《地下地質(zhì)繪圖》第4章測(cè)井對(duì)比技術(shù)(1)課件

1、第四章 測(cè)井對(duì)比技術(shù)（1） 第一節(jié) 對(duì)比程序和原則第二節(jié) 對(duì)比型測(cè)井曲線第三節(jié) 測(cè)井曲線對(duì)比垂直井第1頁(yè)，共40頁(yè)。測(cè)井對(duì)比定義：確定構(gòu)造或地層單元在時(shí)間、年代或地層層位上相當(dāng)。測(cè)井曲線和地震剖面是常用的兩個(gè)對(duì)比資料來源。本章主要討論測(cè)井曲線對(duì)比的基本程序；介紹測(cè)井曲線在不同階段的對(duì)比計(jì)劃；引入直井、定向井測(cè)井曲線對(duì)比的基本概念和技術(shù)。 2第2頁(yè)，共40頁(yè)。 KB 從方鉆桿補(bǔ)心（kelly bushing）到海平面的垂直距離。 MD 測(cè)量深度。沿井身從方鉆桿補(bǔ)心到井的總深度（TD）間的或其間的任一對(duì)比點(diǎn)的測(cè)量距離。 TVD 垂直深度。從方鉆桿補(bǔ)心到地下任一點(diǎn)的垂直距離。 SSTVD 水下真垂直

2、深度。從海平面到地下任一測(cè)點(diǎn)的垂直距離。3第3頁(yè)，共40頁(yè)。第一節(jié) 對(duì)比程序和原則 測(cè)井曲線對(duì)比是什么？測(cè)井曲線對(duì)比是一種模式識(shí)別技術(shù)。許多人爭(zhēng)辯這種模式識(shí)別到底歸屬藝術(shù)還是科學(xué)？我們認(rèn)為其兼而有之。測(cè)井曲線對(duì)比的專業(yè)人員必須通曉地質(zhì)學(xué)原理，包括沉積過程和沉積環(huán)境，了解研究區(qū)的構(gòu)造背景；還應(yīng)熟悉測(cè)井設(shè)備的工作原理和測(cè)量要素，定性和定量的測(cè)井曲線分析。4第4頁(yè)，共40頁(yè)。5第5頁(yè)，共40頁(yè)。一、對(duì)比程序首先排列測(cè)井曲線的測(cè)深標(biāo)尺，然后進(jìn)行觀察。如果沒有發(fā)現(xiàn)明確的對(duì)比標(biāo)志點(diǎn)，滑動(dòng)其中的一條曲線直到發(fā)現(xiàn)明確的對(duì)比點(diǎn)，并標(biāo)記號(hào)。繼續(xù)對(duì)比，直到識(shí)別出所有的對(duì)比標(biāo)志點(diǎn)。該過程又被許多因素復(fù)雜化：地層減薄、

3、地層傾角、斷層、不整合、側(cè)向相變、測(cè)井曲線質(zhì)量差和定向井等。6第6頁(yè)，共40頁(yè)。7第7頁(yè)，共40頁(yè)。二、一些基本的對(duì)比原則（8項(xiàng)）1、最初快速瀏覽自然電位和伽馬曲線，對(duì)比主要的砂巖和碳酸鹽巖地層。2、在詳細(xì)對(duì)比時(shí)，首先對(duì)比頁(yè)巖層位。3、一般可以利用放大的淺側(cè)向電阻率曲線提供最可靠的頁(yè)巖對(duì)比結(jié)果。4、用有色鉛筆標(biāo)注出具體的對(duì)比標(biāo)志點(diǎn)。8第8頁(yè)，共40頁(yè)。2、在詳細(xì)對(duì)比時(shí)，首先對(duì)比頁(yè)巖層在快速瀏覽自然電位和伽馬曲線，確定主要的砂巖和碳酸鹽巖地層后，集中對(duì)比頁(yè)巖層位有三個(gè)主要原因：第一，頁(yè)巖的沉積環(huán)境能量較低，常常能夠覆蓋較大的面積。因此，頁(yè)巖測(cè)井曲線對(duì)比既有很高的可比性，同時(shí)也能進(jìn)行長(zhǎng)距離的對(duì)比；

4、第二，砂巖不是很好的對(duì)比標(biāo)志層。因?yàn)樯皫r常發(fā)生厚度和特征的突變，或側(cè)向不連續(xù)；第三，相同砂巖的電阻率曲線可以不同。砂巖中的流體含量變化可以引起顯著的電阻率差異。9第9頁(yè)，共40頁(yè)。3、一般可以利用放大的淺側(cè)向電阻率曲線提供最可靠的頁(yè)巖對(duì)比結(jié)果個(gè)別頁(yè)巖呈現(xiàn)大范圍的、有特色的電阻率特征。在所有的測(cè)井曲線中，放大的淺側(cè)向電阻率曲線可以提供最可靠的頁(yè)巖對(duì)比。放大的曲線比非放大的曲線的靈敏度高五倍，易于模式識(shí)別和對(duì)比。應(yīng)該最早利用放大的曲線進(jìn)行對(duì)比。10第10頁(yè)，共40頁(yè)。4、用有色鉛筆標(biāo)注特殊的對(duì)比標(biāo)志經(jīng)常使用有色鉛筆識(shí)別和標(biāo)定對(duì)比模式是一個(gè)好習(xí)慣。對(duì)比模式可能是山、谷或一組波動(dòng)線。有色鉛筆在對(duì)比發(fā)生

5、變化的情況下可以擦除。注意：不要標(biāo)在原始曲線上。應(yīng)該使用藍(lán)或黑色的復(fù)制圖。11第11頁(yè)，共40頁(yè)。二、一些基本的對(duì)比原則（8項(xiàng)）5、強(qiáng)調(diào)從曲線頂部而不是從中部開始對(duì)比。6、對(duì)比整條曲線。7、不要強(qiáng)行對(duì)比。8、在復(fù)雜斷層地區(qū)，首先自上而下對(duì)比，然后在自下而上對(duì)比。12第12頁(yè)，共40頁(yè)。5、從曲線頂部而非從中部開始對(duì)比由于受某些因素影響，構(gòu)造會(huì)在近地表處變得相對(duì)簡(jiǎn)單；許多斷層逐漸消失，表現(xiàn)在測(cè)井曲線的上段斷距變小或消失；許多地區(qū)尤其是非強(qiáng)干巖石的盆地區(qū)，局部和區(qū)域的構(gòu)造傾角向上減小。因此，在測(cè)井曲線的頂部開始對(duì)比通常會(huì)容易一些。13第13頁(yè)，共40頁(yè)。7、不要強(qiáng)行對(duì)比對(duì)比并非總是一帆風(fēng)順，常會(huì)遇

6、到一些問題，如存在斷層、高角度的地層傾角、不整合和相變等。有一種嘗試是不正確的，即強(qiáng)行進(jìn)行對(duì)比，而不是先放過這一區(qū)段或地區(qū)。最好的方法是先忽略這一區(qū)段或地區(qū)，而對(duì)比其他區(qū)段或地區(qū)。在最后的階段，在其他地區(qū)的對(duì)比完成之后，由于積累了更多的新的、有用的信息，可能會(huì)為該區(qū)對(duì)比提供借鑒作用。14第14頁(yè)，共40頁(yè)。8、在復(fù)雜斷層區(qū)，首先沿曲線向下對(duì)比，然后再向上對(duì)比在斷層復(fù)雜區(qū)，從上下兩個(gè)方向進(jìn)行對(duì)比是識(shí)別斷層的有效方法。這種方法有助于精確確定與斷層有關(guān)的地層缺失或重復(fù)的地層厚度、深度。15第15頁(yè)，共40頁(yè)。第二節(jié) 對(duì)比型測(cè)井曲線定義：顯示一個(gè)油田或一個(gè)研究區(qū)的完整地層剖面的測(cè)井曲線。該曲線應(yīng)反映已

7、鉆最深的和最厚的地層剖面。由于斷層、不整合和地層變化影響沉積地層剖面，所以一個(gè)對(duì)比型測(cè)井曲線常常是由多條曲線復(fù)合而成，或稱復(fù)合型測(cè)井曲線。16第16頁(yè)，共40頁(yè)。地層型復(fù)合測(cè)井曲線17第17頁(yè)，共40頁(yè)。油氣型復(fù)合測(cè)井曲線18第18頁(yè)，共40頁(yè)。如何建立對(duì)比型測(cè)井曲線？19第19頁(yè)，共40頁(yè)。第三節(jié) 測(cè)井曲線對(duì)比垂直井一、測(cè)井對(duì)比計(jì)劃二、確定斷層：深度和地層缺失三、對(duì)比陷阱 20第20頁(yè)，共40頁(yè)。一、測(cè)井對(duì)比計(jì)劃第一步：首先，準(zhǔn)備一條對(duì)比型測(cè)井曲線。要牢記對(duì)比型測(cè)井曲線必須顯示油田中完整的、無斷層的沉積地層，代表該區(qū)最厚的和最深的沉積地層。一般應(yīng)該是遠(yuǎn)離構(gòu)造頂部的井。第二步：一個(gè)好的對(duì)比計(jì)劃

8、是使得任一井至少與其他的兩口井進(jìn)行對(duì)比。為了確保其在整個(gè)地區(qū)的有效性，該計(jì)劃借助閉環(huán)制定對(duì)比方案，以減少閉合差。第三步：希望第一口對(duì)比井能夠展示最完整和最厚的地層剖面。一般選構(gòu)造位置最低的井。21第21頁(yè)，共40頁(yè)。第四步：連續(xù)地曲線對(duì)比，逐步從構(gòu)造低位置井到構(gòu)造高位置井。推薦對(duì)比方式為撞球型順序?qū)Ρ?。第五步：一般地，?duì)比位置彼此最為接近的井。在大多數(shù)情況下，位置接近的井應(yīng)該有類似的地層剖面，對(duì)比相對(duì)容易一些。第六步：在許多地區(qū)，地層可能在短距離內(nèi)發(fā)生突變（尤其是厚度）?？赡艿脑?，對(duì)比預(yù)計(jì)具有類似地層厚度的井。22第22頁(yè)，共40頁(yè)。我將從什么地方開始？或我首先對(duì)比哪一口井？然后再對(duì)比哪一口井

9、？等等23第23頁(yè)，共40頁(yè)。最初的快速觀察對(duì)比可針對(duì)主砂巖進(jìn)行。在自然電位和伽馬曲線上，砂巖具有最突出的特征。由于砂巖常發(fā)生厚度和特征的突變以及側(cè)向不連續(xù)，不推薦其做詳細(xì)的測(cè)井曲線對(duì)比。詳細(xì)對(duì)比工作由頁(yè)巖完成。測(cè)井曲線對(duì)比基本概念24第24頁(yè)，共40頁(yè)。325 ft480 ft是斷層還是地層厚度變化？這是一個(gè)問題。25第25頁(yè)，共40頁(yè)。推薦詳細(xì)對(duì)比由頁(yè)巖剖面并利用放大的電阻率測(cè)井曲線完成。通過頁(yè)巖剖面和砂巖詳細(xì)對(duì)比，識(shí)別出許多對(duì)比標(biāo)志。除了兩個(gè)主砂巖外，還有一系列的頁(yè)巖電阻率標(biāo)志（SRMs）。很明顯，井A-1的地層剖面相對(duì)井3來說是均勻減薄的。這種均勻減薄支持井A-1地層比井A-3的地層薄

10、是地層自然減薄的結(jié)果。測(cè)井曲線對(duì)比基本概念26第26頁(yè)，共40頁(yè)。27第27頁(yè)，共40頁(yè)。二、確定斷層：深度和地層缺失一些地質(zhì)學(xué)家更喜歡對(duì)比主砂巖。如果用8600ft和9000ft Sands作為主要對(duì)比標(biāo)志，可見井3中兩個(gè)主砂巖之間的厚度要薄80ft，這似乎與斷層存在有關(guān)。井3中的9000ft Sand頂部的對(duì)比可能存在問題。井3存在斷層嗎？斷層是在（1）8600ft Sand底和9000ft Sand頂?shù)捻?yè)巖之間，（2）9000ft Sand頂部或（3）9000ft Sand部分?jǐn)嗳保?8第28頁(yè)，共40頁(yè)。29第29頁(yè)，共40頁(yè)。推薦的程序提供了許多對(duì)比標(biāo)志，包括多個(gè)頁(yè)巖電阻率標(biāo)志特征。

11、這些詳細(xì)的對(duì)比標(biāo)志顯示，兩口井間的各個(gè)對(duì)比標(biāo)志之間的地層是可比的，除了在SRM5和SRM7之間已確定的地層缺失。在一個(gè)特殊層位確定的地層缺失指出地層缺失是斷層作用的結(jié)果，而與地層變化無關(guān)。地層缺失的層位提供了斷層深度。30第30頁(yè)，共40頁(yè)。31第31頁(yè)，共40頁(yè)。在確定斷層時(shí)，必須得到三個(gè)重要的數(shù)據(jù)，以利于后期制圖：（1）地層缺失的厚度；（2）斷層的深度和（3）已有的單井或多井對(duì)比確定斷層。斷層數(shù)據(jù)（135ft/8957ft/井l）和9100ft砂層頂部斷缺的信息被作為斷層符號(hào)標(biāo)注在曲線上。為方便論，在一般情況下，使用斷層和其它指定點(diǎn)的測(cè)深。但為了作圖，建議采用水下深度。32第32頁(yè)，共40

12、頁(yè)。33第33頁(yè)，共40頁(yè)。三、對(duì)比陷阱詳細(xì)對(duì)比確定圖中各井的地層是相同的，但地層測(cè)井曲線厚度從井4的100ft增加到井1的200ft。其原因何在？據(jù)構(gòu)造圖和傾角儀測(cè)量揭示各井的地層傾角不同：井4為0o，井3為20o，井2為40o，而井1為60o。34第34頁(yè)，共40頁(yè)。這四口井位于一條垂直地層走向的直線上。據(jù)傾角和測(cè)井曲線分析，地層厚度在構(gòu)造上傾方向增加。然而，在一般情況下，沿構(gòu)造上傾方向的地層厚度應(yīng)該是不變的或減少的。那么，地層厚度的變化是由于斷層、地層變化還是地層傾角變化引起的幾何學(xué)問題？35第35頁(yè)，共40頁(yè)。測(cè)井曲線被懸掛在其真實(shí)的構(gòu)造位置上，并在各井標(biāo)出地層傾角。36第36頁(yè)，共40頁(yè)。在地層傾角、真厚度和測(cè)井曲線厚度之間存在余弦三角關(guān)系。注意：即使井1的測(cè)井曲線厚度是井4的2倍，也能確定這兩個(gè)位置的地層厚度。在對(duì)比地層傾角發(fā)生較大變化的構(gòu)造上的測(cè)井曲線時(shí)，必須謹(jǐn)慎：在直井中，即使在剖面上沒有斷層，而且地層厚度穩(wěn)定，由地層傾角變化也可導(dǎo)致測(cè)井曲線厚度發(fā)生變化。37第37頁(yè)，共40頁(yè)。實(shí)例討論：由兩口井確定的地層剖面表明，真厚度在上傾構(gòu)造方向減少。我們可以說，在地