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文檔簡(jiǎn)介
統(tǒng)計(jì)制程管制的基礎(chǔ)理論1第一頁(yè),共24頁(yè)。SPC簡(jiǎn)介2.製程能力分析3.品管方法課程內(nèi)容ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司4.SPC軟件介紹2第二頁(yè),共24頁(yè)。第一章SPC簡(jiǎn)介重點(diǎn):1.SPC的概念2.SPC的功能與目的3.計(jì)數(shù)值與計(jì)量值4.管制圖的LINE5.管制圖的種類(lèi)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司3第三頁(yè),共24頁(yè)。英文全稱(chēng):StatisticalProcessControl1924年由美國(guó)品管大師W.A.Shewhart博士在貝爾實(shí)驗(yàn)室研究產(chǎn)品品質(zhì)特性之次數(shù)分配時(shí)所發(fā)明。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司一.SPC統(tǒng)計(jì)製程管制4第四頁(yè),共24頁(yè)。英國(guó)在1932年,邀請(qǐng)W.A.Shewhart博士到倫敦,主講統(tǒng)計(jì)品質(zhì)管制,而提高了英國(guó)人將統(tǒng)計(jì)方法應(yīng)用到工業(yè)方面之氣氛。就控制圖在工廠(chǎng)中實(shí)施來(lái)說(shuō),英國(guó)比美國(guó)為早。日本在1950年由W.E.Deming博士引到日本。同年日本規(guī)格協(xié)會(huì)成立了品質(zhì)管制委員會(huì),制定了相關(guān)的JIS標(biāo)準(zhǔn)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司5第五頁(yè),共24頁(yè)。二.SPC的功能與目的統(tǒng)計(jì)品質(zhì)管理認(rèn)為,變差(波動(dòng))是始終存在的.影響製程(或產(chǎn)品)特性波動(dòng)的因素有普通原因和特殊原因統(tǒng)計(jì)製程管制:運(yùn)用統(tǒng)計(jì)的方法鑑別製程中由於機(jī)遇原因或非機(jī)遇原因造成的變異.ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司6第六頁(yè),共24頁(yè)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司三.計(jì)數(shù)值與計(jì)量值進(jìn)行SPC管制的數(shù)據(jù)有很多種,總體上可以分為兩大類(lèi):1.計(jì)量值數(shù)據(jù),通常需要進(jìn)行量測(cè)才能得到如感值,長(zhǎng)度,重量等2.計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù),通過(guò)數(shù)數(shù)得到的數(shù)據(jù)如不良品數(shù),不良品率,每一產(chǎn)品上的缺點(diǎn)數(shù)等。
7第七頁(yè),共24頁(yè)。四.管制圖的基本原理ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司統(tǒng)計(jì)理論認(rèn)為母體參數(shù)可由隨機(jī)抽取的樣本來(lái)估計(jì),SPC圖的統(tǒng)計(jì)基礎(chǔ)即在於此。一般SPC圖有六條LINE6σX平均管制下限(LCL)規(guī)格上限(USL)規(guī)格中心(SL)規(guī)格下限(LSL)管制上限(UCL)USL-LSL8第八頁(yè),共24頁(yè)。五.管制圖的種類(lèi)計(jì)量值控制圖平均值與全距控制圖平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中位值與全距控制圖個(gè)別值與移動(dòng)全距控制圖計(jì)數(shù)值控制圖不良率控制圖不良數(shù)控制圖缺點(diǎn)數(shù)控制圖單位缺點(diǎn)控制圖依種類(lèi)分類(lèi)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司9第九頁(yè),共24頁(yè)。第二章製程能力分析重點(diǎn)1.Cpk,Ca,Cp的名稱(chēng)2.Cpk,Ca,Cp的概念3.製程能力的等級(jí)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司10第十頁(yè),共24頁(yè)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司一.Cpk
Cpk=(1-|Ca|)CPCpk:制程能力指數(shù),爲(wèi)綜合Ca與Cp兩者之指數(shù),作爲(wèi)制程能力的指標(biāo)。
11第十一頁(yè),共24頁(yè)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司Ca:制程準(zhǔn)確度,是用以衡量産品平均值與規(guī)格中心值之一致性Ca=
X平均-SLMin(USL-SL,SL-LSL)對(duì)一個(gè)製程來(lái)說(shuō),|Ca|越大實(shí)際中心偏離規(guī)格中心的距離就越大;|Ca|越小實(shí)際中心偏離規(guī)格中心的距離就越小
二.Ca12第十二頁(yè),共24頁(yè)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司三.CpCp:制程精密度,是用以衡量産品變異寬度與規(guī)格公差符合之程度Cp=
USL-LSL6σ對(duì)一個(gè)製程來(lái)說(shuō),Cp越大製程變異就越小;
Cp越小,製程變異就越大.
13第十三頁(yè),共24頁(yè)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司四.如何判定制程能力?Cpk值可分爲(wèi)A、B、C、D、E五個(gè)等級(jí)Cpk值的等級(jí)判定:
對(duì)Cpk進(jìn)行等級(jí)判定後,應(yīng)根據(jù)Cpk值不同的等級(jí)分別採(cǎi)取不同的處理原則或改進(jìn)措施.現(xiàn)分別說(shuō)明如下:等
級(jí)Cpk值A(chǔ)1.67≤CpkB1.33≤Cpk≤1.67C1≤Cpk≤1.33D0.67≤Cpk≤1E0≤Cpk≤0.6714第十四頁(yè),共24頁(yè)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司第三章品管方法重點(diǎn)1.品質(zhì)觀念2.QC七大手法15第十五頁(yè),共24頁(yè)。一.品質(zhì)觀念品質(zhì)是檢查出來(lái)的 QI 品檢品質(zhì)是製造出來(lái)的 QC 品管品質(zhì)是設(shè)計(jì)出來(lái)的 QA 品保品質(zhì)是管理出來(lái)的 TQC 全面品管品質(zhì)是習(xí)慣出來(lái)的 TQA全面品保ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司16第十六頁(yè),共24頁(yè)。二.QC七大手法特性要因圖 (Cause&EffectsChart)柏拉圖 (ParetoDiagram)直方圖 (Histogram)散佈圖(ScatteDiagram)查檢表 (CheckList)管制圖 (ControlChart)層別法 (Stratification)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司17第十七頁(yè),共24頁(yè)。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司又稱(chēng)因果圖,石川圖或魚(yú)刺圖用圖解法對(duì)影響過(guò)程或產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題的各種因素進(jìn)行全面系統(tǒng)的觀察和分析,找出其因果關(guān)系使小組能集中于問(wèn)題的實(shí)質(zhì),圍繞問(wèn)題產(chǎn)生集體智慧和意見(jiàn)集體智慧的火花集中于問(wèn)題的原因而不是問(wèn)題的現(xiàn)狀特性要因圖(Cause&EffectsChart)18第十八頁(yè),共24頁(yè)。特性要因圖的基本結(jié)構(gòu)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司特性大原因(大骨)中骨小骨主骨因素(原因)特性(結(jié)果)19第十九頁(yè),共24頁(yè)。柏拉圖(ParetoDiagram)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司又稱(chēng)排列圖,是將各種不良現(xiàn)象從大到小進(jìn)行排列並作圖,
把握問(wèn)題的實(shí)質(zhì),以確定“關(guān)鍵的少數(shù)”.例:某廠(chǎng)隨機(jī)調(diào)查4月1日至7月1日的產(chǎn)品共5000件,對(duì)其逐一檢查,進(jìn)行缺陷分析,得到缺陷種類(lèi)及數(shù)據(jù)如下:缺陷類(lèi)型斷裂擦傷污染彎曲裂紋砂眼其它合計(jì)缺陷數(shù)104422010641420020第二十頁(yè),共24頁(yè)。日期:4月1日至7月31日調(diào)查鑄件總數(shù):5000件ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司柏拉圖的基本圖形21第二十一頁(yè),共24頁(yè)。直方圖(Histogram)直方圖是從工序中隨機(jī)抽取樣本,將從數(shù)據(jù)中獲取的數(shù)據(jù)進(jìn)行整理,繪成圖,從中找到質(zhì)量波動(dòng)規(guī)律,預(yù)測(cè)工序質(zhì)量的一種工具。展示用表格難以說(shuō)明的大量數(shù)據(jù)顯示各種數(shù)值出現(xiàn)的相對(duì)頻率揭示數(shù)據(jù)的中心、波動(dòng)及形狀快速闡明數(shù)據(jù)的潛在分布為預(yù)測(cè)過(guò)程提供有利信息可以發(fā)現(xiàn)“過(guò)程是否能滿(mǎn)足顧客要求”ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司22第二十二頁(yè),共24頁(yè)。直方圖的基本圖形2.50152.51152.52152.53152.54152.50652.51652.52652.53652.5465302520151050257172417945樣本數(shù)k=90均值=2.5247標(biāo)準(zhǔn)差s=0.00894數(shù)據(jù)頻數(shù)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司23第二十三頁(yè),共24
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