地球物理勘探考題2013

1、電法勘探電法勘探的定義？ 電法勘探是以巖、礦石之間電學(xué)性質(zhì)的差異為基礎(chǔ)，通過觀測和研究與這些差異有關(guān)的電場或電磁場在空間或時(shí)間上的分布特點(diǎn)和變化規(guī)律，來查明地下地質(zhì)構(gòu)造和尋找地下電性不均勻體(巖溶、風(fēng)化層、滑坡體等)的一類勘查地球物理方法。電法勘探的分類？ 就場本身的性質(zhì)而言，可分為兩大類，即傳導(dǎo)類電法和感應(yīng)類電法。傳導(dǎo)類電法以各種直流電法為主，有電阻率法、充電法、自然電場法和激發(fā)極化法等。感應(yīng)類電法則可分為電磁剖面法和電磁測深法。按工作場地的不同，又可分為航空電法、地面電法、海洋電法和地下電法等，它們在方法技術(shù)上各有不同的特點(diǎn)。第一節(jié) 電阻率法的基礎(chǔ)知識1、影響巖土介質(zhì)電阻率的因素有哪些？怎

2、樣影響？ 自然狀態(tài)下，巖土介質(zhì)的電阻率除與介質(zhì)組分有關(guān)外，還與巖石的結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、孔隙度、濕度、礦化度及溫度等因素有關(guān)。介質(zhì)組分：一般來說，當(dāng)巖石中良導(dǎo)性礦物的體積含量高時(shí)，其電阻率通常較低。相反，當(dāng)造巖礦物含量高時(shí)，巖石電阻率亦很高。結(jié)構(gòu)和構(gòu)造：在導(dǎo)電金屬礦物含量相同的條件下，巖石的結(jié)構(gòu)起著重要的作用。浸染狀結(jié)構(gòu)巖石中良導(dǎo)性礦物被不導(dǎo)電礦物包圍，其電阻率要比良導(dǎo)性礦物彼此相連的細(xì)脈狀結(jié)構(gòu)巖石為高。如對含針、片狀礦物，沿層理方向（縱向）電阻率小于垂直層理方向（橫向）電阻率，兩個(gè)方向間存在各向異性。濕度：濕度對巖石的電阻率有很大的影響，這是因?yàn)樗碾娮杪瘦^小，含水巖石的電阻率遠(yuǎn)比干燥的巖石低。礦化

3、度：礦化度越高，電阻率越低。溫度：溫度的變化直接影響著巖石的電阻率。這是因?yàn)?，溫度升高時(shí)，一方面巖石中水溶液的粘滯性減小，使溶液中離子的遷移率增大。另一方面，又使溶液的溶解度增加，礦化度提高，所以巖石的電阻率通常隨溫度的升高而下降。2、請說明電阻率是怎樣測定的？ 上式即為利用四極裝置測定電阻率的基本公式，即兩個(gè)供電電極之間測量一下電流，兩個(gè)測量電極之間測量一下電位差，根據(jù)四個(gè)電極之間的相對位置測量裝置系數(shù)(或排列系數(shù))，代入上式求取即可。3、研究電流密度隨深度的分布規(guī)律有怎樣的意義？影響探測深度的主要因素是什么？ 勘探深度是指在給定裝置條件下能產(chǎn)生可靠相對異常、可查明探側(cè)目標(biāo)的最大深度。研究電

4、流密度隨深度的變化規(guī)律，對電阻率法勘探有很大意義。因?yàn)?，地面電阻率法是根?jù)地表電流密度的變化來判斷地下電阻率有明顯差異的地質(zhì)體的存在。集中于地表的電流越多，流入地下深處的電流就越少。當(dāng)埋藏于深部的巖石中的電流密度很小時(shí)，巖石電阻率的差異對地表附近電流密度的影響很小，因而能夠進(jìn)行勘探的深度也就小了。要想增大勘探深度、只有增加供電極距。AB越大，勘探深度也越大。第二節(jié) 電阻率剖面法1、電阻率剖面法的總體特征是什么？有哪些分類？ 總體特征：供電極距不變，整個(gè)裝置沿觀測剖面線移動，逐點(diǎn)觀測視電阻率的變化。根據(jù)勘探深度和供電極距的關(guān)系，由于供電極距不變，勘探深度就保持在同一個(gè)范圍內(nèi)。因此電阻率剖面法研究

5、的是某個(gè)深度范圍以上橫向上電阻率的分布情況。主要可分為：聯(lián)合剖面法，適用于探測陡傾的低阻體；（復(fù)合）對稱四級剖面法，適用于面積性測量；中間梯度法，適用于探測陡傾的高阻體；偶極剖面法等。 2、聯(lián)系“聯(lián)合剖面法”方法的命名說明“聯(lián)合剖面法”的總體特征及主要適用范圍？ 總體特征：聯(lián)合剖面法是用兩組三極裝置進(jìn)行測量，這是“聯(lián)合”一詞的由來。每組三極裝置有一個(gè)無窮遠(yuǎn)極。在同一測點(diǎn)上，兩組三極裝置各測一次。在低阻體上方有正交點(diǎn)存在，在高阻體上方有反交點(diǎn)存在。優(yōu)點(diǎn)：靈敏度高、分辨力強(qiáng)、異常幅度大。缺點(diǎn)：該測量方式工作效率低，因?yàn)橐稽c(diǎn)測量兩次，裝置比較笨重，有笨重的無窮遠(yuǎn)極存在。受地形和地表巖性不均勻的影響大

6、，易使曲線發(fā)生畸變而出現(xiàn)假異常。適用范圍：主要用于尋找產(chǎn)狀陡傾的層狀或脈狀低阻體或斷裂破碎帶。3、聯(lián)系“中間梯度法”方法的命名說明“中間梯度法”的總體特征及主要適用范圍？ 這種方法的特點(diǎn)是供電電極A和B相距很遠(yuǎn)且固定不動，測量電極M和N在A、B之間的中部約(1/2-1/3)AB的范圍內(nèi)同時(shí)移動，逐點(diǎn)進(jìn)行測量。此外，MN還可以在平行于主剖面線AB的幾條相鄰測線中部移動，逐點(diǎn)進(jìn)行測量。旁測線與主測線的最大垂直距離不超過1/6AB。由于中間梯度法布設(shè)一次供電電極可同時(shí)觀測數(shù)條測線，因此工作效率較高，且能最大限度地克服供電電極附近電性不均勻的影響。 中梯法中由于AB很大，在AB中部測量范圍內(nèi)的電場可以

7、認(rèn)為是均勻電場，視電阻率曲線所反映的必然是MN電極附近地層電阻率的變化情況。用中梯法尋找高阻巖脈(如偉晶巖脈、石英巖脈等)可以取得顯著的效果。例如對直立高阻脈來說，其屏蔽作用明顯，排斥電流使其匯聚于覆蓋層。這將使jMN增大而使視電阻率曲線在高阻脈上方出現(xiàn)突出的高峰。對于低阻的、不寬的斷層破碎帶等良導(dǎo)直立薄脈，由于水平電流線均垂直于它(電流密度的法向分量連續(xù)，切向分量為零)，使jMN變化不大，視電阻率異常不明顯。所以，在實(shí)際工作中常用此法追索高阻陡傾地質(zhì)體。4、聯(lián)系“對稱四極剖面法”方法的命名說明“對稱四極剖面法”的總體特征及主要適用范圍？ 對稱四極剖面法，顧名思義，供電電極和測量電極分別相對于

8、測量點(diǎn)對稱，在觀測過程中，四個(gè)電極保持相對位置不動，同時(shí)沿側(cè)線移動。從場的特點(diǎn)看，對稱四極剖面法是兩個(gè)異性點(diǎn)電流源的場，其位于供電電極的中部，故其正常場也是均勻場，且異常的特點(diǎn)與中間梯度法類似。但由于在對稱四極剖面中測量電極是與供電電極同時(shí)移動的，故視電阻率曲線比中間梯度法復(fù)雜一些，生產(chǎn)效率也低一些。因而，一般能用中間梯度法解決的問題，就不用對稱四極剖面法解決。即：對于尋找高阻巖脈，對稱四極剖面法不如中間梯度法經(jīng)濟(jì)、效率高；對于探測良導(dǎo)薄脈，又不如聯(lián)合剖面法異常反映明顯。因此，對稱四極剖面法一般不用于尋找薄脈狀地質(zhì)體，在工程、水文及環(huán)境地質(zhì)調(diào)查中多用于面積性測量，探測淺部基巖起伏，尋找構(gòu)造破碎

9、帶，以及厚巖層等地質(zhì)填圖和普查工作，在合適的條件下，還可以圈定巖溶的分布范圍及追索古河道等，應(yīng)用較為廣泛。5、電阻率剖面法和電阻率測深法有什么區(qū)別？ 電阻率剖面法是采用固定極距的電極排列，沿剖面線逐點(diǎn)供電和測量，觀察視電阻率的變化規(guī)律。由于電極距不變，勘探深度就保持在同一范圍內(nèi)。因而視電阻率沿剖面的變化可以把地下某一深度以上具有不同電阻率的地質(zhì)體沿剖面方向的分布情況反映出來。電阻率測深法是采用在同一測點(diǎn)上多次加大供電極距的方式，逐次測量視電阻率的變化，反映該測點(diǎn)下電阻率有差異的巖層或巖體在不同深度的分布狀況。6、聯(lián)合剖面法的兩條視電阻率與對稱四極剖面法的視電阻率曲線有什么關(guān)系？ 對稱四極剖面法

10、的視電阻率曲線是聯(lián)合剖面法兩條視電阻率曲線的平均。第三節(jié) 電阻率測深法1、什么叫電阻率測深法？ 電阻率測深法亦可稱為“電阻率垂向測深法”，或簡稱為“電測深法”。它是研究指定地點(diǎn)近于水平產(chǎn)狀的巖層沿鉛垂方向分布情況的電阻率法。在這類方法中通常采用的是對稱四極裝置。對地面上某一點(diǎn)進(jìn)行電測深法測量時(shí)，原則上保持測量電極距MN不變，而在同一測點(diǎn)使供電電極距AB按一定的規(guī)律不斷增大；每改變一次極距，即測定一次電位差和電流。當(dāng)AB很大，以致MN之間的電位差減少到不便于準(zhǔn)確讀數(shù)時(shí)，可適當(dāng)加大極距MN。由關(guān)于勘探深度的概念得知，加大供電電極距可以增加勘探深度。因此，在同一測點(diǎn)不斷加大供電電極距所測出的視電阻率

11、值的變化，就反映測點(diǎn)下由淺到深的電阻率有差異的巖層在不同深度處的分布情況。2、畫圖說明兩層、三層、四層地電斷面的電測深曲線類型及其特點(diǎn)？ （1）、水平二層曲線類型當(dāng)巖層按電阻率大小分為和兩層，而且第一層的厚度遠(yuǎn)小于第二層厚度時(shí)，就構(gòu)成水平二層地電斷面。相應(yīng)的電測深曲線類型有兩類：當(dāng)時(shí)稱為G型，當(dāng)時(shí)稱為D型(圖6)。圖6 水平二層電測深曲線類型（2）、水平三層曲線類型水平三層地電斷面的電測深曲線類型有四種：H、K、A、Q型。包括的參數(shù)有、5個(gè)，曲線的基本形態(tài)由三層電阻率的大小關(guān)系決定(圖7) H型：； A型：K型：； Q型：圖7 水平三層電測深曲線類型（3）、水平四層及多層曲線類型對于水平四層地

12、電斷面，按、和之間的大小關(guān)系，可以構(gòu)成八種曲線類型(圖8) HA型：; KH型：< HK型：； KQ型： AA型：； QH型： AK型：； QQ型；每一類型用兩個(gè)英文字母表示，前一個(gè)字母表示地電斷面中前三層電阻率、之間的關(guān)系，與三層曲線的命名法相同；后一個(gè)字母則表示除第一層外的、和三者之間的關(guān)系，命名法依然不變。因此，共有HA、HK、KH、KQ、AA、AK、QH、QQ型八種?？梢娒慷嘁粚?，測深曲線類型增加一倍。對于四層以上的多層斷面測深曲線命名方法仍按上述原則。例如地電斷面的電阻率關(guān)系為<><<的水平五層曲線類型為KHA型，以此類推。3、電測深曲線的首支、中段、尾

13、支各有什么特點(diǎn)？ 首支：無論地電斷面為幾層，當(dāng)AB/2較小時(shí)，電測深曲線的首支均出現(xiàn)以第一層電阻率為漸近線的水平直線。中段：為首支向尾支的過渡部分。對二層曲線，D型中段單調(diào)下降，G型中段單調(diào)上升。對三層曲線，H型中段有極小值，但由于底層電阻率的影響，此極小值大于第二層真正的電阻率值；K型中段有極大值，同樣由于底層電阻率的影響，此極大值小于第二層真正的電阻率值；推而廣之，對于每層斷面，由于下層巖石的影響，其電測深曲線中段極小值或極大值的電阻率都不能達(dá)到對應(yīng)中間層的電阻率值。尾支：有兩種形態(tài)，當(dāng)?shù)讓与娮杪蕿橛邢拗禃r(shí)，尾支為與底層電阻率為漸近線的水平直線；當(dāng)?shù)讓与娮杪蕿闊o窮大時(shí)，尾支與橫坐標(biāo)軸成45

14、度夾角。4、電測深曲線通常繪制在雙對數(shù)坐標(biāo)系內(nèi)，有什么優(yōu)點(diǎn)？ 測深曲線的極距AB/2由小到大成倍增加，小自數(shù)米大到幾千米。如果用直角坐標(biāo)表示，則無法選擇作圖比例尺。因?yàn)楸壤叽髸r(shí)，圖紙?zhí)L；比例尺小時(shí)，小極距或淺層電阻率又表現(xiàn)不出來。而對數(shù)坐標(biāo)的特點(diǎn)是：相差倍數(shù)相同的任意兩數(shù)之間距離相等，例如2和4、3和6、100和200皆差兩倍，每一組數(shù)在對數(shù)坐標(biāo)上的距離都相同。故使用對數(shù)坐標(biāo)，既能把小極距又能把大極距時(shí)的視電阻率變化表現(xiàn)清楚。5、比較電阻率剖面法和電阻率測深法的坐標(biāo)系有什么不同？電阻率剖面法采用算術(shù)坐標(biāo)，橫軸表示測點(diǎn)，縱軸表示視電阻率電阻率測深法采用雙對數(shù)坐標(biāo)系，橫軸表示供電極距，縱軸表示

15、視電阻率。6、兩層電測深曲線怎樣解釋？ 首先應(yīng)按實(shí)測曲線類型選用合適的量板。然后把繪于透明對數(shù)紙上的實(shí)測曲線蒙在選好的量板上，保持兩者坐標(biāo)軸相互平行，上下左右移動實(shí)測曲線，使它與量板中某一條理論曲線重合。在透明紙上用“十”字標(biāo)志描出量板的坐標(biāo)原點(diǎn)位置，并在實(shí)測曲線坐標(biāo)系中讀出這個(gè)十字點(diǎn)的縱、橫坐標(biāo)值便是要求的、值。記下與實(shí)測曲線相重合的理論曲線的 ()值，便可計(jì)算出。第四節(jié) 充電法1、請說明充電法的基本原理。充電法是在天然的或人工揭露的導(dǎo)電性較好的地質(zhì)體上，直接接上供電電極(A)，將另一個(gè)供電電極(B)置于“無窮遠(yuǎn)”處接地。然后供電，這時(shí)充電導(dǎo)體相當(dāng)于一個(gè)大電極，電流由充電體流入圍巖，形成特殊

16、的人工穩(wěn)定電流場。用測量電極MN觀測充電點(diǎn)周圍電場的分布規(guī)律，以探查充電體的形態(tài)、大小和產(chǎn)狀等有關(guān)問題。2、充電法的主要應(yīng)用范圍？ 充電法多用于金屬礦區(qū)的勘探，追索或圈定礦體范圍、確定礦體產(chǎn)狀和理深、判斷露頭相鄰的礦體下部是否相連，在工程物探中主要用來測定地下水流速和流向，追索巖溶地下暗河，研究滑坡等。3、充電法的應(yīng)用條件？探測對象的電阻率應(yīng)遠(yuǎn)小于圍巖的電阻率，圍巖的巖性比較單一，地表介質(zhì)電性均勻、穩(wěn)定，地形平坦，埋于地下的探測對象有天然露頭或人工露頭(井、鉆孔、探槽、坑道等)。4、充電法的曲線特點(diǎn)與探測地質(zhì)體的關(guān)系？充電法中電位曲線的極大值點(diǎn)和電位梯度曲線的零值點(diǎn)對應(yīng)地下良導(dǎo)低阻體的位置。5

17、、說明充電法都有哪幾種測量方法？怎樣進(jìn)行？ 電位觀測法：將供電電源的正極通過導(dǎo)線和電極A與充電體直接接觸，另一供電電極B置于無窮遠(yuǎn)處。將一測量電極N固定于距充電體足夠遠(yuǎn)的正常場處，垂直充電體布置若干條測線，另一測量電極M沿測線逐點(diǎn)移動，測量各測點(diǎn)相對于固定基點(diǎn)N的電位差，用參數(shù)(單位為毫伏毫安)來表示觀測結(jié)果。電位梯度觀測法：將測量電極MN置于同一測線的兩個(gè)相鄰測點(diǎn)上，保持其相對位置和間距不變，沿測線逐點(diǎn)移動，觀測各相鄰測點(diǎn)間的電位差，隔若干點(diǎn)測量供電電流，用參數(shù)單位為毫伏(毫安·米)表示觀測結(jié)果。追索等位線觀測法:充電點(diǎn)布置好后，以充電點(diǎn)在地面投影點(diǎn)為中心布設(shè)夾角為45度輻射狀測線

18、。固定測量電極N在某測線的一定位置上，然后距充電點(diǎn)由近及遠(yuǎn)，在各測線上移動測量電極M，尋找與N極點(diǎn)的等位點(diǎn)（)記下該點(diǎn)的位置，各等位點(diǎn)連接成等電位線。測量結(jié)果用等電位線平面分布圖表示。電位觀測法可以較快地圈出礦體的平面范圍，而且工作地段內(nèi)地質(zhì)情況比較復(fù)雜，圍巖浮土電性不均時(shí)，用此法較合適些。電位梯度法較電位法有更好的分辨能力，宜用以確定礦體頂端的位置、礦體沿走向的延伸長度。這里必須指出，野外工作中，不允許將電位觀測結(jié)果直接換算成電位梯度曲線，雖然二者之間的換算在理論上是成立的。6、怎樣利用充電法測定地下水的流速、流向？ 將食鹽或其它強(qiáng)電解質(zhì)投入一口已穿透含水層的井中，鹽離子在水溶液中因濃度差及

19、分子熱運(yùn)動而擴(kuò)散形成鹽暈。在投入食鹽的最初時(shí)刻，鹽暈成圓形。隨后，鹽暈隨地下水運(yùn)動而向前運(yùn)移，鹽暈的形態(tài)也隨之而變成橢圓?？蓪Ⅺ}暈看成等電位體，對其充電后，在地面上觀測到的等位線反映了鹽暈的形態(tài)，因而根據(jù)不同時(shí)間里地面等電位線形態(tài)的變化，可以了解地下水的流速和流向。地下水流向：等電位線圖中等位點(diǎn)移動最大的方向。 流速:，為在水流方向的剖面上不同時(shí)間觀測的等位線的中心位移量。7、比較充電法和電阻率法在原理上的差異？ 同樣是兩個(gè)供電電極供電，兩個(gè)測量電極測量，但充電法對良導(dǎo)體的露頭直接供電，借以探查良導(dǎo)體的形態(tài)、大小和產(chǎn)狀等分布情況。要求良導(dǎo)體本身相當(dāng)于等電位體，且有天然或人工露頭揭露。第五節(jié) 自

20、然電場法1、過濾電場的原理？ 當(dāng)?shù)叵滤趲r石的孔隙或裂隙中運(yùn)動時(shí)，由于巖石顆粒表面對地下水中正、負(fù)離子有選擇的吸附作用，便出現(xiàn)了正負(fù)離子分布的不均衡，從而形成自然電場，稱為過濾電場或滲透電場。大多數(shù)巖石顆粒具有吸附負(fù)離子的作用，因此孔隙壁表面吸附了固定的負(fù)離子層，使運(yùn)動著的地下水中正負(fù)離子的數(shù)目不相同，結(jié)果在靠近孔隙出口的一端出現(xiàn)多余的正離子，而在水流的反方向滯留著負(fù)離子。隨時(shí)間的延續(xù)，這種正負(fù)離子分布的差異形成了電位差，形成了與地下水流向相反的穩(wěn)定的自然電場。2、怎樣根據(jù)過濾電場判斷地下水的流向及地表水與地下水的補(bǔ)給關(guān)系？由于過濾電場的方向與地下水流向相反。且在地下水流入端具負(fù)電位，流出端具

21、正電位。因此在地下水流動方向上出現(xiàn)自然電位差極大值，在垂直地下水流動方向上出現(xiàn)極小值。判斷地下水和地表水的補(bǔ)給關(guān)系時(shí)，如果我們觀測到正電位，則為地下水補(bǔ)給地表水，如果觀測到負(fù)電位，則為地表水補(bǔ)給地下水。3、擴(kuò)散電場的原理？兩種不同濃度或成分的水溶液相接觸時(shí)，便會發(fā)生擴(kuò)散現(xiàn)象，溶液之間形成離子的遷移，但不同離子的遷移速度不同，結(jié)果使兩種不同濃度的溶液中，分別含有過量的正離子或負(fù)離子，形成電動勢，這種電場稱為擴(kuò)散電場。 例子：當(dāng)巖層中含氯化鈉的水溶液的濃度相差很大時(shí)，溶液中Cl-與Na+ 將向濃度小的溶液一方移動，由于Cl-的遷移率大于Na+ ，因而在濃度小的一側(cè)Cl-數(shù)較Na+ 多，獲得負(fù)電位，

22、另一側(cè)為正電位，形成擴(kuò)散電場。 4、氧化還原電場的原理？金屬導(dǎo)體（電子導(dǎo)體）埋藏在潛水面附近時(shí)，由于氧化還原作用而形成的自然電場稱為氧化還原電場。位于潛水面以上的電子導(dǎo)體與氧化帶中的地下水發(fā)生氧化作用，導(dǎo)體失去電子而帶正電，圍巖則獲得電子而帶負(fù)電。位于潛水面以下的導(dǎo)體，由于所處的還原環(huán)境使導(dǎo)體的電化學(xué)反應(yīng)與上相反，即圍巖失去電子而帶正電，電子導(dǎo)體獲得電子而帶負(fù)電。在導(dǎo)體與圍巖之間，導(dǎo)體上端和下端產(chǎn)生了符號相反的電位跳躍。因此在導(dǎo)體上下端形成電位差，產(chǎn)生自上而下的電流，而在圍巖中產(chǎn)生自下而上的電流，構(gòu)成電流回路5、說明什么叫山地電場？ 由地形起伏形成的過濾電場常稱為山地電場。是由潛水由山頂向山谷

23、滲透時(shí)產(chǎn)生的，在山頂形成負(fù)電位，在山谷形成正電位。地震勘探一、填空題 1. 用于石油和天然氣勘探的物探方法,主要有_勘探,_勘探, _勘探和_勘探.其中是有效的物探方法是地震勘探.答: 地震; 重力; 電法; 磁法.2. 用_方法(如爆炸,敲擊等)產(chǎn)生振動,研究振動在_的傳播規(guī)律,進(jìn)一步查明_地質(zhì)構(gòu)造和有用礦藏的一種_方法,叫地震勘探.答: 人工; 地下; 地下; 物探.3. 地震勘探分_地震法、_地震法和_地震法三種.用于石油和天然氣勘探主要是_地震法,其它兩方法用的較少.答: 反射波; 折射波; 透射波; 反射波.4. 反射波地震勘探,首先用人工方法使_產(chǎn)生振動,振動在地下_形成地震波,地

24、震波遇到巖層_時(shí),會產(chǎn)生_成反射波.答: 地層; 傳播; 分界面; 反射.5. 物體在外力作用下發(fā)生了_,當(dāng)外力去掉以后,物體能立刻_層狀,這樣的特性稱為_.具有這種性能的物體叫_.答: 形變; 恢復(fù); 彈性; 彈性體.6. 當(dāng)采用炸藥震源激發(fā)地震波時(shí),在藥包附近爆炸產(chǎn)生的_熱氣球,爆炸前沿_,經(jīng)測定達(dá)幾十萬個(gè)大氣壓,大大超過巖石的_溫度,巖石遭到破壞,炸成空穴叫_空答: 高壓; 壓強(qiáng); 抗壓; 實(shí)際.7. 地震勘探中,爆藥在巖層中_,使巖層_發(fā)生振動振動通過巖層_出去形成_.答: 爆炸; 質(zhì)點(diǎn); 傳播; 地震波.8. 根據(jù)炮點(diǎn)_和地下反射點(diǎn)三者之間的關(guān)系,要_追蹤反射波,炮點(diǎn)和接收點(diǎn)之間需要

25、保持一定的_關(guān)系.這種系稱為_.答: 接收點(diǎn); 連續(xù); 相互位置; 觀測系統(tǒng).9. 根據(jù)炮點(diǎn)和接收點(diǎn)的相對位置,地震測線分為_和_兩大類.答: 縱測線; 非縱測線.二、選擇題（40道） 1. 用于石油和天然氣勘探最有效的物探方法是_勘探.A.地震; B.重力; C.電法; D.磁法.答: A.地震.2. 地震勘探最主要的是_地震法.A.折射波; B.透射波; C.反射波.答: C.反射波.3. 地震波在地層中傳播,遇到兩種地層的分界面時(shí),一部分能量返回原地層形成_.A.透射波; B.反射波; C.滑行波.答: B.反射波.4. 共反射點(diǎn)記錄反映的是地下界面上_.A.一個(gè)點(diǎn); B.許多點(diǎn).答:

26、A.一個(gè)點(diǎn).5. 在同一反射界面條件下,多次反射波比一次反射波_.A.傳播時(shí)間長; B.反射能量強(qiáng).答: A.傳播時(shí)間長.6. 面波的傳播速度比折射波的傳播速度_.A.低; B.高; C.相等.答: A.低.7. 接收點(diǎn)與炮點(diǎn)之間的距離叫_.A.道距; B.炮檢距; C.偏移距.答: B.炮檢距.8. 若地下界面有傾角,且地層傾向指向大樁號方向,就采用_進(jìn)行觀測.A.小號放炮; B.大號放炮; C.中間放炮.答: B.大號放炮.9. 若組合檢波器都采用串聯(lián),這時(shí)的到的記錄能量_,但是干擾背景_.A.強(qiáng),大; B.弱,小; C.強(qiáng),小; D.弱,大.答: A.強(qiáng),大.10. 對共反射點(diǎn)道集記錄,

27、經(jīng)過動校正后,各道反射波的傳播時(shí)間,都校正成_反射時(shí)間.A.垂直; B.標(biāo)準(zhǔn).答: A.垂直.11. 水平迭加能使多波受到壓制,反射波得到_.A.突出; B.增強(qiáng); C.壓制; D.變化不明顯.答: B.增強(qiáng).12. 波在_里傳播的距離,叫波長.A.一定時(shí)間; B.一個(gè)周期; C.一種介質(zhì).答: B.一個(gè)周期.13. 射線和波前的關(guān)系是_.A.相互平行; B.相互斜交; C.相互垂直; D.無關(guān)聯(lián).答: C.相互垂直.14. 費(fèi)瑪原理為地震波沿射線傳播的時(shí)間與沿其它任何路程傳播的時(shí)間比較_.A.為最小; A.為最大; C.不一定; D.都相同.答: A.為最小.15. 在反射定律中, 入射角_

28、反射角.A.大于; B.等于; C.小于; D.無關(guān)系.答: B.等于.16. 當(dāng)入射角增大到i,透射角增加到90°時(shí)， 這時(shí)的透射波叫_.A.面波; B.多次波; C.折射波; D.滑行波.答: D.滑行波.17. 地震波沿測線傳播的速度,稱為_.A.真速度; B.視速度.答: B.視速度18. 直達(dá)波就是從震源_到達(dá)檢波器的波.A.反射; B.折射; C.滑行; D.直接.答: D.直接.19. 共炮點(diǎn)反射波時(shí)距曲線反映的是反射界面上的_.A.一點(diǎn); B.一段.答: B.一段.20. 在炮點(diǎn)附近,觀測不到_.A.直達(dá)波; B.折射波; C.反射波.答: B.折射波.21. 炮點(diǎn)與

29、_之間需要保持一定的相互位置關(guān)系,這種關(guān)系稱為觀測系統(tǒng).A.炮點(diǎn); B.接收點(diǎn).答: B.接收點(diǎn).二、選擇題1. 連續(xù)介質(zhì)地震波射線為(1)直線 (2)曲射線 (3)雙曲線 (4)拋物線答: (2)2. 動校正是為了壓制(1)面波 (2)折射波 (3)反射波 (4)多次波答: (4)3. 水平迭加能使(1)反射波能量增強(qiáng) (2)多次波能量增強(qiáng) (3)干擾波能量增強(qiáng) (4)面波能量增強(qiáng)答: (1)4. 費(fèi)馬原理認(rèn)為,地震波沿(1)最大路徑傳播 (2)最小路徑傳播 (3)二次拋物線路徑傳播 (3)雙曲線路徑傳播答: (2)5. 根據(jù)反射波和干擾波頻率上的差別采用( ).濾波的方法,壓制干擾波.突出

30、反射波.A:褶積. B:二維. C:頻率.答: C.6. 一個(gè)地震信號,用它的振幅值隨時(shí)間變化的關(guān)系表示出來這種表示叫做( )表示.A:波數(shù)域. B:頻率域. C:時(shí)間域:答: C.7. 地震記錄上首先接收到的是直達(dá)波和( )A:聲波. B:反射波. C:淺層折射波.答: C.8. 當(dāng)?shù)匦胃卟畋容^大時(shí),一般要作( )校正.A:井口. B:低降速帶. C:基準(zhǔn)面.答: C.9. 因?yàn)榈卣鸩ǖ哪芰坎町惡艽?一般淺層能量強(qiáng),深層能量弱,小炮檢距的振幅大,大炮檢距的( )振幅控制就是要把這種差別很大的振幅控制在某一范圍內(nèi).A:振幅小. B:振幅大.答: A.10. 當(dāng)?shù)叵陆缑嬗袃A角時(shí).水平選加存在著反

31、射層的( )問題.A:選加. B:偏移. C:干涉.答: B.11. 為了解決水平選加存在的問題,可進(jìn)行( )處理.A:偏移歸位. B:動校正. C:相干加強(qiáng).答: A.12. 在偏移歸位中如偏移速度小于地震波速度,這時(shí)歸位后,反射層深度變淺傾角變緩界面位置( ).A:向下傾方向位移. B:向上傾方向位置. C:不變.答: A.13. 層拉平后的振幅切片技術(shù)有助于對細(xì)微的( ),沉積環(huán)境進(jìn)行研并進(jìn)行砂體預(yù)測.A:沉積相. B:地震相. C:濱海相. D:前積相.答: B.14. 平界面反射波的t0時(shí)距曲線是一條( ).A:直線. B:雙曲線. C:任意曲線.答: A.15. 野外放炮記錄,一般

32、都是.( )A:共中心點(diǎn). B:共反射點(diǎn). C:共炮點(diǎn).答: C.16. 把記錄道按反射點(diǎn)進(jìn)行組合,就可得到( )道集記錄.A:共中心點(diǎn). B:共炮點(diǎn). C:共反射點(diǎn).答: C.17. 共反射點(diǎn)道集記錄,把每一道反射波的傳播時(shí)間減去它的正常時(shí)差這就叫做.( )A:動校正. B:靜校正. C:相位校正.答: A.18. 所謂多次復(fù)蓋,就是對地下每一個(gè)共反射點(diǎn)都要進(jìn)行( )觀測.A:一次. B:四次. C:多次.答: C.19. 如果在同一點(diǎn)放炮和接收,就會得到地下反射界面的( )反射波.A:垂直. B;鉛直. C:斷面. D:多次.答: A.20. 質(zhì)點(diǎn)振動時(shí)偏離平衡位置的最大( ),叫做振動的

33、振幅.A:位移. B:時(shí)差. C:軌跡.答: A.21. 描述質(zhì)點(diǎn)位移與空間位置關(guān)系的圖形叫做( )A:振動. B:切片. C:波剖面.答: C.22. 波在介質(zhì)中傳播時(shí),如果在某一時(shí)刻把空間中所有剛剛開始振動的點(diǎn)連成曲面,這個(gè)曲面就稱為該時(shí)刻.( )A:基準(zhǔn)面. B:反射面. C:波前面. D:波尾面.答: C.23. 所謂射線就是地震波從一點(diǎn)到另一點(diǎn)的( ).A:直線距離. B:傳播路徑. C:傳播速度.答: C.24. 費(fèi)馬原理認(rèn)為波前面地震波沿射線傳抑的時(shí)間與沿其它任何路程傳播的時(shí)間比較為( )A:最大. B:最小. C:一樣.答: B.25. 迭加速度( )均方根速度.A:大于或等于

34、. B:小于. C:等于.答: A.26. 迭加速度轉(zhuǎn)化為均方根速必須進(jìn)行( ).A:動校正. B:靜校正. C:傾角校正.答: C.27. 平均速度把地層假設(shè)成為( )A:均勻介質(zhì). B:連續(xù)介質(zhì). C:水平介質(zhì).答: A.28. 由炮點(diǎn)傳播到地面再到界面再到檢波點(diǎn)這樣的波稱為( ).A:繞射波. B:層間多次波. C:虛反射波.答: C29. 回轉(zhuǎn)型反射波在水平迭加時(shí)間剖面上表現(xiàn)為(1)一段凹反射同相軸 (2)一個(gè)點(diǎn) (3)一段凸反射同相軸 (4)一段直反射同相軸答: (3)三、判斷題 （112道） 1. 地震波的速度是指地震波在巖層中的傳播速度,簡稱地震速度.( )答: 2. 地震波的傳

35、播速度僅與巖石的密度有關(guān).( )答: ×3. 在其它條件相同時(shí),變質(zhì)巖和火成巖的地震波速度小于沉積巖的地震波速度.( )答: ×4. 當(dāng)?shù)叵陆缑鎯A角較大時(shí),由速度譜求的平均速度為等效速度.( )答: ×5. 剖面是共反射點(diǎn)道集記錄,經(jīng)過數(shù)字處理后得到的.( )答: ×6. 水平迭加剖面實(shí)質(zhì)上就是反射時(shí)間剖面.( )答: ×7. 水平迭加剖面記錄的是反射界面的垂直反射時(shí)間.( )答: 8. 不同波的迭加叫做波的干涉,迭加部分叫做干涉帶.( )答: 9. 當(dāng)條件相同時(shí),反射波振幅越強(qiáng),反射波的振幅就越強(qiáng).( )答: ×10. 地震波的振幅

36、是由激發(fā)條件確定的.( )答: ×11. 在頻率域,用頻率響應(yīng)可以描述濾波器的特征.( )答: 12. 地震波在地層中傳播,遇到兩種地層的分界面時(shí),便會產(chǎn)生波的反射.( )答: 13. 反射界面傾角越大, 記錄點(diǎn)與反射點(diǎn)位置偏移越大.( )答: 14. 有波阻抗就會產(chǎn)生反射波.( )答: ×15. 反射波時(shí)距曲線為雙曲線,繞射波時(shí)距曲線也稱為雙曲線.( )答: 16. 折射波時(shí)距曲線為雙曲線.( )答: ×17. 水平迭加時(shí)間剖面上, 斷層的表現(xiàn)形式是"層斷波不斷".( )答: 18. 向斜在水平迭加時(shí)間剖面上一定表現(xiàn)為一向斜.( )答: &#

37、215;19. 一個(gè)反射界面的終斷點(diǎn)上, 將產(chǎn)生左、 右兩支相位相關(guān)180°的繞射波.( )答: 20. 水平迭加剖面與迭加偏移時(shí)間剖面一一對應(yīng).( )答: ×21. 靜校正是消除地層地形影響地震記錄的過程.( )答: ×22. 水平迭加時(shí)間剖面上,凸界面反射波的能量較弱,振幅變化不大.( )答: 23. 凸型反射界面反射波在水平迭加時(shí)間剖面上形態(tài)擴(kuò)大.( )答: 24. 野外放炮記錄,一般都是共中心點(diǎn)記錄.( )答: ×25. 把記錄道按反射點(diǎn)進(jìn)行組合,就可得到共反射點(diǎn)道集記錄.( )答: 26. 對共反射點(diǎn)道集記錄,把每一道反射波的傳播時(shí)間減去它的正

38、常時(shí)差就叫做靜校正.( )答: ×27. 共反射點(diǎn)道集記錄時(shí)間,經(jīng)過動校正后都校正成為垂直反射時(shí)間.( )答: 28. 反射波經(jīng)動校正后,記錄道之間沒有時(shí)差,迭加后反射波就會增強(qiáng).( )答: 29. 如果在O點(diǎn)放炮,在同一點(diǎn)接收,就會得到地下反射界面的鉛直反射波.( )答: ×30. 相關(guān)速度譜的靈敏度較高,迭加速度譜抗干擾能力較強(qiáng).( )答: 31. 費(fèi)與原理為波前面上的每一點(diǎn),都又叫看成是新的震源.這些小震源發(fā)出的子波前包絡(luò)面,就是新的波前面.( )答: ×32. 地震波沿測線傳播的速度,稱為視速度.( )答: 33. 波的到達(dá)時(shí)間和觀測點(diǎn)距離的關(guān)系曲線,叫做

39、時(shí)距曲線.( )答: 34. 直達(dá)波的時(shí)距曲線為對稱于時(shí)間軸的雙曲線.( )答: ×35. 水平迭加時(shí)間剖面上有構(gòu)造,對應(yīng)地質(zhì)剖面也有構(gòu)造.( )答: ×90. 對比時(shí)間剖面的三個(gè)標(biāo)志是反射波的振幅,波形、相位.( )答: 簡答題：1.地震勘探中的反射波和折射波是如何產(chǎn)生的？各具有什么特征？2.折射波法的應(yīng)用條件和常用觀測系統(tǒng)是什么？3.什么是多次覆蓋觀測系統(tǒng)？有什么優(yōu)越性？4.設(shè)置3次覆蓋、接收道數(shù)N=24、道間距X=5米、偏移距=1個(gè)道間距、單邊放炮的反射波多次覆蓋的觀測系統(tǒng)。求：（1）為達(dá)到滿覆蓋次數(shù)，炮間距應(yīng)為多少米？（2）排列長度和最大炮檢距各為多少米？（3）寫出共CDP點(diǎn)道集？(4)按比例畫出多次覆蓋的觀測系統(tǒng)圖。5.在O點(diǎn)激發(fā)，偏移距為200米，