GB/T 11606-2007分析儀器環(huán)境試驗方法

犐犆犛１９．０４０

犖５０

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜１１６０６—２００７

代替ＧＢ／Ｔ１１６０６．１～１１６０６．１７—１９８９

分析儀器環(huán)境試驗方法

犕犲狋犺狅犱狊狅犳犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犳狅狉犪狀犪犾狔狋犻犮犪犾犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋狊

２００７１０１１發(fā)布２００７１２０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜１１６０６—２００７

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２總則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３電源電壓與頻率試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

４低溫試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

５高溫試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

６溫度變化試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

７恒定濕熱試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

８交變濕熱試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

９振動試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１１

１０磁場試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１３

１１氣壓試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１３

１２沙塵試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１５

１３長霉試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１７

１４鹽霧試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２１

１５低溫貯存試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２２

１６高溫貯存試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２３

１７跌落試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２３

１８碰撞試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２４

圖１溫度變化循環(huán)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

圖２交變濕熱試驗周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１０

圖３碰撞試驗的脈沖波形（半正弦）!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２５

表１環(huán)境條件分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

表２參比工作條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

表３電壓與頻率組合!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

表４低溫分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

表５高溫分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

表６溫度變化分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

表７恒定濕熱分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

表８交變濕熱分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

表９振動分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１１

表１０氣壓條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１４

表１１試驗菌種名稱及侵蝕性!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１８

表１２低溫貯存分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２２

表１３高溫貯存分組!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２３

表１４跌落方式和要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２４

書

犌犅／犜１１６０６—２００７

前言

本標準代替ＧＢ／Ｔ１１６０６．１～１１６０６．１７—１９８９《分析儀器環(huán)境試驗方法》總則、電源頻率與電壓試

驗、低溫試驗、高溫試驗、溫度變化試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、振動試驗、磁場試驗、氣壓試驗、

沙塵試驗、長霉試驗、鹽霧試驗、低溫貯存試驗、高溫貯存試驗、跌落試驗、碰撞試驗各部分內(nèi)容。

本標準與ＧＢ／Ｔ１１６０６．１～１１６０６．１７—１９８９相比主要變化如下：

———將原ＧＢ／Ｔ１１６０６中“試驗”改為“條件試驗”；“試驗方法”改為“試驗程序”。

———將原ＧＢ／Ｔ１１６０６．１中“主題內(nèi)容和適用范圍”改為“范圍”，取消原“不適用”部分；修改了表１

中規(guī)定的溫度、相對濕度、振動、電源頻率的允差和運輸貯存等有關(guān)值。

———修改了原ＧＢ／Ｔ１１６０６．２中電源頻率的允差為額定值的±２％；增加“試驗程序２”電壓與頻率

組合。

———原ＧＢ／Ｔ１１６０６．３～１１６０６．８、ＧＢ／Ｔ１１６０６．１４～１１６０６．１５中第２章標題改為“試驗分組”及表

中內(nèi)容與總則中規(guī)定一致。

———修改了原ＧＢ／Ｔ１１６０６．３～１１６０６．４中“試驗持續(xù)時間”，取消１ｈ擋，增加８ｈ、１６ｈ兩擋；原第

４章取消，其內(nèi)容歸入第３章中；修改了原５．３中“將儀器放入試驗箱（室）內(nèi)并通電，……”改

為“將經(jīng)預(yù)處理的儀器，在不通電……”。

———將原ＧＢ／Ｔ１１６０６．５中“試驗持續(xù)時間”由原來的２ｈ、４ｈ、８ｈ改為１ｈ、２ｈ、３ｈ。

———將原ＧＢ／Ｔ１１６０６．６中３．１４電阻率改為電導(dǎo)率，原電阻率在電導(dǎo)率后加括號；增加了“儀器不

應(yīng)受到來自試驗箱（室）內(nèi)加熱元件的直接輻射”及對試驗箱（室）容積的要求。

———在原ＧＢ／Ｔ１１６０６．７中增加３．１．２、３．１．３、３．１．４的內(nèi)容；刪除原３．１．６內(nèi)容，增加“儀器不應(yīng)

受到來自試驗箱（室）內(nèi)加熱元件的直接輻射”的內(nèi)容；增加了對恢復(fù)時間的規(guī)定，一般為１２ｈ

（或２４ｈ）以上。

———在原ＧＢ／Ｔ１１６０６．８中增加了對試驗設(shè)備的要求。

———將原ＧＢ／Ｔ１１６０６．９中“磁場強度”改為“磁場強度要求”。

———原ＧＢ／Ｔ１１６０６．１０中２．２內(nèi)容改用“表”表示，將括號內(nèi)ｍｍＨｇ改為ｍｂａｒ，并增加了海拔高

度；增加“預(yù)處理”條款；修改條件試驗中儀器啟動時間，改在氣壓達到規(guī)定值后啟動；增加“氣

壓變化試驗方法”。

———調(diào)整了原ＧＢ／Ｔ１１６０６．１１中第２章試驗條件，將３種條件按程序排列；試驗用沙塵除Ｌｃ與原

標準材料相同，但比例有差異外，其余均作了修改。３種沙塵試驗的溫度和相對濕度一致，修

改了Ｌｃ的溫度、濕度，溫度由原來５５℃±２℃改為１５℃～３５℃，相對濕度小于５０％改為４５％

～７５％；試驗持續(xù)時間僅對Ｌｂ作了調(diào)整，分為６ｈ、１２ｈ、２４ｈ３擋；對試驗箱（室）的要求，根據(jù)

３種不同的試驗提出不同的條件。

———在原ＧＢ／Ｔ１１６０６．１２的范圍中增加了適用于評定零、部件在霉菌生長條件下的長霉程度；增

加了宛氏擬青梅和繩狀青梅兩菌種；在試驗程序中增加了小試樣的試驗和檢查；取消４．３．４有

關(guān)試樣規(guī)定和長霉等級評定的規(guī)定；取消附錄Ａ培養(yǎng)霉菌用的各種培養(yǎng)劑。

———在原ＧＢ／Ｔ１１６０６．１３的范圍中增加“適用部分”；將“鹽溶液”改為“試驗溶液”；增加“預(yù)處理”；

考慮到對儀器做試驗，在恢復(fù)中增加了“按有關(guān)標準規(guī)定的其他恢復(fù)條件和恢復(fù)時間”的內(nèi)容。

———在原ＧＢ／Ｔ１１６０６．１４～１１６０６．１５中增加了“對試驗設(shè)備要求”內(nèi)容；在預(yù)處理中增加了“對初

始檢測的要求”；修改了“恢復(fù)條件”，明確了“待溫度穩(wěn)定后將包裝件取出，在正常環(huán)境條件下

恢復(fù)２４ｈ以上”。

Ⅰ

犌犅／犜１１６０６—２００７

———對原ＧＢ／Ｔ１１６０６．１６中表１作了修改，條件已包括其內(nèi)，原３．２．２取消；增加“初始檢測”和

“傾斜跌落次數(shù)”；增加“條件試驗”和“相關(guān)標準應(yīng)給出的信息”。

———對原ＧＢ／Ｔ１１６０６．１７中“試驗等級”改為“嚴酷等級”。

本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。

本標準由全國工業(yè)過程測量和控制標準化技術(shù)委員會分析儀器分技術(shù)委員會歸口。

本標準起草單位：北京分析儀器研究所、北京北分瑞利分析儀器（集團）有限責(zé)任公司、上海精密科

學(xué)儀器有限公司分析儀器總廠、上海精密科學(xué)儀器有限公司雷磁儀器廠、重慶川儀九廠、南京分析儀器

廠有限公司、成都儀器廠。

本標準主要起草人：張心怡、馬雅娟、劉沛華、張海波、王巧梅、胡體寶、鄭文萍、余永惠。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１１６０６．１～１１６０６．１７—１９８９。

Ⅱ

犌犅／犜１１６０６—２００７

分析儀器環(huán)境試驗方法

１范圍

本標準規(guī)定了分析儀器環(huán)境試驗方法的總則及方法。

本標準適用于所有分析儀器（以下簡稱儀器）在研究、開發(fā)、設(shè)計、