SPC培訓試題答案

1、SPC培訓考試部門：姓名：分數(shù):一、填空題：（每空分，共25分）1. SPC是英文StatisticalProcessControl的前綴簡稱，即統(tǒng)計過程控制,也稱為統(tǒng)計制程管制。2. CL表示管制中心限;UCL表示上控制界限;LCL表示下控制界限。3. Ca表示準確度;Cp表示精密度;CPK表示制程能力。4. PPM是指制程中所產(chǎn)生之百萬分之不良數(shù),DPM是指制程中所產(chǎn)生之百萬分之缺點數(shù)_。DefectPerMillionpcs賣出的產(chǎn)品中發(fā)生故障的百萬分比5. 品管七大手法分別是查檢表、柏拉圖、特性要因圖、散布圖、管制圖、直方圖、層別法。6. 實施SPC能夠幫助企業(yè)在質(zhì)量控制上真正作到事前

2、”預防和控制。7. 控制圖的基本類型按數(shù)據(jù)類型分為計量值控制圖和計數(shù)值控制圖。8. 直方圖是以一組無間隔的直條圖表現(xiàn)頻數(shù)分布特征的統(tǒng)計圖,能夠直觀地顯示出數(shù)據(jù)的分布情況。9. 如過程歷史數(shù)據(jù)計算的AVERAGE=5,產(chǎn)0.2,過程目標值=5.1，則LCL是_,CL是UCL是_。10. 使用控制圖，對數(shù)據(jù)進行分組的基本原則是組內(nèi)變異小、組間變異大。11. 一般企業(yè)的瑕疵率大約是3到4個西格瑪，以4西格瑪而言，相當于每一百萬個機會里，有6210次誤差。如果企業(yè)不斷追求品質(zhì)改進，達到_6_西格瑪?shù)某潭龋冃Ь蛶捉谕昝赖剡_成顧客要求，在一百萬個機會里，只找得出3.4個瑕疵。12. 計算CP,CPK時

3、數(shù)據(jù)量不得少于25組。13. 影響過程的主要因素有人、機、料、法、環(huán)、測。14. 對于普通原因的波動通常需要采取系統(tǒng)措施。15. 日常工作中，X-Bar控制圖與R控制圖聯(lián)合使用，較為方便有效。16. 當過程處于受控狀態(tài)時，過程只受普通因素的影響,過程特性的波動具有統(tǒng)計規(guī)律性。當過程處于失控狀態(tài)時，過程受到特殊因素的影響;波動偏離原來的規(guī)律。17. 日常生產(chǎn)和服務中常見的波動分布有正態(tài)分布、二項分布、泊松分布。18. 若直方圖符合正態(tài)分布，說明過程處于穩(wěn)定受捽狀態(tài)。19. 若直方圖出現(xiàn)孤島型、偏向型等非正態(tài)分布，說明過程中有異常因素作用,應查明原因。20. 當X-MR圖中有連續(xù)9個點落在中心線同

4、一側時，說明過程處于失捽狀態(tài)。21. 當控制圖中有連續(xù)14點交替升降時，說明過程處于失捽狀態(tài)。22. 當控制圖中有連續(xù)6點上升或下降時，說明過程處于失捽狀態(tài)。23. “2指標準差：是用來衡量一個總數(shù)里標準誤差的統(tǒng)計單位。24. 在“3原則下，控制點落在：3（7到科+3之間的概率是99.73%。25. SPC執(zhí)行成功的最重要條件是Action,即針對變差的特殊原因和普通原因分別采取措施。二、選擇題：（每題1分，共15分）1 .將收集的測定值或數(shù)據(jù)之全距分為幾個相等區(qū)間作為橫軸，并將各區(qū)間內(nèi)之測定值所出現(xiàn)次數(shù)累積而成的面積以條狀方式排列起來所產(chǎn)生的圖形，稱之為B。A:.柏拉圖B:直方圖C:管制圖D

5、:層別法2 .以下哪種直方圖的形態(tài)表現(xiàn)為缺齒形B。3.以下幾種原因，哪種不屬于普通原因DA:原料之微小變異B:機械之微小振動C:儀器測定時不十分精確之作法D:新手之作業(yè)員4 .生產(chǎn)部生產(chǎn)某一產(chǎn)品時，用快速檢測夾具檢測高度和同軸度，應該使用（B）控制圖A.Xbar-RchartB.npchartC.cchartD.Xbar-schart不變的樣本？5 .漏焊、未焊滿、氣孔、焊渣等指的是（B）A.不良B.缺陷C.產(chǎn)品D.OQAreject6 .檢驗員每小時用高度儀檢測軸的高度后，所收集的數(shù)據(jù)應該用（A）控制圖。？A.Xbar-RchartB.npchartC.uchartD.Xbar-schart

6、7 .以下哪個選項不屬于過程的重要輸入（C）A.自動粘和機B.凈化室C.控制圖D.操作工8 .（a）負責組織對產(chǎn)品不良及過程不良進行原因分析，并制訂對策，相關部門配合執(zhí)行對策，（a）對對策執(zhí)行情況進行監(jiān)督。9 .初始能力研究時：樣本大小一般至少為（c）個數(shù)據(jù)以上。a.30b.50c10 .過程能力研究時：每（a）小時抽取（e）件，每班填寫一張能力測算表單。a.1b.2c11 .以下過程能力要求中，（ad）符合客戶要求。a.PPK>b.WPPKCc.PPK<d.CPK>e.CPK<12 .在汽車行業(yè)中，不屬正態(tài)分配之數(shù)據(jù)，可依顧客之需求，采用（a）法。a.PPM值b.合格

7、率c.柏拉圖d.直方圖13 .對過程能力進行持續(xù)不斷地改善，具體可以系統(tǒng)性從以下（ab）方面入手。a）調(diào)整過程加工之分布中心，減少偏移量。b）提高過程作業(yè)水平，減少分散程度。c）修正上下控制限范圍。14 .當客戶有要求較高或較低之過程能力時，應在相應的（b）予以注明。a.FMEAb.控制計劃c.作業(yè)指導書d.特殊特性清單15 .(a)負責進行過程能力統(tǒng)計以及數(shù)據(jù)分析。三、判斷題(對，錯X;每題1分，共15分)1. (X)做初始能力研究時，Cp大于1.33,這臺機器能力可以接受了。？2. (X)只有超出USL和LSL才需要采取措施。3. (X)沒有超出控制界限的點，過程能力是可接受的。4. (X

8、)特殊特性的選擇應由企業(yè)按產(chǎn)品/過程中特性的重要程度來制定，并沒有絕對的正確與否。5. (X)在繪制控制圖時，不管采取何種方法，均應注意控制圖應能顯示過程受控，否則不能計算過程能力。？6. (X)P圖控制法適用于對所有的計數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計過程控制。7. ()1924年，美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為：Shewhart控制圖或3b控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎。8.

9、(X)因為X(bar)-R圖最為精確和敏感，較其它方法優(yōu)勢更強，因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。9. ()特殊原因都是惡性的，都應該進行剔除。10. (X)當過程能力較高時，為降低成本，采取方法使之降低。11. ()當過程能力不足時，為提高過程能力，應進一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。12. (X)Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。13. ()正確使用統(tǒng)計技術，能達到早期預防或及時提出矯正措施并得以及時改善的目的。14. (X)控制計劃規(guī)定的特殊特性都應做統(tǒng)計過程控制一SPG15. ()重要過程事件(如工具變更，機器修理等)須摘記于相應之X-R控制圖及

10、/或直方圖上。四、名詞解釋(每題3分，共30分)1.變差：過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。固有變差：僅由普通原因造成的過程變差，由？=R/d2來估計?？傋儾睿河善胀ㄔ蚝吞厥庠蚬餐斐傻淖儾?，用?S來估計。2、特殊特性：可能影響安全性或法規(guī)的符合性、配合、功能、性能或產(chǎn)品后續(xù)生產(chǎn)過程的產(chǎn)品特性或制造過程參數(shù)3、控制限：控制圖上的一條線(或幾條線)，作為制定一個過程是否穩(wěn)定的基礎。如有超出了控制極限變差存在，則證明過程受特殊因素的影響?？刂葡奘峭ㄟ^過程數(shù)據(jù)計算出來的，不要與工程的技術規(guī)范相混淆。4.過程:一組將輸入轉化為輸出的相互關聯(lián)或相互作用的活動

11、。過程是向過程的顧客（內(nèi)部的和外部的）提供產(chǎn)品或服務的增值活動鏈。注：A）一個過程的輸入通常是其它過程的輸出。B）組織為了增值通常對過程進行策劃并使其在受控條件下運行。C）過程的資源通常包括：人員、資金、設施、設備、材料、技術和方法。5、過程能力：一個穩(wěn)定過程的固有變差（6?:R/d2）的總范圍。6、Cpk（穩(wěn)定過程的能力指數(shù)）：為一穩(wěn)定過程【某一天、某一班次、某一批、某一機臺其組內(nèi)的變差（R-bar/d2orS-bar/C4）短期下的“能力指數(shù)”，計算時須同時考慮過程數(shù)的趨勢及該趨勢接近于規(guī)格界限的程度。即：通常定義為CPUCPL中的最小值。7、Ppk（性能指數(shù)，即初期過程的性能指數(shù)）：為試

12、生產(chǎn)階段一項類似于Cpk的能力指數(shù)，某一產(chǎn)品長期監(jiān)控下的“能力指數(shù)”；但本項指數(shù)的計算，是以新產(chǎn)品的初期過程性能研究所得的數(shù)據(jù)為基礎。即：通常定義為PPU或PPL中的最小值。8、PPM（質(zhì)量水準，即每百萬零件不合格數(shù)）：指一種根據(jù)實際的有缺陷材料來反映過程能力的一種方法。PPM數(shù)據(jù)常用來優(yōu)先制定糾正措施。9、Xbar,R（需列出計算公式）：Xbay：均值（一般指子組均值）；R：極差，RMaxXiMinXi10、正態(tài)分布：呈以標稱值為中心、左右對稱的倒鐘形分布。一般地說，計量值質(zhì)量特性，如尺寸、重量、強度、溫度、時間等，都有相似的分布狀態(tài)：正態(tài)分布五、問答題（每題5分，共15分）1、控制圖應用在

13、什么條件下可以由分析階段轉入控制階段?答：控制圖應用由分析階段轉入控制階段應滿足的條件:、控制圖是受控的；、過程能力能夠滿足生產(chǎn)要求。2、什么時候應該重新計算控制圖的控制界限？答：、控制圖是根據(jù)穩(wěn)定狀態(tài)下的條件（人員、設備、原材料、工藝方法、測量系統(tǒng)、環(huán)境）來制定的。如果上述條件變化，則必須重新制定控制圖；、一定時間后檢驗控制圖還是否適用；、過程能力值有大的變化時。3、請分別寫出常用的三種計量型控制圖和計數(shù)型控制圖的簡稱、符號及主要用途和特點。答：答：常用的五種計量型控制圖的簡稱為：、平均數(shù)與極差控制圖（X-RChart）;、平均數(shù)與標準差控制圖（X-Chart）;、中位數(shù)與極差控制圖（XCh

14、Rrt）;、個別值與移動極差控制圖（X-Rmchart）;、最大值與最小值極差控制圖（L-Schart）。常用的四種計數(shù)型控制圖的簡稱為：、不良率控制圖（Pchart）;、不良數(shù)控制圖（Pnchart,又稱npchart或dchart）;、缺點數(shù)控制圖（Cchart）;、單位缺點數(shù)控制圖（Uchart）。SPC培訓考試題（總分100）姓名：部門:得分:1 .填空題（每空3分，共36分）1 .SPC的全稱為統(tǒng)計制程管控.2 .數(shù)據(jù)從性質(zhì)上分可分為計量型數(shù)據(jù)和計數(shù)型數(shù)據(jù).3 .計量型數(shù)據(jù)管制圖有極差和極差圖,均值和標準差圖,中位值差圖和單值移動極差圖.4 .計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖有不良率管制圖，不良數(shù)管

15、制圖,缺點數(shù)管制圖和單位缺點數(shù)管制圖.5 .管制圖是由休哈特博士研究提出來的；2 .簡答題（每題5分，共25分）1 .過程能力按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用Z來表示；2 .移動極差兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值與最小值之差；3 .單值一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的一次測量，通常用符合X表示；4 .過程均值一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用X表示；5 .特殊原因一種間斷性的，不可預計的，不穩(wěn)定的變差根源；有時可補稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過管制限的點或存在在管制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機性圖形。三、問答題1 .簡述一下管制圖的制作程序（10分）1）收集：收集數(shù)據(jù)并畫在圖上；2）管制：根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算管制限；識別變差的原因并采取措施；3）分析及改進確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施；2 .請描述Cpk值與過程能力的關系；（10分當Cpk小于1說明制程能力差，不可接受；Cpk大于1小于1.33,說明制程能力可能，但需改善；Cpk大于1.3小于1.67,說明制程能力正