陶瓷電容器檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

1、陶瓷電容的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1 目的為了控制陶瓷電容的品質(zhì)，滿足LED產(chǎn)品的制作要求，參照國家有關(guān)部門標(biāo)準(zhǔn)，特規(guī)定了陶瓷電容檢驗(yàn)的技術(shù)要求、檢驗(yàn)方法、抽樣方案及判定標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)志、標(biāo)簽及貯存，并對其質(zhì)量驗(yàn)收作明確的規(guī)定。2 范圍供應(yīng)商所提供陶瓷電容的檢驗(yàn)、超期貯存的陶瓷電容的復(fù)檢，均適用此規(guī)范。3 引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T2828.1-2003計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序 第一部份：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃GB/T2829-2002 周期檢驗(yàn)計(jì)數(shù)抽樣程序及表(適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗(yàn))4 定義4.1 嚴(yán)重缺陷(CR)：該缺陷最終產(chǎn)生一個(gè)標(biāo)識(shí)不正確的產(chǎn)品或不能使用。4.2 主要缺陷(MA)：該缺陷使得存在較大

2、的缺陷，容易造成抱怨。4.3 次要缺陷(MI)：該缺陷使得在外觀上影響美觀。5 技術(shù)要求與檢驗(yàn)方法5.1外觀MLCC外觀檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：項(xiàng)目1：端頭露瓷缺陷描述：端電極破損見到瓷體端部，暴露面積直徑0.1mm；端電極破損暴露面積直徑。接受標(biāo)準(zhǔn)： 0 收 1 退 可接受項(xiàng)目2：端頭不一缺陷描述： 兩端頭的寬度相差1/3；兩端頭的寬度不一致，一端寬度另一端寬度的 1/2接受標(biāo)準(zhǔn)： 可接受 0 收 1 退項(xiàng)目3：端頭脫落缺陷描述：端頭電極脫落接受標(biāo)準(zhǔn)：0 收 1 退項(xiàng)目4：無端頭缺陷描述：瓷體端部沒有包封端電極接受標(biāo)準(zhǔn)：0 收 1 退項(xiàng)目5：端頭延伸缺陷描述： 端頭表面的 Ni 或 Sn 金屬向中央靠攏,

3、兩端瓷體間距<1/4 芯片長度； 端頭表面的 Ni 或 Sn 金屬稍向中央靠攏。接受標(biāo)準(zhǔn)： 0 收 1 退 可接受5.2尺寸卡尺測量對照檢驗(yàn)規(guī)格書上的“技術(shù)資料”及“技術(shù)圖紙”量測的項(xiàng)目，測量待檢物料外形的尺寸（長、寬、高）；試裝取“PCB標(biāo)準(zhǔn)件”，將來料待檢元件安裝在“PCB標(biāo)準(zhǔn)件”上，檢驗(yàn)其親和度。5.3電氣性能的測試5.3.1電容量測試應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格書要求范圍。 Class I類指：高頻類，包括通用型高頻 COG、COH 材質(zhì)電容器Class II類指：X7R、X5R、Y5V、Z5U材質(zhì)電容.損耗角正切值備注：X5R與X7R相同。 絕緣電阻IR測試 耐電壓測試 5.3.5漏電流a)

4、參照耐壓測試儀操作規(guī)范進(jìn)行調(diào)節(jié)儀器，時(shí)間設(shè)置為60S，將電壓輸出 選擇DC，然后把待測電容兩引腳分別夾在耐壓測量儀測試端子上。b)按要求對待測電容進(jìn)行調(diào)節(jié)電壓，最初施加的電壓不得超過試驗(yàn)電壓的一半，然后將電壓逐步額定電壓值，記錄漏電流值。c)測試結(jié)果應(yīng)符合規(guī)格書要求，若無明確要求則按I0.5mA。5.4可焊性5.4.1有鉛焊接：要求在錫槽溫度245±5, 浸漬2±0.5秒，上錫要均勻，無集中疵點(diǎn)；5.4.2無鉛焊接：要求在錫槽溫度260±5, 浸漬2±0.5秒，上錫要均勻，無集中疵點(diǎn)。備注：目測焊錫浸潤面積，必要時(shí)輔以放大鏡進(jìn)行檢驗(yàn)。5.5高低溫測試：將

5、在常溫下測試下測試容量、漏電流等均正常的電容放入-10的溫度中2小時(shí)，然后用30W烙鐵對其進(jìn)行加熱3秒，再測試容量、漏電流等參數(shù)是否合格。如此連續(xù)反復(fù)3次高低溫試驗(yàn)，其容量、漏電流等參數(shù)均應(yīng)正常。5.6ROHS測試應(yīng)符合公司ROHS測試要求。6檢驗(yàn)規(guī)則6.1 檢驗(yàn)以批為單位進(jìn)行，以相同材料、相同工藝、相同規(guī)格、同一送貨日期的產(chǎn)品為一批。交收試驗(yàn)每批產(chǎn)品按照GB/T2828.1-2003規(guī)定的抽樣方法進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢查；例行試驗(yàn)的批以GB/T2829-2002周期檢驗(yàn)計(jì)數(shù)抽樣程序及表(適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗(yàn))的規(guī)定進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢查。6.2 交收試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、抽樣方案及合格質(zhì)

6、量水平按表1規(guī)定進(jìn)行。表1 陶瓷電容交收試驗(yàn)表序號檢測項(xiàng)目技術(shù)要求與試驗(yàn)方法抽樣方案判定值1外觀5.1N-IIAQL=1.02尺寸5.2N-IIAQL=1.03電容量S4 AQL=0.654損耗角正切值5.3.2S4 AQL=0.655可焊性5.410個(gè)C=07.3 例行試驗(yàn)在下列情況下進(jìn)行：a) 生產(chǎn)商的設(shè)計(jì)、工藝或主要材料做重大改進(jìn)時(shí)；b) 新的供應(yīng)商認(rèn)可和批量產(chǎn)品的第一生產(chǎn)批進(jìn)廠；c) 正常生產(chǎn)時(shí)每一季度進(jìn)行一次。7.4 例行試驗(yàn)樣品在供應(yīng)商提供樣品中或生產(chǎn)批量中抽取。例行試驗(yàn)的試驗(yàn)抽樣與判定按表2規(guī)定進(jìn)行。 表2 陶瓷電容例行試驗(yàn)表序號檢測項(xiàng)目技術(shù)要求與試驗(yàn)方法抽樣方案判定值1外觀5.1N-IIAQL=1.02尺寸5.2N-IIAQL=1.03電容量S4 AQL=0.654損耗角正切值5.3.2S4 AQL=0.655絕緣電阻IR測試5.3.3S4 AQL=0.656耐壓5.3.4S4 AQL=0.657漏電流S4 AQL=0.658可焊性5.410個(gè)C=09高低溫測試5.53個(gè)C=010ROHS測試5.63個(gè)C=07.5 環(huán)保要求，按照產(chǎn)品生產(chǎn)批號抽樣，應(yīng)均符合要求