電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范方案標(biāo)準(zhǔn)書

1、.wd電子元器件檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)書修訂日期修訂單號(hào)修訂內(nèi)容摘要頁次版次修訂審核批準(zhǔn)2021/03/30/系統(tǒng)文件新制定4A/0/ 局部電子元器件檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)書IC類檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(包括BGA)1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有IC包括BGA之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4.允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/

2、N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可承受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否那么不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣,假設(shè)不同不可承受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以識(shí)別不可承受；b. 來料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可承受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可承受；d. 元件封裝材料外表因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可承受；f. 元件腳彎曲，偏位, 缺損或少腳，

3、均不可承受；目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。 備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC，由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場翻開封裝的，IQC僅進(jìn)展包裝檢驗(yàn)，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進(jìn)展拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH對(duì)應(yīng)的位置有沒有變成粉紅色，假設(shè)已變?yōu)榉奂t色那么使用前必須按供給商的要求進(jìn)展烘烤。三 貼片元件檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(電容,電阻,電感)1. 目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。2. 適用范圍適用于本公司所有貼片元件電容,電阻,電感之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣

4、方案?。4.允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件?LCR數(shù)字電橋操作指引?數(shù)字萬用表操作指引?檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是 否都正確,任何有誤,均不可承受。 b. 包裝必須采用防靜電包裝，否那么不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣,假設(shè)不同不可承受；實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,假設(shè)不吻合不可承受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以識(shí)別不可承受；b. 來料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混

5、裝，均不可承受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可承受；d. 元件封裝材料外表因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可承受； 目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測試儀數(shù)字萬用表檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。二極管類型檢 測 方 法LED 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測量不發(fā)光；否那么該二極 管不合格。 注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，讀數(shù)需小于1，而反向測量讀

6、數(shù)需無窮大；否那么該二極管不合格。 注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注 抽樣方案說明：對(duì)于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣方案時(shí)來料數(shù)量以盤為單位，樣本數(shù)也以盤為單位；從抽檢的每 盤中取35pcs元件進(jìn)展檢測；AQL不變。檢驗(yàn)方法見LCR數(shù)字電橋測試儀操作指引 和 數(shù)字萬用表操作指引。四 插件用電解電容.1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI)

7、: 1.5.5. 參考文件?LCR數(shù)字電橋操作指引?、?數(shù)字電容表操作指引?。檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣,假設(shè)不同不可承受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清，難以識(shí)別不可承受；b. 電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可承受；c. 本體變形，破損等不可承受；d.Pin生銹氧化，均不可承受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa.Pin上錫不良，或完全不上錫不

8、可承受。(將PIN沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是那么拒收)實(shí)際操作每LOT取510PCS在 小錫爐上驗(yàn) 證上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可承受?？ǔ呒僭O(shè)用于新的Model，需在PCB上對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)展試插電性檢驗(yàn)MAa. 電容值超出規(guī)格要求那么不可承受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測試儀量測五 晶體類檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4.

9、允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件?數(shù)字頻率計(jì)操作指引?檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都 正確,任何有誤,均不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣,假設(shè)不同不可承受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 字體模糊不清，難以識(shí)別不可承受；b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可承受；c. 元件變形，或受損露出本體等不可承受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷

10、Pin，均不可承受。目檢每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MAa. 晶體不能起振不可承受；b. 測量值超出晶體的頻率范圍那么不可承受。測試工位 和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測方法晶體檢 測 方 法32.768KHz 16.934MHz25.000MHz 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體, 再接通電源開機(jī); 在正常開機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測量晶體，看 測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，假設(shè)不能開機(jī)或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，那么該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開機(jī)，看能否正常開機(jī)顯示；在正常開機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測量晶體，看

11、測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，假設(shè)不能開機(jī)顯示或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，那么該晶體不合格。六 三極管檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可承受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否那么不

12、可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣,假設(shè)不同不可承受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以識(shí)別不可承受；b. 來料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可承受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可承受；d. 元件封裝材料外表因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可承受；否那么不可承受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可承受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)無(七)排針&插槽(座)類檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1. 目的作為IQC人

13、員檢驗(yàn)排針&插槽(座)類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有排針&插槽(座)之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可承受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣,假設(shè)不同不可承受；實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,假設(shè)不吻合不

14、可承受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn)；b. 塑料與針腳不能緊固連接；c. 塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d. 過錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮;e. 針腳擰結(jié)，彎曲，偏位, 缺損，斷針或缺少；f. 針腳上下不平、歪針、針氧化、生銹;g. 針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗(yàn)MAa. PIN上錫不良，或完全不上錫,均不可承受；(將零件腳插入 現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤，再插入小錫爐5秒鐘 左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是那么拒收)實(shí)際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MAa. 針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安

15、裝;b. 針腳露出機(jī)板長度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺針腳露出機(jī)板長度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。八CABLE類檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1. 目的作為C人員檢驗(yàn)CABLE類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；具體抽樣方式請(qǐng)參考?抽樣方案?。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可承受。目

16、檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 數(shù)量與Label上的數(shù)量是否一樣,假設(shè)不同不可承受；b. 料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,假設(shè)不吻合不可承受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良；b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破斷裂、異色等不良；c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可承受；d.排線與支架等組裝不牢，易松脫；e.標(biāo)識(shí)CABLE接插方向的顏色不能明確分辯；c. 排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求;g.排線外表的絲印錯(cuò).1.目檢2.按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處，看有無松脫現(xiàn)象參考Mechanical Drawing of Cable尺寸檢驗(yàn)MAa.長度不符

17、合規(guī)格要求不可承受.卷尺尺寸參考Mechanical Drawing of Cable電性測試檢驗(yàn)MAa. 排線的接線方式錯(cuò)不可承受;b. 排線接觸不良或不能運(yùn)行不可承受;c. IDE排線的傳輸速率不符合要求不可承受.每批取10pcs送QA,請(qǐng)QA的同事幫助測試?yán)y試檢驗(yàn)MAa. 與公端對(duì)插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可承受.( 拉力測試: 用標(biāo)準(zhǔn)Box Header與排線對(duì)插好，用拉力計(jì)測出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)實(shí)際操作備注 1. 要求如下(低于20PIN 的不作要求)： 80PIN: 4.07.0Kgf ; 40PIN:3.56.0kgf : 34PIN:3.05.0kgf