標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GA/T 1062-2013 IC卡光標(biāo)測試系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范》是針對IC卡讀寫設(shè)備中光標(biāo)測試系統(tǒng)的校準(zhǔn)工作制定的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。這份規(guī)范由中華人民共和國公安部發(fā)布,旨在確保IC卡讀寫設(shè)備的準(zhǔn)確性和可靠性,通過統(tǒng)一的校準(zhǔn)方法和要求來提升檢測和維護工作的標(biāo)準(zhǔn)化水平。以下是該標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容概述:
-
范圍:本標(biāo)準(zhǔn)明確了適用于各類IC卡光標(biāo)測試系統(tǒng)的校準(zhǔn)要求,包括但不限于接觸式IC卡、非接觸式IC卡(如RFID)的讀寫設(shè)備中的光標(biāo)定位與檢測功能的校準(zhǔn)。
-
術(shù)語和定義:規(guī)范首先界定了相關(guān)專業(yè)術(shù)語,如“光標(biāo)測試系統(tǒng)”、“校準(zhǔn)”、“基準(zhǔn)卡”等,為后續(xù)內(nèi)容提供了清晰的術(shù)語基礎(chǔ)。
-
引用文件:列出了執(zhí)行該標(biāo)準(zhǔn)時需要參考的其他國家標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)規(guī)范,確保了校準(zhǔn)過程的全面性和一致性。
-
校準(zhǔn)條件:詳細(xì)說明了進(jìn)行校準(zhǔn)操作所需的環(huán)境條件,如溫度、濕度、電磁干擾控制等,以確保校準(zhǔn)結(jié)果的準(zhǔn)確性不受外界因素影響。
-
校準(zhǔn)設(shè)備與材料:規(guī)定了進(jìn)行校準(zhǔn)所必需的設(shè)備類型、精度要求及基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn),比如高精度測量儀器、標(biāo)準(zhǔn)測試卡等,確保校準(zhǔn)工具的可靠性和兼容性。
-
校準(zhǔn)方法:核心部分,詳細(xì)闡述了校準(zhǔn)的具體步驟、測量參數(shù)、評估指標(biāo)及數(shù)據(jù)處理方法。包括光標(biāo)定位精度、響應(yīng)時間、穩(wěn)定性等關(guān)鍵性能指標(biāo)的測試流程。
-
校準(zhǔn)結(jié)果的處理:說明了如何記錄、分析校準(zhǔn)數(shù)據(jù),并根據(jù)預(yù)設(shè)的合格標(biāo)準(zhǔn)判斷系統(tǒng)是否達(dá)到預(yù)期性能。同時,對不達(dá)標(biāo)情況提出了糾正措施和復(fù)校要求。
-
校準(zhǔn)周期:基于設(shè)備使用頻率、穩(wěn)定性等因素,給出了推薦的校準(zhǔn)間隔時間,確保設(shè)備持續(xù)保持良好的工作狀態(tài)。
-
記錄與報告:要求校準(zhǔn)過程需詳細(xì)記錄,形成校準(zhǔn)報告,報告中應(yīng)包含校準(zhǔn)日期、執(zhí)行人、設(shè)備信息、校準(zhǔn)結(jié)果及結(jié)論等,便于跟蹤管理和審核。
-
附錄:可能包含校準(zhǔn)記錄表格模板、參考值列表或其他輔助性資料,以便于實際操作時直接應(yīng)用。
此標(biāo)準(zhǔn)的實施有助于提升IC卡讀寫設(shè)備制造商和使用單位的校準(zhǔn)工作效率與質(zhì)量,保障信息處理的安全性和準(zhǔn)確性。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2013-04-01 頒布
- 2013-05-01 實施
文檔簡介
ICS1704001
A52..
中華人民共和國公共安全行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
GA/T1062—2013
IC卡光標(biāo)測試系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范
CalibrationspecificationsforIC-cardcursortestsystem
2013-04-01發(fā)布2013-05-01實施
中華人民共和國公安部發(fā)布
GA/T1062—2013
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由公安部第一研究所提出
。
本標(biāo)準(zhǔn)由公安部社會公共安全應(yīng)用基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位公安部第一研究所
:。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人汪民張浩王志剛滕旭盧玉華田昕
:、、、、、。
Ⅰ
GA/T1062—2013
IC卡光標(biāo)測試系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了卡光標(biāo)測試系統(tǒng)的計量性能要求通用技術(shù)要求校準(zhǔn)條件校準(zhǔn)項目和校準(zhǔn)
IC、、、
方法
。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于卡光標(biāo)測試系統(tǒng)的首次校準(zhǔn)后續(xù)校準(zhǔn)和使用中檢驗
IC、。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
計量標(biāo)準(zhǔn)考核規(guī)范
JJF1033—2008
測量不確定度評定與表示
JJF1059
3術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件
。
31
.
IC卡光標(biāo)測試系統(tǒng)IC-cardcursortestsystem
用于檢測卡四角的光標(biāo)尺寸質(zhì)量數(shù)據(jù)的設(shè)備系統(tǒng)由檢測器攝像機鏡頭光源工控機及
IC。(、、)
操作系統(tǒng)和光標(biāo)測試軟件等組成
XPE。
4計量性能要求
41標(biāo)準(zhǔn)樣板幾何量值測量誤差應(yīng)不超過
.±0.01mm。
42光標(biāo)尺寸示值誤差應(yīng)不超過
.±0.1mm。
43重復(fù)性應(yīng)不超過
.0.1mm。
5通用技術(shù)要求
51外觀
.
卡光標(biāo)測試系統(tǒng)以下簡稱測試系統(tǒng)應(yīng)標(biāo)有銘牌標(biāo)明產(chǎn)品名稱規(guī)格型號出廠編號制造廠
IC(),、、、
名稱
。
52要求
.
521測試系統(tǒng)應(yīng)放置在穩(wěn)定可靠處于水平狀態(tài)的工作臺上使用
..,。
522測試系統(tǒng)不應(yīng)有影響正常工作的各種損傷各分離儀器完好連接線能保證可靠工作
..。,
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