陶瓷電容器檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

1、接受標(biāo)準(zhǔn)：o收接受標(biāo)準(zhǔn)：o收1退可接受陶瓷電容的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1目的為了控制陶瓷電容的品質(zhì)，滿足LED產(chǎn)品的制作要求，參照國(guó)家有關(guān)部門(mén)標(biāo)準(zhǔn)，特規(guī)定了陶瓷電容檢驗(yàn)的技術(shù)要求、檢驗(yàn)方法、抽樣方案及判定標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)志、標(biāo)簽及貯存，并對(duì)其質(zhì)量驗(yàn)收作明確的規(guī)定。2范圍供應(yīng)商所提供陶瓷電容的檢驗(yàn)、超期貯存的陶瓷電容的復(fù)檢，均適用此規(guī)范。3引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T2828.1-2003計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第一部份：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃GB/T2829-2002周期檢驗(yàn)計(jì)數(shù)抽樣程序及表(適用于對(duì)過(guò)程穩(wěn)定性的檢驗(yàn))4定義4.1嚴(yán)重缺陷(CR):該缺陷最終產(chǎn)生一個(gè)標(biāo)識(shí)不正確的產(chǎn)品或不能使用。4.2主要缺陷(MA

2、):該缺陷使得存在較大的缺陷，容易造成抱怨。4.3次要缺陷(Ml)：該缺陷使得在外觀上影響美觀。5技術(shù)要求與檢驗(yàn)方法5.1外觀5.1.1MLCC外觀檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：項(xiàng)目1：端頭露瓷缺陷描述：端電極破損見(jiàn)到瓷體端部，暴露面積直徑0.1mm:端電極破損暴露面積直徑。項(xiàng)目2：端頭不一缺陷描述：接受標(biāo)準(zhǔn)：兩端頭的寬度相差V1/3；兩端頭的寬可接受度不一致，一端寬度W另一端寬度的1/20收1退項(xiàng)目3：端頭脫落缺陷描述：端頭電極脫落接受標(biāo)準(zhǔn):0收1退項(xiàng)目項(xiàng)目3：端頭脫落缺陷描述：端頭電極脫落接受標(biāo)準(zhǔn):0收1退項(xiàng)目4：無(wú)端頭缺陷描述：接受標(biāo)準(zhǔn):瓷體端部沒(méi)有包封端電極0收1退項(xiàng)目5：端頭延伸接受標(biāo)準(zhǔn)：0收1退可接受

3、端頭表面的Ni或Sn金屬向中央靠攏,兩端瓷體間距1/4芯片長(zhǎng)度；端頭表面的接受標(biāo)準(zhǔn)：0收1退可接受5.2尺寸5.2.1卡尺測(cè)量對(duì)照檢驗(yàn)規(guī)格書(shū)上的“技術(shù)資料”及“技術(shù)圖紙”量測(cè)的項(xiàng)目，測(cè)量待檢物料外形的尺寸（長(zhǎng)、寬、高）；5.2.2試裝取“PCB標(biāo)準(zhǔn)件”，將來(lái)料待檢元件安裝在“PCB標(biāo)準(zhǔn)件”上，檢驗(yàn)其親和度。5.3電氣性能的測(cè)試5.3.1電容量測(cè)試應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格書(shū)要求范圍。項(xiàng)目I忖技術(shù)規(guī)構(gòu)測(cè)試方法Te=stMethod辺dRem容甸iQapacitaiuce.-.J：應(yīng)符合指定的保差級(jí)別:iSkould.映withintkespecified.toLenajuce.i標(biāo)稱(chēng)客量.iCapacita

4、te、測(cè)訶頻率MesirnngFrequencyh測(cè)試電壓MeasiimigVolt辻ge*lOOOpI,LMHZ10.,1.0+0.2Vmi5,1000pF.n1KHZ1O.1一聯(lián)仙s疵應(yīng)符合指定的保差圾別SIiduIcLbuwithinthespecified.toLesaiuce.測(cè)試溫滾：251C3TestTemprelure:253ClOpF:測(cè)試頻率：1KHZ1O.兇試電壓：1.0+0.2VntiiT胡Freqwxwy;LKHZ10%.iTestVoltage:l.Ci0.2VnnClOpFX7R.Y刃:測(cè)試頻率：12024HZULi電E：0.50.1VrmsTestFrequen

5、cy12Cl24HZTestiliage:0.50.1VmisZ5U:測(cè)試頻率:1土CL1KHZULljiK電壓:0.50.05Vitm-TesiFrequency:l0.1KHZTestiltae:050OJVrniiClassI類(lèi)指：高頻類(lèi)，包括通用型高頻COG、COH材質(zhì)電容器ClassII類(lèi)指：X7R、X5R、Y5V、Z5U材質(zhì)電容.5.3.2損耗角正切值項(xiàng)目,，Item.i技術(shù)規(guī)格.TeciiiiicalSpecificaticiii測(cè)試方法“TestMethodandRjenuaiksrDF.標(biāo)稱(chēng)容量.Capacitance-派加頻率MeasuringFrequBncy.i測(cè)試電壓

6、MeasuringWiltageI発1Clas劉%.、Cr1000pF1KHZ1O%.；損耗肅正切(DF,tanS)DissipationFajctor.n50V,損耗肅正切(DF,tanS)DissipationFajctor.n50V,16710V63V.切%u.50%.5昭CC25V.，1旳10Vn口類(lèi)GiasILY5VZU附闌h(OlQiFiC10iF測(cè)詞頻率：1KHZ1O.,砸弍危壓：1.00.2VntisTestFrequ&ncy:1KHZ1O5-Testiltage:1.00.2Vnris-I61O1FX7R.Y5V測(cè)訶頻率；12024皿IK畑屯壓:0.50.1Vmi.TestF

7、iequenp;12D24HLTestVfoltage:土0.1VrrtisZ5U;蒯試頻率;1Q.1KHZ測(cè)試電壓:0.50.05VnnsI翹I翹CkEsICC10nF?Ei5000MC10nFnRi-CI.500S,II類(lèi)血IL.犖氐CE2了i遲25tLF,RiCE_iaasY5V.,於iLC40IMr,25迅肚inos.絕媒電阻(IR)IiiEiilitionRj&sistojce.iiestFnequenG:l0.1KHZTest氐iltage:O.5O.OJVrms備注：X5R與X7R相同。533絕緣電阻IR測(cè)試涮試電壓：厳定電壓測(cè)試時(shí)間;605秒測(cè)試濕度：商兔-測(cè)試溫痿二5弋測(cè)試荒

8、敢電電疣：忑劉泌MeasuringVbliageEbatedWiltageDuration:605s.iTestHimudity.7翅.i.TesiTemprai-uie;T9TestCumeiit:5.3.4耐電壓測(cè)試介Didamic木應(yīng)有介貞被擊穿或攝也NabKakdomiordamage.n測(cè)亙電壓：.I類(lèi)遲皿竇額定電壓II類(lèi)：2J0%定電壓時(shí)間：1心秒充澈電電驗(yàn):不應(yīng)超過(guò)50mA肚部分說(shuō)規(guī)不包括中高壓MLfiC).MeisuriiWiltageCkisI30Q%RatedvoltageC血mil:2兀觀RatcdvuLtogcDuntian:l：5sChsige/Dischaige.C

9、urrent:OnAmax.(Thisnuethodexcludeshigh-voltageMLjCCJ)”頷定電壓范圍RiledvoLtagerange“耐電性能的測(cè)試方注.MeasuungMethod.i100VVi500Vr施加靈定電壓的20OX5越，攝犬電疣不超過(guò)50mA.Force：2OORjat&dvoltajiefor5second.何起c.ruiretLtstiouldnutexceed50mA.:OOVVrlOOOV施如啟定電壓的150&5秒，最犬電疵不頤過(guò)50mAForce150%RjaledvoLtaiefor5second.Max.tinrentshould,notex

10、ceed50mA.、1000Vi2000V,施加踰定電壓的秒，最犬電磴不撞試50mAForce120)Rjaiedvoltageforseconds.Max.-cumentshouldnotexceed50mA,-.2000VVi5000V、施加瀕定電壓的120%,5秒，蚤犬電疣不超過(guò)10mAFoiicfe120Rj&tedvoltagefor;5；seconrls.Max.c!Tmtn.tshouldnotexceed10mA.-.535漏電流a）參照耐壓測(cè)試儀操作規(guī)范進(jìn)行調(diào)節(jié)儀器，時(shí)間設(shè)置為60S，將電壓輸出選擇DC,然后把待測(cè)電容兩引腳分別夾在耐壓測(cè)量?jī)x測(cè)試端子上。b）按要求對(duì)待測(cè)電容進(jìn)

11、行調(diào)節(jié)電壓，最初施加的電壓不得超過(guò)試驗(yàn)電壓的一半，然后將電壓逐步額定電壓值，記錄漏電流值。c）測(cè)試結(jié)果應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求，若無(wú)明確要求則按IW0.5mA。5.4可焊性5.4.1有鉛焊接：要求在錫槽溫度2455C,浸漬20.5秒，上錫要均勻，無(wú)集中疵點(diǎn)；5.4.2無(wú)鉛焊接：要求在錫槽溫度2605C,浸漬20.5秒，上錫要均勻，無(wú)集中疵點(diǎn)。備注：目測(cè)焊錫浸潤(rùn)面積，必要時(shí)輔以放大鏡進(jìn)行檢驗(yàn)。5.5高低溫測(cè)試：將在常溫下測(cè)試下測(cè)試容量、漏電流等均正常的電容放入-10C的溫度中2小時(shí),然后用30W烙鐵對(duì)其進(jìn)行加熱3秒，再測(cè)試容量、漏電流等參數(shù)是否合格。如此連續(xù)反復(fù)3次高低溫試驗(yàn)，其容量、漏電流等參數(shù)均應(yīng)正

12、常。5.6ROHS測(cè)試應(yīng)符合公司ROHS測(cè)試要求。6檢驗(yàn)規(guī)則檢驗(yàn)以批為單位進(jìn)行，以相同材料、相同工藝、相同規(guī)格、同一送貨日期的產(chǎn)品為一批。交收試驗(yàn)每批產(chǎn)品按照GB/T2828.1-2003規(guī)定的抽樣方法進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢查；例行試驗(yàn)的批以GB/T2829-2002周期檢驗(yàn)計(jì)數(shù)抽樣程序及表(適用于對(duì)過(guò)程穩(wěn)定性的檢驗(yàn))的規(guī)定進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢查。交收試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、抽樣方案及合格質(zhì)量水平按表1規(guī)定進(jìn)行。表1陶瓷電容交收試驗(yàn)表序號(hào)檢測(cè)項(xiàng)目技術(shù)要求與試驗(yàn)方法抽樣方案判定值1外觀5.1N-IIAQL=1.02尺寸5.2N-IIAQL=1.03電容量5.3.1S-4AQL=0.654損耗角正切值5.3.2S-4AQL=0.655可焊性5.410個(gè)C=07.3例行試驗(yàn)在下列情況下進(jìn)行：生產(chǎn)商的設(shè)計(jì)、工藝或主要材料做重大改進(jìn)時(shí)；新的供應(yīng)商認(rèn)可和批量產(chǎn)品的第一生產(chǎn)批進(jìn)廠；正常生產(chǎn)時(shí)每一季度進(jìn)行一次。7.4例行試驗(yàn)樣品在供應(yīng)商提供樣品中或生產(chǎn)批量中抽取。例行試驗(yàn)的試驗(yàn)抽樣與判定按表2規(guī)定進(jìn)行。表2陶瓷電容例行試驗(yàn)表序號(hào)檢測(cè)項(xiàng)目技術(shù)要求與試驗(yàn)方法抽樣方案判定值1外觀5.1N-IIAQL=1.02尺寸5.2N-IIAQL=1.03電容量5.3.1S-4AQL=0.654損耗角正切值5.3.2S-4AQL=0.655絕緣電阻IR測(cè)試533S-4AQ