ASME常用規(guī)程及標(biāo)準(zhǔn)

1、AMSERT:PW-51 （第卷）A-250 （第卷）1 焦距：射線照相的幾何不清晰度由下式?jīng)Q定：Ug=Fd/D Ug-幾何不清晰度 F-射線源尺寸. 英寸(mm) D-射線源到被透照工件的距離. 英寸(mm) d-被透照工件的射線源一側(cè)至膠片的距離. 英寸(mm)厚度英寸(mm)Ugmax英寸(mm)< 2(50)0.020(0.51)>2-3(50-75)0.030(0.76)>3-4(75-100)0.040(1.02)> 4(100)0.070(1.78)2.透照技術(shù)2.1單壁單像透照：殼體焊縫、平板焊縫和具備單壁透照條件的焊縫均應(yīng)采用單壁透照。2.2 雙壁透照

2、2.2.1雙壁單像透照：接管、集箱和3.5英寸(89mm)的管子焊縫采用雙壁透照單壁成像方式。當(dāng)對(duì)環(huán)焊縫要求全部覆蓋時(shí)，至少應(yīng)互成120°作三次曝光。2.2.2 3.5英寸(89mm)的接管或管子焊縫可采用雙壁透照雙壁焊縫同時(shí)成像觀察的方式。3.像質(zhì)計(jì)A 組B 組C 組D 組線徑in. (mm)線號(hào)線徑 in. (mm)線號(hào)線徑in. (mm)線號(hào)線徑in. (mm)線號(hào)0.0032 (0.08)10.010 (0.25)60.032 (0.81)110.100 (2.54)160.0040 (0.10)20.013 (0.33)70.040 (1.02)120.126 (3.20)

3、170.0050 (0.13)30.016 (0.41)80.050 (1.27)130.160 (4.06)180.0063 (0.16)40.020 (0.51)90.063 (1.60)140.200 (5.08)190.0080 (0.20)50.025 (0.64)100.080 (2.03)150.250 (6.35)200.0100 (0.25)60.032 (0.81)110.100 (2.54)160.320 (8.13)21單壁材料的標(biāo)稱厚度范圍in.(mm)像質(zhì)計(jì)射線源一側(cè)底片一側(cè)孔型像質(zhì)計(jì)指示器線號(hào)線型像質(zhì)計(jì)指示器線號(hào)孔型像質(zhì)計(jì)指示器線號(hào)線型像質(zhì)計(jì)指示器線號(hào)0.25(6

4、.4)1251040.25(6.4) 0.375(9.5)1561250.375(9.5) 0.50(12.7)1771560.50(12.7) 0.75(19.0)2081770.75(19.0) 1.00(25.4)2592081.00(25.4) 1.50(38.1)30102591.50(38.1) 2.00(50.8)351130102.00(50.8) 2.50(63.5)401235112.50(63.5) 4.00(101.6)501340124.00(101.6) 6.00(152.4)601450136.00(152.4) 8.00(203.2)801660148.00(2

5、03.2) 10.00(254)10017801610.00(254) 12.00(304.8)120181001712.00(304.8) 16.00(406.4)160201201816.00(406.4) 20.00(508.0)20021160204黑度射線源增感屏觀察方法黑度線鉛箔單片雙片最小為1.8每張最小為1.3最大為4.0復(fù)合觀片最大為4.0線鉛箔單片雙片最小為2.0每張最小為1.3最大為4.0復(fù)合觀片最大為4.0(a) 如果射線照相上被檢區(qū)任何部位的黑度變化超過孔型像質(zhì)計(jì)本體處或線型像質(zhì)計(jì)編號(hào)附近的黑度-15%或+30%以上，但仍處于上表規(guī)定的最小和最大容許黑度范圍內(nèi)，則對(duì)每

6、個(gè)超過的區(qū)域應(yīng)加一個(gè)像質(zhì)計(jì)并重新拍片。(b) 當(dāng)采用墊片時(shí)，只要能顯示出所要求的像質(zhì)計(jì)靈敏度，而且不超過(a)所規(guī)定的黑度范圍，則允許超過上表中規(guī)定的+30%黑度限制上限。5.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：1.1 射線照相的焊縫部分顯示出下列類型缺陷應(yīng)判為不合格；1.1.1 任何顯示特征如裂紋或未熔合或未焊透；1.1.2 任何條狀?yuàn)A渣長(zhǎng)度大于；(a) t<3/4英寸(19mm)時(shí)，為1/4英寸(6mm) (b) t>3/4英寸(19mm)2.25英寸(57mm)時(shí)，為1/3t (c) t>2.25英寸(57mm)時(shí)，為3/4英寸(19mm) t為不包括允許的焊縫的加強(qiáng)層厚度，對(duì)有不同厚度的對(duì)接焊

7、接頭，t為二者厚度較薄者。如果一全焊透焊縫包括角焊縫，則該角焊縫的腰高應(yīng)計(jì)入t內(nèi)。1.1.3 任何一直線上的夾渣群，在12t的長(zhǎng)度內(nèi)夾渣的總長(zhǎng)度大于t者；但相連二者缺陷間的間距超過6L者除外，此處L為該一群內(nèi)最長(zhǎng)缺陷的長(zhǎng)度。1.1.4 圓形顯示超過ASME規(guī)范第卷附錄A-250中的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定者。1.1.5 當(dāng)?shù)灼巷@示出有突變的根部?jī)?nèi)凹。UT 鋼板SA-435/SA-435M-90 鋼板超聲直射波檢驗(yàn)（第卷、第卷鐵基部分）：適用于厚度大于和等于1/2英寸(12.5mm)的板材1.探頭1.1檢驗(yàn)采用的標(biāo)稱頻率范圍為2.0MHz-5MHz。1.2 探頭的標(biāo)稱直徑為1英寸1-1/8英寸(2530

8、mm)或最小有效面積為0.7in2 (450mm2)1.3 可采用其它尺寸的探頭來評(píng)定和精確地測(cè)定缺陷信號(hào)。2.儀器的靈敏度對(duì)縱波探傷，儀器靈敏度調(diào)節(jié)第1次底波至熒光屏高度的75%左右。掃查應(yīng)沿垂直或平行主平面軸進(jìn)行，以不超過3英寸(75mm)的間距對(duì)整塊鋼板作100%掃查。在掃查表面上板的邊緣2in（50mm）內(nèi)應(yīng)附加掃查。3. 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)任何能引起底面反射信號(hào)全部消失的缺陷信號(hào)，而其范圍又不能被直徑為3英寸(75mm)或板厚之半（取其中的較大值）所圍成的圓所覆蓋均為不合格。4. 記錄 4.1 記錄所有引起底面反射完全消失的缺陷。4.2 記錄底面反射降低50%以上但小于100%的分層性缺陷。4

9、.3 記錄引起游動(dòng)信號(hào)并伴隨有底波反射降低的缺陷。4.4 在鋼板草圖上標(biāo)出所有應(yīng)記錄的信號(hào)位置。4.5 按本規(guī)程驗(yàn)收的鋼板應(yīng)用硬印或印刷方法加注UT435識(shí)別標(biāo)記。5. 所有報(bào)告應(yīng)提交授權(quán)檢驗(yàn)師（AI）復(fù)審和認(rèn)可。另：SA20 壓力容器用鋼板通用要求（第卷鐵基部分）其中S8 SA-435SA578 特殊用途普通鋼板與復(fù)合鋼板超聲直射波檢驗(yàn) (第卷、第卷鐵基部分)SA577 鋼板斜射波檢驗(yàn)（4730中規(guī)定鋼板在驗(yàn)收時(shí)存在問題或由技術(shù)協(xié)議規(guī)定的情況下，才采用斜射波檢驗(yàn)）UT鍛件SA-388 大型鋼鍛件超聲檢測(cè)（第卷、第卷鐵基部分）SA-788 鍛件通用要求（內(nèi)含S18 MT、S19 PT、S20

10、UT）（第卷鐵基部分）SA-745 奧氏體鋼鍛件超聲檢驗(yàn)（第卷、第卷鐵基部分）（4730中規(guī)定筒形和環(huán)形鍛件應(yīng)增加橫波檢測(cè)）1. 探頭1.1 換能器頻率為15MHz。1.2 對(duì)直射波掃查應(yīng)使用3/4英寸(20mm)到1英寸(25mm)的換能器，對(duì)斜射波掃查換能器可應(yīng)用5/16英寸×11/32英寸(8×9mm2)3/4英寸×7/8英寸(20×22mm2)的換能器， 2. 參考試塊 當(dāng)用直射波接觸法檢驗(yàn)時(shí)，用一個(gè)包含平底孔的試塊來校準(zhǔn)設(shè)備和確定記錄水平。3.工件要求凡圓形鍛件，應(yīng)機(jī)械加工出圓柱形的表面，以便作徑向檢驗(yàn)。鍛件端面應(yīng)加工成與鍛件軸線垂直，以便進(jìn)行

11、軸向檢驗(yàn)。圓盤形鍛件和矩形鍛件表面應(yīng)加工平直，而且要相互平行。4. 掃查方向4.1 直射波檢驗(yàn)4.1.1為了保證整個(gè)鍛件體積均能被檢驗(yàn)到，要求探頭每次移動(dòng)至少要有15%重疊?！?9】4.1.2用直射波掃查圓形鍛件，應(yīng)至少?gòu)囊粋€(gè)平面和從圓周上的徑向進(jìn)行。4.1.3用直射波技術(shù)掃查實(shí)心鍛件，應(yīng)近似互成直角方向進(jìn)行。4.2 斜射波檢驗(yàn)4.2.1 環(huán)形鍛件及其它空心鍛件應(yīng)在兩個(gè)（正反）環(huán)向用斜角技術(shù)檢驗(yàn)。除非壁厚或幾何結(jié)構(gòu)使斜角檢驗(yàn)不能進(jìn)行。4.2.2 此外，對(duì)以上10.1節(jié)和10.2.1節(jié)，細(xì)晶粒熔煉環(huán)形鍛件且用于容器筒體，也應(yīng)在兩個(gè)軸向用斜角技術(shù)檢驗(yàn)。4.2.3 對(duì)不能用直射波作軸向檢驗(yàn)的鍛件，要

12、采用斜射波探頭從兩個(gè)軸向進(jìn)行檢驗(yàn)。5. 校準(zhǔn)5.1直射波檢驗(yàn)5.1.1底面反射技術(shù) 將衰減器調(diào)到適當(dāng)?shù)乃?，例?:1或14dB，調(diào)整儀器控制，使其從鍛件底面得到的底面反射信號(hào)大致為滿幅度的75%。將衰減器調(diào)到最大的放大率（衰減器調(diào)到1:1）掃查鍛件。評(píng)定缺陷時(shí)應(yīng)將增益控制調(diào)到參考水平，當(dāng)截面厚度或直徑有明顯變化時(shí)，需要重新校準(zhǔn)靈敏度。5.1.2參考試塊的校準(zhǔn) 參考試塊的表面粗糙度應(yīng)大致與被檢驗(yàn)物體相當(dāng)，但不能優(yōu)于被檢驗(yàn)物體，調(diào)節(jié)儀器，使其從規(guī)定的參考試塊平底孔上得到所要求的信號(hào)幅度。對(duì)于曲面檢查，當(dāng)規(guī)定用平面參考試塊校準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)調(diào)整從參考試塊得到的信號(hào)幅度以做出補(bǔ)償。5.2 斜射波檢驗(yàn) 校準(zhǔn)斜

13、射波檢驗(yàn)的儀器，使其能從內(nèi)壁表面，并沿鍛件軸線方向和平行于軸線的矩形或60°形切槽得到的約為75%滿幅度的信號(hào)幅度。內(nèi)壁切槽深度應(yīng)為標(biāo)稱厚度的3%或1/4英寸(6mm)，選用其中較小值，其長(zhǎng)度約為1英寸(25mm)，而寬度不大于深度的2倍。6. 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)由用戶和制造廠雙方協(xié)議確定驗(yàn)收的質(zhì)量等級(jí)或鍛件按如下情況為不合格：6.1.如果直射波檢查結(jié)果表明有一個(gè)或多個(gè)缺陷，這些缺陷產(chǎn)生伴隨有底反射完全消失的顯示，而不是由于或歸因于幾何形狀。6.2如果斜射波法檢驗(yàn)結(jié)果表明有一個(gè)或多個(gè)缺陷，它們產(chǎn)生的顯示，其幅度超過標(biāo)準(zhǔn)刻槽產(chǎn)生的顯示幅度。7. 記錄（參考SA-388）7.1 直射波檢驗(yàn)7.1.

14、1 在底面反射波中，幅度等于或超過相鄰無缺陷信號(hào)區(qū)域底面反射波高的10%的一些單個(gè)信號(hào)；在參考試塊法中等于或超過100%參考幅度的一些信號(hào)。7.1.2 凡同一平面上連續(xù)出現(xiàn)一個(gè)信號(hào)，不論其幅度大小如何，其出現(xiàn)的面積比探頭的直徑大一倍，這個(gè)信號(hào)的范圍，就準(zhǔn)確地沿著反射幅度的變化，而加以測(cè)定。7.1.2.1 同一平面的信號(hào)，如果連續(xù)出現(xiàn)的范圍的長(zhǎng)軸大于1英寸(25mm)，則應(yīng)認(rèn)為是該平面上的連續(xù)信號(hào)，在記錄這些信號(hào)時(shí)，必須對(duì)波束在所估記的缺陷深度處的擴(kuò)散做出校正。7.1.3 在底波法中等于或超過底波5%的缺陷信號(hào)。在參考試塊法中，等于或超過基準(zhǔn)波高50%的信號(hào)，這些信號(hào)是連續(xù)游動(dòng)或是密集出現(xiàn)的。7

15、.3.3.1 此處游動(dòng)信號(hào)的定義為：當(dāng)探頭在鍛件表面移動(dòng)時(shí)，信號(hào)前沿在掃描線上移動(dòng)的距離相當(dāng)于1in(25mm)或更大的金屬深度。7.3.1.2 密集信號(hào)的定義為鍛件2in(50mm)或更小的立方體內(nèi)有5個(gè)或更多的信號(hào)。7.1.4 底面反射的降低超過原來測(cè)定值的20%時(shí)，按10%的增量作記錄。7.1.5 應(yīng)予記錄的信號(hào)幅度，按10%的增量作記錄。7.2 斜射波檢驗(yàn) 記錄等于或大于50%參考線的缺陷信號(hào)，當(dāng)不能作出幅度參考線時(shí)，記錄等于或大于50%的參考切槽信號(hào)的缺陷信號(hào)。8. 報(bào)告15.2所有報(bào)告應(yīng)提交授權(quán)檢驗(yàn)師復(fù)審和認(rèn)可。UT焊縫ASME.SEC.I PW-52（第卷）1.探頭1.1 探頭的

16、頻率應(yīng)為1MHz5MHz。1.2 對(duì)于直射波掃查探頭應(yīng)采用2/5英寸1英寸(10mm25mm)直徑，對(duì)斜射波探頭應(yīng)采用從5/16英寸×11/32英寸(8×9平方毫米)3/4英寸×7/8英寸(20×22平方毫米)的探頭，具體型號(hào)見表3或采用同等探頭2.校驗(yàn)試塊 2.1 對(duì)壓力容器基準(zhǔn)校準(zhǔn)試塊應(yīng)按ASME第卷第4章圖T-434.2.1。2.2 對(duì)于檢驗(yàn)表面直徑大于20英寸(500mm)材料的檢驗(yàn)，應(yīng)采用基本上有相同曲率的校準(zhǔn)試塊或可改用平面的基準(zhǔn)校準(zhǔn)試塊。2.3 對(duì)于直徑等于或小于20英寸(500mm)的材料，基準(zhǔn)校準(zhǔn)試塊應(yīng)是曲面的。一個(gè)曲面基準(zhǔn)校準(zhǔn)試塊可以

17、用來校準(zhǔn)曲率范圍為0.91.5倍基準(zhǔn)校準(zhǔn)試塊的表面檢驗(yàn)。2.4.1 對(duì)全焊透焊縫的基準(zhǔn)反射體（不包括管子焊縫）焊縫厚度 (t)in.(mm)孔徑 ()in.(mm)1in.or less(25)3/32in.(2.5)>1in2in(2550)1/8in.(3)>2in4in(>50100)3/16in.(5)>4in注1 注(1)：對(duì)大于4in（100mm）厚度的焊縫，焊縫厚度每增加2in（50mm），孔徑應(yīng)增1/16in(1.5mm)。2.4.2 用于鐵素體鋼管的基準(zhǔn)反射體，校準(zhǔn)試塊結(jié)構(gòu)和反射體應(yīng)按圖T-434.3，校準(zhǔn)試塊應(yīng)為具有相同標(biāo)稱尺寸和制造工藝管子的一部分

18、，試塊的大小和各種反射體的位置應(yīng)足以對(duì)所用到的波束角度做出校準(zhǔn)。 切槽尺寸：長(zhǎng)（L）：至少1in(25mm)，深度D = 最小8%T最大11%T，寬度=最大1/4 in.(6mm)，T管子厚度。2.4.3 倘若替代反射體產(chǎn)生的靈敏度等于或大于規(guī)定的反射體（即側(cè)占橫孔代替槽，平底孔代替?zhèn)日紮M孔）則可用替代反射體。3. 檢驗(yàn)的覆蓋與掃查速度 探頭每次掃查至少應(yīng)重疊換能器在垂直掃查方向尺寸的10%。 掃查速度不應(yīng)超過6英寸(150mm)/秒。4. 記錄 4.1 對(duì)平面反射體斜角檢驗(yàn)數(shù)據(jù)的記錄可參考ASME 第V卷 第4章附錄H。4.2 記錄產(chǎn)生大于等于20%DAC曲線相應(yīng)的參考反射體，參考反射體的長(zhǎng)

19、度應(yīng)按20%DAC測(cè)量。5. 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) 產(chǎn)生大于參考基準(zhǔn)信號(hào)20%的缺陷均應(yīng)進(jìn)行研究，直至操作者能夠確定這些缺陷的形狀性質(zhì)和位置，并按如下(a)和(b)中給出的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)予以評(píng)定。5.1被評(píng)為裂紋、未熔合或未焊透的顯示不論其長(zhǎng)度如何，均為不合格。5.2如果顯示超過參考基準(zhǔn)幅度且長(zhǎng)度超過下列長(zhǎng)度的缺陷為不合格。 (1) 對(duì)t3/4in.(19mm)時(shí)，為1/4in.(6mm) (2) 對(duì)3/4in.(19mm)t9/4in.(57mm)時(shí)，為1/3t(3) 對(duì)t>9/4in.(57mm)時(shí)，為3/4英寸(19mm)。此處t是不包括許可的余高的焊縫厚度，對(duì)兩邊具有不同厚度的對(duì)接焊縫，t取兩種厚

20、度的較薄者，如果一個(gè)全焊縫包括一個(gè)填角焊縫，則填角的腰高應(yīng)包括在t中。6.所有報(bào)告須提交授權(quán)檢驗(yàn)師復(fù)審和認(rèn)可。MTASME.SEC.1 A260.4（第卷）1. 觸頭法技術(shù)1.1 為避免閃弧，在觸頭處于適當(dāng)位置后，接通磁化電流。1.2 對(duì)截面厚度3/4英寸(19mm)時(shí)，磁化電流為100-125A/英寸(45A/mm)觸頭間距。對(duì)截面厚度3/4英寸(19mm)時(shí)，磁化電流為90-110A/英寸(3.64.4A/mm)觸頭間距。1.3 觸頭間距應(yīng)不超過8英寸(200mm)，但不應(yīng)小于3英寸(75mm)。1.4 觸頭間距每次至少應(yīng)有1英寸(25mm)的重疊。2. 縱向磁化技術(shù) 【1】2.1 縱向磁

21、化是使電流通過圍繞工件截面的多匝線圈所產(chǎn)生，所產(chǎn)生的磁場(chǎng)平行于線圈的軸線。測(cè)量單位為安匝。固定式線圈的內(nèi)徑大大超過工件尺寸(<10%的線圈內(nèi)徑)，工件放置在靠近線圈的內(nèi)壁。2.2 磁場(chǎng)強(qiáng)度 所要求的磁場(chǎng)強(qiáng)度是以零件長(zhǎng)度(L)和直徑(D)為基礎(chǔ)。按如下(a)，(b)或(c)的規(guī)定進(jìn)行計(jì)算。長(zhǎng)零件應(yīng)以每段不超過18英寸(450mm)進(jìn)行驗(yàn)證，并在計(jì)算所需磁場(chǎng)強(qiáng)度時(shí)，L以18英寸(450mm)計(jì)。對(duì)非圓柱形零件，D取最大橫截面對(duì)角線。(a) L/D4的零件 磁化電流應(yīng)按下述確定的安匝數(shù)±10%： 安匝數(shù)=35000/(L/D+2)(b) 2L/D4磁化安匝數(shù)應(yīng)按下述確定的安匝數(shù)

22、77;10%以內(nèi)： 安匝數(shù)=45000/(L/D)(c) 如果磁化區(qū)延伸到線圈兩側(cè)6英寸(150mm)以外，適當(dāng)?shù)拇艌?chǎng)強(qiáng)度應(yīng)用磁場(chǎng)指示器來確定。(d) 由于幾何尺寸和形狀的原因，對(duì)大型工件，磁化電流應(yīng)為1200安匝到4500安匝。適當(dāng)?shù)拇艌?chǎng)強(qiáng)度應(yīng)用磁場(chǎng)指示器來驗(yàn)證。3. 周向磁化技術(shù) 3.1 直接接觸技術(shù) 應(yīng)采用直流電或整流電（半波整流電或全波整流電）磁化電流所需電流應(yīng)由如下決定3.1.1電流應(yīng)為300安培/英寸（12A/mm）至800安培/英寸（31A/mm）乘以外徑。3.1.2 對(duì)其它非圓形幾何形狀的工件，上述計(jì)算中所采用的毫米數(shù)由垂直于電流的截面最大對(duì)角線長(zhǎng)度來確定。3.1.3 如果不能

23、獲得以上所要求的電流值，則采用可達(dá)到最大電流和應(yīng)用磁場(chǎng)指示器來確定合適的磁場(chǎng)，對(duì)非圓柱形零件，應(yīng)使用磁場(chǎng)指示器來確定合適的磁場(chǎng)。3.2 中心導(dǎo)體感應(yīng)磁化 對(duì)單匝中心導(dǎo)體，所要求的磁場(chǎng)強(qiáng)度應(yīng)等于按12.1所決定的值，磁場(chǎng)大小應(yīng)與穿過空心零件的中心導(dǎo)電電纜根數(shù)成正比。當(dāng)采用中心導(dǎo)體法時(shí)，應(yīng)采用磁場(chǎng)指示器來校驗(yàn)磁場(chǎng)的合適性。4. 磁軛 磁軛的磁化力可以試驗(yàn)對(duì)一塊鋼板的提升力來測(cè)定，在使用的最大極間距時(shí)。交流電磁軛應(yīng)具有至少10lb(4.5kg)，直流磁軛或永久磁軛至少應(yīng)具有40lb(18kg)。5. 靈敏度粗略核查 餅形磁場(chǎng)指示器或人工缺陷試片（如ASME規(guī)范第V卷圖T-764.1.1和圖T-764

24、.1.2所示），可以用作核查工件磁化是否合適及磁化方向的一種方便粗略的工具。在磁粉和磁化力同時(shí)施加的情況下當(dāng)磁粉橫跨指示器銅質(zhì)表面或試片表面形成清晰的線條時(shí)，表明有適當(dāng)?shù)拇磐ɑ虼艌?chǎng)強(qiáng)度。6. 解釋6.1 在可見光下完成磁粉檢測(cè)。6.2 最低光強(qiáng)為1000Lx以保證在顯示的檢測(cè)和評(píng)定中具有足夠的靈敏度。光源、光照技術(shù)和光強(qiáng)水平的確定，必須進(jìn)行證明并形成文件和存檔。7. 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) 7.1 用于ASME規(guī)范第I卷、第卷第1分冊(cè)所有被檢表面應(yīng)沒有下列顯示：(a) 相關(guān)線狀顯示；(b) 大于3/16英寸(5mm)圓形相關(guān)顯示；(c) 大于或等于1/16英寸(1.5mm)間隔，分布在一直線上有4個(gè)以上的圓

25、形相關(guān)顯示；7.2 用于ASME規(guī)范第卷第2分冊(cè)：(a) 所有待檢驗(yàn)表面應(yīng)沒有下列顯示：1) 相關(guān)線性顯示；2) 相關(guān)圓形顯示大于5mm（3/16英寸）的顯示；3) 一線狀排列、邊至邊、間隔小于等于1.5mm（1/16英寸），有4個(gè)或4個(gè)以上相關(guān)圓形顯示；(b) 形狀類似的裂紋顯示，而與表面狀態(tài)無關(guān)的顯示是不合格的。7.3 用于ANSI/ASME B31.1 長(zhǎng)軸尺寸大于1/16英寸(1.5mm)的顯示應(yīng)認(rèn)為是相關(guān)顯示，下列相關(guān)顯示作為不合格：(a) 任何裂紋或線狀顯示；(b) 大于3/16英寸(5mm)圓形顯示；(c) 4個(gè)或4個(gè)以上的圓形顯示呈直線分布，其邊緣相隔間距小于或等于1/16英寸

26、(1.5mm)。(d) 在任意6平方英寸(4000mm2)面積，在評(píng)定缺陷最不利部位處，其長(zhǎng)度不超過6英寸(150mm)范圍內(nèi)有10個(gè)或10個(gè)以上的圓形顯示。PTASME.SEC.I A270.4 （第卷）用于金屬材料表面開口缺陷如裂紋、發(fā)紋、摺迭、冷隔、分層、貫穿性漏孔或未焊透的檢驗(yàn)。檢驗(yàn)奧氏體不銹鋼、雙相不銹鋼或鈦時(shí)，所有材料應(yīng)按ASME規(guī)范第V卷第6章規(guī)范性附錄II第II-642條款分別分析氯和氟含量。氯加氟總含量應(yīng)不超過殘余重量的1%，應(yīng)具有制造廠商提供的與批號(hào)一致的測(cè)試結(jié)果證明書。檢驗(yàn)鎳基合金時(shí)，所有材料應(yīng)按ASME規(guī)范第V卷第6章規(guī)范性附錄II第II-641條款分析硫含量。硫含量應(yīng)不超過殘余重量的1%，應(yīng)具有制造廠商提供的與批號(hào)一致的測(cè)試結(jié)果證明書。檢驗(yàn)期間滲透劑和零件表面溫度應(yīng)保持在40F(5)125F(52)。當(dāng)實(shí)際操作不能滿足這些溫度限值時(shí)，可使用其它的溫度和時(shí)間，前提是程序按照ASME第V卷第6章附錄I