2009年電子信息行業(yè)標準復審結論表修訂部分

1、2009年電子信息行業(yè)標準復審結論表（修訂部分）序號標準編號標準名稱復審結論1SJ 1.10-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)范和要求標準草案（送審稿）審定會會議紀要（或審定結論）的主要內容修訂2SJ 1.11-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求標準草案（報批稿）報批報告的內容修訂3SJ 1.1-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求電子工業(yè)標準年度計劃編制工作的主要程序和要求修訂4SJ 1.12-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求對專業(yè)標準化技術委員會審查標準草案（報批稿）的要求修訂5SJ 1.2-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求

2、調整標準編制計劃的原則和程序修訂6SJ 1.3-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求編制電子工業(yè)技術標準主辦單位責任制修訂7SJ 1.4-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求電子工業(yè)技術標準編制計劃實施階段劃分及要求修訂8SJ 1.5-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求標準草案（送審稿）函審程序修訂9SJ 1.6-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求電子工業(yè)技術標準報批程序和規(guī)定修訂10SJ 1.7-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求標準草案（報批稿）報批時資料齊套性要求修訂11SJ 1.8-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關

3、規(guī)定和要求標準草案編寫時應遵循的要求修訂12SJ 1.9-1987電子工業(yè)技術標準制修訂工作有關規(guī)定和要求標準草案（報批稿）報批審查時退稿的原則和程序修訂13SJ 1000-1975雙動沖床引伸模引伸凸模修訂14SJ 1003-1975雙動沖床引伸模通用模架修訂15SJ 1004-1975雙動沖床引伸模上托修訂16SJ 1005-1975雙動沖床引伸模底座修訂17SJ 1006-1975雙動沖床引伸模下壓板修訂18SJ 1007-1975雙動沖床引伸模上壓板修訂19SJ 1008-1975雙動沖床引伸模螺釘修訂20SJ 1009-1975手柄翻開式鉆模模架修訂21SJ 1018-1975CA3

4、 0型管狀非固體電解質燒結鉭電容器修訂22SJ 1165-1977陰極射線熒光粉Y6熒光粉修訂23SJ 1168-1977陰極射線熒光粉Y12熒光粉修訂24SJ 1185-1977彩色電視測量測試卡（CT752卡）（暫行）修訂25SJ 1269-1977FBJ型通心玻璃粉絕緣子修訂26SJ 1270-1977通心玻璃絕緣子修訂27SJ 1274-1977金剛石拉絲模修訂序號標準編號標準名稱復審結論28SJ 1276-1977金屬鍍層和化學處理層質量檢驗技術要求修訂29SJ 1277-1977金屬鍍層和化學處理層質量檢驗驗收規(guī)則修訂30SJ 1278-1977金屬鍍層和化學處理層外表的檢驗方法修

5、訂31SJ 1279-1977金屬鍍層硬度的檢驗方法修訂32SJ 1280-1977金屬鍍層孔隙率的檢驗方法修訂33SJ 1281-1977金屬鍍層和化學處理層厚度的檢驗方法修訂34SJ 1282-1977金屬鍍層結合力的檢驗方法修訂35SJ 1283-1977金屬鍍層和化學處理層腐蝕試驗方法修訂36SJ 1284-1977金屬鍍層腐蝕試驗結果評定方法修訂37SJ 1285-1977鋁和鋁合金氧化處理層電氣絕緣性能的測試方法修訂38SJ 1472-19793CG110型PNP硅外延平面高頻小功率三極管修訂39SJ 1477-19793CG120型PNP硅外延平面高頻小功率三極管修訂40SJ 1

6、480-19793CG13 0型PNP硅外延平面高頻小功率三極管修訂41SJ 1486-19793CG180型PNP硅外延平面高頻小功率高反壓三極管修訂42SJ 151-1980電子設備用繼電器型號命名標志方法修訂43SJ 151A-1984電子設備用繼電器規(guī)格號標志方法修訂44SJ 1531-1979金屬陶瓷電子管引岀環(huán)接觸直徑系列修訂45SJ 1538-1987電真空器件用鎳及鎳合金化學成分修訂46SJ 1539-1987電真空器件用鎳及鎳合金薄壁管修訂47SJ 1540-1987電真空器件用鎳及鎳合金絲修訂48SJ 1541-1987電真空器件用鎳及鎳合金帶修訂49SJ 1542-198

7、7電真空器件用鎳及鎳合金化學分析方法修訂50SJ 1543-1988電真空器件用鎳及鎳合金光譜分析方法修訂51SJ 1552-1979電子工業(yè)專用設備機械裝配技術要求（暫行）修訂52SJ 1563-1980實心聚四氟乙烯絕緣同軸射頻電纜（暫行）修訂53SJ 1590-1980鈰鎢粉、塊、桿中氧化鈰的分析方法修訂54SJ 1632-1980波導元件型號命名方法修訂55SJ 1646-19803DD175型、3DD176型NPN硅擴散臺面低頻大功率三極管修訂56SJ 1649-19803DD 2 5 7型、3DD258型NPN硅擴散臺面低頻大功率三極管修訂57SJ 1654-19803DD 2 7

8、 0 型、3DD271 型、3DD 2 7 2 型NPN硅擴散臺面低頻大功率三極管修訂58SJ 1657-1980銅墊密封超高真空法蘭型式及尺寸系列修訂59SJ 1659-1980銅密封墊型式及尺寸系列修訂60SJ 1661-1980電子工業(yè)專用設備熱處理技術要求（暫行）修訂61SJ 1677-1980光纖光纜名詞術語修訂62SJ 1678-1980纖維光學連接器名詞術語修訂序號標準編號標準名稱復審結論63SJ 1748-1981UY12、UY16鐵氧體U型磁芯修訂64SJ 1767-1981真空設備金屬鐘罩公稱直徑修訂65SJ 1768-1981真空設備金屬鐘罩筒體修訂66SJ 1769-1

9、981真空設備金屬鐘罩封頭修訂67SJ 1770-1981真空設備金屬鐘罩法蘭修訂68SJ 1771-1981真空設備金屬鐘罩密封圈修訂69SJ 1774-1981真空設備觀察窗修訂70SJ 1783-1981電真空陶瓷零件技術條件修訂71SJ 1794-1981半導體器件生產(chǎn)用擴散爐通用技術條件修訂72SJ 1819-1981小模數(shù)齒輪模數(shù)、齒數(shù)、齒寬、基準孔直徑優(yōu)選系列修訂73SJ 1820-1981優(yōu)選小模數(shù)圓柱直齒輪修訂74SJ 1821-1981優(yōu)選小模數(shù)圓柱直齒片齒輪修訂75SJ 1822-1981優(yōu)選小模數(shù)圓錐直齒輪修訂76SJ 1823-1981優(yōu)選小模數(shù)圓柱直齒雙片齒輪（暫行

10、）修訂77SJ 1824-1981小模數(shù)蝸輪蝸桿優(yōu)選結構尺寸修訂78SJ 1826-19813DK10 0型NPN硅外延平面小功率開關三極管修訂79SJ 1830-19813DK101型NPN硅外延平面小功率開關三極管修訂80SJ 1831-19813DK28型NPN硅外延平面小功率開關三極管修訂81SJ 1832-19813DK102型NPN硅外延平面小功率開關三極管修訂82SJ 1833-19813DK10 3型NPN硅外延平面小功率開關三極管修訂83SJ 1834-19813DK10 4型NPN硅外延平面小功率開關三極管修訂84SJ 1838-19813DK29型NPN硅外延平面小功率開

11、關三極管修訂85SJ 1839-19813DK108型NPN硅外延平面小功率開關三極管修訂86SJ 1871-1981氣體激光器的測試條件修訂87SJ 1872-1981氣體激光器著火電壓的測試方法修訂88SJ 1873-1981氣體激光器最佳工作電流的測試方法修訂89SJ 1874-1981氣體激光器管壓降的測試方法修訂90SJ 1875-1981氣體激光器輸岀功率的測試方法修訂91SJ 1876-1981氣體激光器輸岀功率穩(wěn)定性的測試方法修訂92SJ 1877-1981氣體激光器光束方向偏移的測試方法修訂93SJ 1878-1981氣體激光器橫模的鑒別方法修訂94SJ 1879-1981氣

12、體激光器發(fā)散角的測試方法修訂95SJ 1880-1981氣體激光器頻率漂移的測試方法修訂96SJ 1881-1981氣體激光器偏振度的測試方法修訂97SJ 1885-1981復合介質電容器總技術條件修訂98SJ 2065-1982半導體器件生產(chǎn)用擴散爐測試方法修訂99SJ 2066-1982小模數(shù)漸開線圓柱齒輪通用技術條件修訂100SJ 2085-1982聚氯乙烯絕緣安裝軟線修訂序號標準編號標準名稱復審結論101SJ 2086-1982聚氯乙烯絕緣安裝線修訂102SJ 2154-1982薄膜集成電路用微晶玻璃基片修訂103SJ 2168-1982涂覆用環(huán)氧粉末修訂104SJ 2214.10-1

13、982半導體光敏二、三極管光電流的測試方法修訂105SJ 2214.1-1982半導體光敏管測試方法總則修訂106SJ 2214.2-1982半導體光敏二極管正向壓降的測試方法修訂107SJ 2214.3-1982半導體光敏二極管暗電流的測試方法修訂108SJ 2214.4-1982半導體光敏二極管反向擊穿電壓的測試方法修訂109SJ 2214.5-1982半導體光敏二極管結電容的測試方法修訂110SJ 2214.6-1982半導體光敏三極管集電極一發(fā)射極反向擊穿電壓的測試方法修訂111SJ 2214.7-1982半導體光敏三極管飽和壓降的測試方法修訂112SJ 2214.8-1982半導體光

14、敏三極管暗電流的測試方法修訂113SJ 2214.9-1982半導體光敏二、三極管脈沖上升、下降時間的測試方法修訂114SJ 2215.10-1982半導體光耦合器直流電流傳輸比的測試方法修訂115SJ 2215.11-1982半導體光耦合器脈沖上升、下降、延遲、貯存時間的測試 方法修訂116SJ 2215.1-1982半導體光耦合器測試方法總則修訂117SJ 2215.12-1982半導體光耦合器入岀間隔離電容的測試方法修訂118SJ 2215.13-1982半導體光耦合器入岀間絕緣電阻的測試方法修訂119SJ 2215.14-1982半導體光耦合器入岀間絕緣耐壓的測試方法修訂120SJ 2

15、215.2-1982半導體光耦合器（二極管）正向壓降的測試方法修訂121SJ 2215.3-1982半導體光耦合器（二極管）正向電流的測試方法修訂122SJ 2215.4-1982半導體光耦合器（二極管）反向電流的測試方法修訂123SJ 2215.5-1982半導體光耦合器（二極管）反向擊穿電壓的測試方法修訂124SJ 2215.6-1982半導體光耦合器（二極管）結電容的測試方法修訂125SJ 2215.7-1982半導體光耦合器集電極一發(fā)射極反向擊穿電壓的測試方法修訂126SJ 2215.8-1982半導體光耦合器輸岀飽和壓降的測試方法修訂127SJ 2215.9-1982半導體光耦合器（

16、三極管）反向截止電流的測試方法修訂128SJ 2216-1982硅光敏二極管修訂129SJ 2217-1982硅光敏三極管修訂130SJ 2221-1982中、小型系列組合夾具技術要求修訂131SJ 2222-1982中、小型系列組合夾具編號規(guī)則修訂132SJ 2223-1982中型系列組合夾具結構要素修訂133SJ 2224-1982小型系列組合夾具結構要素修訂134SJ 2225-1982中型系列組合夾具類型和規(guī)格尺寸修訂135SJ 2226-1982小型系列組合夾具類型和規(guī)格尺寸修訂136SJ 2253-1982陰極碳酸鹽顆粒度的測定方法修訂137SJ 2254-1982陰極碳酸鹽分析方

17、法的一般要求（暫行）修訂序號標準編號標準名稱復審結論138SJ 2268-1983旋轉多晶鐵氧體材料系列修訂139SJ 2318-1983揚聲器用鋁鎳鉆系永磁體修訂140SJ 2354.10-1983PIN、雪崩光電二極管列陣串光因子的測試方法修訂141SJ 2354.11-1983PIN、雪崩光電二極管列陣盲區(qū)寬度的測試方法修訂142SJ 2354.1-1983PIN、雪崩光電二極管光電參數(shù)測試方法總則修訂143SJ 2354.12-1983雪崩光電二極管反向擊穿電壓溫度系數(shù)的測試方法修訂144SJ 2354.13-1983雪崩光電二極管倍增因子的測試方法修訂145SJ 2354.14-19

18、83雪崩光電二極管過剩噪聲指數(shù)的測試方法修訂146SJ 2354.2-1983PIN、雪崩光電二極管反向擊穿電壓的測試方法修訂147SJ 2354.3-1983PIN、雪崩光電二極管暗電流的測試方法修訂148SJ 2354.4-1983PIN、雪崩光電二極管正向壓降的測試方法修訂149SJ 2354.5-1983PIN、雪崩光電二極管電容的測試方法修訂150SJ 2354.6-1983PIN、雪崩光電二極管響應度的測試方法修訂151SJ 2354.7-1983PIN、雪崩光電二極管光譜響應曲線和光譜響應范圍的 測試方法修訂152SJ 2354.8-1983PIN、雪崩光電二極管脈沖上升、下降時

19、間的測試方法修訂153SJ 2354.9-1983PIN、雪崩光電二極管噪聲等效功率的測試方法修訂154SJ 2355.1-1983半導體發(fā)光器件測試方法總則修訂155SJ 2355.2-1983半導體發(fā)光器件測試方法正向壓降的測試方法修訂156SJ 2355.3-1983半導體發(fā)光器件測試方法反向電流的測試方法修訂157SJ 2355.4-1983半導體發(fā)光器件測試方法結電容的測試方法修訂158SJ 2355.5-1983半導體發(fā)光器件測試方法法向光強和半強度角的測試方法修訂159SJ 2355.6-1983半導體發(fā)光器件測試方法光通量的測試方法修訂160SJ 2355.7-1983半導體發(fā)

20、光器件測試方法發(fā)光峰值波長和光譜半寬度的測試方法修訂161SJ 2422-1983電子元器件用鍍錫銅線修訂162SJ 2465-1984通用型應用電視云臺總技術條件修訂163SJ 2488-1984電子設備用變壓器、阻流圈和鐵芯噪聲測試方法修訂164SJ 2553-1984波導和同軸元件駐波測量方法修訂165SJ 2554-1984波導和同軸元件相位測量方法修訂166SJ 2557-1984小模數(shù)漸開線圓柱齒輪傳動鏈精度計算方法修訂167SJ 2572-1985太陽能電池用硅單晶棒、片修訂168SJ 2593-1985高純四氧化硅修訂169SJ 2594-1985高純四氯化硅中硼及金屬雜質的化

21、學光譜分析方法修訂170SJ 2595-1985高純四氯化硅中痕量磷的分光光度比色測試方法修訂171SJ 2656-1986鎢的光譜分析方法修訂172SJ 2657-1986鉬的光譜分析方法修訂173SJ 2658.10-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法調制帶寬的測試方法修訂序號標準編號標準名稱復審結論174SJ 2658.11-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法 法脈沖響應特性的測試方修訂175SJ 2658.1-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法總則修訂176SJ 2658.12-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法 寬度的測試方法峰值發(fā)射波長和光譜半修訂177SJ 2658.13

22、-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法 測試方法輸岀光功率溫度系數(shù)的修訂178SJ 2658.2-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法正向壓降測試方法修訂179SJ 2658.3-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法反向電壓測試方法修訂180SJ 2658.4-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法電容的測試方法修訂181SJ 2658.5-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法 法正向串聯(lián)電阻的測試方修訂182SJ 2658.6-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法輸岀光功率的測試方法修訂183SJ 2658.7-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法輻射通量的測試方法修訂184SJ 2658.8

23、-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法法向輻射率的測試方法修訂185SJ 2658.9-1986半導體紅外發(fā)光二極管測試方法 強度角的測試方法輻射強度空間分布和半修訂186SJ 2709-1986印制板組裝件溫度測試方法修訂187SJ 2716-1986數(shù)字計算機系統(tǒng)的設計文件的成套和編制修訂188SJ 2738-1986微型控制電機用齒輪減速器基本參數(shù)修訂189SJ 2739-1986微型控制電機用齒輪減速器通用技術條件修訂190SJ 2743-1987電源用磁性氧化物磁芯（EC-磁芯）的尺寸修訂191SJ 2749-1987半導體激光二極管測試方法修訂192SJ 2757-1987重摻半導

24、體載流子濃度的紅外反射測試方法修訂193SJ 2760-19872CL7077及2CL79型塑料封裝高壓硅堆詳細規(guī)范修訂194SJ 2857.3-1988溫差電致冷材料性能的測試方法 法溫差電動勢率的測試方修訂195SJ 2858-1988溫差電致冷組件性能的測試方法 試方法溫差及最低冷面溫度測修訂196SJ 2914-1988CLF-1A型多模光纖光纜連接器詳細規(guī)范修訂197SJ 2915-1988微波鐵氧體單晶器件名詞術語和定義修訂198SJ 2923-1988可調中心距小模數(shù)漸開線圓柱齒輪副傳動精度計算方法修訂199SJ 2929-19883 0 0 Q電視對稱饋線修訂200SJ 293

25、1-1988玻璃絲編織耐熱線修訂201SJ 2932-1988阻燃聚氟乙烯安裝線修訂202SJ 2933-1988阻燃電視高壓線修訂203SJ 2936-1988中功率計技術條件修訂204SJ 2937-1988中功率測量方法修訂序號標準編號標準名稱復審結論205SJ 2938-1988電視圖像信號發(fā)生器通用技術條件修訂206SJ 2939-1988電視圖象信號發(fā)生器測試方法修訂207SJ 2949-1988廣播電視接收機用調諧器的環(huán)境試驗要求和試驗方法修訂208SJ 2950-1988廣播電視接收機用調諧器驗收規(guī)則修訂209SJ 2960-1988電子設備用壓電陶瓷陷波器總規(guī)范修訂210SJ

26、 2961-1988電子設備用壓電陶瓷陷波器分規(guī)范 電視視頻吸收回路用壓電陶瓷陷波器修訂211SJ 2962-1988電子設備用壓電陶瓷陷波器空白詳細規(guī)范電視機視頻吸收回路用壓電陶瓷陷波器評定水平E修訂212SJ 2964-1988電子設備用壓電陶瓷鑒頻器總規(guī)范修訂213SJ 2965-1988電子設備用壓電陶瓷鑒頻器分規(guī)范電視伴音中頻鑒頻電路用壓電陶瓷鑒頻器修訂214SJ 2966-1988電子設備用壓電陶瓷鑒頻器空白詳細規(guī)范電視伴音中頻鑒頻電路用壓電陶瓷鑒頻器修訂215SJ 3057-1988沖裁模通用模架下基礎板修訂216SJ 3058.10-1988沖裁模通用模架墊板修訂217SJ 3

27、058.11-1988沖裁模通用模架墊板修訂218SJ 3058.1-1988沖裁模通用模架墊板修訂219SJ 3058.2-1988沖裁模通用模架墊板修訂220SJ 3058.3-1988沖裁模通用模架墊板修訂221SJ 3058.4-1988沖裁模通用模架墊板修訂222SJ 3058.5-1988沖裁模通用模架墊板修訂223SJ 3058.6-1988沖裁模通用模架墊板修訂224SJ 3058.7-1988沖裁模通用模架墊板修訂225SJ 3058.8-1988沖裁模通用模架墊板修訂226SJ 3058.9-1988沖裁模通用模架墊板修訂227SJ 3059.1-1988沖裁模通用模架襯板

28、修訂228SJ 3059.2-1988沖裁模通用模架襯板修訂229SJ 3060.1-1988沖裁模通用模架凸模固定板修訂230SJ 3060.2-1988沖裁模通用模架凸模固定板修訂231SJ 3060.3-1988沖裁模通用模架凸模固定板修訂232SJ 3060.4-1988沖裁模通用模架凸模固定板修訂233SJ 3060.5-1988沖裁模通用模架凸模固定板修訂234SJ 3061.1-1988沖裁模通用模架下墊板修訂235SJ 3061.2-1988沖裁模通用模架下墊板修訂236SJ 3061.3-1988沖裁模通用模架下墊板修訂237SJ 3061.4-1988沖裁模通用模架下墊板修

29、訂238SJ 3061.5-1988沖裁模通用模架下墊板修訂239SJ 3061.6-1988沖裁模通用模架下墊板修訂序號標準編號標準名稱復審結論240SJ 3062.1-1988沖裁模通用模架T形槽固定板修訂241SJ 3062.2-1988沖裁模通用模架T形槽固定板修訂242SJ 3063-1988沖裁模通用模架導柱修訂243SJ 3064-1988沖裁模通用模架導套修訂244SJ 3065-1988沖裁模通用模架鋼珠保持圈修訂245SJ 3066-1988沖裁模通用模架對模圓柱銷修訂246SJ 3067.1-1988沖裁模通用模架側面導板修訂247SJ 3067.2-1988沖裁模通用模

30、架側面導板修訂248SJ 3067.3-1988沖裁模通用模架側面導板修訂249SJ 3068-1988沖裁模通用模架支架修訂250SJ 3070-1988沖裁模通用模架上托板修訂251SJ 3071-1988沖裁模通用模架錐面壓板修訂252SJ 3072-1988沖裁模通用模架上托板修訂253SJ 3073-1988沖裁模通用模架錐面螺釘修訂254SJ 3074-1988沖裁模通用模架T形螺釘修訂255SJ 3075-1988沖裁模通用模架卸料螺釘修訂256SJ 3076-1988沖裁模通用模架螺釘修訂257SJ 3077-1988沖裁模通用模架卡圈修訂258SJ 3078-1988沖裁模通

31、用模架推板修訂259SJ 3079-1988沖裁模通用模架頂板修訂260SJ 3080-1988沖裁模通用模架推桿修訂261SJ 3081-1988沖裁模通用模架頂桿修訂262SJ 3082-1988沖裁模通用模架橡膠墊修訂263SJ 3083.1-1988沖裁模通用模架壓板修訂264SJ 3083.2-1988沖裁模通用模架壓板修訂265SJ 3083.3-1988沖裁模通用模架壓板修訂266SJ 3084-1988沖裁模通用模架凹模修訂267SJ 3085-1988沖裁模通用模架導板修訂268SJ 3086.1-1988沖裁模通用模架圓凸模修訂269SJ 3086.2-1988沖裁模通用模

32、架圓凸模修訂270SJ 3087-1988冷沖模固定卸料縱向送料典型結構修訂271SJ 3089-1988冷沖模彈壓卸料縱向送料典型結構修訂272SJ 3090-1988冷沖模彈壓卸料橫向送料典型結構修訂273SJ 3091-1988冷沖模順裝復合薄凹模典型結構修訂274SJ 3092-1988冷沖模順裝復合厚凹模典型結構修訂275SJ 3093-1988冷沖模倒裝復合薄凹模典型結構修訂276SJ 3094-1988冷沖模倒裝復合厚凹模典型結構修訂277SJ 3095-1988冷沖模模具技術條件修訂序號標準編號標準名稱復審結論278SJ 3096-1988冷沖模I型固定導板縱向送料典型組合修訂

33、279SJ 3097-1988冷沖模I型固定導板橫向送料典型組合修訂280SJ 3099-1988冷沖模H型固定導板橫向送料典型組合修訂281SJ 3100-1988冷沖模彈壓導板縱向送料典型組合修訂282SJ 3101-1988冷沖模彈壓導板橫向送料典型組合修訂283SJ 3102-1988冷沖模彈壓導板模中間導柱模架修訂284SJ 3103-1988冷沖模彈壓導板模對角導柱模架修訂285SJ 3104-1988冷沖模彈壓導板模四導柱模架修訂286SJ 3105-1988冷沖模彈壓導板模中間導柱導板修訂287SJ 3106-1988冷沖模彈壓導板模中間導柱下模座修訂288SJ 3107-19

34、88冷沖模彈壓導板模對角導柱導板修訂289SJ 3108-1988冷沖模彈壓導板模四導柱導板修訂290SJ 3109-1988冷沖模I型固定導板?？v向送料上模座修訂291SJ 3110-1988冷沖模I型固定導板?？v向送料墊板修訂292SJ 3111-1988冷沖模I型固定導板?？v向送料固定板修訂293SJ 3112-1988冷沖模I型固定導板模橫向送料上模座修訂294SJ 3113-1988冷沖模I型固定導板模橫向送料墊板修訂295SJ 3114-1988冷沖模I型固定導板模橫向送料固定板修訂296SJ 3115-1988冷沖模導板模上模座修訂297SJ 3116-1988冷沖模固定導板模導

35、板修訂298SJ 3117-1988冷沖模固定導板模通用下模座修訂299SJ 3118-1988晶片承載器修訂300SJ 3155-1988QACC特種漆包圓銅線修訂301SJ 3156-1988QZNCS特種漆包圓銅線修訂302SJ 3157-1988QACH特種漆包圓銅線修訂303SJ 3171-1988磁性氧化物制成的矩形截面E形磁芯及其附件的尺寸修訂304SJ 3172-1988磁性氧化物制成的EI型磁芯及其附件的尺寸修訂305SJ 3173-1988磁性氧化物制成的UF型磁芯的尺寸修訂306SJ 3176-1988軟磁鐵氧體螺紋磁芯（用于彩色電視機）修訂307SJ 3195-1989

36、電子材料功函數(shù)的測試方法修訂308SJ 3196-1989電子材料次級電子發(fā)射系數(shù)的測試方法修訂309SJ 3198-1989真空硅鋁合金中硅、鐵、鎂、銅的發(fā)射光譜分析方法修訂310SJ 3199-1989真空硅鋁合金中鋅、鉛的測定方法原子吸收分光光度法修訂311SJ 3205-1989電子材料蒸發(fā)率的測定方法修訂312SJ 3226-1989陶瓷-金屬封接抗拉強度的測試方法修訂313SJ 3228.10-1989高純石英砂中鉛的測定修訂314SJ 3228.1-1989電子工業(yè)用高純石英砂技術條件修訂315SJ 3228.2-1989高純石英砂分析方法通則修訂序號標準編號標準名稱復審結論31

37、6SJ 3228.3-1989高純石英砂灼燒失量的測定修訂317SJ 3228.4-1989高純石英砂中二氧化硅的測定修訂318SJ 3228.5-1989高純石英砂中鐵的測定修訂319SJ 3228.6-1989高純石英砂中銅的測定修訂320SJ 3228.7-1989高純石英砂中鉻的測定修訂321SJ 3228.8-1989高純石英砂中鋁的測定修訂322SJ 3235-1989帶狀鋯鋁吸氣劑修訂323SJ 324-1972鉬片修訂324SJ 3242-1989砷化鎵外延片修訂325SJ 3244.5-1989砷化鎵和磷化銦材料補償度的測試方法修訂326SJ 3248-1989重摻砷化鎵和磷

38、化銦載流子濃度的紅外反射測試方法修訂327SJ 3249.3-1989半絕緣砷化鎵中鉻濃度的紅外吸收測試方法修訂328SJ 3250-1989氣體激光器功率系列等級和能量等級修訂329SJ 3262-1989電子元件包封材料通用技術條件修訂330SJ 3273-1990高壓元件和組件的安全要求修訂331SJ 3275-1990單面紙質印制線路板的安全要求修訂332SJ 42-1977金屬鍍層和化學處理層的分類、特性、應用范圍和標記修訂333SJ 45-1965射頻電纜產(chǎn)品型號編制辦法修訂334SJ 659-1981CH81型高壓密封復合介質電容器修訂335SJ 660-1973CH82型高壓密

39、封復合介質電容器修訂336SJ 861-1974真空電阻爐基本參數(shù)系列修訂337SJ 862-1974氫氣電阻爐基本參數(shù)系列修訂338SJ 907-1974LG1和LG2型固定電感器修訂339SJ 946-1983電子測量儀器電氣、機械結構基本要求修訂340SJ 97-1965變壓器和阻流圈用小型鐵芯片修訂341SJ 987-1975雙動沖床引伸模落料引伸模修訂342SJ 988-1975雙動沖床引伸模首次引伸模修訂343SJ 989-1975雙動沖床引伸模以后各次引伸模修訂344SJ 990-1975雙動沖床引伸模上托修訂345SJ 991-1975雙動沖床引伸模底座修訂346SJ 99-1

40、987變壓器和扼流圈用鐵心片及鐵心疊厚系列修訂347SJ 992-1975雙動沖床引伸模墊板修訂348SJ 993-1975雙動沖床引伸模固定板定位板修訂349SJ 994-1975雙動沖床引伸模卸料板修訂350SJ 995-1975雙動沖床引伸模落料凹模弓1伸凹模修訂351SJ 996-1975雙動沖床引伸模螺紋沖頭把修訂352SJ 997-1975雙動沖床引伸模沖頭把修訂353SJ 998-1975雙動沖床引伸模沖頭把修訂序號標準編號標準名稱復審結論354SJ 999-1975雙動沖床引伸模落料凸模修訂355SJ/T 10012-1991電子元器件詳細規(guī)范CBB23型雙面金屬化聚丙烯膜介質

41、直流固定電容器評定水平E （可供認證用）修訂356SJ/T 10014-1991電子元器件詳細規(guī)范CAI 1型非固體電解質箔電極鉭電容器 評定水平E （可供認證用）修訂357SJ/T 10015-1991JU3 8和JU2 6型鐘表用3 2kHz音叉石英晶體元 件修訂358SJ/T 10019-1991TT22型同軸匹配負載詳細規(guī)范修訂359SJ/T 10020-1991GH1251 3型3cm波導和GH12514A型2 cm波導匹配負載詳細規(guī)范修訂360SJ/T 10022-1991電子元器件詳細規(guī)范電子設備用LGB0 8 1 0型固定電感器 評定水平E（可供認證用）修訂361SJ/T 10

42、030-1991電子元器件詳細規(guī)范CA3 0型非固體電解質固定鉭電容器 評定水平E （可供認證用）修訂362SJ/T 10054-1991電子元器件詳細規(guī)范2CZ57型管殼額定硅整流二極管修訂363SJ/T 10055-1991電子元器件詳細規(guī)范2CZ58型管殼額定硅整流二極管修訂364SJ/T 10056-1991電子元器件詳細規(guī)范2CZ59型管殼額定硅整流二極管修訂365SJ/T 10057-1991電子元器件詳細規(guī)范2CZ60型管殼額定硅整流二極管修訂366SJ/T 10058-1991電子元器件詳細規(guī)范2CZ103型環(huán)境額定硅整流二極管修訂367SJ/T 10059-1991電子元器件

43、詳細規(guī)范2CZ116型環(huán)境額定硅整流二極管修訂368SJ/T 10060-1991電子元器件詳細規(guī)范2CZ117型環(huán)境額定硅整流二極管修訂369SJ/T 10087.1-1991彩色顯像管玻璃主要原材料的化學分析方法石英砂的化學分析方法修訂370SJ/T 10087.2-1991彩色顯像管玻璃主要原材料的化學分析方法白云石的化學分析方法修訂371SJ/T 10087.3-1991彩色顯像管玻璃主要原材料的化學分析方法長石的化學分析方法修訂372SJ/T 10087.4-1991彩色顯像管玻璃主要原材料的化學分析方法石灰石的化學分析方法修訂373SJ/T 10087.5-1991彩色顯像管玻璃主

44、要原材料的化學分析方法氧化鉛的化學分析方法修訂374SJ/T 10087.6-1991彩色顯像管玻璃主要原材料的化學分析方法氫氧化鈰的修訂序號標準編號標準名稱復審結論化學分析方法375SJ/T 10087.7-1991彩色顯像管玻璃主要原材料的化學分析方法氟硅酸鈉的化學分析方法修訂376SJ/T 10087.8-1991彩色顯像管玻璃主要原材料的化學分析方法銻酸鈉的化學分析方法修訂377SJ/T 10091-1991電子產(chǎn)品用真空電阻爐通用技術條件修訂378SJ/T 10092-1991電子產(chǎn)品用真空電阻爐測試方法修訂379SJ/T 10094-1991電子產(chǎn)品用氫氣電阻爐通用技術條件修訂38

45、0SJ/T 10095-1991電子產(chǎn)品用氫氣電阻爐測試方法修訂381SJ/T 10147-1991集成電路防靜電包裝管修訂382SJ/T 10151-1991電子產(chǎn)品設計文件的標準化檢查修訂383SJ/T 10152-1991集成電路主要工藝設備術語修訂384SJ/T 10161.1-1991真空橡膠密封平面法蘭連接型式及基本尺寸修訂385SJ/T 10161.2-1991真空橡膠密封平面法蘭固定法蘭尺寸修訂386SJ/T 10161.3-1991真空橡膠密封平面法蘭夾緊法蘭尺寸修訂387SJ/T 10161.4-1991真空橡膠密封平面法蘭旋轉法蘭尺寸修訂388SJ/T 10161.5-1

46、991真空橡膠密封平面法蘭擋圈尺寸修訂389SJ/T 10161.6-1991真空橡膠密封平面法蘭托環(huán)尺寸修訂390SJ/T 10161.7-1991真空橡膠密封平面法蘭“0”形橡膠密封圈尺寸修訂391SJ/T 10161.8-1991真空橡膠密封平面法蘭卡鉗螺栓尺寸修訂392SJ/T 10168.1-1991真空開關管用金屬異型制品鎢銅合金修訂393SJ/T 10168.2-1991真空開關管用金屬異型制品沖制鉬圓片修訂394SJ/T 10168.3-1991真空開關管用金屬異型制品銅鉍銀合金修訂395SJ/T 10168.4-1991真空開關管用金屬異型制品碳化鎢銅合金修訂396SJ/T

47、10168.5-1991真空開關管用金屬異型制品銅鉻合金修訂397SJ/T 10171.10-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜最大孔直徑的測定氣泡試驗法修訂398SJ/T 10171.11-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜銅、鐵含量的測定原子吸收分光光度法修訂399SJ/T 10171.1-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜厚度的測定修訂400SJ/T 10171.12-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法水化纖維素膜醋酸根結合量的測定修訂401SJ/T 10171.2-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜定量的測定修訂402SJ/T 10171.3-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜緊度的測定修訂403SJ/T 10171.4-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜抗張強度的測定修訂404SJ/T 10171.5-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜面電阻的測定修訂405SJ/T 10171.6-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜耐堿損失的測定修訂406SJ/T 10171.7-1991堿性蓄電池隔膜性能測試方法隔膜吸堿率的測定修訂407SJ/T 10171.8-1991堿性蓄電池隔膜性