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文檔簡介
1、開關(guān)電源EMC經(jīng)驗一、 EMC設(shè)計理念二、 開關(guān)電源 EMI 探討122.1 EMI 產(chǎn)生的根源第一、開關(guān)電源的最大缺點是因切換動作(TURN-ON或TURN OFF)產(chǎn)生雜訊電壓為其雜訊源。因切換動作的波形為方波,而方波含有很多高次諧波。( dv/dt)第二、由于開關(guān)電晶體的非線性及二極體的反向恢復(fù)特性,電流作快速的非線性變化引起雜訊。 (di/dt)2.2 EMI的傳播方式和途徑EMI干擾信號按其特性可分為共模信號(COMMON MODE)和差模信號(DIFFERENTIAL MODE)。共模信號:干擾信號電流的在兩條回路的導(dǎo)線上的電流方向相對大地是相同的信號,稱為共模信號,見下左圖;差模
2、信號:干擾信號電流的在兩條回路的導(dǎo)線上的電流方向相對大地是相反的信號,稱為差模信號,見下右圖。2.3 常用低通濾波結(jié)構(gòu)的劃分2.4 電源輸入濾波器的設(shè)計2.4.1 共模差模分開設(shè)計(以型為例)2.4.2 濾波器共模部分設(shè)計2.4.3 濾波器差模部分設(shè)計2.4.4 濾波器的安裝共模電感的繞制共模扼流圈中的負(fù)載電流產(chǎn)生的磁場相互抵銷,因此磁芯不會飽和。磁珠阻抗注意:共模電感和磁珠 需要測量溫升!2.5 拓?fù)銭MI 分析舉例三、 Flyback 架構(gòu)EMI 分析1233.1 Flyback的高頻等效模型3.2 Noise 源大的di/dt和dv/dt 產(chǎn)生的地方,對Flyback架構(gòu)來說,會產(chǎn)生這些
3、變化的主要有:a) 變壓器TX1;b) MOSFET Q1 ;c) 輸出二極管D1;d) 芯片的RC振蕩;e) 驅(qū)動信號線;3.2.1 MOSFET的Noise 如下圖,Q1 上 Vds 的波形所示,主要來自三個方面:Mosfet開通、關(guān)斷時,具有很寬的頻譜含量,開關(guān)頻率的諧波本身就是較強(qiáng)的干擾源。關(guān)斷時的振蕩 1產(chǎn)生較強(qiáng)的干擾。關(guān)斷時的振蕩 2產(chǎn)生較強(qiáng)的干擾。開關(guān)管 Q1關(guān)斷,副邊二極管D1導(dǎo)通時(帶載),原邊的勵磁電感被鉗制,原邊漏感Lep的能量通過Q1的寄生電容Cds進(jìn)行放電,主放電回路為LepCdsRsC1Lep,此時產(chǎn)生振蕩振蕩的頻率為:在Lep上的振蕩電壓Vlep迭加在2Vc1上,
4、致使Vds=2Vc1+Vlep 。振蕩的強(qiáng)弱,將決定我們選取的管子的耐壓值、電路的穩(wěn)定性。量測Lep=6.1uH, Q1為2611查規(guī)格書可得Coss=190pF(Coss近似等于Cds),而此充電板為兩個管子并聯(lián),所以Cds=380pF 。由上式可求得f =3.3 MHz,和下圖中的振蕩頻率吻合。從圖中可看出 此振蕩是一衰減的振蕩波,其初始的振蕩峰值決定于振蕩電路的Q值:Q值越大,峰值就越大。Q值小,則峰值小。為了減小峰值,可減小變壓器的漏感Lep,加大Cds和電路的阻抗R。而加入Snubber電路是 極有效之方法。振蕩2發(fā)生在Mosfet Q1關(guān)斷,副邊二極管由通轉(zhuǎn)向關(guān)斷,原邊勵磁電感被釋
5、放(這時Cds被充至2Vc1),Cds和原邊線圈的雜散電容Clp為并聯(lián)狀態(tài),再和原邊電感Lp(勵磁電感和漏感之和)發(fā)生振蕩。放電回路同振蕩1。振蕩頻率為:在Lp上的振蕩電壓Vlp迭加在Vc1上,致使Vds=Vc1+Vlp 。量測Lp=0.4mH;Q1為2611,查規(guī)格書可得Coss=190pF(Coss近似等于Cds),而此充電板為兩個管子并聯(lián),所以Cds=380pF;Clp在200KHz時測得為Clp=1.6nF。由上式可求得:f =178.6KHz,和下圖中190.5K吻合。我們可實行的改善措施有兩個:1、減小Noise的大??;2、切斷或改善傳播途徑。1.減小Noise 的大?。菏紫瓤紤]以
6、下三個方面:Mosfet、Diode動作時,具有很寬的頻譜含量,開關(guān)頻率的諧波本身就是較強(qiáng)的干擾源。措施:在滿足所要求的效率、溫升條件下,我們可盡量選開關(guān)較平緩的管子。而通過調(diào)節(jié)驅(qū)動電阻也可達(dá)到這一目的。Q1、D1 的振蕩 1會產(chǎn)生較強(qiáng)的干擾。措施:*對寄生電容Cds、Cj 的處理:在Q1的ds極、二極管的兩端各并上一681小電容,來降低電路的Q 值,從而降低振蕩的振幅A,同時能降低振蕩頻率f。需注意的是:此電容的能量1/2Cu2將全部消耗在Q1上,所以管子溫升是個問題。解決的辦法是使用RC snubber, 讓能量 消耗在 R上。同時R能起到減小振幅的作用。*對變壓器的漏感Le的處理:1、變
7、壓器采用 三明治 繞法,以減小漏感。2、在變壓器的繞組上加吸收電路。3、減小Q1 D極到變壓器的引線長度。(此引線電感和漏感相迭加)采取上述 措施降低振蕩 1的影響之后得下圖。: Q1 D1 上的振蕩 2 會產(chǎn)生較強(qiáng)干擾。分析方法和相同,但此時 電感已變得很大了(主要為為勵磁電感),因此漏感和引線電感對的影響相對較小。同樣從上面的分析中,可看出Nosie 的傳播途徑主要是通過變壓器的雜散電容Ctx;Mosfet/Diode到散熱片的雜散電容Cm/Cd;及散熱片到地的雜散電容Ce等途徑而耦合到LISN被取樣電阻所俘獲。措施一:在Rs的地端和C2的地間接一個Y電容()。原理分析:它的作用是雙重的,
8、一是為Mosfet動作產(chǎn)生且串到變壓器副邊的noise 電流(如I4),提供一個低阻抗的回路,減小到地的電流。二是為二次側(cè)Diode產(chǎn)生的且串到變壓器原邊的noise 電流提供低阻抗回路,從而減小流過LISN的電流。其效果如下圖:紅色為:未改善之前;藍(lán)色為:采取措施之后措施二:變壓器加法拉第銅環(huán):變壓器是Noise傳播的主要通道之一,其中初級線圈和次級線圈間雜散電容Ctx是重要因素。而在變壓器內(nèi)部加法拉第銅環(huán)是減小Ctx 的有效的方法之一。措施三:散熱片接Rs的地端:目的為了將 散熱片Ce地LISN這一支路 旁路掉,從而減小到地的電流。其效果如下圖:可看出,在低頻時較有效;在高頻時, 效果不明
9、顯,這主要是因為在高頻時,管腳直接對地的電容已有相當(dāng)?shù)淖饔?。紅色為:散熱片未接地;藍(lán)色為:散熱片接地當(dāng)綜合上述所有措施后,EMI總效果對比如圖所示:紅色為:未采取措施前;藍(lán)色為:綜合上述措施后四、 國際認(rèn)證體系簡介44.1 歐標(biāo) 認(rèn)證EMC Mark EMC Standard 分為EMI (電磁干擾測試) & EMS (電磁相容測試) 兩部分:1. EMI部分為 EN55022, EN61000-3-2, EN61000-3-3;2. EMS部分為 EN55024 內(nèi)含7項測試:EN55022為Radiation Test & Conduction Test (傳導(dǎo) &
10、 幅射測試);EN61000-3-2為Harmonic Test (電源諧波測試);EN61000-3-3為Flicker Test (電壓變動測試)EN61000-4-2為ESD Test (靜電測試);EN61000-4-3為RS Test EN61000-4-4為EFT Test (電子快速脈衝測試);EN61000-4-5為Surge Test (雷擊測試)EN61000-4-6為CS Test (傳導(dǎo)耐受度測試);EN61000-4-8為PFMF Test EN61000-4-11為DIP Test (電壓突降測試)4.2 美標(biāo)認(rèn)證EEMI Mark FCC (強(qiáng)制性) Standard FCC Part 15 (EMI 電磁干擾測試)申請方式1. Class A 自我認(rèn)証2. Cl
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