檢測曲線雷達(dá)原理大作業(yè)

1、swerlingI型目標(biāo)檢測曲線仿真姓 名： 楊寧 學(xué) 號(hào)專 業(yè)： 電子信息工程學(xué) 院： 電子工程學(xué)院一、 基本原理： （1）第一類稱Swerling型, 慢起伏, 瑞利分布。 接收到的目標(biāo)回波在任意一次掃描期間都是恒定的(完全相關(guān)), 但是從一次掃描到下一次掃描是獨(dú)立的(不相關(guān)的)。 假設(shè)不計(jì)天線波束形狀對(duì)回波振幅的影響, 截面積的概率密度函數(shù)服從以下分布: 式中，為目標(biāo)起伏全過程的平均值。式(5.4.14)表示截面積按指數(shù)函數(shù)分布, 目標(biāo)截面積與回波功率成比例, 而回波振幅A的分布則為瑞利分布。 由于A2=, 即得到 1（2）第二類稱Swerling型, 快起伏,

2、 瑞利分布。 目標(biāo)截面積的概率分布為快起伏, 假定脈沖與脈沖間的起伏是統(tǒng)計(jì)獨(dú)立的。 （3）第三類稱Swerling型, 慢起伏, 截面積的概率密度函數(shù)為這類截面積起伏所對(duì)應(yīng)的回波振幅A滿足以下概率密度函數(shù)(A2=): 且有=4A20/3。 （4）第四類稱Swerling型, 快起伏。 第一、 二類情況截面積的概率分布, 適用于復(fù)雜目標(biāo)是由大量近似相等單元散射體組成的情況, 雖然理論上要求獨(dú)立散射體的數(shù)量很大, 實(shí)際上只需四五個(gè)即可。 許多復(fù)雜目標(biāo)的截面積如飛機(jī), 就屬于這一類型。第三、 四類情況截面積的概率分布, 適用于目標(biāo)具有一個(gè)較大反射體和許多小反射體合成, 或者一個(gè)大的反射體在方位上有小

3、變化的情況。用上述四類起伏模型時(shí), 代入雷達(dá)方程中的雷達(dá)截面積是其平均值。 本次主要對(duì)swerling I型目標(biāo)的檢測概率曲線進(jìn)行仿真。二、仿真設(shè)計(jì)：Swerling I 型目標(biāo)的特點(diǎn)是目標(biāo)回波在任意一次掃描期間都是恒定的（完全相關(guān)），但是從一次掃描到下一次掃描是獨(dú)立的（不相關(guān)的）。下面在虛警概率為1e-8的情況下仿真其檢測曲線，結(jié)果如下圖所示：三、 源程序：主函數(shù)部分：clear allSNRdB=-10:0.5:20;SNR=10.(SNRdB/10);N=10;i=1;Pd1(i,:)=Pd_swerling1(N); 這個(gè)函數(shù)用來得出Pd的表達(dá)式。function Pd=Pd_swer

4、ling1(N)SNRdB=-10:0.5:20;SNR=10.(SNRdB/10);%信噪比n=length(SNR);Pf=1e-8;T=threshold(Pf,N);%調(diào)用threshold(Pf,N)計(jì)算門限Pd=(1+1./(N*SNR).(N-1).*exp(-T./(1+N*SNR);這個(gè)函數(shù)用于迭代得出門限。function T=threshold(Pf,N)Nf = N * log(2) / Pf;sqrtPf = sqrt(-log10(Pf);sqrtN = sqrt(N);T0=N-sqrtN+2.3*sqrtPf*(sqrtPf+sqrtN-1.0);%遞歸初值T=T0;delta=10000;eps=1e-8;while (abs(delta) >= T0) igf = gammainc(T0,N);num=0.5(N/Nf)-igf;temp=1;for i=1:N-1; %由于N取大值時(shí)計(jì)算易發(fā)散，所以將階乘（N-1）！分解計(jì)算 temp1=T0/i/exp(1); temp=temp*temp1;enddeno = exp