BSENISO1356521997幾何產(chǎn)品技術規(guī)范表面特性：輪廓法具有功能特性的表面第二部分審核后

1、英國標準BS EN ISO 13565-2:1998Incorporating Amendment No. 1 to BS ISO 13565-2:1996(renumbers BS asBS EN ISO13565-2:1998)幾何產(chǎn)品技術規(guī)范 (GPS) 表面特性: 輪廓法 具有分層功能特性的表面 第2部分: 線性材料比率曲線表示的高度特征歐洲標準EN ISO 13565-2：1997是英國國家標準的一部分ICS 17.040.20EN ISO 13565-2:1997目錄前言ii介紹11范圍12引用標準13定義14參數(shù)的確定15圖紙上參數(shù)規(guī)范2附件 A (信息)與GPS矩陣模型的關系4

2、附件 B (信息) 參考文獻封3附件 ZA (規(guī)范)規(guī)范引用國際出版物及其引用的相關歐洲出版物封3圖 1 Rk, Mr1和Mr2的計算2圖 2 Rpk 和 Rvk的計算3圖 A.14 © BSI 04-1999EN ISO 13565-2:1998 前言 ISO (國際標準化組織) 是一個國際標準聯(lián)盟（ISO成員團體）。制定國際標準的工作通常都是由ISO技術委員會完成。各成員團體如果對技術委員會制定的項目感興趣，均有權參加該委員會的工作。與ISO保持聯(lián)系的國際組織，政府和非政府也可以參加這項工作。ISO與國際電工委員會（IEC）密切合作完成電工標準化的所有事項。由技術委員會通過的國際

3、標準草案分發(fā)給各會員國投票決定。作為國際標準的出版物要求在投票中至少75%選票批準同意。國際標準ISO 13565-2技術委員會ISO/TC 57,計量與表面性能，小組委員會 SC 1, 幾何參數(shù)檢測表面粗糙度和波紋的儀器和程序，ISO/TC 3,范圍與配合, 和ISO/TC 10, 技術圖紙, 產(chǎn)品定義和相關文件，小組委員會SC 5,尺寸和公差聯(lián)合編寫。ISO 13565包括以下部分：在總標題幾何產(chǎn)品技術規(guī)范 (GPS) 表面特性:輪廓法；分層功能特性的表面 下包括： 第一部分: 濾波和一般測量條件 第二部分:線性材料比率曲線表示的高度特征 第三部分:材料概率曲線評定高度特性.ISO 135

4、65中的附件A和附件B僅供參考。描述符:表面特性，表面狀況，決定，特性，紋理輪廓，表面粗糙度測量，一般條件，幾何產(chǎn)品技術規(guī)范EN ISO 13565-2:1998引言ISO13565這部分是幾何產(chǎn)品技術規(guī)范標準，同時被認為是一般GPS標準（參看ISO/TR14638：1995）。這影響粗糙度輪廓標準系列鏈接2。更多該標準與其他標準聯(lián)系的相關細節(jié)信息和GPS矩陣模型，見附件A。ISO13565的這部分基于線性材料比率曲線確定一系列參數(shù)用來評定ISO13565-1確定的被抑制的粗糙度輪廓。這是基于三層表面模型，分別評定波峰，中心部分和波谷。1 范圍ISO的這部分內(nèi)容描述的是從線性材料比率曲線（也指

5、阿伯特曲線）決定的參數(shù)的評價過程。這條曲線是將表面材料部分的增加描述為粗糙度輪廓深度的增加。他們的目的是為了幫助評估高度機械鋼化表面的操作行為。2 引用標準貫穿這個標準，以下標準包含組成ISO13565這部分的條款。在出版的時候，顯示版本為合法的。所有標準以版本為準，依據(jù)ISO13565這部分同意的各方都鼓勵調(diào)查運行該標準最新版本的可能性。IEC和ISO的成員維持當前最新有效的國際標準ISO 1302:1992, 技術圖紙 表面紋理表示方法.ISO 4287:1996,幾何產(chǎn)品技術規(guī)范（GPS） 表面紋理：輪廓法 術語，定義，表面紋理參數(shù)ISO 13565-1:1996,幾何產(chǎn)品技術規(guī)范(GP

6、S) 表面紋理: 輪廓法; 具有分層功能特性的表面 第一部分: 濾波和一般測量條件3 定義作為ISO13565的這部分的目的，ISO4287：1996所給的定義及3.1以下定義都適用。3.1 中心輪廓的粗糙度粗糙度輪廓不包括凸出的波峰和凹下去的波谷（見圖1）3.1.1中心粗糙度深度, Rk中心輪廓粗糙度的深度，(見圖1)3.1.2材料部分, Mr1級別，百分比，確定為交叉點線。交叉點線將中心輪廓粗糙度和凸起波峰分離出。3.1.3材料部分, Mr2級別，百分比，確定為交叉點線。交叉點線將中心輪廓粗糙度和凹下去波谷分離出。3.2降低峰高, Rpk粗糙度中心輪廓以上凸起波峰的平均高度值備注 條款4中

7、取平均值降低這個參數(shù)異常值的影響。 3.3降低波谷深度, Rvk從粗糙度中心輪廓凸出來的波谷輪廓的平均深度值。備注 條款4中取平均值降低這個參數(shù)異常值的影響。4 參數(shù)的確定4.1 粗糙度輪廓粗糙度輪廓用于決定參數(shù)，這是ISO13565這部分主題。粗糙度輪廓的評定依據(jù)ISO13565-1。4.2 參數(shù)Rk, Mr1, Mr2的計算依據(jù)4.3計算等效直線為從Mr = 0 % 到 Mr = 100 %的交叉點線（見圖1）。從這些點，標出x軸，通過分離波峰和波谷確定粗糙度中心輪廓。這些交叉點線的垂直距離為中心粗糙度深度Rk。他們的交叉點線和材料比率曲線確定材料比率Mr1 和 Mr2.1EN ISO 1

8、3565-2:19984.3 等效直線的計算等效直線被計算為包括40%的檢測輪廓點的材料比率曲線中間部分。這個“中間部分”位于材料比率曲線割線，超過40%的材料比率表明最小割線（見圖1）。這是由沿著材料比率曲線移動割線%Mr = 40 %，開始位置Mr = 0 %，見圖1。對于%Mr = 40 %的割線有最小的梯度，割線完成材料比率曲線中間部分的等分評定。如果，在多個部分都存在等分最小割線，那么遇到的第一部分為選擇等分割線部分。然后直線在輪廓縱坐標方向最小偏差的區(qū)域內(nèi)為“中間部分”。備注： 為了確保材料比率曲線的有效性，粗糙度輪廓縱坐標方向上寬度的選擇必須為至少10個級別落在中心部分的寬度。對

9、于有很小粗糙度或者有理想的幾何平頂?shù)谋砻?，由于有限的測量系統(tǒng)這樣的一種細分類可能不再有意義。這樣，用于計算等效直線的級別數(shù)應該記錄在檢測結(jié)果內(nèi)。4.4 參數(shù) Rpk 和 Rvk 的計算劃定在中心粗糙度Rk內(nèi)的材料比率曲線部分以內(nèi)和以外區(qū)域在圖1陰影部分顯示。這相當于凸出超出中心粗糙度輪廓的波峰和波谷輪廓交叉部分的區(qū)域。參數(shù)Rpk 和 Rvk計算為直角的三角高度，這個高度分別構成了“波峰區(qū)域”或者“波谷區(qū)域”，（見圖2）。直角三角形狀與以含Mr1為基準的“波峰區(qū)域A1”一致，同時也與以含100%Mr1為基準的“波谷區(qū)域A2”一致。備注：依據(jù)ISO13565這部分內(nèi)容，如果材料比率曲線為“S”形狀

10、，見圖1和圖2，參數(shù)才被計算。因此，只有一個單獨的拐點。經(jīng)驗證明這始終為研磨或者珩磨表面。5 圖紙上參數(shù)規(guī)范ISO13565這部分參數(shù)依據(jù)ISO1302規(guī)定在工程圖紙上 交叉線位置 最小梯度割線 等效直線 材料比率圖1 Rk, Mr1和Mr2的計算© BSI 04-1999EN ISO 13565-2:1998 交叉線位置 “波峰區(qū)域”和“波谷區(qū)域”轉(zhuǎn)化為等效直角三角形狀區(qū)域 等效直線 材料比率Mr圖 2 Rpk 和 Rvk的評定3EN ISO 13565-2:1998附件 A (提供信息)與GPS矩陣模型有關與GPS矩陣模型有關的所有細節(jié)見ISO/TR 14638.A.1 ISO

11、13565這部分信息及其使用 ISO13565這部分基于線性材料比率曲線確定一部分參數(shù)，后用來評定ISO13565-1確定抑制波谷粗糙度輪廓。這個評定的基礎是三層表面模型，分別評定波峰，中心部分，波谷。這些參數(shù)用來幫助評定高度機械鋼化表面。用來決定這些參數(shù)的粗糙度輪廓應該依據(jù)ISO13565-1來計算。A.2 GPS矩陣模型位置ISO13565這部分是一般GPS標準。一般GPS標準影響的是對于一般GPS矩陣的粗糙度輪廓，標準系列的鏈接2。如圖A.1圖表說明。一般GPS矩陣鏈式連接號123456尺寸間距半徑角度獨立于基準的線形式依據(jù)基準的線形式獨立于基準的表面形式依據(jù)基準的表面形式方向位置圓度跳

12、動總跳動基準面粗糙度輪廓波紋輪廓初始輪廓表面缺陷邊緣基本GPS標準全球GPS矩陣A.3 相關標準圖 A.1相關國際標準是圖A.1.顯示的標準的鏈接。© BSI 04-1999BS EN ISO 13565-2:1998附件 B (提供信息)參考文獻1 ISO 3274:1996, 幾何產(chǎn)品技術規(guī)范(GPS) 表面紋理:輪廓法 接觸性探針儀器的特性。2 ISO 4288:1996, 幾何產(chǎn)品技術規(guī)范(GPS) 表面紋理:輪廓法 表面紋理評定規(guī)則和程序3 ISO 11562:1996, 幾何產(chǎn)品技術規(guī)范(GPS) 表面紋理:輪廓法 正確濾波器的計量特征4 ISO 12085:1996, 幾何產(chǎn)品技術規(guī)范(GPS) 表面紋理:輪廓法 主要參數(shù)。5 ISO/TR 14638:1995, 幾何產(chǎn)品技術規(guī)范(GPS) 總計劃6 VIM 計量學上基本和一般條款的國際術語。 BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML , 1993年第二版本。附件 ZA (規(guī)范)與國際出版物有關的歐洲出版物這個歐洲標準包括注明和未注明日期的參考文獻，其他出版物的條