三次元測量儀誤差或示值誤差的術(shù)語

1、三次元測量儀誤差或示值誤差的術(shù)語關(guān)鍵字：三次元測量儀,量測儀,術(shù)語,探測誤差坐標(biāo)測量機(jī)尺寸測量的示值誤差（E）errorofindicationofaCMMforsizemeasurement用坐標(biāo)測量機(jī)從相反兩方向接近探測點，測定尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器的兩標(biāo)稱平行平面間的法向（與一個面正交的）兩相對點距離的示值誤差注：對實物標(biāo)準(zhǔn)的測量是通過兩相對表面上（與一個面正交的）兩相對點進(jìn)行當(dāng)從相反兩方向接近該兩點時，見圖1測量方向a）和b）.圖1測量方向坐標(biāo)測量機(jī)尺寸測量的最大允許示值誤差maximumpermissibleerrorofindicationofaCMMforsizemeasurement由

2、坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的坐標(biāo)測量機(jī)尺寸測量的示值誤差E的極限值注1:坐標(biāo)測量機(jī)尺寸測量的最大允許示值誤差（MPEe）以下列三個表達(dá)式的任一式表示：a）MPEE-士（A+L/K）和MPEe-士B的較小值（見圖2）b）MPEE-（A+L/K）（見圖3）c）MPEe-士B（見圖4）式中：A正常數(shù),pm,由坐標(biāo)測量機(jī)制造商提供.K無量綱常數(shù)，由坐標(biāo)測量機(jī)制造商提供.L被測長度,mm.B最大允許誤差MPEE,pm由坐標(biāo)測量機(jī)制造商提供.注2:上列表達(dá)式適用于將尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器放在坐標(biāo)測量機(jī)測量空間的任何位置和方向的測量.圖2坐標(biāo)測量機(jī)尺寸測量的最大允許示值誤差MPEe圖3坐標(biāo)測量機(jī)尺寸測量的最大允

3、許示值誤差MPEe圖4坐標(biāo)測量機(jī)尺寸測量的最大允許示值誤差MPEe探測誤差（P）probingerror用坐標(biāo)測量機(jī)測定球形尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器的半徑范圍在檢測球上用單個探針以離散點探測方式進(jìn)行測量見圖5.注:P是一個正值注：P=MPEp最大允許探測誤差（MPEJmaximumpermissibleprobingerror由坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的探測誤差P的極限值，見圖5.注1:坐標(biāo)測量機(jī)的最大允許探測誤差MPEp表達(dá)為：MPEp=A式中:A是正常數(shù),pm.注2:MPEp值適用于球形尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器在坐標(biāo)測量機(jī)測量空間內(nèi)的任一位置和任一探測方向徑向四軸誤差（FR）radialfour-axi

4、serror用轉(zhuǎn)臺的軸線作為第四軸的坐標(biāo)測量機(jī)在工件坐標(biāo)系統(tǒng)內(nèi)測得的檢測球中心位置的示值誤差的徑向范圍切向四軸誤差（FR）tangentialfour-axiserror用轉(zhuǎn)臺的軸線作為第四軸的坐標(biāo)測量機(jī)在工件坐標(biāo)系統(tǒng)內(nèi)測得的檢測球中心位置的示值誤差的切向范圍軸向四軸誤差（FA）axialfour-axiserror用轉(zhuǎn)臺的軸線作為第四軸的坐標(biāo)測量機(jī)在工件坐標(biāo)系統(tǒng)內(nèi)測得的檢測球中心位置的示值誤差的軸向范圍最大允許徑向四軸誤差（MPEFR）maximumpermissibleradialfour-axiserror由轉(zhuǎn)臺的軸線作為第四軸的坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的徑向四軸誤差FR的極限值.

5、最大允許切向四軸誤差（MPEft）maximumpermissibletangentialfour-axiserror由轉(zhuǎn)臺的軸線作為第四軸的坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的切向四軸誤差FT的極限值.最大允許軸向四軸誤差（MPE中）maximumpermissibleaxialfour-axiserror由轉(zhuǎn)臺的軸線作為第四軸的坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的軸向四軸誤差FA的極限值.掃描探測誤差（Tij）scanningprobingerror用坐標(biāo)測量機(jī)測定檢測球的半徑變化范圍.在檢測球上用單個探針以掃描方式進(jìn)行測量.注：根據(jù)高點密度或低點密度及預(yù)定路徑掃描或非預(yù)定路徑掃描的不同組合最大允

6、許掃描探測誤差（MPE門/maximumpermissiblescanningprobingerror由坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的掃描探測誤差Tij的極限值.注1:MPEr/.;值是一個正常數(shù)，適用于探測球處于坐標(biāo)測量機(jī)測量空間區(qū)內(nèi)任何位置和任意探測方向.注2:對四種組合的每一種，可規(guī)定MPEtij的不同值.掃描檢測時間（T）timeforscanningtest由程序規(guī)定的從掃描順序第1步開始到掃描順序結(jié)束所經(jīng)過的時間.最大允許掃描檢測時間（MPTt）maximumpermissibletimeforscanningtest由坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的掃描檢測時間t的極限值.固定

7、多探針探測系統(tǒng)形狀誤差（MF）fixedmultiple-stylusprobingsystemformerror在坐標(biāo)測量機(jī)上用固定多探針以離散點探測方式在檢測球上進(jìn)行測量,用最小二乘法近似處理各點,測得的球形尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器半徑變化的范圍.固定多探針探測系統(tǒng)尺寸誤差（MS）fixedmultiplestylusprobingsystemsizeerror在坐標(biāo)測量機(jī)上用固定多探針以離散點探測方式在檢測球上進(jìn)行測量，用最小二乘法近似處理各點，測定球形尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器直徑的示值誤差.固定多探針探測系統(tǒng)位置誤差（ML）fixedmultiplestylusprobingsystemlocatione

8、rror在坐標(biāo)測量機(jī)上用固定多探針以離散點探測方式在檢測球上進(jìn)行測量,用最小二乘法近似處理各點,測定的球形尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器中心坐標(biāo)變化的范圍.最大允許固定多探針探測系統(tǒng)形狀誤差（MPEmF）maximumpermissiblefixedmultiple-stylusprobingsystemformerror由坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的固定多探針探測系統(tǒng)形狀誤差MF的極限值.注：MPEMf可由探針長度和探針系統(tǒng)規(guī)定最大允許固定多探針探測系統(tǒng)尺寸誤差（MPEMs）maximumpermissiblefixedmultiple-stylusprobingsystemsizeerror由坐標(biāo)測量

9、機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的固定多探針探測系統(tǒng)尺寸誤差MS的極限值注：MPEMS可由探針長度和探針系統(tǒng)規(guī)定最大允許固定多探針探測系統(tǒng)位置誤差（MPEMJmaximumpermissiblefixedmultiple-stylusprobingsystempositionerror由坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的固定多探針探測系統(tǒng)位置誤差ML的極限值注：MPEML可由探針長度和探針系統(tǒng)規(guī)定萬向探測系統(tǒng)形狀誤差（AF）articulatedprobingsystemformerror在坐標(biāo)測量機(jī)上用萬向探測系統(tǒng)以離散點探測方式在檢測球上進(jìn)行測量,用最小二乘法近似處理各點,測定的球形尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器半徑

10、變化的范圍.萬向探測系統(tǒng)尺寸誤差（AS）articulatedprobingsystemsizeerror在坐標(biāo)測量機(jī)上用萬向探測系統(tǒng)以離散點探測方式在檢測球上進(jìn)行測量,用最小二乘法近似處理各點,測定的球形尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器直徑變化的范圍.萬向探測系統(tǒng)位置誤差（AL）articulatedprobingsystemlocationerror在坐標(biāo)測量機(jī)上用萬向探測系統(tǒng)以離散點探測方式在檢測球上進(jìn)行測量,用最小二乘法近似處理各點,測定的球形尺寸實物標(biāo)準(zhǔn)器中心坐標(biāo)變化的范圍.最大允許萬向探測系統(tǒng)形狀誤差（MPEf）maximumpermissiblearticulatedprobingsystemformerror由坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許的萬向探測系統(tǒng)形狀誤差A(yù)F的極限值.注：皿卩丘仆可由測頭加長桿和探針系統(tǒng)規(guī)定最大允許萬向探測系統(tǒng)尺寸誤差（MPEs）maximumpermissiblearticulatedprobingsystemsizeerror由坐標(biāo)測量機(jī)的規(guī)范、規(guī)程等所允許