓 VDD=5V V 輸入高電平電流 VDD=5V,VIH=5V uA 輸入低電平電流 VDD=5V,VIL=0V uA 輸出高電平電壓 VDD=5V V 輸出低電平電壓 VDD=5V V 輸出高電平電流 VDD=5V,VOH=4.2V mA 輸出低電平電流 VDD=5V,VOL=0.4V mA 如乙方提供的樣品中有80%滿足以上要求，甲方應(yīng)向乙方出具一份測試分析報(bào)告，并以附件形式(磁盤文件，TXT格式)提供詳細(xì)的測試數(shù)據(jù)。 乙方若對甲方出具的測試分析報(bào)告及測試數(shù)據(jù)有任何疑問，必須在甲方測試分析工作完成之日起的兩個(gè)月內(nèi)向甲方提出。 乙方若須增加測試分析內(nèi)容，必須與甲方協(xié)商解決。 上海集

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