X射線熒光光譜儀原理及主要用途

1、X熒光光譜儀主要使用領(lǐng)域X 熒光光譜儀原理儀器是較新型 X 射線熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高 的特點(diǎn)。能分析F（9）U（92）之間所有兀素。樣品可以是固體、粉末、熔融片， 液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣 品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié) 果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件 FP-MULT1 能作鍍層分析，薄膜分析。測(cè)量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.儀器類別： 0303040903 /儀器儀表/成份分析儀器 /熒光光度計(jì)指標(biāo)信息： 1. 發(fā)射源是Rh靶X光管，最大

2、電流125mA,電壓60kV,最大功率3kW2.儀器在 真空條件下工作，真空度 <13pascals 3.5塊分析晶體，可以分析兀素周期表 FU 之間所有元素，含量范圍是 ppm 100%4分析軟件是Philips公司（現(xiàn)為 PANalytical最新版軟件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計(jì)算率 N=1483870時(shí)，RSD=0.08%I定性計(jì)算率 Nmax=6134524,Nmin二6115920,N平均 =6125704,相對(duì)誤差為 0.03%附件信息：循環(huán)水致冷單元，計(jì)算機(jī) P10氣體瓶空氣壓縮機(jī)分析對(duì)象主要有各種磁性材料（NdFeB SmCo合金、FeTbDy）鈦鎳記憶合

3、 金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等,以及各種形態(tài)樣品的無(wú)標(biāo)半定量分 析，對(duì)于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。X熒光分析快速,某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。X射線熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散、能量色散、非色散 X熒光、全反射X熒 光。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù) Bragg定律將不同能 量的譜線分開(kāi)，然后進(jìn)行測(cè)量。波長(zhǎng)色散 X射線熒光光譜一般采用X射線管作 激發(fā)源,可分為順序式 （或稱單道式或掃描式 ）、同時(shí)式 （或稱多道式 ）譜儀、和順 序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過(guò)掃描方法逐個(gè)測(cè)量元素,因 此測(cè)量速度通常比同時(shí)

4、式慢,適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對(duì)固定組成，對(duì)測(cè)量速度要求高和批量試樣分析 ,順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀 結(jié)合了兩者的優(yōu)點(diǎn)。能量色散 X 射線熒光光譜非色散譜儀非色散譜儀不是采用將不同能量的譜線分辨開(kāi)來(lái)，而是通過(guò)選擇激發(fā)、選 擇濾波和選擇探測(cè)等方法使測(cè)量分析線而排除其他能量譜線的干擾，因此一般 只適用于測(cè)量一些簡(jiǎn)單和組成基本固定的樣品。全反射 X 射線熒光如果n1>n2,則介質(zhì)1相對(duì)于介質(zhì)2為光密介質(zhì)，介質(zhì)2相對(duì)于介質(zhì)1為 光疏介質(zhì)。對(duì)于 X 射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì)。所以，如果介質(zhì) 1 是空氣，那么01>力(圖2.20右圖)，即折射線會(huì)偏向界面。如果

5、01足夠小，并 使0(2=0,此時(shí)的掠射角 a稱為臨界角a臨界。當(dāng)a<a臨界時(shí)，界面就象鏡子 一樣將入射線全部反射回介質(zhì) 1 中，這就是全反射現(xiàn)象。能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開(kāi)并測(cè) 量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的 便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺(tái)式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮 冷卻的半導(dǎo)體探測(cè)器，如Si(Li和高純錯(cuò)探測(cè)器等。低分辨便攜式光譜儀常常采 用正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器為探測(cè)器，它們不需要液氮冷卻。近年來(lái)，采用電 致冷的半導(dǎo)體探測(cè)器，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步幅射光激發(fā)X射線熒光光譜、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜、放射性同位素激發(fā) X射線熒光光譜、全 反射X射線熒光光譜、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。X 射線熒光光譜法有如下特點(diǎn)：分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測(cè)定；熒光X射線譜線簡(jiǎn)單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡(jiǎn)便； 分析濃度范圍較寬 ,從常量到微量都可分析。重元素的檢測(cè)限可達(dá) ppm 量級(jí)，輕 元素稍差；分析樣品不