高電壓技術(shù)：5-2絕緣電阻、吸收比、泄漏電流的測(cè)量

1、第二節(jié) 絕緣電阻、吸收比、泄漏電流的測(cè)量絕緣電阻 最基本的綜合性特性參數(shù)。 組合絕緣和層式結(jié)構(gòu)，在直流電壓下均有明顯得吸收現(xiàn)象，使外電路中有一個(gè)隨時(shí)間而衰減的吸收電流。 吸收比 檢驗(yàn)絕緣是否嚴(yán)重受潮或存在局部缺陷。泄漏電流 所加直流電壓高得多。一、雙層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象 為了分析方便，改用電阻R1和R2代替上圖中的電導(dǎo)G1和G2。（R11/G1, R2=1/G2)討論因吸收現(xiàn)象而出現(xiàn)的過(guò)渡過(guò)程 開(kāi)關(guān)S合閘作為時(shí)間 的起點(diǎn)，在 的極短時(shí)間內(nèi)，層間電壓按下式分布達(dá)到穩(wěn)態(tài)時(shí)（ ），層間電壓按電阻分配 二、絕緣電阻和吸收比的測(cè)量 絕緣電阻的表達(dá)式 測(cè)量絕緣電阻時(shí)，其值是不斷變化的；t無(wú)窮時(shí)刻，等于兩層介質(zhì)

2、絕緣電阻的串聯(lián)值。通常所說(shuō)的絕緣電阻均指吸收電流衰減完畢后的穩(wěn)態(tài)電阻值。受潮時(shí)，絕緣電阻顯著降低， 顯著增大， 迅速衰減。因此，能揭示絕緣整體受潮、局部嚴(yán)重受潮、存在貫穿性缺陷等情況。但有局限性。受潮時(shí)，絕緣電阻顯著降低， 顯著增大， 迅速衰減。因此，能揭示絕緣整體受潮、局部嚴(yán)重受潮、存在貫穿性缺陷等情況。但有局限性。吸收比是同一試品在兩個(gè)不同時(shí)刻的絕緣電阻的比值，所以排除了絕緣結(jié)構(gòu)和體積尺寸的影響。一般以 作為設(shè)備絕緣狀態(tài)良好的標(biāo)準(zhǔn)亦不盡合適，有些變壓器的 雖大于1.3，但R值卻很低；有些 ，但 R值卻很高。所以應(yīng)將R值和 值結(jié)合起來(lái)考慮，方能作出比較準(zhǔn)確的判斷。大容量電氣設(shè)備中，吸收現(xiàn)象延

3、續(xù)很長(zhǎng)時(shí)間，吸收比不能很好地反映絕緣的真實(shí)狀態(tài)，用極化指數(shù)再判斷。極化指數(shù) (4-13)某些集中性缺陷已相當(dāng)嚴(yán)重，以致在耐壓試驗(yàn)時(shí)被擊穿，但在此前測(cè)得的絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)卻并不低，因?yàn)槿毕菸簇灤┙^緣?？梢?jiàn)僅憑上述試驗(yàn)結(jié)果判斷絕緣狀態(tài)是不夠的。 測(cè)量絕緣電阻最常用的儀表為手搖式兆歐表圖4-1是利用手搖式兆歐表測(cè)量三芯電力電纜絕緣電阻的接線圖，也表示了它的測(cè)量原理。兆歐表有三個(gè)接線端子：線路端子（L）、接地端子（E）和保護(hù)（屏蔽）端子（G）。 被試絕緣接在端子L和E之間，而保護(hù)端子G的作用是使絕緣表面泄漏電流不要流過(guò)線圈LA測(cè)得的絕緣體積電阻不受絕緣表面狀態(tài)的影響。三、泄漏電流的測(cè)量反映絕

4、緣電阻值，但有一些特點(diǎn)：加在試品上的直流電壓比兆歐表的工作電壓高得多。 故能發(fā)現(xiàn)兆歐表所不能發(fā)現(xiàn)的缺陷。 施加在試品上的直流電壓是逐漸增大的，這樣就可以在升壓過(guò)程中監(jiān)視泄漏電流的增長(zhǎng)動(dòng)向。 在電壓升到規(guī)定的試驗(yàn)電壓值后，要保持1min再讀出最后的泄漏電流值。當(dāng)絕緣良好時(shí)，泄漏電流應(yīng)保持穩(wěn)定，且其值很小。圖42是發(fā)電機(jī)的幾種不同的泄漏電流變化曲線。 泄漏電流試驗(yàn)接線圖如圖4-3所示 其中V為高壓整流元件，C為穩(wěn)壓電容，PV2為高壓靜電電壓表，TO為被試品。注意 ：測(cè)量泄漏電流用的微安表需用并聯(lián)放電管V進(jìn)行保護(hù)。當(dāng)流過(guò)微安表的電流超過(guò)某一定值時(shí)，電阻R1上的壓降將引起V的放電而達(dá)到保護(hù)微安表的目的。 小 結(jié)絕緣電阻是一切電介質(zhì)和絕緣結(jié)構(gòu)的絕緣狀態(tài)最基本的綜合特性參數(shù)。 電氣設(shè)備中大多采用組合絕緣和層式結(jié)構(gòu)，故在直流電壓下均有明顯的吸收現(xiàn)象，測(cè)量吸收比可檢驗(yàn)絕緣是否嚴(yán)重受潮或存在局部缺陷。