鹽霧試驗機正確的校正方法(共5頁)

1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上GB/T 5170.8-1996前言本標準是GB/T 5170 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法系列標準之一。本標準是GB 5170.8-85的修訂本，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：明確本標準適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定。以區(qū)別于產(chǎn)品的型式試驗、出廠檢驗等。溫度測量點的數(shù)量及布放位置以設(shè)備工作室容積2cm3為界，不大于2cm3時為9點，大于2 cm3時為15點。溫度偏差的測量時間由24h縮短為30min。本標準自實施之日起，代替GB 5170.885。本標準由機械工業(yè)部提出。本標準由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會歸口。本標準由機械工業(yè)部

2、廣州電器科學研究所負責起草。本標準主要起草人：謝建華、付文茹、陳學進、薛振夷、王則燕。中華人民共和國國家標準電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù) GB/T 5170.8-1996 檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備代替 GB/T 2423.18-85Inspection methods for basic parameters of environmental Testing equipments for electric and electronic products Salt mist testing equipments1 范圍本試驗規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的檢定項目、檢定用儀器、測量點的位置與數(shù)量、檢定步驟

3、和檢定數(shù)據(jù)的處理和檢定結(jié)果。本標準適用于GB/T 2423.17電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 和GB 2423.18電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb：交變鹽霧試驗方法（氯化鈉溶液）所用鹽霧試驗設(shè)備的周期檢定。本標準也適用于類似設(shè)備的周期檢定。對交變鹽霧試驗所用濕熱試驗設(shè)備的周期檢定見GB/T 5170.32 引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應(yīng)探討使用下列標準最新版本的可能性。GB/T 2423.17-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb：鹽霧試驗方法GB/T 2423.18-

4、85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb：交變鹽霧試驗方法（氯化鈉溶液）GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則3 檢定項目 檢定項目包括： 溫度偏差；鹽霧沉降率。4 檢定用主要儀器及要求41 溫度測量采用由鉑電阻、熱電偶或其他溫度傳感器組成的溫度測量儀器，其系統(tǒng)精確度為±0.2，傳感器的熱時間常數(shù)不大于20S42 鹽霧沉降量測量 鹽堿地務(wù)沉降量測量儀器由以下兩部分組成： 直徑100mm的玻璃漏斗；容量50ml的量筒5檢定條件5.1受檢設(shè)備的外觀和安全條件應(yīng)符合GB/T 5170.1-1995第8章的要求。5.2檢定氣候環(huán)境條件、電源條件、

5、用水條件應(yīng)滿足GB/T 5170.1-1995第4章的要求。5.3檢定應(yīng)在受檢設(shè)備負載條件下進行。 鹽霧試驗設(shè)備的檢定負載為50mm×100mm×(12)mm的鋼板，數(shù)量按工作空間水平橫截面積每平方米不少于160塊計。6測量點的數(shù)量及位置6.1溫度測量點6.1.1在被檢定設(shè)備工作室內(nèi),定出上、中、下三個水平層面(簡稱上、中、下三層);上層與工作室頂面的距離是工作室高度的1/10,中層通過工作室?guī)缀沃行狞c,下層在底層樣品架上方10mm處.6.1.2測量點位于上、中、下三層,如圖1和圖2,用O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示.6.1.3工作室容積不大

6、于2m3時,測量點為9個,位置如圖1. .A B.D C.O.K L.N M. 門 門 門 上層 中層 下層圖1測量點O位于工作室的幾何中心(或離噴霧塔適當距離)其他各測量點與試驗設(shè)備內(nèi)壁的距離為各邊長的1/10,但不小于50mm.6.1.4工作室容積大于2 m3時,測量點為15個,位置如圖2.A B. E .D C.FJ O G. . .H.K L. U .N M. 門 門 門上層 中層 下層圖2測量點E、O、U分別位于上、中、下層的幾何中心，其他各測量點與試驗設(shè)備內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10，但不小于50mm。6.1.5若在某測量點上測得的數(shù)據(jù)不符合要求時，可適當放寬該測量點到箱壁的距離

7、，并在檢定報告中予以記載。6.2 鹽霧沉降量測量點.4 1.3.5 2.7 .4 1.8 .5 2.9 .6 2.6.2.1工作容積不大于2m3時,測量點5個,除中習點3外,其他各點與試驗設(shè)備內(nèi)壁的距離約為150mm,如圖3.中心位置有噴霧塔時,中心點可離噴霧塔適當距離。 圖36.2.2工作室容積大于2m3時,測量點為9個,除中心點5外,其他各點懷內(nèi)壁距離均為170mm,如圖4.中心位置有噴霧塔時,中心點可離噴霧塔適當距離。圖46.2.3玻璃漏斗位于測量點上,其上平面與工作室底面的高度為工作室高度的1/3。7檢定步驟7.1溫度偏差的測量a) 在各溫度測量點安裝溫度傳感器。b) 將檢定負載均勻地

8、布放在工作空間內(nèi)。c) 使試驗設(shè)備升溫至35并連續(xù)噴霧。d) 在所有溫度傳感器達到35并保持在規(guī)定容差范圍內(nèi)后,在30min內(nèi),每2min測量全部測量點的溫度值1次,共測15次,并予以記錄。7.2鹽霧沉降量的測量a) 將玻璃漏斗穿過橡皮塞固定在量筒上,布放在圖3、圖4所示測量點的位置上。b) 將試驗設(shè)備的溫度升到35±2，連續(xù)噴霧16h。c) 噴霧停止后立即取出量筒，記錄收集到的溶液量。8數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果8.1溫度差a) 對7.ld)的測量數(shù)據(jù)按測量儀器的修正值進行修正。b) 按下式計算溫度偏差:Tmax= Tmax TNTmin= Tmin TN式中： Tmax溫度上偏差，； Tmin溫度下偏差，；Tmaxn次測量中測得的最高溫度，；Tmaxn次測量中測得的最低溫度，；TN標稱溫度。8.2鹽霧沉