材料現(xiàn)代分析方法期末考試題與答案_第1頁(yè)
材料現(xiàn)代分析方法期末考試題與答案_第2頁(yè)
材料現(xiàn)代分析方法期末考試題與答案_第3頁(yè)
材料現(xiàn)代分析方法期末考試題與答案_第4頁(yè)
材料現(xiàn)代分析方法期末考試題與答案_第5頁(yè)
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1、1名詞解釋:相干散射(湯姆遜散射):入射線光子與原子內(nèi)受核束縛較緊的電子(如內(nèi)層電子)發(fā)生彈性碰撞作用,僅其運(yùn)動(dòng)方向改變而沒有能量改變的散射。又稱彈性散射;不相干散射(康普頓散射):入射線光子與原子內(nèi)受核束縛較弱的電子(如外層電子)或晶體中自由電子發(fā)生非彈性碰撞作用,在光子運(yùn)動(dòng)方向改變的同時(shí)有能量損失的散射。又稱非彈性散射;熒光輻射:物質(zhì)微粒受電磁輻射激發(fā)(光致激發(fā))后輻射躍遷發(fā)射的光子(二次光子)稱為熒光或磷光,吸收一次光子與發(fā)射二次光子之間延誤時(shí)間很短(10-810-4s)稱熒光,延誤時(shí)間較長(zhǎng)(10-410s)則為磷光;(有待確定)俄歇效應(yīng):如原子的退激發(fā)不以發(fā)射x射線的方式進(jìn)行則將以發(fā)射

2、俄歇電子的德方式進(jìn)行,此過(guò)程稱俄歇過(guò)程或俄歇效應(yīng);吸收限:當(dāng)入射x射線光子能量達(dá)到某一閾值可擊出物質(zhì)原子內(nèi)層電子時(shí),產(chǎn)生光電效應(yīng)。與此能量閾值相應(yīng)的波長(zhǎng)稱為物質(zhì)的吸收限。晶面指數(shù)與晶向指數(shù):為了表示晶向和晶面的空間取向(方位),采用統(tǒng)一的標(biāo)識(shí),稱為晶向指數(shù)和晶面指數(shù);晶帶:晶體中平行于同一晶向的所有晶面的總體干涉面:晶面間距為dhkl/n、干涉指數(shù)為nh、 nk、 nl的假想晶面稱為干涉面x射線散射:x射線衍射:x射線反射:結(jié)構(gòu)因子:晶胞沿(hkl)面反射方向的散射波即衍射波fhkl是晶胞所含各原子相應(yīng)方向上散射波的合成波,表征了晶胞的衍射強(qiáng)度;多重因子:通常將同一晶面族中等同晶面組數(shù)p稱為衍

3、射強(qiáng)度的多重性因數(shù)。羅侖茲因子:系統(tǒng)消光:因f2=0而使衍射線消失的現(xiàn)象稱為系統(tǒng)消光。2討論下列各組概念中二者之間的關(guān)系:1)同一物質(zhì)的吸收譜和發(fā)射譜;答:當(dāng)構(gòu)成物質(zhì)的分子或原子受到激發(fā)而發(fā)光,產(chǎn)生的光譜稱為發(fā)射光譜,發(fā)射光譜的譜線與組成物質(zhì)的元素及其外圍電子的結(jié)構(gòu)有關(guān)。吸收光譜是指光通過(guò)物質(zhì)被吸收后的光譜,吸收光譜則決定于物質(zhì)的化學(xué)結(jié)構(gòu),與分子中的雙鍵有關(guān)。2)x射線管靶材的發(fā)射譜與其配用的濾波片的吸收譜。答:可以選擇k剛好位于輻射源的k和k之間的金屬薄片作為濾光片,放在x射線源和試樣之間。這時(shí)濾光片對(duì)k射線強(qiáng)烈吸收,而對(duì)k吸收卻少。3x射線的本質(zhì)是什么?答:x射線是一種電磁波,有明顯的波粒

4、二象性。4如何選用濾波片的材料?如何選用x射線管的材料?答:選擇k剛好位于輻射源的k和k之間的金屬薄片作為濾光片,濾波片是根據(jù)靶元素確定的。經(jīng)驗(yàn)規(guī)律:當(dāng)靶固定后應(yīng)滿足當(dāng)z靶<40時(shí),則z片=z靶1;當(dāng)z靶40時(shí),則z片=z靶 2;若試樣的k系吸收限為k,應(yīng)選擇靶的k波長(zhǎng)稍大于并盡量靠近k,這樣不產(chǎn)生熒光,并且吸收又最小。 經(jīng)驗(yàn)公式:z靶 z試樣+1。5實(shí)驗(yàn)中選擇x射線管以及濾波片的原則是什么?已知一個(gè)以fe為主要成分的樣品,試選擇合適的x射線管和合適的濾波片。答:實(shí)驗(yàn)中選擇x射線管的原則是為避免或減少產(chǎn)生熒光輻射,應(yīng)當(dāng)避免使用比樣品中主元素的原子序數(shù)大26(尤其是2)的材料作靶材的x射線

5、管。選擇濾波片的原則是x射線分析中,在x射線管與樣品之間一個(gè)濾波片,以濾掉k線。濾波片的材料依靶的材料而定,一般采用比靶材的原子序數(shù)小1或2的材料。以分析以鐵為主的樣品,應(yīng)該選用co或fe靶的x射線管,同時(shí)選用fe和mn為濾波片。6試畫出下列晶向及晶面(均屬立方晶系):111,121,21,(00),110,(123),(21)。答:(晶面),晶向,圖見書16頁(yè)7下面是某立方晶系物質(zhì)的幾個(gè)晶面,試將它們的面間距從大到小按次序重新排列:(12),(100),(200),(11),(121),(111),(10),(220),(130),(030),(21),(110)。答:,它們的面間距從大到小

6、按次序是:(100)、(110)、(111)、(200)、(10)、(121)、(220)、(21)、(030)、(130)、(11)、(12)。8證明()、()、()晶面屬于111晶帶。答:已知一個(gè)晶面 (hkl) 和它所屬的晶帶uvw,根據(jù)解析幾何中直線與平面的關(guān)系,從很容易得到二者之間的關(guān)系:hu+kv+lw=0通常把這個(gè)關(guān)系式稱為晶帶定律。9判別下列哪些晶面屬于11晶帶:(0),(1),(231),(211),(01),(13),(12),(12),(01),(212)。答:公式如8題。10晶面(110)、(311)、(132)是否屬于同一晶帶?晶帶軸是什么?再指出屬于這個(gè)晶帶的其他幾

7、個(gè)晶面。答:公式如8題,貌似題目有問(wèn)題11試計(jì)算(11)及(2)的共同晶帶軸。答:公式如8題,11212試述布拉格公式2dhklsin=中各參數(shù)的含義,以及該公式有哪些應(yīng)用?答:dhkl表示hkl晶面的面間間距,角表示掠過(guò)角或布拉格角,即入射x射線或衍射線與面間間的夾角,表示入射x射線的波長(zhǎng)。該公式有二個(gè)方面用途:(1)已知晶體的d值。通過(guò)測(cè)量,求特征x射線的,并通過(guò)判斷產(chǎn)生特征x射線的元素。這主要應(yīng)用于x射線熒光光譜儀和電子探針中。(2)已知入射x射線的波長(zhǎng), 通過(guò)測(cè)量,求晶面間距。并通過(guò)晶面間距,測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)或進(jìn)行物相分析。13當(dāng)波長(zhǎng)為的x射線在晶體上發(fā)生衍射時(shí),相鄰兩個(gè)(hkl)晶面衍射

8、線的波程差是多少?相鄰兩個(gè)hkl干涉面的波程差又是多少?答:當(dāng)波長(zhǎng)為的x射線照射到晶體上發(fā)生衍射,相鄰兩個(gè)(hkl)晶面的波程差是n,相鄰兩個(gè)(hkl)晶面的波程差是14“一束x射線照射一個(gè)原子列(一維晶體),只有鏡面反射方向上才有可能產(chǎn)生衍射線”,此種說(shuō)法是否正確?答:不正確,因?yàn)橐皇鴛射線照射一個(gè)原子列上,原子列上每個(gè)原子受迫都會(huì)形成新的x射線源向四周發(fā)射與入射光波長(zhǎng)一致的新的x射線,只要符合光的干涉三個(gè)條件(光程差是波長(zhǎng)的整數(shù)倍),不同點(diǎn)光源間發(fā)出的x射線都可產(chǎn)生干涉和衍射。鏡面反射,其光程差為零,是特殊情況。15-fe屬立方晶系,點(diǎn)陣參數(shù)a=0.2866nm。如用crkx射線(=0.2

9、291nm)照射,試求(110)、(200)及(211)可發(fā)生衍射的掠射角。答:,2dhklsin=,得16原子散射因數(shù)的物理意義是什么?某元素的原子散射因數(shù)與其原子序數(shù)有何關(guān)系?答:原子散射因數(shù)f 是以一個(gè)電子散射波的振幅為度量單位的一個(gè)原子散射波的振幅。也稱原子散射波振幅。它表示一個(gè)原子在某一方向上散射波的振幅是一個(gè)電子在相同條件下散射波振幅的f倍。它反映了原子將x射線向某一個(gè)方向散射時(shí)的散射效率。原子散射因數(shù)與其原子序數(shù)有何關(guān)系,z越大,f 越大。因此,重原子對(duì)x射線散射的能力比輕原子要強(qiáng)。17總結(jié)簡(jiǎn)單點(diǎn)陣、體心點(diǎn)陣和面心點(diǎn)陣衍射線的系統(tǒng)消光規(guī)律。答:簡(jiǎn)單點(diǎn)陣不存在系統(tǒng)消光,體心點(diǎn)陣衍射

10、線的系統(tǒng)消光規(guī)律是(h+k+l)偶數(shù)時(shí)出現(xiàn)反射,(h+k+l)奇數(shù)時(shí)消光。面心點(diǎn)陣衍射線的系統(tǒng)消光規(guī)律是h,k,l全奇或全偶出現(xiàn)反射,h,k,l有奇有偶時(shí)消光。18洛倫茲因數(shù)是表示什么對(duì)衍射強(qiáng)度的影響?其表達(dá)式是綜合了哪幾個(gè)方面考慮而得出的?答:羅侖茲因數(shù)是三種幾何因子對(duì)衍射強(qiáng)度的影響,第一種幾何因子表示衍射的晶粒大小對(duì)衍射強(qiáng)度的影響,羅侖茲第二種幾何因子表示晶粒數(shù)目對(duì)衍射強(qiáng)度的影響,羅侖茲第三種幾何因子表示衍射線位置對(duì)衍射強(qiáng)度的影響。19試述衍射強(qiáng)度公式中各參數(shù)的含義?答:x射線衍射強(qiáng)度的公式式中各參數(shù)的含義是:i0為入射x射線的強(qiáng)度;為入射x射線的波長(zhǎng);r為試樣到觀測(cè)點(diǎn)之間的距離;v為被照

11、射晶體的體積;vc為單位晶胞體積;p為多重性因子,表示等晶面?zhèn)€數(shù)對(duì)衍射強(qiáng)度的影響因子;f為結(jié)構(gòu)因子,反映晶體結(jié)構(gòu)中原子位置、種類和個(gè)數(shù)對(duì)晶面的影響因子;a()為吸收因子,圓筒狀試樣的吸收因子與布拉格角、試樣的線吸收系數(shù)l和試樣圓柱體的半徑有關(guān);平板狀試樣吸收因子與有關(guān),而與角無(wú)關(guān)。()為角因子,反映樣品中參與衍射的晶粒大小,晶粒數(shù)目和衍射線位置對(duì)衍射強(qiáng)度的影響;e-2m為溫度因子20某斜方晶體晶胞含有兩個(gè)同類原子,坐標(biāo)位置分別為:(,1)和(, ),該晶體屬何種布拉菲點(diǎn)陣?寫出該晶體(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射線f2值。答:f=fe2pi i(3/4h+3/4k+l

12、)+fe2pi i(1/4h+1/4k+1/2l)(100),f=0, f2=0;(110),f=-2f, f2=4f2;(211),f=2f, f2=4f2;(221),f=0, f2=021說(shuō)明原子散射因子、結(jié)構(gòu)因子f、結(jié)構(gòu)振幅各自的物理意義。答:原子散射因子:原子散射振幅與電子散射波振幅之比f(wàn)=e_a/e_e結(jié)構(gòu)因子:晶胞所含個(gè)原子相應(yīng)方向上散射波的合成波。結(jié)構(gòu)振幅:晶胞散射波幅和電子散射波幅振幅之比f(wàn)=e_b/e_e干涉函數(shù):小晶體散射波強(qiáng)度與晶胞散射波強(qiáng)度之比g2=i_m/i_b22金剛石晶體屬面心立方點(diǎn)陣,每個(gè)晶胞含8個(gè)原子,坐標(biāo)為:(0,0,0)、(,0)、(,0,)、(0,)、

13、(,)、(,)、(,)、(,)原子散射因子a,求其系統(tǒng)消光規(guī)律(f2最簡(jiǎn)表達(dá)式),并據(jù)此說(shuō)明結(jié)構(gòu)消光的概念。答: = 式中|fs|為晶體點(diǎn)陣中各結(jié)點(diǎn)的結(jié)構(gòu)振幅,|fc| 為晶胞的結(jié)構(gòu)振幅。由上式可知,|fs|2=0 或|fc|2=0均可使|f(hkl)|2=0,從而使上式晶體衍射線強(qiáng)度ic為零,這種滿足布喇格方程條件但衍射線強(qiáng)度為零的現(xiàn)象稱之為消光。晶體所屬的點(diǎn)陣類型不同,使|fc|2=0的h、k、l指數(shù)規(guī)律不同。點(diǎn)陣相同,結(jié)構(gòu)不同的晶體,|fc|2=0的指數(shù)規(guī)律相同,但|fs|2=0的指數(shù)規(guī)律不同,所以,稱|fc|2=0的條件為點(diǎn)陣消光條件;|f(hkl)|2=0的條件為結(jié)構(gòu)消光條件。實(shí)際晶

14、體中,位于陣點(diǎn)上的結(jié)構(gòu)基元若非由一個(gè)原子組成,則結(jié)構(gòu)基元內(nèi)各原子散射波間相互干涉也可能產(chǎn)生f2=0的現(xiàn)象。此種在點(diǎn)陣消光的基礎(chǔ)上,因結(jié)構(gòu)基元內(nèi)原子位置不同而進(jìn)一步產(chǎn)生的附加消光現(xiàn)象,稱為結(jié)構(gòu)消光(補(bǔ)充)。23“衍射線在空間的方位僅取決于晶胞的形狀與大小,而與晶胞中的原子位置無(wú)關(guān);衍射線的強(qiáng)度則僅取決于晶胞中原子位置,而與晶胞形狀及大小無(wú)關(guān)”,此種說(shuō)法是否正確?答:衍射線在空間的方位主要取決于晶體的面間間距,或者晶胞的大小。衍射線的強(qiáng)度主要取決于晶體中原子的種類和它們?cè)诰О械南鄬?duì)位置。(有待補(bǔ)充)24用單色x射線照射圓柱多晶體試樣,其衍射線在空間將形成什么圖案?為攝取德拜圖相,應(yīng)當(dāng)采用什么樣的

15、底片去記錄?答:用單色x射線照射圓柱多晶體試樣,其衍射線在空間將形成一組錐心角不等的圓錐組成的圖案;為攝取德拜圖相,應(yīng)當(dāng)采用帶狀的照相底片去記錄。25某一粉末相上背射區(qū)線條與透射區(qū)線條比較起來(lái),其較高抑或較低?相應(yīng)的d較大還是較???答:背射區(qū)線條與透射區(qū)線條比較較高,d較小。產(chǎn)生衍射線必須符合布拉格方程2dsin=,對(duì)于背射區(qū)屬于2高角度區(qū),根據(jù)d=/2sin,越大d越小。26衍射儀測(cè)量在入射光束、試樣形狀、試樣吸收以及衍射線記錄等方面與德拜法有何不同?答:入射x射線的光束:都為單色的特征x射線,都有光欄調(diào)節(jié)光束。不同:衍射儀法:采用一定發(fā)散度的入射線,且聚焦半徑隨2變化,德拜法:通過(guò)進(jìn)光管限

16、制入射線的發(fā)散度。試樣形狀:衍射儀法為平板狀,德拜法為細(xì)圓柱狀。試樣吸收:衍射儀法吸收時(shí)間短,德拜法吸收時(shí)間長(zhǎng),約為1020h。記錄方式:衍射儀法采用計(jì)數(shù)率儀作圖,德拜法采用環(huán)帶形底片成相,而且它們的強(qiáng)度(i)對(duì)(2)的分布(i-2曲線)也不同;27測(cè)角儀在采集衍射圖時(shí),如果試樣表面轉(zhuǎn)到與入射線成300角,則計(jì)數(shù)管與入射線所成角度為多少?能產(chǎn)生衍射的晶面,與試樣的自由表面是何種幾何關(guān)系?答:60度。因?yàn)橛?jì)數(shù)管的轉(zhuǎn)速時(shí)試樣的2倍。輻射探測(cè)器接收的衍射是那些與試樣表面平行的晶面產(chǎn)生的衍射。晶體若不平行于試樣表面,盡管也產(chǎn)生衍射,但衍射線進(jìn)不了探測(cè)器,不能被接收。28敘述x射線物相分析的基本原理,試

17、比較衍射儀法與德拜法的優(yōu)缺點(diǎn)?答:定性分析:原理:x-ray衍射分析是以晶體結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ)的,每種結(jié)晶物質(zhì)都有特定的結(jié)構(gòu)參數(shù),這些參數(shù)在x-ray衍射花樣中均有所反映。故可作為鑒別物相的標(biāo)志。若將幾種物質(zhì)混合后攝像,則所得結(jié)果為各單獨(dú)物相衍射線條的簡(jiǎn)單疊加。定性分析:原理:x-ray衍射分析是以晶體結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ)的,每種結(jié)晶物質(zhì)都有特定的結(jié)構(gòu)參數(shù),這些參數(shù)在x-ray衍射花樣中均有所反映。故可作為鑒別物相的標(biāo)志。若將幾種物質(zhì)混合后攝像,則所得結(jié)果為各單獨(dú)物相衍射線條的簡(jiǎn)單疊加。與照相法相比,衍射儀法在一些方面具有明顯不同的特點(diǎn),也正好是它的優(yōu)缺點(diǎn)。 (1)簡(jiǎn)便快速:衍射儀法都采用自動(dòng)記錄,不需底片安裝

18、、沖洗、晾干等手續(xù)??稍趶?qiáng)度分布曲線圖上直接測(cè)量2和i值,比在底片上測(cè)量方便得多。衍射儀法掃描所需的時(shí)間短于照相曝光時(shí)間。一個(gè)物相分析樣品只需約15分鐘即可掃描完畢。此外,衍射儀還可以根據(jù)需要有選擇地掃描某個(gè)小范圍,可大大縮短掃描時(shí)間。 (2)分辨能力強(qiáng):由于測(cè)角儀圓半徑一般為185mm遠(yuǎn)大于德拜相機(jī)的半徑(57.3/2mm),因而衍射法的分辨能力比照相法強(qiáng)得多。如當(dāng)用cuka輻射時(shí),從230o左右開始,k雙重線即能分開;而在德拜照相中2小于90°時(shí)k雙重線不能分開。 (3)直接獲得強(qiáng)度數(shù)據(jù):不僅可以得出相對(duì)強(qiáng)度,還可測(cè)定絕對(duì)強(qiáng)度。由照相底片上直接得到的是黑度,需要換算后才得出強(qiáng)度,

19、而且不可能獲得絕對(duì)強(qiáng)度值。 (4)低角度區(qū)的2測(cè)量范圍大:測(cè)角儀在接近2= 0°附近的禁區(qū)范圍要比照相機(jī)的盲區(qū)小。一般測(cè)角儀的禁區(qū)范圍約為23°(如果使用小角散射測(cè)角儀則更可小到20.50.6°),而直徑573mm的德拜相機(jī)的盲區(qū),一般為28°。這相當(dāng)于使用cuk輻射時(shí),衍射儀可以測(cè)得面網(wǎng)間距d最大達(dá)3nma的反射(用小角散射測(cè)角儀可達(dá)1000nm),而一般德拜相機(jī)只能記錄 d值在1nm以內(nèi)的反射。 (5)樣品用量大:衍射儀法所需的樣品數(shù)量比常用的德拜照相法要多得多。后者一般有510mg樣品就足夠了,最少甚至可以少到不足lmg。在衍射儀法中,如果要求能夠

20、產(chǎn)生最大的衍射強(qiáng)度,一般約需有0.5g以上的樣品;即使采用薄層樣品,樣品需要量也在100mg左右。(6)設(shè)備較復(fù)雜,成本高。 顯然,與照相法相比,衍射儀有較多的優(yōu)點(diǎn),突出的是簡(jiǎn)便快速和精確度高,而且隨著電子計(jì)算機(jī)配合衍射儀自動(dòng)處理結(jié)果的技術(shù)日益普及,這方面的優(yōu)點(diǎn)將更為突出。所以衍射儀技術(shù)目前已為國(guó)內(nèi)外所廣泛使用。但是它并不能完全取代照相法。特別是它所需樣品的數(shù)量很少,這是一般的衍射儀法遠(yuǎn)不能及的。29粉末樣品顆粒過(guò)大或過(guò)小對(duì)德拜花樣影響如何?為什么?板狀多晶體樣品晶粒過(guò)大或過(guò)小對(duì)衍射峰形影響又如何?答:粉末樣品顆粒過(guò)大會(huì)使德拜花樣不連續(xù),或過(guò)小,德拜寬度增大,不利于分析工作的進(jìn)行。因?yàn)楫?dāng)粉末顆

21、粒過(guò)大(大于10-3cm)時(shí),參加衍射的顆粒數(shù)減少,會(huì)使衍射線條不連續(xù);不過(guò)粉末顆粒過(guò)細(xì)(小于10-5cm)時(shí),會(huì)使衍射線條變寬,這些都不利于分析工作。多晶體的塊狀試樣,如果顆粒足夠細(xì)將得到與粉末試樣相似的結(jié)果,即衍射峰寬化。但晶粒粗大時(shí)參與反射的晶面數(shù)量有限,所以發(fā)生反射的概率變小,這樣會(huì)使得某些衍射峰強(qiáng)度變小或不出現(xiàn)。30物相定性分析的原理是什么?對(duì)食鹽進(jìn)行化學(xué)分析與物相定性分析,所得信息有何不同?物相定性分析的原理是根據(jù)每一種結(jié)晶物質(zhì)都有自己獨(dú)特的晶體結(jié)構(gòu),即特定點(diǎn)陣類型、晶胞大小、原子的數(shù)目和原子在晶胞中的排列等。因此,從布拉格公式和強(qiáng)度公式知道,當(dāng)x射線通過(guò)晶體時(shí),每一種結(jié)晶物質(zhì)都有

22、自己獨(dú)特的衍射花樣,它們的特征可以用各個(gè)反射晶面的晶面間距值d和反射線的強(qiáng)度來(lái)表征。其中晶面網(wǎng)間距值d與晶胞的形狀和大小有關(guān),相對(duì)強(qiáng)度i則與質(zhì)點(diǎn)的種類及其在晶胞中的位置有關(guān)。這些衍射花樣有兩個(gè)用途:一是可以用來(lái)測(cè)定晶體的結(jié)構(gòu),這是比較復(fù)雜的。二是用來(lái)測(cè)定物相,所以,任何一種結(jié)晶物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù)d和i是其晶體結(jié)構(gòu)的必然反映,因而可以根據(jù)它們來(lái)鑒別結(jié)晶物質(zhì)的物相,這個(gè)過(guò)程比較簡(jiǎn)單。分析的思路將樣品的衍射花樣與已知標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的衍射花樣進(jìn)行比較從中找出與其相同者即可。對(duì)食鹽進(jìn)行化學(xué)分析與物相定性分析,前者獲得食鹽化學(xué)組成,后者能獲得物相組成及晶體結(jié)構(gòu)。31物相定量分析的原理是什么?試述用k值法進(jìn)行物相定量

23、分析的過(guò)程。答:根據(jù)x射線衍射強(qiáng)度公式,某一物相的相對(duì)含量的增加,其衍射線的強(qiáng)度亦隨之增加,所以通過(guò)衍射線強(qiáng)度的數(shù)值可以確定對(duì)應(yīng)物相的相對(duì)含量。由于各個(gè)物相對(duì)x射線的吸收影響不同,x射線衍射強(qiáng)度與該物相的相對(duì)含量之間不成線性比例關(guān)系,必須加以修正。這是內(nèi)標(biāo)法的一種,是事先在待測(cè)樣品中加入純?cè)兀缓鬁y(cè)出定標(biāo)曲線的斜率即k值。當(dāng)要進(jìn)行這類待測(cè)材料衍射分析時(shí),已知k值和標(biāo)準(zhǔn)物相質(zhì)量分?jǐn)?shù)s,只要測(cè)出a相強(qiáng)度ia與標(biāo)準(zhǔn)物相的強(qiáng)度is的比值ia/is就可以求出a相的質(zhì)量分?jǐn)?shù)a。k值法是內(nèi)標(biāo)法延伸。從內(nèi)標(biāo)法我們知道,通過(guò)加入內(nèi)標(biāo)可消除基體效應(yīng)的影響。k值法同樣要在樣品中加入標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)作為內(nèi)標(biāo),人們經(jīng)常也稱之為清洗劑。k值法不須作標(biāo)準(zhǔn)曲線得出而能求得k值。具體作法是:1)對(duì)待測(cè)的樣品。找到待測(cè)相和標(biāo)準(zhǔn)相的純物質(zhì),配二者含量為1:1混合樣,并用實(shí)驗(yàn)測(cè)定二者某一對(duì)衍射線的強(qiáng)度,它們的強(qiáng)度比kis。2)在待測(cè)樣品中摻入一定量ws的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。并測(cè)定混合樣中二個(gè)相的同一對(duì)衍射線的強(qiáng)度 ii/is。3)代入上一公式求出待測(cè)相i在混合樣中的含量wi。4)求i相有原始樣品中的含量wi由于jcpds卡片中已選用剛玉al2o3作為標(biāo)準(zhǔn)物

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