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1、東莞理工學(xué)院實(shí)驗(yàn)報(bào)告 課程名稱: 數(shù)字信號(hào)處理 實(shí)驗(yàn)室名稱: 實(shí)驗(yàn)名稱:實(shí)驗(yàn)二 用FFT對(duì)信號(hào)進(jìn)行頻譜分析 指導(dǎo)老師: 所在院系: 專業(yè)班級(jí): 姓名: 學(xué)號(hào): 日期: 成績(jī): 1、實(shí)驗(yàn)?zāi)康膶W(xué)習(xí)用FFT對(duì)連續(xù)信號(hào)和時(shí)域離散信號(hào)進(jìn)行譜分析的方法,了解可能出現(xiàn)的分析誤差及其產(chǎn)生原因,以便正確應(yīng)用FFT。 2、實(shí)驗(yàn)原理與方法用FFT對(duì)信號(hào)作頻譜分析是學(xué)習(xí)數(shù)字信號(hào)處理的重要內(nèi)容。經(jīng)常需要進(jìn)行譜分析的信號(hào)是模擬信號(hào)和時(shí)域離散信號(hào)。對(duì)信號(hào)進(jìn)行譜分析的重要問(wèn)題是頻譜分辨率F和分析誤差。頻譜分辨率直接和FFT的變換區(qū)間N有關(guān),因?yàn)镕FT能夠?qū)崿F(xiàn)的頻率分辨率是2/N,因此要求2/NF??梢愿鶕?jù)此式選擇FFT的變換
2、區(qū)間N。誤差主要來(lái)自于用FFT作頻譜分析時(shí)得到的是離散譜,而信號(hào)(周期信號(hào)除外)是連續(xù)譜,只有當(dāng)N較大時(shí)離散譜的包絡(luò)才能逼近于連續(xù)譜,因此N要適當(dāng)選擇大一些。對(duì)于長(zhǎng)度為M的有限長(zhǎng)序列x(n),其N點(diǎn)DFT(NM)X(k)就是x(n)的FT即在0,2內(nèi)的N點(diǎn)等間隔采樣,頻譜分辨率就是采樣間隔2/N。對(duì)于周期為N的周期序列,其頻譜是離散譜:其中,因此周期序列的頻譜結(jié)構(gòu)也可以用離散傅立葉級(jí)數(shù)系數(shù)表示。截取的主值序列,并進(jìn)行N點(diǎn)DFT,得到:因此也可以用表示的頻譜結(jié)構(gòu)。如果截取長(zhǎng)度為的整數(shù)個(gè)周期mN,m為整數(shù),即,那么于是,也可以表示的頻譜結(jié)構(gòu)。由此可見(jiàn),對(duì)于周期序列,只有用整數(shù)倍周期的長(zhǎng)度作FFT,
3、得到的離散譜才能代表周期信號(hào)的頻譜。如果不知道信號(hào)周期,可以盡量選擇信號(hào)的觀察時(shí)間長(zhǎng)一些。對(duì)一般的非周期模擬信號(hào)進(jìn)行譜分析時(shí),首先要按照采樣定理將其變成時(shí)域離散信號(hào)。如果模擬信號(hào)持續(xù)時(shí)間很長(zhǎng),采樣點(diǎn)數(shù)太多,會(huì)導(dǎo)致無(wú)法存儲(chǔ)和計(jì)算,需截取有限點(diǎn)進(jìn)行DFT。因此對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行頻譜分析必然是近似的,其近似程度與信號(hào)帶寬、采樣頻率和截取長(zhǎng)度有關(guān)。工程上,濾除幅度很小的高頻成分和截去幅度很小的部分信號(hào)是允許的。如果是模擬信號(hào)為周期信號(hào),也應(yīng)該選取整數(shù)倍周期的長(zhǎng)度,經(jīng)過(guò)采樣后形成周期序列,按照周期序列的譜分析進(jìn)行。3、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及步驟(1)對(duì)以下序列進(jìn)行譜分析: 先繪制各序列的FT頻譜圖,然后選擇FFT的變換
4、區(qū)間N為8和16 兩種情況,通過(guò)序列的DFT分析其頻譜。分別打印其幅頻特性曲線,并進(jìn)行對(duì)比、分析和討論。(2)對(duì)以下周期序列進(jìn)行譜分析: 選擇FFT的變換區(qū)間N為8和16 兩種情況分別對(duì)以上序列進(jìn)行頻譜分析。分別打印其幅頻特性曲線。并進(jìn)行對(duì)比、分析和討論。(3)對(duì)模擬周期信號(hào)進(jìn)行譜分析 選擇采樣頻率,變換區(qū)間N=16,32,64 三種情況進(jìn)行譜分析。分別打印其幅頻特性,并進(jìn)行分析和討論。4、實(shí)驗(yàn)程序清單clear all;close all%*內(nèi)容一:有限長(zhǎng)序列的頻譜分析*%產(chǎn)生三個(gè)序列x1n=ones(1,4);M=8;xa=1:(M/2); xb=(M/2):-1:1;x2n=xa,xb;
5、 %產(chǎn)生長(zhǎng)度為8的三角波序列 x3n=xb,xa;%獲得序列x1n的傅立葉變換X1jw=fft(x1n,1024); %用1024個(gè)點(diǎn)的fft獲得傅立葉變換的密集采樣w=2*pi/1024*(0:1023);%采樣頻率位置subplot(3,1,1);plot(w/pi,abs(X1jw); %繪制FT的幅頻特性title('(1a) X_1(ejomega)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');X1k8=fft(x1n,8); %8個(gè)點(diǎn)DFTX1k16=fft(x1n,16); %16個(gè)點(diǎn)DFT%補(bǔ)充繪圖8個(gè)點(diǎn)
6、及16個(gè)點(diǎn)的DFT幅頻特性,提示用stem指令繪圖w=2*pi/8*(0:7);subplot(3,1,2);stem(w/pi,X1k8,'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(1b) 8點(diǎn)DFTx1(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');w=2*pi/16*(0:15);subplot(3,1,3);stem(w/pi,X1k16,'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(1c) 16點(diǎn)DFTx1(n)'); xlabel('omega
7、/pi');ylabel('幅度');%補(bǔ)充程序?qū)2n及x3n的頻譜進(jìn)行分析clear all;close allM=8;xa=1:(M/2); xb=(M/2):-1:1;x2n=xa,xb; %產(chǎn)生長(zhǎng)度為8的三角波序列 X2jw=fft(x2n,1024); %用1024個(gè)點(diǎn)的fft獲得傅立葉變換的密集采樣w=2*pi/1024*(0:1023);%采樣頻率位置subplot(3,1,1);plot(w/pi,abs(X2jw); %繪制FT的幅頻特性title('(2a) X_2(ejomega)'); xlabel('omega/pi&
8、#39;);ylabel('幅度');X2k8=fft(x2n,8); %8個(gè)點(diǎn)DFTX2k16=fft(x2n,16); %16個(gè)點(diǎn)DFTw=2*pi/8*(0:7);subplot(3,1,2);stem(w/pi,abs(X2k8),'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(2b) 8點(diǎn)DFTx2(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');w=2*pi/16*(0:15);subplot(3,1,3);stem(w/pi,abs(X2k16),'.');
9、 %繪制FT的幅頻特性title('(2c) 16點(diǎn)DFTx2(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');clear all;close allM=8;xa=1:(M/2); xb=(M/2):-1:1;x3n=xb,xa;X3jw=fft(x3n,1024); %用1024個(gè)點(diǎn)的fft獲得傅立葉變換的密集采樣w=2*pi/1024*(0:1023);%采樣頻率位置subplot(3,1,1);plot(w/pi,abs(X3jw); %繪制FT的幅頻特性title('(3a) X_2(ejomega)&
10、#39;); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');X3k8=fft(x3n,8); %8個(gè)點(diǎn)DFTX3k16=fft(x3n,16); %16個(gè)點(diǎn)DFTw=2*pi/8*(0:7);subplot(3,1,2);stem(w/pi,abs(X3k8),'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(3b) 8點(diǎn)DFTx3(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');w=2*pi/16*(0:15);subplot(3,1,3);stem(w
11、/pi,abs(X3k16),'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(3c) 16點(diǎn)DFTx3(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');%*內(nèi)容二:周期序列的頻譜分析*N=8; %設(shè)置FFT的變換區(qū)間長(zhǎng)度為8 %根據(jù)區(qū)間長(zhǎng)度8,截取序列n=0:N-1;x4n=cos(pi*n/4);x5n=cos(pi*n/4)+cos(pi*n/8);X4jw=fft(x4n,1024); X5jw=fft(x5n,1024); w=2*pi/8*(0:8);%補(bǔ)充程序,對(duì)兩序列進(jìn)行8點(diǎn)的DFT%補(bǔ)充
12、程序,根據(jù)區(qū)間長(zhǎng)度16,截取序列,并進(jìn)行16個(gè)點(diǎn)的DFT%補(bǔ)充程序,顯示8個(gè)點(diǎn)及16個(gè)點(diǎn)DFT的幅度頻譜X4k8=fft(x4n,8); %8個(gè)點(diǎn)DFTX5k8=fft(x5n,8); %8個(gè)點(diǎn)DFTN=16; %設(shè)置FFT的變換區(qū)間長(zhǎng)度為16 %根據(jù)區(qū)間長(zhǎng)度16,截取序列n=0:N-1;x4n=cos(pi*n/4);x5n=cos(pi*n/4)+cos(pi*n/8);X4k16=fft(x4n,16); %16個(gè)點(diǎn)DFTX5k16=fft(x5n,16); %16個(gè)點(diǎn)DFTw=2*pi/8*(0:7);subplot(2,2,1);stem(w/pi,abs(X4k8),'.&
13、#39;); %繪制FT的幅頻特性title('(4b) 8點(diǎn)DFTx4(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');subplot(2,2,3);stem(w/pi,abs(X5k8),'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(5b) 8點(diǎn)DFTx5(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');w=2*pi/16*(0:15);subplot(2,2,2);stem(w/pi,abs(X4k16),'.&
14、#39;); %繪制FT的幅頻特性title('(4c) 16點(diǎn)DFTx4(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');subplot(2,2,4);stem(w/pi,abs(X5k16),'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(5c) 16點(diǎn)DFTx5(n)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');%*內(nèi)容三:模擬周期信號(hào)的頻譜分析*Fs=64;T=1/Fs;%設(shè)置采樣頻率和采樣間隔N=16;n=0:N-1;
15、%設(shè)置采樣點(diǎn)數(shù)為16x6nT=cos(8*pi*n*T)+cos(16*pi*n*T)+cos(20*pi*n*T); %對(duì)x6(n)進(jìn)行16點(diǎn)的采樣 X6k16=fft(x6nT); %16點(diǎn)DFTX6k16=fftshift(X6k16); %將零頻率移到頻譜中心 Tp=N*T;F=1/Tp; %計(jì)算出頻譜采樣間隔k=-N/2:N/2-1;fk=k*F; %找出采樣頻譜對(duì)應(yīng)的頻率位置%補(bǔ)充程序,繪制16點(diǎn)DFT頻譜圖,通過(guò)采樣序列16點(diǎn)DFT反映模擬信號(hào)頻譜axis(-N*F/2-1,N*F/2-1,0,1.2*max(abs(X6k16) subplot(3,1,1);stem(fk,a
16、bs(X6k16),'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(6a) 16點(diǎn)DFTx6(nT)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');%補(bǔ)充程序,設(shè)置采樣點(diǎn)數(shù)為32,通過(guò)采樣序列的32點(diǎn)DFT反映模擬信號(hào)頻譜%補(bǔ)充程序,設(shè)置采樣點(diǎn)數(shù)為64,通過(guò)采樣序列的64點(diǎn)DFT反映模擬信號(hào)頻譜N=32;n=0:N-1; %設(shè)置采樣點(diǎn)數(shù)為32x6nT=cos(8*pi*n*T)+cos(16*pi*n*T)+cos(20*pi*n*T); %對(duì)x6(n)進(jìn)行32點(diǎn)的采樣 X6k32=fft(x6nT); %
17、32點(diǎn)DFTX6k32=fftshift(X6k32); %將零頻率移到頻譜中心 Tp=N*T;F=1/Tp; %計(jì)算出頻譜采樣間隔k=-N/2:N/2-1;fk=k*F; %找出采樣頻譜對(duì)應(yīng)的頻率位置axis(-N*F/2-1,N*F/2-1,0,1.2*max(abs(X6k32) subplot(3,1,2);stem(fk,abs(X6k32),'.'); %繪制FT的幅頻特性title('(6b) 32點(diǎn)DFTx6(nT)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');N=64;n=0:N-1;
18、%設(shè)置采樣點(diǎn)數(shù)為64x6nT=cos(8*pi*n*T)+cos(16*pi*n*T)+cos(20*pi*n*T); %對(duì)x6(n)進(jìn)行64點(diǎn)的采樣 X6k64=fft(x6nT); %64點(diǎn)DFTX6k64=fftshift(X6k64); %將零頻率移到頻譜中心 Tp=N*T;F=1/Tp; %計(jì)算出頻譜采樣間隔k=-N/2:N/2-1;fk=k*F; %找出采樣頻譜對(duì)應(yīng)的頻率位置axis(-N*F/2-1,N*F/2-1,0,1.2*max(abs(X6k64) subplot(3,1,3);stem(fk,abs(X6k64),'.'); %繪制FT的幅頻特性titl
19、e('(6c) 64點(diǎn)DFTx6(nT)'); xlabel('omega/pi');ylabel('幅度');5、實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析(1)程序運(yùn)行結(jié)果及討論1)對(duì)以下序列進(jìn)行譜分析: 分析:圖(1b)和(1c)說(shuō)明x1(n)=R4(n)的8點(diǎn)DFT和16點(diǎn)DFT分別是x1(n)的頻譜函數(shù)的8點(diǎn)和16點(diǎn)采樣。因?yàn)閤3(n)=x2(n+3)8R8(n),所以,x3(n)與x2(n)的8點(diǎn)DFT的模相等,如圖(2b)和(2c),但是當(dāng)N=16時(shí),x2(n)與x3(n)不滿足循環(huán)移位關(guān)系,模值不相等。2)對(duì)以下周期序列進(jìn)行譜分析:分析:對(duì)于x4(n)= cos(p
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