標準解讀

GB/T 12085.18-2011 是一項中國國家標準，專注于光學和光學儀器的環(huán)境試驗方法。這一標準的具體內容集中在第18部分，它規(guī)定了對光學及光學儀器進行濕熱、低內壓綜合試驗的方法與要求，旨在評估這些設備在特定惡劣環(huán)境條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性。

標準適用范圍

該標準適用于各種光學儀器及其組件，包括但不限于相機鏡頭、望遠鏡、顯微鏡、激光設備等，在設計、生產和質量控制環(huán)節(jié)中進行的環(huán)境適應性測試。通過模擬濕熱和低氣壓同時作用的極端環(huán)境，來檢驗產品是否能保持其預期功能和性能。

試驗條件與參數

  1. 濕熱條件：標準詳細說明了試驗時應維持的溫度和濕度水平，通常包括高溫高濕環(huán)境，以考察材料的吸濕性、密封性以及電子部件在潮濕條件下的工作穩(wěn)定性。

  2. 低內壓（低壓）條件：除了濕熱外，標準還規(guī)定了降低試驗箱內氣壓的要求，模仿高海拔或航空運輸等場景，評估設備在低氣壓環(huán)境中的密封性、結構穩(wěn)定性和工作能力。

  3. 綜合試驗周期：標準指定了試驗的持續(xù)時間，可能包括幾個階段，每個階段都有具體的溫濕度和壓力設定，以全面考核設備的耐受性。

  4. 試驗前準備與試驗后檢查：包含了樣品的預處理步驟、試驗期間的監(jiān)控要求以及試驗結束后的檢測項目，如外觀檢查、功能驗證、性能指標測試等，確保試驗結果的有效性。

  5. 試驗設備與設施：說明了執(zhí)行此類試驗所需試驗箱的技術規(guī)格和校準要求，保證試驗環(huán)境的準確性和重復性。

  6. 數據記錄與分析：要求詳細記錄試驗過程中的各項參數變化和試驗結果，以便于數據分析和評估產品的環(huán)境適應性。

實施意義

遵循此標準進行的濕熱、低內壓綜合試驗，能夠幫助制造商和研發(fā)機構科學地評價光學及光學儀器的環(huán)境適應能力，及時發(fā)現潛在的設計缺陷或材料問題，從而提升產品質量和用戶使用體驗，確保產品在不同環(huán)境下都能保持良好的工作狀態(tài)。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經官方授權發(fā)布的權威標準文檔。

....

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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 12085.23-2022
  • 2011-06-16 頒布
  • 2011-11-01 實施
?正版授權
GB/T 12085.18-2011光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內壓綜合試驗_第1頁
GB/T 12085.18-2011光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內壓綜合試驗_第2頁
GB/T 12085.18-2011光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內壓綜合試驗_第3頁
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文檔簡介

ICS37020

N30.

中華人民共和國國家標準

GB/T1208518—2011

.

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法

第18部分濕熱低內壓綜合試驗

:、

Opticsandopticalinstruments—Environmentaltestmethods—

Part18Combineddamheatandlowinternalressure

:pp

(ISO9022-18:1994,MOD)

2011-06-16發(fā)布2011-11-01實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T1208518—2011

.

前言

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法分為以下個部分

GB/T12085《》21:

第部分術語試驗范圍

———1:、;

第部分低溫高溫濕熱

———2:、、;

第部分機械作用力

———3:;

第部分鹽霧

———4:;

第部分低溫低氣壓綜合試驗

———5:、;

第部分砂塵

———6:;

第部分滴水淋雨

———7:、;

第部分高壓低壓浸沒

———8:、、;

第部分太陽輻射

———9:;

第部分振動正弦與高溫低溫綜合試驗

———10:()、;

第部分長霉

———11:;

第部分污染

———12:;

第部分沖擊碰撞或自由跌落與高溫低溫綜合試驗

———13:、、;

第部分露霜冰

———14:、、;

第部分寬帶隨機振動數字控制與高溫低溫綜合試驗

———15:()、;

第部分彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗

———16:、;

第部分污染太陽輻射綜合試驗

———17:、;

第部分濕熱低內壓綜合試驗

———18:、;

第部分溫度周期與正弦振動隨機振動綜合試驗

———19:、;

第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣

———20:、;

第部分低壓與大氣溫度高溫綜合試驗

———21:、。

本部分修改采用光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第部分濕熱低內壓綜

ISO9022-18:1994《18:、

合試驗

》。

本部分與的主要差異為

ISO9022-18:1994:

刪除國際標準的序言和前言

———;

根據第章及我國標準用語習慣對標準范圍作了重新編寫

———ISO9022-181;

國際標準本部分一詞改為本部分

———“”“”;

第章中的規(guī)范性引用文件用現行國家標準替代

———2;

條件試驗中懸置段加編號

———。

本部分的附錄為資料性附錄

A。

本部分由中國機械工業(yè)聯合會提出

。

本部分由全國光學和光子學標準化技術委員會歸口

(SAC/TC103)。

本部分起草單位上海理工大學寧波永新光學股份有限公司江南永新光學有限公司南京東利來

:、、、

光電實業(yè)有限公司廣州粵顯光學儀器有限責任公司寧波市教學儀器有限公司寧波華光精密儀器有

、、、

限公司梧州奧卡光學儀器公司寧波舜宇儀器有限公司貴陽新天光電科技有限公司重慶光電儀器有

、、、、

限公司麥克奧迪實業(yè)集團有限公司

、。

本部分主要起草人章慧賢馮瓊輝曾麗珠葉慧李晞楊廣烈李彌高王國瑞徐利明張景華

:、、、、、、、、、、

胡森虎胡清夏碩肖倩

、、、。

Ⅰ

GB/T1208518—2011

.

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法

第18部分濕熱低內壓綜合試驗

:、

1范圍

本部分規(guī)定了濕熱低內壓綜合試驗的試驗條件條件試驗試驗程序及環(huán)境試驗標記

、、、。

本部分適用于光學儀器裝有光學零部件的儀器和光學零部件

、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過的本部分的引用而成為本部分的條款凡是注日期的引用文

GB/T12085。

件其隨后所有的修改單不包括勘誤的內容或修訂版均不適用于本部分然而鼓勵根據本部分達成

,(),,

協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本

。,

部分

。

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第部分術語試驗范圍

GB/T12085.11:、(GB/T12085.1—

2010,ISO9022-1:1994,MOD)

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第部分高壓低壓浸沒

GB/T12085.88:、、(GB/T12085.8—

2010,ISO9022-8:1994,MOD)

3試驗條件

在綜合作用力條件下對暴露的試樣進行的測試要比任一種單一環(huán)境條件試驗更為嚴酷

,。

光學儀器抗?jié)駸岷蛢鹊蛪壕C合試驗采用三種不同方法

。

4條件試驗

41總則

.

試樣的各個部分都達到與試驗箱室的溫差在之內開始試驗試樣上允許出現凝露各試驗

()3K。。

步驟應按預定順序依次進行試驗過程不允許中斷

。。

42條件試驗方法47濕熱和內低壓壓差低

.:,

條件試驗方法濕熱和內低壓壓差低按表和圖

47,11。

條件試驗方法適用于密封性制造要求低抗壓性低的光學儀器例如符合條

47()。:GB/T12085.8

件試驗方法中嚴酷等級為和的儀器

8101、02、0708。

表1

嚴酷等級

010203040506

試驗箱

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