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1、工程能力分析工程能力分析Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0MeasureMeasureDefineDefineAnalyzeAnalyzeImproveImproveControControl l方法論方法論q Measure Measure 概要概要 q Project Y Project Y q 基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)q 測(cè)定測(cè)定System System 分析分析q Six Sigma Six Sigma 測(cè)度測(cè)度q 工程能力分析工程能力分析q Process MapProcess Map & & 特性要因圖特性要因圖 q FDM
2、 FDMMeasure-工程能力分析- 2Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0工程能力分析工程能力分析1.1. 理解工程能力指數(shù)理解工程能力指數(shù)-Cp, Cp, CpkCpk-Pp, Pp, PpkPpk 2.2. 理解利用理解利用MinitabMinitab的工程能力分析方法的工程能力分析方法3.3. 理解利用工程能力分析結(jié)果的理解利用工程能力分析結(jié)果的 水準(zhǔn)計(jì)算方法水準(zhǔn)計(jì)算方法Measure-工程能力分析- 3Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0q 能生產(chǎn)均一品質(zhì)制品
3、的工程固有能力。什么叫工程能力?什么叫工程能力?l 工程被管理時(shí),表示工程中生產(chǎn)的制品品質(zhì)變動(dòng)是什么程度的量。 q 一切品質(zhì)特性都具有它的目標(biāo)值(Target Value), 品質(zhì)是與目標(biāo)值的偏差越小越優(yōu)秀。Measure-工程能力分析- 4Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0長(zhǎng)期長(zhǎng)期/ /短期工程能力短期工程能力NominalLSLUSLTime 1Time 2Time 3Time 4(Xij- Xj)2Si = 1nSj= 1g nXj-X2Sj= 1g() (Xij- X)2Si = 1nSj= 1g=SSW=SSBSST=q
4、 長(zhǎng)期工程能力對(duì)比短期工程能力Measure-工程能力分析- 5Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0工程能力指數(shù)工程能力指數(shù)- 短期工程能力指數(shù)用 CP, CPK 來(lái)表示,長(zhǎng)期工程能力指數(shù)用 PP, PPK來(lái)表示。 - 在這里C CP P 或或 P PP P 是工程平均與規(guī)格中心一致時(shí)的工程能力指數(shù), C CPKPK 或 P PPKPK 是工程平均與規(guī)格中心不一致時(shí)的工程能力指數(shù)。是工程平均與規(guī)格中心不一致時(shí)的工程能力指數(shù)。 q 工程能力指數(shù)(Process Capability Index)?l 在Minitab l 工程能力指數(shù)
5、是工程能生產(chǎn)多么均勻品質(zhì)產(chǎn)品的能力, 即,評(píng)價(jià)工程能力的測(cè)度。 Measure-工程能力分析- 6Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0q 短期工程能力指數(shù) l 工程平均和規(guī)格中心一致時(shí)stpLSLUSLC6 ) , ( puplPKCCMinCl 工程平均和規(guī)格中心不一致時(shí)l st 表示短期標(biāo)準(zhǔn)偏差,在Minitab中以StDev(Within) 推定。工程能力指數(shù)工程能力指數(shù),3stpuUSLCstplLSLC3,Measure-工程能力分析- 7Proprietary to Samsung Electronics Company
6、Rev 2.0q 長(zhǎng)期工程能力指數(shù) l 工程平均和規(guī)格中心一致時(shí)l 工程平均和規(guī)格中心不一致時(shí)l lt 表示長(zhǎng)期標(biāo)準(zhǔn)偏差,在Minitab中以 StDev(Overall) 推定。ltpLSLUSLP6) , (puplPKPPMinP工程能力指數(shù)工程能力指數(shù),3ltpuUSLPltplLSLP3Measure-工程能力分析- 8Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0合理的部分群合理的部分群 ( (Rational Subgroup)Rational Subgroup)合理的部分群意味著根據(jù)部分群構(gòu)成原則而構(gòu)成的部分群,形成合理的部分
7、群因此能準(zhǔn)確地確認(rèn)工程的固有能力。765432102 32 22 12 01918171615141312111098765432103 .52 .51.5H o u rOutputDem onstation of Rational SubgroupsShift is the Grouping Variable總變動(dòng)總變動(dòng)群間變動(dòng)總合群間變動(dòng)總合群內(nèi)變動(dòng)總合群內(nèi)變動(dòng)總合文件名: Capability_Subgroup.mtw部分群組成原則 l 部分群內(nèi)變動(dòng) (Variation within Groups)為小l 部分群間變動(dòng) (Variation between Groups)為大Measu
8、re-工程能力分析- 9Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0102030405091011Index充電充電量量顯示部分群內(nèi)的變顯示部分群內(nèi)的變動(dòng)小,部分群之間動(dòng)小,部分群之間變動(dòng)比較大。變動(dòng)比較大。 分析點(diǎn)的排列分析點(diǎn)的排列PerformPerform,容易找出工程改善的容易找出工程改善的問(wèn)題。問(wèn)題。 q 已形成合理的部分群時(shí)已形成合理的部分群時(shí)合理的部分群合理的部分群 ( (Rational Subgroup)Rational Subgroup)Measure-工程能力分析- 10Proprietary to Samsung E
9、lectronics CompanyRev 2.0合理的部分群合理的部分群 ( (Rational Subgroup)Rational Subgroup)10203040508.59.510.511.5Index部分群內(nèi)的變動(dòng)大,部分群內(nèi)的變動(dòng)大, 部分群之間的差部分群之間的差不太明顯。不太明顯。 不易找出工程不易找出工程改善問(wèn)題。改善問(wèn)題。 q 如果沒形成合理的部分群如果沒形成合理的部分群.充電充電量量Measure-工程能力分析- 11Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0利用利用Minitab的工程能力分析的工程能力分析Capa
10、bility Analysis(Normal)Capability Analysis(Between/Within)Capability Analysis(Weibull)Capability Sixpack(Normal)Capability Sixpack(Between/Within)Capability Sixpack(Weibull)計(jì)計(jì)量量值值數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)計(jì)計(jì)數(shù)數(shù)值值數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)Capability Analysis(Binomial)Capability Analysis(Poisson)Measure-工程能力分析- 12Proprietary to Samsung Electroni
11、cs CompanyRev 2.0對(duì)正態(tài)分布數(shù)據(jù)的工程能力分析對(duì)正態(tài)分布數(shù)據(jù)的工程能力分析例題例題 1為了工程能力分析,20天各選 5個(gè)核心部品特性值的長(zhǎng)度(mm)的測(cè)定DATA如下。 通過(guò)正態(tài)性檢定(Normality Test)確認(rèn)DATA是正態(tài)分布,核心部品的規(guī)格是按顧客要求600mm 2mm . 通過(guò)以下DATA做工程能力分析。 598.0599.8600.0599.8600.0600.0598.8598.2599.4599.6599.4599.4600.0598.8599.2599.4599.6599.0599.2600.6598.8598.8599.8599.2599.4600.0
12、600.2600.2599.6599.0599.0599.8600.8598.8598.2600.0599.2599.8601.2600.4600.2599.6599.6599.6600.2599.2599.0599.6600.4600.0599.0599.6599.4599.2597.8600.4599.6600.0600.8600.4599.4599.0598.4599.0599.6598.8599.2599.6598.6599.8599.6599.2599.6600.2599.8599.6600.0599.6599.2598.6599.6601.2599.6600.2600.0600.0
13、599.4599.8599.2599.6599.4600.0600.0599.2599.4599.6599.8599.0599.6599.41 2 3 4 5 6 7 8 9 1011 12 13 14 15 16 17 18 19 20qqCapability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 13Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0(Process Capability.mtw)Work sheet 里里DATA輸入輸入Step 1Capability Analysis(Normal)Capabil
14、ity Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 14Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0Stat Quality Tools Capability Analysis (Normal)Step 2輸入規(guī)格的上限和下限輸入規(guī)格的上限和下限Boundary是是DATA不能測(cè)定不能測(cè)定規(guī)格外時(shí)規(guī)格外時(shí) Check 選擇變量列選擇變量列部分群的大小部分群的大小或列輸入或列輸入Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 15P
15、roprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0非正態(tài)非正態(tài)DATA時(shí),為了時(shí),為了 Box-Cox 變換而選擇變換而選擇輸入規(guī)格輸入規(guī)格中心值時(shí)中心值時(shí)用用Cp, Pp 或或 Z值值來(lái)決定要輸出的來(lái)決定要輸出的 決定用決定用ppm 或或 %輸出輸出Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 16Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0Step 3 確認(rèn)結(jié)果確認(rèn)結(jié)果 規(guī)格上限 Target 規(guī)格
16、下限 平均 樣品數(shù) 短期標(biāo)準(zhǔn)偏差 長(zhǎng)期標(biāo)準(zhǔn)偏差潛在的 執(zhí)行曲線實(shí)際的 正態(tài)曲線 潛在的工程 能力指數(shù) Cp 考慮傾斜的 潛在工程能力 指數(shù) CpkCapability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 17Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0 實(shí)際性工程能力 指數(shù) Pp 考慮傾斜的 實(shí)際性工程能力 指數(shù) PpkCapability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 1
17、8Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 19Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 20Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0因工程平均以規(guī)格
18、中心為基準(zhǔn)往 LSL方向傾斜,所以需要與工程變動(dòng)的減少一起 能與規(guī)格中心一致的工程平均的移動(dòng)。Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 21Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0)(1: : 良品的比率,: : 工程不良率1)(1是標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)的逆函數(shù),利用Minitab 可以求。 還記得在基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)的概率分布中求逆累計(jì)概率值的方法吧?ZrCapability Analysis(Normal)Capability Analysis(No
19、rmal)Measure-工程能力分析- 22Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0 從例題從例題1 1的的 Session Session 結(jié)果中確認(rèn)結(jié)果中確認(rèn) ppmppm Total Total后,通過(guò)后,通過(guò)MinitabMinitab算出算出Z Z值。值。Step1Step1 良品率良品率( ( r r ) )計(jì)算計(jì)算在例題 1的結(jié)果中 “Overall” ppm Total為 6367.35,按不良率 換算是 0.00636735 ,良品率如下。Step2Step2 Calc Probability Distributio
20、n NormalCalc Probability Distribution Normal選擇逆累計(jì)概率選擇逆累計(jì)概率因?yàn)槭菢?biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù),因?yàn)槭菢?biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù),所以輸入平均所以輸入平均0, 0, 標(biāo)準(zhǔn)偏差標(biāo)準(zhǔn)偏差1 1輸入常數(shù)輸入常數(shù)Capability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)Measure-工程能力分析- 23Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0Step3Step3 確認(rèn)結(jié)果確認(rèn)結(jié)果 通過(guò)以上結(jié)果,能確認(rèn) Z值是 2.4911. )(14911.2)993632.
21、0(1Z=2.49119936. 0rCapability Analysis(Normal)Capability Analysis(Normal)l能知道這工程的能知道這工程的 水準(zhǔn)是水準(zhǔn)是 Z ZLTLT = 2.4911 = 2.4911 Z ZSTST = 2.4911 + 1.5 = 3.9911 = 2.4911 + 1.5 = 3.9911 程度。程度。Measure-工程能力分析- 24Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0Capability Analysis(Binomial) Capability Analysis
22、(Binomial) 下列數(shù)據(jù)表示某二次電池生產(chǎn)業(yè)體焊接后因Leakage所發(fā)生的不良品數(shù), 并計(jì)算了工程能力。樣品大小是20. 120110119391185831717216162152541454213333122211131不良品數(shù)不良品數(shù)部分群部分群不良品數(shù)不良品數(shù)部分群部分群q 對(duì)二項(xiàng)分布對(duì)二項(xiàng)分布DATA的工程能力分析的工程能力分析例題例題 2 2Measure-工程能力分析- 25Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0工程能力分析 Stat Quality Tools Capability Analysis(BStat
23、 Quality Tools Capability Analysis(Binomialinomial) ) 選擇選擇 樣品大小同樣時(shí)樣品大小同樣時(shí)樣品大小不同時(shí)樣品大小不同時(shí),選擇,選擇 輸入樣品大小的列輸入樣品大小的列指定目標(biāo)不良率指定目標(biāo)不良率知道母集團(tuán)的不知道母集團(tuán)的不良率時(shí)良率時(shí),輸入,輸入其值。其值。Capability Analysis(Binomial) Capability Analysis(Binomial) Step 1click( (Capability_binomial.mtwCapability_binomial.mtw) )Measure-工程能力分析- 26Pro
24、prietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0Capability Analysis(Binomial) Capability Analysis(Binomial) l 在在PchartPchart中沒有脫離管理界線的點(diǎn),所中沒有脫離管理界線的點(diǎn),所 有點(diǎn)都在管理界限內(nèi)任意地分布,因此有點(diǎn)都在管理界限內(nèi)任意地分布,因此 工程處于穩(wěn)定狀態(tài)。工程處于穩(wěn)定狀態(tài)。l 累積不良率累積不良率CHARTCHART( (Cumulative%Defective)Cumulative%Defective)是 確認(rèn)數(shù)據(jù)是否具備對(duì)不良率提供穩(wěn)定推定值, 在圖中樣品10開
25、始累積不良率沒有大的變動(dòng) 而連接,并越來(lái)越接近于平均,因此可以 判斷對(duì)不良率的推定確保了充分的數(shù)據(jù)。l 這工程的不良率是115,000ppm(DPMO).l 可以知道此工程的Sigma水準(zhǔn)為 115,000 115,000 DPMODPMO相應(yīng)的相應(yīng)的 Z ZLT LT = 1.2 = 1.2 Z ZST ST = 1.2 + 1.5 = 2.7= 1.2 + 1.5 = 2.7結(jié)果解釋Step 2Measure-工程能力分析- 27Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0q 對(duì)二項(xiàng)分布DATA的工程能力分析q 通通Capability
26、 Analysis(Poisson) Capability Analysis(Poisson) 下面數(shù)據(jù)是某PVC地面材料的每單位面積表面所發(fā)生的氣泡不良率,按照 抽樣順序表示,計(jì)算了工程能力。 120310419293181851737416464151561414213234124201151氣泡不良數(shù)氣泡不良數(shù)樣品樣品氣泡不良數(shù)氣泡不良數(shù)樣品樣品例題例題 3 3Measure-工程能力分析- 28Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0 選擇選擇Stat Quality Tools Capability Analysis(PoSt
27、at Quality Tools Capability Analysis(Poissonisson) ) 樣品大小樣品大小 相同時(shí)相同時(shí)樣品大小不同時(shí)樣品大小不同時(shí), 選擇輸入樣品大小選擇輸入樣品大小的列的列。指定對(duì)每單位指定對(duì)每單位缺陷數(shù)的目標(biāo)值缺陷數(shù)的目標(biāo)值知道對(duì)母集團(tuán)缺陷數(shù)知道對(duì)母集團(tuán)缺陷數(shù)平均時(shí)平均時(shí),輸入其值。,輸入其值。Capability Analysis(Poisson) Capability Analysis(Poisson) Step 1工程能力分析工程能力分析(Capability_ (Capability_ Poisson.mtwPoisson.mtw) )Measure-工程能力分析- 29Proprietary to Samsung Electronics CompanyRev 2.0l 在U Chart中沒有脫離管理界線的點(diǎn),并所有 的點(diǎn)任意地分布,因此工程處于穩(wěn)定狀態(tài)。l 在累積計(jì)DPU CHART(Cumulative DPU)中可以 確認(rèn)DATA是否具備對(duì)DPU提供穩(wěn)定推定值。 因?yàn)闃悠?8開始累積DPU沒有大的變動(dòng)接近于 平均,所以根據(jù)這些DA
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