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1、第二節(jié)_光程差薄膜干涉 在真空中光的波長為 ,光速為 C,進(jìn)入折射率為 n 的介質(zhì)中后,波長n , 光速為 v ,則有:處理方法:把光在介質(zhì)中的波長折合成它在真空中的波長作為測量距離的標(biāo)尺,并進(jìn)一步把光在介質(zhì)中傳播的距離折合成光在真空中傳播的距離。一、光程與光程差光源的頻率不變,光在傳播過程中頻率保持不變。而同一頻率的光在不同介質(zhì)中波長不相同。1.光程2光程:光在介質(zhì)中傳播的波程與介質(zhì)折射率的乘積。設(shè)光在折射率為 n 的介質(zhì)中傳播的幾何路程為 L,則有定義:意義:光在t時(shí)刻內(nèi)在真空中通過的路程nL就相當(dāng)于光在介質(zhì)中在相同的時(shí)間內(nèi)所通過的路程。在一條波線上,波在介質(zhì)中前進(jìn)L,位相改變?yōu)椋海ㄍ徊?/p>
2、線上兩點(diǎn)間的位相差)31 .光程差:兩束光的光程之差。如果光線穿過多種介質(zhì)時(shí),其光程為:r1n1r2n2rinirnnn可以證明:光通過相等的光程,所需時(shí)間相同,位相變化也相同。 設(shè)一束光經(jīng)歷光程1,另一束光經(jīng)歷光程2,則這兩束光的光程差為:2.光程差2.光程差與相位差的關(guān)系(設(shè)兩光同位相)則相位差為:4問:原來的零極條紋移至何處?若移至原來的第 k 級(jí)明條紋處,其厚度 h 為多少?例1:已知:S2 縫上覆蓋的介質(zhì)厚度為 h ,折射率為 n ,設(shè)入射光的波為 解:從S1和S2發(fā)出的相干光所對(duì)應(yīng)的光程差當(dāng)光程差為零時(shí),對(duì)應(yīng)零條紋的位置應(yīng)滿足:所以零級(jí)明條紋下移原來 k 級(jí)明條紋位置滿足:設(shè)有介質(zhì)
3、時(shí)零級(jí)明條紋移到原來第 k 級(jí)處,它必須同時(shí)滿足:5例2.在圖示的雙縫反射實(shí)驗(yàn)中,若用半圓筒形薄玻璃片(折射率 n1=1.4 )覆蓋縫 S1,用同樣厚度的玻璃片(折射率 n2=1.7)覆蓋縫 S2,將使屏上原來未放玻璃時(shí)的中央明條紋所在處O變?yōu)榈谖寮?jí)明紋。設(shè)單色光波長 =480.0nm,求玻璃片的厚度 d。解:覆蓋玻璃前覆蓋玻璃后則有6例3.如圖所示,用波長為 l 的單色光照射雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置,并將一折射率為 n、劈角為 a (a 很?。┑耐该髋?b 插入光線 2 中.設(shè)縫光源 S 和屏 c 上的 o 點(diǎn)都在雙縫 S1 和 S2 在中垂線上.問要使 o 點(diǎn)的光強(qiáng)由最亮變?yōu)樽畎?劈尖 b 至少
4、應(yīng)向上移動(dòng)多大距離 d ( 只遮住S2 ) ?解:設(shè) o 點(diǎn)最亮?xí)r,光線 2 在劈尖 b 中傳播距離為 l1 ,則由雙縫 S1 和 S2 分別到達(dá) o 點(diǎn)的光線的光程差滿足下式:(1)7(2) (1)得:由圖可求出:由(3)和(4)得:劈尖b應(yīng)向上移動(dòng)的最小距離為或(2)(3)(4)設(shè) o 點(diǎn)由此時(shí)第一次變?yōu)樽畎禃r(shí),光線 2 在劈尖 b 中傳播的距離為 l2 ,則由雙縫 S1 和 S2 分別到達(dá) o 點(diǎn)的兩光程差滿足下式8F 通過光軸的光線波程最短,但在透鏡中的光程長;遠(yuǎn)離光軸的光線波程長,但在透鏡中的光程短,總的來講,各條光線的光程都是相同的。F二、幾個(gè)概念 透鏡可以改變光線的傳播方向,但是
5、在光路中放入薄透鏡不會(huì)引起附加的光程差。波陣面波陣面1.薄透鏡不引起附加光程差9產(chǎn)生條件:當(dāng)光從折射率小的光疏介質(zhì),正入射或掠入射于折射率大的光密介質(zhì)時(shí),則反射光有半波損失。當(dāng)光從折射率大的光密介質(zhì),正入射于折射率小的光疏介質(zhì)時(shí),反射光沒有半波損失。折射光都無半波損失。半波損失:光從光疏介質(zhì)進(jìn)入光密介質(zhì),光反射后有了量值為 的位相突變,即在反射過程中損失了半個(gè)波長的現(xiàn)象。2.半波損失10 單色光以入射角 i 從折射率為 n1介質(zhì) 進(jìn)入折射率為n2 的介質(zhì),i三、薄膜干涉diri 在薄膜的上下兩表面產(chǎn)生的反射光 光、 光,滿足相干光的 5 個(gè)條件,能產(chǎn)生干涉,經(jīng)透鏡匯聚,在焦平面上產(chǎn)生等傾干涉條
6、紋。從焦點(diǎn) P 到 CD 波面,兩條光的光程差為 0,則在未考慮半波損失時(shí) 光、 光的光程差為:11diirri由折射定律12考慮半波損失:i光程差不附加光程差附加未考慮半波損失時(shí)光程差干涉的加強(qiáng)減弱條件:加強(qiáng)減弱131.如果照射到薄膜上的是平行入射光,入射角一定,則不同的薄膜厚度就有不同的光程差,也就有不同的干涉條紋。這種一組干涉條紋的每一條對(duì)應(yīng)薄膜一厚度的干涉,稱為等厚干涉。2.如果光源是擴(kuò)展光源,每一點(diǎn)都可以發(fā)出一束近似平行的光線,以不同的入射角入射薄膜,在反射方向上放一透鏡,每一束平行光會(huì)在透鏡焦平面上會(huì)取聚一點(diǎn)。當(dāng)薄膜厚度一定時(shí),在透鏡焦平面上每一干涉條紋都與一入射角對(duì)應(yīng),稱這種干涉
7、為等傾干涉。用同樣的辦法可以推導(dǎo)透射光的光程差。討論:14 光學(xué)鏡頭為減少反射光,通常要鍍增透膜。四、薄膜干涉的應(yīng)用1.增透膜 在光學(xué)器件中,由于表面上的反射與透射,在器件表面要鍍膜,來改變反射與透射光的比例??捎性鐾改?,增反膜。例如:較高級(jí)的照相機(jī)的鏡頭由 6 個(gè)透鏡組成,如不采取有效措施,反射造成的光能損失可達(dá) 45%90%。為增強(qiáng)透光,要鍍增透膜,或減反膜。復(fù)雜的光學(xué)鏡頭采用增透膜可使光通量增加 10 倍。15 光學(xué)鏡頭為減少透光量,增加反射光,通常要鍍增反膜。使兩束反射光滿足干涉加強(qiáng)條件:2.增反膜由于反射光最小,透射光便最強(qiáng)。增反膜是使膜上下兩表面的反射光滿足干涉相長條件。增透膜是使
8、膜上下兩表面的反射光滿足減弱條件。16例4:為增強(qiáng)照相機(jī)鏡頭的透射光,往往在鏡頭(n3=1.52)上鍍一層 MgF2 薄膜(n2=1.38),使對(duì)人眼和感光底片最敏感的黃綠光 = 555 nm 反射最小,假設(shè)光垂直照射鏡頭,求:MgF2 薄膜的最小厚度。解:不考慮半波損失。k=1,膜最薄17 用單色平行光垂直照射玻璃劈尖。 由于單色光在劈尖上下兩個(gè)表面后形成 、 兩束反射光。滿足干涉5個(gè)條件,由薄膜干涉公式: 干涉條紋為平行于劈棱的一系列等厚干涉條紋。3.劈尖干涉18加強(qiáng)減弱1.劈棱處dk=0,光程差為劈棱處為暗紋2.第 k 級(jí)暗紋處劈尖厚度由193.相鄰暗紋劈尖厚度差4.相鄰條紋間距這個(gè)結(jié)論
9、對(duì)明紋也成立。這個(gè)結(jié)論對(duì)明紋、暗紋均成立。 劈尖干涉條紋是從棱邊暗紋起,一組明暗相間的等間隔直線條紋。20播放動(dòng)畫播放動(dòng)畫212).檢測待測平面的平整度 由于同一條紋下的空氣薄膜厚度相同,當(dāng)待測平面上出現(xiàn)溝槽時(shí)條紋向左彎曲。待測平面光學(xué)平板玻璃1).測量微小物體的厚度 將微小物體夾在兩薄玻璃片間,形成劈尖,用單色平行光照射。由有5.劈尖干涉的應(yīng)用22例5.在 Si 的平面上形成了一層厚度均勻的 SiO2 的薄膜,為了測量薄膜厚度,將它的一部分腐蝕成劈形(示意圖中的 AB 段)?,F(xiàn)用波長為 600.0nm 的平行光垂直照射,觀察反射光形成的等厚干涉條紋。在圖中 AB 段共有 8 條暗紋,且 B
10、處恰好是一條暗紋,求薄膜的厚度。( Si 折射率為 3.42, SiO2 折射率為 1.50 )。SiO2膜解:上下表面反射都有半波損失,計(jì)算光程差時(shí)不必考慮附加的半波長,設(shè)膜厚為 eB處暗紋B 處第 8 條暗紋對(duì)應(yīng)上式23 將一塊半徑很大的平凸鏡與一塊平板玻璃疊放在一起。五、牛頓環(huán)牛頓環(huán) 該干涉條紋是中心為一暗點(diǎn),明暗相間逐漸變密的一系列同心圓。 用單色平行光垂直照射,由平凸鏡下表面和平板玻璃上表面兩束反射光干涉,產(chǎn)生牛頓環(huán)干涉條紋。24設(shè)、 兩束反射光的光程差附加加強(qiáng)減弱項(xiàng)。中心 dk=0,為暗斑。1.與間的關(guān)系其它位置25加強(qiáng)減弱2.牛頓環(huán)半徑明環(huán)由暗環(huán)由263.牛頓環(huán)應(yīng)用測量未知單色平
11、行光的波長用讀數(shù)顯微鏡測量第 k 級(jí)和第 m 級(jí)暗環(huán)半徑 rk、rm由此可知:條紋不是等距分布。牛頓環(huán)中心為暗環(huán),級(jí)次最低。離開中心愈遠(yuǎn),光程差愈大,圓條紋間距愈小,即愈密。其透射光也有干涉,明暗條紋互補(bǔ)。27檢測光學(xué)鏡頭表面曲率是否合格 將玻璃驗(yàn)規(guī)蓋于待測鏡頭上,兩者間形成空氣薄層,因而在驗(yàn)規(guī)的凹表面上出現(xiàn)牛頓環(huán),當(dāng)某處光圈偏離圓形時(shí),則該處有不規(guī)則起伏。驗(yàn)規(guī)28例6.如圖所示,牛頓環(huán)裝置的平凸透鏡與平板玻璃有一小縫隙 e0,現(xiàn)用波長為 l 的單色光垂直照射,已知平凸透鏡的曲率半徑為 R,求反射光形成的牛頓環(huán)的各暗環(huán)半徑。解:設(shè)某暗環(huán)半徑為 r,由圖可知,根據(jù)幾何關(guān)系,近似有再根據(jù)干涉減弱條
12、件有(1)(2)式中 k 為大于零的整數(shù).把式(1)代入式(2)可得(k為整數(shù),且29例7.在牛頓環(huán)裝置中,透鏡與玻璃平板間充以液體時(shí),第 10 個(gè)暗環(huán)的直徑由 1.40cm 變?yōu)?1.27cm,求該液體的折射率。解:由暗環(huán)公式空氣中:介質(zhì)中:(1)(2)由(1)、(2)式得:可求得:30例8.利用牛頓環(huán)的條紋可以測定平凹球面的曲率半徑,方法是將已知半徑的平凸透鏡的凸球面放置在待測的凹球面上,在兩球面間形成空氣薄層,如圖所示。用波長為 的平行單色光垂直照射,觀察反射光形成的干涉條紋,試證明若中心 O 點(diǎn)處剛好接觸,則第 k 個(gè)暗環(huán)的半徑rk與凹球面半徑 R2,凸面半徑 R1(R1R2)及入射光
13、波長 的關(guān)系為:解:如圖所示,第 k 個(gè)暗環(huán)處空氣薄膜的厚度為 e31第k個(gè)暗環(huán)的條件為:即由幾何關(guān)系可得近似關(guān)系:32半透半反膜補(bǔ)償板G1和G2是兩塊材料相同厚薄均勻、幾何形狀完全相同的玻璃板。1、邁克耳遜干涉儀的結(jié)構(gòu)及原理2、干涉條紋一束光在A處分振幅形成的兩束光和的光程差,就相當(dāng)于由M1和M2形成的空氣膜上下兩個(gè)面反射光的光程差。它們干涉的結(jié)果是薄膜干涉條紋。調(diào)節(jié)M1就有可能得到 d=0,d=常數(shù),d常數(shù)(如劈尖)對(duì)應(yīng)的薄膜等傾或等厚干涉條紋。六、邁克耳遜干涉儀33 當(dāng) M2 M1 時(shí), M2 / M1 ,所觀察到的是等傾干涉條紋,即相同傾角下光程差相同。播放動(dòng)畫M2 、M1之間距離變大時(shí),圓形干涉條紋向外擴(kuò)張, 干涉條紋變密。當(dāng) 每減少 時(shí),中央條紋對(duì)應(yīng)的 值就要減少1,原來位于中央的條紋消失,將看到同心等傾圓條紋向中心縮陷。當(dāng) 每平移 時(shí),將看到一個(gè)明(或暗)條紋移過視場中某一固定直線,條紋移動(dòng)的數(shù)目m 與M1 鏡平移的距離關(guān)系為:當(dāng) 、 不平行時(shí),將看到平行于 和 交線的等間距的直線形等厚干涉條紋。34等厚干涉條紋等傾干涉條紋與重 合35例9: 邁克耳
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