標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB 12664-2003 便攜式X射線安全檢查設(shè)備通用規(guī)范》相較于其前版《GB 12664-1990》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:
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技術(shù)指標(biāo)的提升:新版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)便攜式X射線安全檢查設(shè)備的技術(shù)性能提出了更高要求,包括但不限于圖像分辨率、穿透力以及設(shè)備的穩(wěn)定性與可靠性,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和安全檢查需求的提升。
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安全標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)化:針對(duì)輻射安全,2003版標(biāo)準(zhǔn)加入了更嚴(yán)格的安全控制措施和限值要求,確保設(shè)備在操作過程中的輻射泄露維持在極低水平,保護(hù)使用者和被檢物品的安全。
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環(huán)境適應(yīng)性與耐用性:考慮到便攜式設(shè)備可能面臨的復(fù)雜使用環(huán)境,新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性,如防塵、防水、抗沖擊能力等方面作出了明確規(guī)定,增強(qiáng)了設(shè)備的耐用性和適用范圍。
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電磁兼容性要求:隨著電子設(shè)備的普及,2003版標(biāo)準(zhǔn)引入了電磁兼容性(EMC)要求,確保X射線設(shè)備在各種電磁環(huán)境中能正常工作,且不會(huì)對(duì)周圍電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。
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檢測(cè)與認(rèn)證流程:更新了設(shè)備的檢測(cè)方法和認(rèn)證程序,使之更加科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn),確保所有上市設(shè)備均能滿足最新的技術(shù)與安全標(biāo)準(zhǔn)。
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用戶指南與標(biāo)識(shí):強(qiáng)調(diào)了設(shè)備應(yīng)配備詳細(xì)的操作手冊(cè)和明確的安全警示標(biāo)識(shí),提高用戶的正確操作意識(shí)和安全性。
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維護(hù)與保養(yǎng):新增或細(xì)化了設(shè)備的維護(hù)保養(yǎng)要求,旨在延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命,同時(shí)確保長(zhǎng)期使用的穩(wěn)定性和安全性。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2003-06-24 頒布
- 2004-02-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
CS13.310A91中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):12664—2003GB代替GB12664—1990便攜式X射線安全檢查設(shè)備通用規(guī)范GeneralspecificationforportableX-raysecurityinspectionequipment2003-06-24發(fā)布2004-02-01實(shí)施華人民共和國(guó)中發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
GB12664—2003前本標(biāo)準(zhǔn)的全部技術(shù)內(nèi)容為強(qiáng)制性本標(biāo)準(zhǔn)是GB12664—1990《便攜式X射線安全檢查設(shè)備技術(shù)條件》的修訂版.本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容上做了不少補(bǔ)充和修改,主要變化有:標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《便攜式X射線安全檢查設(shè)備通用規(guī)范》;術(shù)語和定義做了較大調(diào)整;性能要求做了較大調(diào)整,提高了試驗(yàn)的可操作性;-電氣安全要求做了調(diào)整和擴(kuò)充;+輻射防護(hù)性能要求做了較大調(diào)整和捉高;加了電磁兼容性要求;增加了對(duì)技術(shù)說明和使用說明書中必須包含的內(nèi)容的要求,特別是對(duì)輻射防護(hù)的內(nèi)容做了具體的規(guī)定;-試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及附錄均做了調(diào)整和補(bǔ)充本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起同時(shí)代替GB12664—1990。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄B是規(guī)范性附錄,附錄A、附錄C和附錄D是資料性附錄.本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)公安部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)安全防范報(bào)警系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC100)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由公安部第一研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:谷峰、洪良瑞。本標(biāo)準(zhǔn)1990年12月首次發(fā)布,2003年6月第一次修訂。
GB12664—2003便攜式X射線安全檢查設(shè)備通用規(guī)范1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了便攜式X射線安全檢查設(shè)備的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和存等要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于現(xiàn)場(chǎng)安全檢查中的各類便攜式X射線安全檢查設(shè)備。規(guī)范性引用文件2下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件·其隨后所有的修改單(不包括勤誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志(GB191—2000,eqyISO780:1997)GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(GB/T2423.1—2001.idtIEC60068-2-1:1990)GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試試驗(yàn)B:高溫(GB/T2423.2—2001,idtIEC60068-2-2:1974)GB/T2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法(GB/T2423.3-1993,eqvIEC60068-2-3:1984)第第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊GB/T2423.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)(GB/T2423.5—1995,idtIEC60068-2-27:1987)GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)(GB/T2423.10-1995,idtIEC60068-2-6:1982)GB4208—1993外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)(eqyIEC60529:1989)GB4793.1一1995測(cè)量、控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求第1部分:通用要求(idtIEC61010-1:1990)GB/T6593—1996電子測(cè)量?jī)x器質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則GB/T17626.2—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)(idtIEC61000-4-2:1995)GB/T17626.3—1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)耐頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)(idtIEC61000-4-3:1995)GB/T17626.5—1999電電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)(idtIEC61000-4-5:1995)3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn).便攜式X射線安全檢查設(shè)備portableX-raysecurityinspectionequipment-種利用X射線進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)安全檢查
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