光電導(dǎo)紅外探測(cè)器件

1、43440.25 1.595.233 10(1 2.08 )0.3275.233 10(1 2.08 )5.233 10 (1 2.08 )(73)EgxTxxEgTxdEgxdT 22(7 5)ppppgDEtxx 圖7-2 SPRITE探測(cè)器工作原理示意圖讀(712)dL E漂移長(zhǎng)度：2(7 14)LUEL 臨界電壓(7 11)pppgEtx 強(qiáng)電場(chǎng)作用下：SPRITE探測(cè)器工作原理示意圖讀 總體呈現(xiàn)出，當(dāng)總體呈現(xiàn)出，當(dāng)p前進(jìn)時(shí)，前進(jìn)時(shí)， n也跟著前進(jìn)，用這種也跟著前進(jìn)，用這種方法就可以實(shí)現(xiàn)方法就可以實(shí)現(xiàn)p分布的自動(dòng)掃描，這種效應(yīng)稱(chēng)為分布的自動(dòng)掃描，這種效應(yīng)稱(chēng)為“掃出效應(yīng)掃出效應(yīng)”(712

2、)dL E漂移長(zhǎng)度： 雙極運(yùn)動(dòng)漂移速度與材料的少數(shù)載流子遷移率和外置偏壓大小雙極運(yùn)動(dòng)漂移速度與材料的少數(shù)載流子遷移率和外置偏壓大小有關(guān)，如果偏壓足夠大，非平衡少子將全部或大部分掃出，若有關(guān)，如果偏壓足夠大，非平衡少子將全部或大部分掃出，若電場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)過(guò)小，非平衡少子漂移長(zhǎng)度小于器件長(zhǎng)度，則光生少電場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)過(guò)小，非平衡少子漂移長(zhǎng)度小于器件長(zhǎng)度，則光生少子將在體內(nèi)復(fù)合子將在體內(nèi)復(fù)合. L若大于樣品長(zhǎng)度，則在若大于樣品長(zhǎng)度，則在時(shí)間內(nèi)時(shí)間內(nèi)p將移出體外，反之，將只有將移出體外，反之，將只有部分部分p能移出體外，在能移出體外，在SPRITE探測(cè)器中，探測(cè)器中，LL為全部掃出條為全部掃出條件，可推知此時(shí)件，可

3、推知此時(shí)SPRITE探測(cè)器兩端所加電壓為探測(cè)器兩端所加電壓為為臨界掃出電壓。為臨界掃出電壓。 LL E （712） 由于掃出效應(yīng)的存在由于掃出效應(yīng)的存在,當(dāng)光照射樣品時(shí)當(dāng)光照射樣品時(shí),光信號(hào)會(huì)自動(dòng)轉(zhuǎn)移出去，光信號(hào)會(huì)自動(dòng)轉(zhuǎn)移出去，從而可以實(shí)現(xiàn)光信號(hào)的積累和延遲疊加。從而可以實(shí)現(xiàn)光信號(hào)的積累和延遲疊加。實(shí)現(xiàn)實(shí)現(xiàn)SPRITE探測(cè)器信探測(cè)器信號(hào)積累和延遲的必要條件號(hào)積累和延遲的必要條件紅外圖像掃描速度等于非平衡載流紅外圖像掃描速度等于非平衡載流子的雙極運(yùn)動(dòng)漂移速度子的雙極運(yùn)動(dòng)漂移速度。 Vs=Vd (7-16) SPRITE探測(cè)器的實(shí)際結(jié)構(gòu)EQEpdxpdpp11ppppppppxdxEEpxdxEEpgpeAedxEeAgeB00,1pppxxEppABgpge v(1)(1)(1)727dtxpr EeRepwdh響 應(yīng) 率1xL1/ptLEpgepgetLE當(dāng) 掃 描 像 元 到 達(dá) 讀 出 區(qū) 時(shí) ， 即， 得0(1)1,722dtnpppuIwjdzeb EwdQeu光電流：其中b=(1)172