干涉儀基本內(nèi)容定義工程機械儀器儀表光譜學

1、干涉儀基本內(nèi)容定義工程機械儀器儀表光譜學-干涉儀知識大全基本內(nèi)容interferometer利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩 束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而 某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的 變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的 微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量 光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波 長（10-7米），所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其 測量精度之高是任何其他測量方法所無法比擬的。根據(jù)光的干涉原理制成的一種儀器。將

2、來自一個光源的兩個光束 完全分并，各自經(jīng)過不同的光程，然后再經(jīng)過合并，可顯出干涉條紋。 在光譜學中，應用精確的邁克爾遜干涉儀或法布里-珀羅干涉儀，可 以準確而詳細地測定譜線的波長及其精細結(jié)構(gòu)。干涉儀分雙光束干涉儀和多光束干涉儀兩大類，前者有瑞利干涉 儀、邁克耳孫干涉儀及其變型泰曼干涉儀、馬赫秦特干涉儀等，后 者有法布里-珀羅干涉儀等。干涉儀的應用極為廣泛，主要有如下幾 方面：長度的精密測量。在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保 持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造 成，根據(jù)條紋的移動數(shù)可進行長度的精確比較或絕對測量。邁克耳孫 干涉儀和法布里-珀羅干涉儀曾被用來以鎘紅譜

3、線的波長表示國際米。折射率的測定。兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化 也可導致光程差的改變，從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條 紋移動來對折射率進行相對測量的典型干涉儀。應用于風洞的馬赫- 秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進行實時觀察。波長的測量。任何一個以波長為單位測量標準米尺的方法也就 是以標準米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標準，利用干涉 儀可精確測定光波波長。法布里-珀羅干涉儀（標準具）曾被用來確 定波長的初級標準（鎘紅譜線波長）和幾個次級波長標準，從而通過 比較法確定其他光譜線的波長。檢驗光學元件的質(zhì)量。泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡 和透鏡等光學元件的質(zhì)量。在

4、泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的 平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反 映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡 造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。用作高分辨率光譜儀。法布里-珀羅干涉儀等多光束干涉儀具 有很尖銳的干涉極大，因而有極高的光譜分辨率，常用作光譜的精細 結(jié)構(gòu)和超精細結(jié)構(gòu)分析。歷史上的作用。19世紀的波動論者認為光波或電磁波必須在 彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太。人們做了一 系列實驗來驗證以太的存在并探求其屬性。以干涉原理為基礎的實驗 最為精確，其中最有名的是菲佐實驗和邁克耳孫-莫雷實驗。1851年，A.H.L .菲佐用特別設計的干涉儀做了關于運動介質(zhì)中的光速的實驗，以驗明運動介質(zhì)是否曳引以太。1887年，A.A.邁克