GB/T 13166-1991電子測量儀器設(shè)計余量與模擬誤用試驗(yàn)

UDC621.317:53.08L85中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13166-91電子測量儀器設(shè)計余量與模擬誤用試驗(yàn)Designmarginandabusetestsforelectronicmeasuringinstruments1991-09-03發(fā)布1992-05-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

(京）新登字023號中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電子測量儀器設(shè)計余量與模擬誤用試驗(yàn)GB/T13166一91中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵郵政編碼：100045電話：63787337、637874471992年6月第一版2004年12月電子版制作.書號：155066·1-8710版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：（010）68533533

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電子測量儀器GB/T13166-91設(shè)計余量與模擬誤用試驗(yàn)Designmarginandabusetestsforelectronicmeasuringinstruments1主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子測量儀器在新產(chǎn)品設(shè)計的草樣階段，應(yīng)該進(jìn)行設(shè)計余量與模擬誤用試驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有環(huán)境組別的電子測量儀器。2試驗(yàn)?zāi)康脑S多儀器成功地通過了環(huán)境試驗(yàn)，但在實(shí)際使用之中，經(jīng)過元器件的老化、變值后，又出現(xiàn)了嚴(yán)重問題。這些儀器的設(shè)計應(yīng)該認(rèn)為是臨界的，并不代表將元器件選擇在設(shè)計中心值上。多數(shù)情況是這些問題在制造過程中出現(xiàn)，并通過生產(chǎn)的改變加以改正。但是仍有一些帶著問題的儀器到了用戶手中，改型或回收儀器都要付出較大的代價，而且也很難使用戶相信不再發(fā)生其他問題。有些余量設(shè)計在環(huán)境試驗(yàn)過程中失敗，這通常要導(dǎo)致整個試驗(yàn)計劃的中斷與寶貴設(shè)計時間的損失、如在設(shè)計過程的旱期，進(jìn)行這項(xiàng)嚴(yán)格的試驗(yàn)可以基本防止這些問題出現(xiàn)。因此把它包括在整個環(huán)境試驗(yàn)之中。3試驗(yàn)要求可能有幾百個設(shè)計變量可用來進(jìn)行試驗(yàn)，但本標(biāo)準(zhǔn)中只考惠幾個主要的和有代表性的變量。設(shè)計人員應(yīng)該正確判斷，以便給待試儀器選定有意義的試驗(yàn)條件。3.1可供試驗(yàn)的變量供電電源電壓；工作時鐘頻率；電源負(fù)載（短路）一誤用：輸入過載一—誤用：把電壓錯加到歐姆表接線端-誤用：把噪聲注入信號或控制線中：非正常的放置位置——可能的誤置：不適當(dāng)?shù)模ǖ强赡艿模┒私?；設(shè)計人員建議的其他應(yīng)試的變量3.2！試驗(yàn)條件可根據(jù)儀器特征從3.1條變量中選定試驗(yàn)條件，由于這時已不存在儀器工作在設(shè)計中心值的條件所以每一個選定的試驗(yàn)條件都代表對該儀器所施加的“應(yīng)力”3.3試驗(yàn)舉