橢圓偏振光法測定介質(zhì)薄膜的厚度和折射率_第1頁
橢圓偏振光法測定介質(zhì)薄膜的厚度和折射率_第2頁
全文預覽已結(jié)束

下載本文檔

版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

橢圓偏振光法測定介質(zhì)薄膜的厚度和折射率PB05210465實驗目的：了解橢偏儀測量薄膜參數(shù)的原理.初步掌握反射型橢偏儀的使用方法.實驗原理：橢圓偏振光經(jīng)薄膜系統(tǒng)反射后，偏振狀態(tài)的變化量與薄膜的厚度和折射率有關(guān)，因此只要測量出偏振狀態(tài)的變化量，就能利用計算機程序多次近定出膜厚和折射率。參數(shù)1.按調(diào)分光計的方法調(diào)整好主機.2.水平度盤的調(diào)整.3.光路調(diào)整.4.檢偏器讀數(shù)頭位置的調(diào)整和固定.5.起偏器讀數(shù)頭位置的調(diào)整與固定.6.測量值與理論值之間存在一定的誤差誤差分析：實驗測得的折射率較理論值偏小，厚度 d 的誤差相對較大，其可能原因有：1.待測介質(zhì)薄膜表面雜質(zhì)較多（有三處較明顯的），影響了其折射率。2.在開始的光路調(diào)整時，沒有使二者嚴格共軸，造成激光與偏振片、1/4 波片之間不是嚴格的正入射，導致測量的折射率與理論值存在偏差。3.消光點并非完全消光，所以消光位置只能由人眼估測，所以可能引入誤差。4.調(diào)整水平度盤時采用的是目測也給實驗帶來一定的誤差。5.儀器的精度也限制了實驗的準確性 。思考題：1本次實驗的難點在于實驗原理的理解，經(jīng)過仔細的分析，得出實際可測量的物理量來解極為復雜的方程，設(shè)計的巧妙構(gòu)思值得學習；另外，實驗過程中，每一步

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論