電池片的等級標準

1、電池片的檢驗一、 檢驗的條件1 不低于800LX的照射下，距離電池片30-50cm的距離，目視方向垂直于電池片表面觀察。二、 檢驗的方法 1、 拿取電池片時要輕拿輕放 ，125的電池片保持在1-2的檢測速度，150及156的電池片要一片一片的進行檢查。三、 檢測項目1 顏色色差2 絨面色斑3 亮斑4 裂紋、裂痕及穿孔5 彎曲的6 崩邊、缺口、掉角7 印制偏移8 TTV9 鋁珠、鋁苞10 印刷圖形11 漏漿12 外形尺寸注：08年3月底質(zhì)量部更新了新的檢驗作業(yè)指導(dǎo)書四、 顏色色差A(yù)級1、 多晶硅片：單體電池的顏色均勻一致，顏色的范圍從藍色開始，經(jīng)深藍色、紅色、黃褐色、到褐色之間允許相近色的色差（

2、藍色和深藍色存在單體電池上，但不允許跳色），主體顏色為深藍色，單體電池最多只允許兩種顏色。2、 單晶電池片：同一片電池片顏色均勻一致，顏色范圍中沒有褐色，其他同多晶A級的判別。新的標準：單片上均勻一致的不同顏色的電池片，按照淡藍、藍色、紅色三種進行分類。B級1、 多晶硅片：單體電池顏色不均勻，允許存在跳色色差，最多跳一個相近色（例如：紅色和褐色存在于單體電池上），主體顏色為藍色-紅色范圍，單體電池最多只允許存在三種顏色。2、 單晶電池片：與多晶電池片相比，只少了主體顏色，其他同多晶B級的判別。新的標準：與舊標準相同C級1 多晶硅片：同一片電池允許顏色不均勻（藍色-深藍色-紅色-黃褐色-褐色）允

3、許存在跳色色差，同以電池片上可以有2個相近色。2 單晶電池片：與多晶電池片相比，顏色范圍中少了褐色，其余同多晶C級的判別。新的標準：與舊標準相同注：當單片上為均勻一致得到不同顏色，判為A級，但需按照淡藍、藍色、紅色三種進行單測單包。五、 絨面色斑（水痕印、未制絨、未鍍膜、手指印、斑點等）A級變更前：允許有輕微缺陷，缺陷部分的總面積不超過電池片總面積的10%，個數(shù)不超過3個。A級暫定變更后：把絨面色斑分成兩種類型：發(fā)白色斑和淡藍色斑（1） 發(fā)白色斑 由于存在藍色到白色的跳色，故A級片絨面色斑中決不允許有發(fā)白色斑，缺陷總面積占電池片總面積的030%，個數(shù)不超過5個，符合此標準的均判為B級。（2）

4、淡藍色斑 淡藍色斑的B級判定標準不變新的標準：色斑部分的顏色和該電池片上其他地區(qū)的顏色不允許跳色，應(yīng)為相近色，即藍色和深藍色（或藍色和淡藍色）存在于單體電池上，數(shù)量和面積均不限。B級允許有不明顯缺陷，缺陷總面積不超過電池片總面積的30%，個數(shù)不超過5個。新的標準：允許有輕度色斑、亮點、允許跳一個相近色，單體電池上只允許存在3種顏色（例如藍色白色，藍色紅色），色斑部分的總面積不超過電池片總面積的10%，個數(shù)不超過5個。C級缺陷總面積不超過電池片總面積的30%，或者個數(shù)不超過5個。注完全沒有鍍膜的片子夜稱C級降級片。新的標準：色斑部分的總面積超過電池片總面積的10%，或者數(shù)量5個。六、 亮斑A級和

5、B級無論形狀和數(shù)量多少均不允許有亮斑C級允許有亮斑（數(shù)量與面積不限）缺陷/報廢片無新的標準與舊的相同七、 裂紋、裂痕及針孔A級和B級和C級無裂紋，也無裂痕，無針孔缺陷片：有一個或一個以上裂紋、裂痕，允許有穿孔報廢片：無新的標準與舊的相同八、 彎曲度（舊的標準）厚度A級B級C級 缺陷/報廢片300umSTF1031.0mm1.0mm< STF1031.5mm1.5mm <STF1032.0mm< STF1253.5mm< STF1503.5mm< STF156無STF1251.25mm1.25mm< STF1252.0mmSTF1501.5mm1.5mm<

6、; STF1503.5mmSTF1561.5mm1.5mm< STF1563.5mm270厚度<300umSTF1031.0mm1.0mm< STF1031.5mmSTF1251.5mm1.5mm< STF1252.0mmSTF1502.0mm2.0mm< STF1503.5mmSTF1562.0mm2.0mm< STF1563.5mm240厚度<270umSTF1031.5mm1.5mm< STF1032.0mm2.0mm <STF1032.5mm< STF1254.0mm< STF1504.0mm< STF156STF

7、1251.75mm1.75mm< STF1252.5mmSTF1502.5mm2.5mm< STF1504.0mmSTF1562.5mm2.5mm< STF1564.0mm<240umSTF1031.5mm1.5mm< STF1032.0mmSTF1251.75mm2.0mm< STF1252.5mmSTF1502.5mm2.5mm< STF1504.0mmSTF1562.5mm2.5mm< STF1564.0mm彎曲度（新的標準）厚度檢驗要求及等級判定A級合格片B級合格片C級降級片缺陷/報廢片240厚度STF1031.5mm1.5mm<

8、STF1032.0mm1032.0mm無STF1251.75mm1.75mm< STF1252.5mm1252.5mmSTF1502.5mm2.5mm< STF1504.0mm1504.0mmSTF1562.5mm2.5mm< STF1564.0mm1564.0mm厚度<240umSTF1031.5mm1.5mm< STF1032.0mm1032.0mmSTF1252.0mm2.0mm< STF1252.5mm1252.5mmSTF1502.5mm2.5mm< STF1504.0mm1504.0mmSTF1562.5mm2.5mm< STF156

9、4.0mm1564.0mm九、 崩邊、缺口、掉角電池邊緣崩邊喝缺口A級：其長度3mm，深度0.5mm，數(shù)量2處B級：其長度5mm，深度1.0mm，數(shù)量3處四角缺口A級：尺寸1.5*1.5mm，數(shù)量1處B級：尺寸2.0*2.0mm，數(shù)量1處注：單晶A級和B級均不允許有三角形缺口和尖銳行缺口，以上缺口都不可以過電極(主柵線，副柵線)超過B級范圍單晶電池片超過了B級范圍，就直接作為缺陷片。多晶電池片超過了B級范圍，如符合C級需切角片的要求，可作C 級需切角片多經(jīng)允許邊角有缺口（包括三角形缺口和尖銳行缺口），對邊角缺口聽要求如下125任一邊角缺損18*18mm 150任一邊角缺損8*8mm156任一邊

10、角缺損14*14mm注：多晶電池片超出了C級片的要求，作為缺陷片。完全破碎，無利用價值的作為報廢片新的標準與舊的相同十、 印刷偏移A級位移偏差0.75mm 角度偏差0.5°新的標準：位移偏差0.5mm 角度偏差0.3°B級：位移偏差1.0mm 角度偏差0.5°新的標準：0.5mm位移偏差0.5mm 角度偏差0.3°C級位移偏差1.0mm 角度偏差0.5新的標準：0.5mm位移偏差1.0mm 角度偏差0.3°缺陷片：電極圖形超出C級降級片的范圍（即A級、B級、C級均不允許電極圖形超出太陽電池邊緣，C級背電場除外）報廢片：無十一、 TTV（即單片電

11、池片最厚與最薄的誤差）A級：TTV的變化電池片標準厚度的15%B級TTV的變化電池片標準厚度的25%C級TTV的變化電池片標準厚度的25%缺陷/報廢片：無注：電池片標稱厚度以硅片的標稱厚度值為準（5點測量法）新的標準與舊的相同十二、 鋁珠、鋁苞（不論其位置，一律按40um不做鋁苞片）A級 ：鋁苞不論其位置，鋁苞高度在40um-0.15mm范圍內(nèi)，數(shù)量不限。新的標準：鋁苞高度為75um，數(shù)量不限。B級：鋁苞不論其位置，鋁苞高度在0.15mm-0.25mm范圍內(nèi)，數(shù)量不限。新的標準: 鋁苞不論其位置，鋁苞高度在75-0.150mm范圍內(nèi)，數(shù)量不限。C級：無缺陷片：超過B級鋁苞范圍電池片的要求報廢片

12、：無注：以上鋁苞狀況均為非尖銳形，如為尖銳形則應(yīng)交由制造人員進行返工（鋁珠同尖銳形鋁苞的處理），返工后的鋁苞片需依據(jù)以上規(guī)則重新判定。十三、 印制圖形主柵線：A級：主柵線允許有輕微斷線、缺失、扭曲、突出，斷線和缺失面積不超過主柵線面積的5%，扭曲突出部超過正常位置的0.2mm ，不允許有變色現(xiàn)象（燒焦、發(fā)黃）新的標準：主柵粗細均勻，不允許有斷線，缺失、扭曲以及突出。B級：斷線和缺失面積不超過主柵線面積的10%，扭曲突出部超過正常位置的0.2mm ，不允許有變色現(xiàn)象（燒焦、發(fā)黃）新的標準：主柵粗細均勻，允許有斷線，缺失面積不超過主柵線面積的5%，扭曲突出不超過正常位置的0.2mm ，不允許有變色

13、現(xiàn)象（燒焦、發(fā)黃）C級：斷線和缺失面積不超過主柵線面積的20%，扭曲突出部超過正常位置的0.2mm ，不允許有變色現(xiàn)象新的標準：主柵線：斷線，缺失面積不超過主柵線面積的20%，扭曲、突出不超過正常位置的0.5mm ，副柵線：A級：副柵線允許粗細不均勻，存在寬度大于0.13mm，小于18mm的副柵線，段柵線6條，斷線距離2mm，允許有輕微虛印、缺印，面積小于電極總面積的5%.新的標準：副柵線清晰，允許有兩條柵線存在斷線，斷開數(shù)量3條，斷開距離0.5mm；不允許有任何虛印、粗點；不允許有變色現(xiàn)象。B級：允許粗細不均勻，存在寬度0.25mm的副柵線，段柵線10條，斷線距離2mm，允許有輕微虛印、缺印

14、，面積小于電極總面積的10%.新的標準：允許有兩條主柵線間存在斷線，其0.5mm斷開距離1mm 的副柵線，3條斷開數(shù)量6條，允許有輕微虛印、缺印，面積小于副柵線總面積的5%.，不允許有變色現(xiàn)象。C級：允許粗細不均勻，存在寬度0.3mm的副柵線，段柵線10條，斷線距離2mm，允許有輕微虛印、缺印，面積小于電極總面積的30%新的標準：副柵線1mm斷開距離2mm，斷線數(shù)量不限，輕微虛印面積小于電極總面積的30%。背電極：A級：背電極允許有輕微斷線、缺失、扭曲、突出，斷線和缺失面積不超過背電極面積的5%，扭曲突出部超過正常位置的0.5mm，變色面積不超過背電極總面積的5%。新的標準：背電極圖形清晰，粗

15、細均勻，不允許有斷線，缺失、扭曲以及突出；不允許有變色現(xiàn)象。B級：背電極斷線和缺失面積不超過背電極面積的10%，扭曲突出部超過正常位置的1.0mm, 變色面積不超過背電極總面積的10%。新的標準：背電極斷線、缺失面積不超過背電極面積的5%，扭曲突出部超過正常位置的0.5mm, 變色面積不超過背電極總面積的5%。C級：背電極斷線和缺失面積不超過背電極面積的30%，扭曲突出部超過正常位置的1.0mm, 變色面積不超過背電極總面積的20%。新的標準：背電極斷線、缺失面積不超過背電極面積的30%，扭曲突出部超過正常位置的1.0mm, 變色面積不超過背電極總面積的20%。背電場：A級：背電場完整，厚薄均

16、勻，允許有缺失，缺失面積不超過背電場總面積的5%，變色面積不超過背電場面積的15%。新的標準：背電場完整，厚薄均勻，不允許有缺失B級：允許有缺失，缺失面積不超過背電場總面積的10%，變色面積不超過背電場面積的30%。新的標準：允許有缺失，缺失面積不超過背電場總面積的5%，變色面積不超過背電場面積的15%。C級：允許有缺失，缺失面積不超過背電場總面積的10%，變色面積不超過背電場面積的50%。新的標準：缺失面積不超過背電場總面積的5%，變色面積不超過背電場面積的50%。粗點：A級：粗點寬度0.18mm，個數(shù)小于2個新的標準：不允許有粗點B級：粗點寬度0.25mm，個數(shù)小于5個新的標準：允許有粗點

17、，粗點寬度0.18mm，個數(shù)小于2個C 級：粗點寬度0.3mm，個數(shù)小于8個新的標準：當主柵線或副柵線有明顯粗細不均時，應(yīng)用刻度顯微鏡進行查檢。STF印制：A級：標識要有虛印、粗印現(xiàn)象（字母線寬度應(yīng)小于0.22mm ）但仍可辨識時作為A級。若標識存在缺印但仍可辨識時，按字母高度的1/3判定，缺失長度小于字母高度1/3。B級：標識要有虛印、粗印現(xiàn)象，字母線寬度應(yīng)小于0.22mm ，但仍可辨識時，如實心“P”，若標識存在缺印但仍可辨識時，按字母高度的1/3判定，缺失長度小于字母高度1/3。C級：若字母變形或無法辨識時直接降為C級。新的標準與舊的相同缺陷片：1 主柵線或副柵線或背電極或背電場超出c級

18、降級片的要求時，但仍有利用價值的片子。2 由于存儲不當造成成電極氧化時，直接以報廢片處理3 僅印刷烘干而沒有經(jīng)過燒結(jié)的電池片，如果還有利用價值，則租鋪位缺陷片處理4 完全未印制背電場的電池片作缺陷片處理。5 疊片仍有利用價值的作為缺陷片，如果全疊片則作為報廢片處理。報廢片：超出缺陷片的要求常出現(xiàn)的印制圖形異常的原因說明1、 電極脫落（疊片）：硅片與漿料沒形成足夠的合金層也就是說沒有形成好的接觸。2、 斷線：有東西粘在網(wǎng)板上，造成堵網(wǎng)。解決方法：擦拭網(wǎng)板，擦拭堵網(wǎng)區(qū)域。3、 漏漿：網(wǎng)板有漏洞解決方法：較小且不在細柵線上用封網(wǎng)漿將小孔封住即可。較大時必須要更換網(wǎng)板。另注意漏漿千萬不能漏在正面電極，

19、這樣會使RSH（并聯(lián)電阻）過低。4、粗點？網(wǎng)板受損，刮條不平整解決方法：換網(wǎng)板，換刮條。5、虛印：有時會由于原材料原因?qū)е氯纾簱?jù)痕、厚薄不均。再者跟刮條和網(wǎng)板也有關(guān)系。解決方法：換網(wǎng)板或換刮條。十四、 漏漿A級：漏漿單個面積小于0.5*0.5mm，數(shù)量小于3個B級：漏漿單個面積小于1。0*1.0mm 數(shù)量不限C級：漏漿單個面積小于1。0*2。0mm 數(shù)量不限缺陷/報廢片：超出C級片的要求為缺陷片，超出缺陷片要求的為報廢片。注：（1）在正常印刷圖形上時，按照“印刷圖形”規(guī)定判斷，不在印刷圖形上時按照如上規(guī)定判別。（2）漏漿在背電場或背電極時，根據(jù)鋁苞規(guī)定判斷（3）漏漿在側(cè)面時，如果影像電池片電性

20、能和外觀時，則返工后重新分類檢測，然后重新判定，如果不影響電池片電性能和外觀時則正常流出（4）硅晶脫落按漏漿面積判定新的標準：與舊的標準相同側(cè)面漏漿片做打磨片處理打磨片處理方式非鋁苞片：一律外銷（不+Rsh6）零頭和滿包全入外銷庫位備注：DM 采用黃標簽鋁苞片：暫不作自用片 待研發(fā)作組件試驗（+Rsh6）零頭入鋁苞零頭庫位 滿包入鋁苞滿包庫位備注： DM+LB 采用白標簽十五、 外形尺寸A級和B級：SIF125S：邊長：125x125mm ；直徑150；或者148mm；或者165mmSIF125M：邊長125*125mm SIF150N： 邊長150*150mm；直徑：203mm ；或者200

21、mm；SIF150M：邊長：150*150mm SIF156N：邊長156*156mm；直徑203mm；或者200mmSIF156M：邊長156*156mm以上電池片邊長（長，寬）精度：±0.5mmC級：尺寸精度：±1.0mm 缺陷/報廢片超出C級片的要求注：1、異常檢驗的數(shù)據(jù)不記錄在檢驗記錄中，但應(yīng)及時反饋此信息2、直徑，對角線精度為±0.5mm，檢驗時將不同標稱直徑的電池片分類標識，單測單包，數(shù)據(jù)不在檢驗記錄中。新的標準：與舊的標準相同發(fā)現(xiàn)異常情況應(yīng)該怎么做？首先該做什么？其次再做什么？何為異常？只要是連續(xù)出現(xiàn)或者間斷出現(xiàn)次數(shù)較多的異于正常情況都屬于異常（偏好或偏差）當我們發(fā)祥這些情況應(yīng)該怎么辦？3、 首先要先判斷是屬于哪個制程？然后通知相關(guān)制程4、 在確信自己可以找到相關(guān)制程溝通提出改善現(xiàn)狀，并且能夠跟蹤改善結(jié)果，可以自己處理好那時非常好，如果做不到或通知后不起效果找領(lǐng)班去處理。5、 我們大家都要養(yǎng)成一個好的習(xí)慣，那就是善