電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范方案標(biāo)準(zhǔn)書.docx

1、電子元器件檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)書修訂日期mi單號(hào)修訂內(nèi)容摘要頁(yè)次版次審核批準(zhǔn)2021/03/30/系統(tǒng)文件新制定4A/0/局部電子元器件檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)書IC類檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)（包括BGA）1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有IC包括BGA之檢驗(yàn)。3.抽樣方案依MIL-STD-105E , LEVEL H正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4.允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0; 主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否

2、都正確，任何有誤，均不可承受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否那么不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣，假設(shè)不同不可承 受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，假設(shè)不吻合不可 接受.目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以識(shí)別不可承受；b. 來(lái)料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可承受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可承受；d. 元件封裝材料外表因封裝過(guò)程中留下的沙孔,其面積不超 過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì)，可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可承受；f. 兀件腳彎曲，偏位，缺損或少腳，均不可承受;目檢

3、或10倍以上 的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩 帶靜電帶。備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC,由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)翻開封裝的，IQC僅進(jìn)展包裝檢驗(yàn)，并加蓋免 檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進(jìn)展拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH對(duì)應(yīng)的位置有沒有變成粉紅 色，假設(shè)已變?yōu)榉奂t色那么使用前必須按供給商的要求進(jìn)展烘烤。(=)貼片元件檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(電容,電阻，電感)1.目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。2.適用范圍適用于本公司所有貼片元件電容，電阻，電感)之檢驗(yàn)。3.抽樣方案依MIL-STD-105E , LEVEL H正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?.4.

4、允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MD： 1.5.5.參考文件?LCR數(shù)字電橋操作指引？?數(shù)字萬(wàn)用表操作指引？檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正 確，任何有誤,均不可承受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否那么不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣，假設(shè)不同不可承受； 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，假設(shè)不吻合不可承受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模湖不清難以識(shí)別不可承受；b. 來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可承

5、受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可承受；d. 元件封裝材料外表因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì)，可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良,均不可承受；目檢10倍以上的放檢驗(yàn)時(shí),必 須佩帶靜電4-市。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測(cè)試儀 數(shù)字萬(wàn)用表檢驗(yàn)時(shí)，必 須佩帶靜電帶。二極管類型檢 測(cè) 方 法LED選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量,LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光,而反向測(cè)量不發(fā)光；否那么該二 極管不合格。注：有標(biāo)記的一端為員極。其它二極管選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，讀數(shù)需小于1 ,而反向測(cè)量讀數(shù)需無(wú)窮大；否

6、那么該二極管不合格。 注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注抽樣方案說(shuō)明：對(duì)于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣方案時(shí)來(lái)料數(shù)量以盤為單位,樣本數(shù)也以盤為單位；從抽檢的每盤中取35pcs元件進(jìn)展檢測(cè)；AQL不變。檢驗(yàn)方法見” LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀 操作指引和數(shù)字萬(wàn)用表操作指引L四)插件用電解電容.1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。3.抽樣方案依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4.允收水準(zhǔn) (AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.

7、參考文件?LCR數(shù)字電橋操作指引?、?數(shù)字電容表操作指引?。檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確，任何I有諼均不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣，假設(shè)不同不可承 受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，假設(shè)不吻合不可 接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清，難以識(shí)別不可承受；b. 電解電容之熱縮套管破損、脫落,不可承受； C.本體變形，破損等不可承受；d.Pin生銹氧化，均不可承受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa.Pin上錫不良，或完全不上錫不可承受。(將PIN沾

8、上現(xiàn)使用 之合格的松香水,再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN 是否100%良好上錫；如果不是那么拒收)實(shí)際操作每LOT取 5-10PCS在 小錫爐上驗(yàn)證上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MAa.外形尺寸不符合規(guī)格要求不可承受?？ǔ呒僭O(shè)用于新的 Model,需在 PCB上對(duì)應(yīng)的 位置進(jìn)展試插電性檢驗(yàn)MAa.電容值超出規(guī)格要求那么不可承受。用數(shù)字電容表 或LCR數(shù)字電 橋測(cè)試儀量測(cè)五)晶體類檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3.抽樣方案依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4.允收水準(zhǔn)(AQL

9、)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.參考文件?數(shù)字頻率計(jì)操作指引？檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都 正確，任何I有誤,均不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣，假設(shè)不同不可承受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，假設(shè)不吻合不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 字體模糊不清,難以識(shí)別不可承受；b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可承受；c. 元件變形，或受損露出本體等不可承受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin ,均不可

10、承受。目檢每LOT取5-10PCS在 小錫爐上驗(yàn)證 上錫性電性檢驗(yàn)MA3.晶體不能起振不可承受；b.測(cè)量值超出晶體的頻率范圍那么不可承受。測(cè)試工位 和數(shù)字頻率 計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢 測(cè) 方 法32.768KHZ16.934MHz25.000MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體，再接通電源開機(jī)；在正常開機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看 測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，假設(shè)不能開機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，那么該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開機(jī)，看能否正常開機(jī)顯示；在正常開機(jī) 顯示后,用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在

11、規(guī)格范圍內(nèi)，假設(shè)不能開機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī) 格范圍內(nèi)，那么該晶體不合格。六)三極管檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3.抽樣方案依MIL-STD-105E , LEVEL H正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4.允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0; 主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤,均不可承受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否那么不可承受。目檢纏檢驗(yàn)

12、MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣，假設(shè)不同不可承 受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，假設(shè)不吻合不可 接受.目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以識(shí)別不可承受；b. 來(lái)料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝，均不可承受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可承受；d. 元件封裝材料外表因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超過(guò)0.5mm2,S未露出基質(zhì)，可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可承受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須 佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)無(wú)(七)排針&插槽(座)類檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)排針&插槽(座)類物料之瞬

13、。2.適用范圍適用于本公司所有排針&才皆曹(座)之檢驗(yàn)。3.抽樣方案依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣方案；具懷抽樣方式清參考?抽樣方案?。4.允收水 準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正 確，任1可有誤，均不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label 的數(shù)量是否一樣，假設(shè)不同不可承受； 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，假設(shè)不吻合不可承受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Markin

14、g錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn)；b. 塑料與針腳不能緊固連接；c. 塑料體姍，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d. 過(guò)錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮；e. 針腳擰結(jié)，彎曲，偏位，缺損，斷針或缺少；f. 針腳上下不平、歪針、針氧化、生銹；g. 針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗(yàn)MAa. PIN上錫不良，或完全不上錫，均不可承受；(將零件腳插入現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤(rùn)，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是那么拒 收)實(shí)際操作每LOT取5-10PCS在 小錫爐上驗(yàn)證 上錫性建檢驗(yàn)MAa. 針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝；b. 針腳露出機(jī)板長(zhǎng)度小于0.5mm或大于2.

15、0mm;卡尺針腳露出機(jī)板 長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)為 0.5mm2.0 mm范圍內(nèi)。八CABLE類檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1.目的作為C人員檢驗(yàn)CABLE類物料之依據(jù)。2.適用范 圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗(yàn)。3.抽樣方案依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?.4.允收水 準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5參考文件無(wú)檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確，任何有誤,均不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 數(shù)量與Label上的數(shù)量

16、是否一樣，假設(shè)不同不可承受;b, 料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，假設(shè)不吻合不可承受。目檢外觀檢驗(yàn)MAa. 五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良；b. 塑料體變形、劃傷、毛邊、破斷裂、異色等不良；C.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可承受；d. 排線與支架等組裝不牢，易松脫;e. 標(biāo)識(shí)CABLE接插方向的顏色不能明確分辯；C.排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求；g.排線外表的絲印錯(cuò).1. 目檢2. 按前后左右 上下各輕搖3 次排線接頭 處，看有無(wú)松 脫現(xiàn)象參考MechanicalDrawing ofCable尺寸檢驗(yàn)MAa.長(zhǎng)度不符合規(guī)格要求不可承受.卷尺尺寸參考 Mechanical Drawing of Cable電性測(cè)試檢 驗(yàn)MAa. 排線的接線方式錯(cuò)不可承受；b. 排線接觸不良或不能運(yùn)行不可承受；c. IDE排線的傳輸速率不符合要求不可承受.每批取lOpcs送 QA,請(qǐng)QA的同 事幫助測(cè)試?yán)y(cè)試檢 驗(yàn)MAa.與公端對(duì)插，插拔力不符合規(guī)格要求的不可承受.（拉力測(cè) 試：用標(biāo)準(zhǔn)Box Header與線對(duì)插好，用拉力計(jì)測(cè)出其 CABLE完全被拉出后的最大拔出力。）實(shí)