磁粉檢測(cè)與渦流檢測(cè)的區(qū)別

1、磁粉檢測(cè)與渦流檢測(cè)的區(qū)別 電磁檢測(cè)電磁檢測(cè) -2-磁粉檢測(cè)的原理 磁粉探傷又稱(chēng)磁粉探傷又稱(chēng)MT或者或者M(jìn)PT(Magnetic Particle Testing)，是建立在漏磁原理基礎(chǔ)上的一種磁力，是建立在漏磁原理基礎(chǔ)上的一種磁力探傷方法。當(dāng)磁力線穿過(guò)鐵磁材料及其制品時(shí)，探傷方法。當(dāng)磁力線穿過(guò)鐵磁材料及其制品時(shí)，在其（磁性）不連續(xù)處將產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，形成磁極。在其（磁性）不連續(xù)處將產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，形成磁極。此時(shí)撒上干磁粉或澆上磁懸液，磁極就會(huì)吸附磁此時(shí)撒上干磁粉或澆上磁懸液，磁極就會(huì)吸附磁粉，產(chǎn)生用肉眼能直接觀察的明顯磁痕。因此，粉，產(chǎn)生用肉眼能直接觀察的明顯磁痕。因此，可借助于該磁痕來(lái)顯示鐵磁材料及

2、其制品的缺陷可借助于該磁痕來(lái)顯示鐵磁材料及其制品的缺陷情況。情況。 -3-磁粉檢測(cè)的優(yōu)缺點(diǎn) 磁粉探傷的優(yōu)點(diǎn)是：對(duì)鋼鐵材料或工件表面裂紋等缺陷的磁粉探傷的優(yōu)點(diǎn)是：對(duì)鋼鐵材料或工件表面裂紋等缺陷的檢驗(yàn)非常有效檢驗(yàn)非常有效;設(shè)備和操作均較簡(jiǎn)單設(shè)備和操作均較簡(jiǎn)單;檢驗(yàn)速度快，便于在檢驗(yàn)速度快，便于在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)大型設(shè)備和工件進(jìn)行探傷；檢驗(yàn)費(fèi)用也較低。缺點(diǎn)現(xiàn)場(chǎng)對(duì)大型設(shè)備和工件進(jìn)行探傷；檢驗(yàn)費(fèi)用也較低。缺點(diǎn)是：僅適用于鐵磁性材料；僅能顯出缺陷的長(zhǎng)度和形狀，是：僅適用于鐵磁性材料；僅能顯出缺陷的長(zhǎng)度和形狀，而難以確定其深度；對(duì)剩磁有影響的一些工件，經(jīng)磁粉探而難以確定其深度；對(duì)剩磁有影響的一些工件，經(jīng)磁粉探傷后還需

3、要退磁和清洗。傷后還需要退磁和清洗。 磁粉探傷的靈敏度高、操作也方便。但它不能發(fā)現(xiàn)床身鑄磁粉探傷的靈敏度高、操作也方便。但它不能發(fā)現(xiàn)床身鑄件內(nèi)的部分和導(dǎo)磁性差（如奧氏體鋼）的材料，而且不能件內(nèi)的部分和導(dǎo)磁性差（如奧氏體鋼）的材料，而且不能發(fā)現(xiàn)鑄件內(nèi)部分較深的缺陷。鑄件、鋼鐵材被檢表面要求發(fā)現(xiàn)鑄件內(nèi)部分較深的缺陷。鑄件、鋼鐵材被檢表面要求光滑，需要打磨后才能進(jìn)行光滑，需要打磨后才能進(jìn)行 -4-渦流檢測(cè)的原理 渦流檢測(cè)是建立在電磁感應(yīng)原理基礎(chǔ)之上的一種渦流檢測(cè)是建立在電磁感應(yīng)原理基礎(chǔ)之上的一種無(wú)損檢測(cè)方法，它適用于導(dǎo)電材料。當(dāng)把一塊導(dǎo)無(wú)損檢測(cè)方法，它適用于導(dǎo)電材料。當(dāng)把一塊導(dǎo)體置于交變磁場(chǎng)之中，在

4、導(dǎo)體中就有感應(yīng)電流存體置于交變磁場(chǎng)之中，在導(dǎo)體中就有感應(yīng)電流存在，即產(chǎn)生渦流。由于導(dǎo)體自身各種因素（如電在，即產(chǎn)生渦流。由于導(dǎo)體自身各種因素（如電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、形狀，尺寸和缺陷等）的變化，導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、形狀，尺寸和缺陷等）的變化，會(huì)導(dǎo)致渦流的變化，利用這種現(xiàn)象判定導(dǎo)體性質(zhì)，會(huì)導(dǎo)致渦流的變化，利用這種現(xiàn)象判定導(dǎo)體性質(zhì)，狀態(tài)的檢測(cè)方法，叫渦流檢測(cè)。狀態(tài)的檢測(cè)方法，叫渦流檢測(cè)。 -5-渦流檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn) 渦流檢測(cè)的特點(diǎn)（渦流檢測(cè)的特點(diǎn)（Eddy-current testing) ET是以電磁感是以電磁感應(yīng)原理為基礎(chǔ)的一種常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法，使用于導(dǎo)電材料。應(yīng)原理為基礎(chǔ)的一種常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法，使用于導(dǎo)電材料

5、。 一、優(yōu)點(diǎn)一、優(yōu)點(diǎn) 1、檢測(cè)時(shí)，線圈不需要接觸工件，也無(wú)需耦合、檢測(cè)時(shí)，線圈不需要接觸工件，也無(wú)需耦合介質(zhì)，所以檢測(cè)速度快。介質(zhì)，所以檢測(cè)速度快。 2、對(duì)工件表面或近表面的缺陷，、對(duì)工件表面或近表面的缺陷，有很高的檢出靈敏度，且在一定的范圍內(nèi)具有良好的線性有很高的檢出靈敏度，且在一定的范圍內(nèi)具有良好的線性指示，可用作質(zhì)量管理與控制。指示，可用作質(zhì)量管理與控制。 3、可在高溫狀態(tài)、工件、可在高溫狀態(tài)、工件的狹窄區(qū)域、深孔壁（包括管壁）進(jìn)行檢測(cè)。的狹窄區(qū)域、深孔壁（包括管壁）進(jìn)行檢測(cè)。 4、能測(cè)量、能測(cè)量金屬覆蓋層或非金屬涂層的厚度。金屬覆蓋層或非金屬涂層的厚度。 5、可檢驗(yàn)?zāi)芨猩鷾u流、可檢驗(yàn)?zāi)?/p>

6、感生渦流的非金屬材料，如石墨等。的非金屬材料，如石墨等。 6、檢測(cè)信號(hào)為電信號(hào)，可進(jìn)、檢測(cè)信號(hào)為電信號(hào)，可進(jìn)行數(shù)字化處理，便于存儲(chǔ)、再現(xiàn)及進(jìn)行數(shù)據(jù)比較和處理行數(shù)字化處理，便于存儲(chǔ)、再現(xiàn)及進(jìn)行數(shù)據(jù)比較和處理。 -6-渦流檢測(cè)的缺點(diǎn) 二、二、缺點(diǎn)缺點(diǎn) 1 1、對(duì)象必須是導(dǎo)電材料，只適用于檢測(cè)金屬、對(duì)象必須是導(dǎo)電材料，只適用于檢測(cè)金屬表面缺陷。表面缺陷。 2 2、檢測(cè)深度與檢測(cè)靈敏度是相互矛盾的，對(duì)、檢測(cè)深度與檢測(cè)靈敏度是相互矛盾的，對(duì)一種材料進(jìn)行一種材料進(jìn)行ETET時(shí)，須根據(jù)材質(zhì)、表面狀態(tài)、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)作時(shí)，須根據(jù)材質(zhì)、表面狀態(tài)、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)作綜合考慮，然后在確定檢測(cè)方案與技術(shù)參數(shù)。綜合考慮，然后在確定檢

7、測(cè)方案與技術(shù)參數(shù)。 3 3、采用穿、采用穿過(guò)式線圈進(jìn)行過(guò)式線圈進(jìn)行ETET時(shí)，對(duì)缺陷所處圓周上的具體位置無(wú)法判時(shí)，對(duì)缺陷所處圓周上的具體位置無(wú)法判定。定。 4 4、旋轉(zhuǎn)探頭式、旋轉(zhuǎn)探頭式ETET可定位，但檢測(cè)速度慢可定位，但檢測(cè)速度慢 -7-渦流與磁粉探傷的區(qū)別（1） 渦流探傷的顯著特點(diǎn)是對(duì)導(dǎo)電材料就能起渦流探傷的顯著特點(diǎn)是對(duì)導(dǎo)電材料就能起作用，而不一定是鐵磁材料，但對(duì)鐵磁材作用，而不一定是鐵磁材料，但對(duì)鐵磁材料的效果較差。其次，待探工件表面的光料的效果較差。其次，待探工件表面的光潔度、平整度、邊介等對(duì)渦流探傷都有較潔度、平整度、邊介等對(duì)渦流探傷都有較大影響，因此常將渦流探傷用于形狀較規(guī)大影響

8、，因此常將渦流探傷用于形狀較規(guī)則、表面較光潔的銅管等非鐵磁性工件探則、表面較光潔的銅管等非鐵磁性工件探傷。傷。 -8-渦流與磁粉探傷的區(qū)別（2） 磁粉探傷是建立在漏磁原理基礎(chǔ)上的一種磁力探傷方法。磁粉探傷是建立在漏磁原理基礎(chǔ)上的一種磁力探傷方法。當(dāng)磁力線穿過(guò)鐵磁材料及其制品時(shí)，在其（磁性）不連續(xù)當(dāng)磁力線穿過(guò)鐵磁材料及其制品時(shí)，在其（磁性）不連續(xù)處將產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，形成磁極。此時(shí)撒上干磁粉或澆上磁懸處將產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，形成磁極。此時(shí)撒上干磁粉或澆上磁懸液，磁極就會(huì)吸附磁粉，產(chǎn)生用肉眼能直接觀察的明顯磁液，磁極就會(huì)吸附磁粉，產(chǎn)生用肉眼能直接觀察的明顯磁痕。因此，可借助于該磁痕來(lái)顯示鐵磁材料及其制品的缺痕。

9、因此，可借助于該磁痕來(lái)顯示鐵磁材料及其制品的缺陷情況。磁粉探傷法可探測(cè)露出表面，用肉眼或借助于放陷情況。磁粉探傷法可探測(cè)露出表面，用肉眼或借助于放大鏡也不能直接觀察到的微小缺陷，也可探測(cè)未露出表面，大鏡也不能直接觀察到的微小缺陷，也可探測(cè)未露出表面，而是埋藏在表面下幾毫米的近表面缺陷。用這種方法雖然而是埋藏在表面下幾毫米的近表面缺陷。用這種方法雖然也能探查氣孔、夾雜、未焊透等體積型缺陷，但對(duì)面積型也能探查氣孔、夾雜、未焊透等體積型缺陷，但對(duì)面積型缺陷更靈敏，更適于檢查因淬火、軋制、鍛造、鑄造、焊缺陷更靈敏，更適于檢查因淬火、軋制、鍛造、鑄造、焊接、電鍍、磨削、疲勞等引起的裂紋。接、電鍍、磨削、

10、疲勞等引起的裂紋。 -9-渦流與磁粉探傷的區(qū)別（3） 磁力探傷中對(duì)缺陷的顯示方法有多種，有用磁粉顯示的，磁力探傷中對(duì)缺陷的顯示方法有多種，有用磁粉顯示的，也有不用磁粉顯示的。用磁粉顯示的稱(chēng)為磁粉探傷，因它也有不用磁粉顯示的。用磁粉顯示的稱(chēng)為磁粉探傷，因它顯示直觀、操作簡(jiǎn)單、人們樂(lè)于使用，故它是最常用的方顯示直觀、操作簡(jiǎn)單、人們樂(lè)于使用，故它是最常用的方法之一。不用磁粉顯示的，習(xí)慣上稱(chēng)為漏磁探傷，它常借法之一。不用磁粉顯示的，習(xí)慣上稱(chēng)為漏磁探傷，它常借助于感應(yīng)線圈、磁敏管、霍爾元件等來(lái)反映缺陷，它比磁助于感應(yīng)線圈、磁敏管、霍爾元件等來(lái)反映缺陷，它比磁粉探傷更衛(wèi)生，但不如前者直觀。由于目前磁力探傷主要粉探傷更衛(wèi)