標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 16464-1996 半導(dǎo)體器件 集成電路 第1部分：總則》作為中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了半導(dǎo)體器件特別是集成電路的基本要求、測(cè)試方法、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存等通用規(guī)范。不過(guò)，您提供的信息中并未直接給出另一個(gè)特定的標(biāo)準(zhǔn)以進(jìn)行詳細(xì)的對(duì)比變更分析。但是，我可以基于此類標(biāo)準(zhǔn)更新的一般趨勢(shì)和常見(jiàn)變更內(nèi)容，概述可能的變動(dòng)方向，盡管這無(wú)法精確對(duì)應(yīng)到某個(gè)特定的后續(xù)或前序標(biāo)準(zhǔn)版本。

一般來(lái)說(shuō)，此類標(biāo)準(zhǔn)更新時(shí)可能會(huì)涉及以下幾個(gè)方面的變更：

  1. 技術(shù)內(nèi)容更新：隨著半導(dǎo)體技術(shù)和制造工藝的進(jìn)步，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)納入新的技術(shù)要求和測(cè)試方法，以適應(yīng)更先進(jìn)的集成電路產(chǎn)品特性，比如更高的集成度、更快的運(yùn)行速度、更低的功耗等。

  2. 安全與環(huán)境要求：更新的標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)加強(qiáng)對(duì)環(huán)境保護(hù)和用戶安全的關(guān)注，引入或強(qiáng)化限制有害物質(zhì)使用的規(guī)定（如RoHS指令），以及提高產(chǎn)品在電磁兼容性(EMC)、靜電放電(ESD)防護(hù)等方面的要求。

  3. 標(biāo)準(zhǔn)化語(yǔ)言和格式：為了與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)接軌，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)調(diào)整術(shù)語(yǔ)定義、符號(hào)標(biāo)記及文檔結(jié)構(gòu)，使其更加國(guó)際化、規(guī)范化，便于全球范圍內(nèi)的理解和應(yīng)用。

  4. 測(cè)試和評(píng)估方法：隨著檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)采用更精確、高效的測(cè)試設(shè)備和方法來(lái)確保集成電路的質(zhì)量和性能，同時(shí)可能簡(jiǎn)化某些過(guò)時(shí)的測(cè)試流程。

  5. 標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存要求：為減少運(yùn)輸損耗和提高存儲(chǔ)效率，標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)對(duì)集成電路的包裝材料、標(biāo)識(shí)要求、防靜電保護(hù)措施等進(jìn)行修訂，確保產(chǎn)品在整個(gè)供應(yīng)鏈中的安全和可追溯性。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 1996-07-09 頒布
  • 1997-01-01 實(shí)施
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GB/T 16464-1996半導(dǎo)體器件集成電路第1部分：總則_第1頁(yè)
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ICS31.200L55中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16464-1996IEC748-1:1984半導(dǎo)體器件集成電路第1部分:總則SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart:General1996-07-09發(fā)布1997-01-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

第I篇IEC748號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的范圍和說(shuō)明范圍2說(shuō)明第篇：IEC748-1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的目的和說(shuō)明總則2目的3：說(shuō)明第篇IEC748-2號(hào)、IEC748-3號(hào)等標(biāo)準(zhǔn)的目的、說(shuō)明和要求第W篇：通用術(shù)語(yǔ)………………一般名詞術(shù)語(yǔ)2集成電路的籍位特性工藝術(shù)語(yǔ)5模集成電路和混合膜集成電路器件類型的術(shù)語(yǔ)第V篇通用文字符號(hào)…1基本文字符號(hào)·……2數(shù)字集成電路的下標(biāo)2.1電壓和電流·……………2.2開(kāi)關(guān)時(shí)間…………3模擬集成電路的下標(biāo)第篇關(guān)于基本額定值和電特性的一般規(guī)定2介紹發(fā)布資料的標(biāo)準(zhǔn)格式以及描述集成電路基本額定值、電特性和功能規(guī)范的方法2.1介紹發(fā)布資料的標(biāo)準(zhǔn)格式·…2.2描述集成電路基本額定值、電特性和功能規(guī)范的方法3“額定值”的基本定義……………冷卻條件的定義……5優(yōu)選溫度一覽表6優(yōu)選電壓一覽表……6.1用于推薦工作條件的優(yōu)選標(biāo)稱電壓-一覽表6.2機(jī)械額定值、特性和其他資料…8產(chǎn)品的離散性和一致性：···········99印制線和印制電路）適用于所有種類集成電路的規(guī)范格式10610.1總則

10.2相關(guān)應(yīng)用的描述10.3動(dòng)能規(guī)范·…·10.4極限值(絕對(duì)最大額定值)10.5工作條件……10.610.7編程（適用時(shí)）·..10.8機(jī)械和環(huán)境額定值，特性和其他資料10.9附加資料·………………·第篇通用測(cè)試方法1基本要求………·1.11.2一般注意事項(xiàng)·測(cè)試方法的縣體要求…….3測(cè)試方法的編號(hào)體系·3.1編號(hào)原則?……·…··3.2集成電路測(cè)試方法的編號(hào)表?3.3應(yīng)用表格··.….·….……………·3.4第w篇集成電路的驗(yàn)收和可靠性第1節(jié)：溉述……第2節(jié)一般原理第3節(jié)電耐久性試驗(yàn)1目的和說(shuō)明………2一般要求……2.1電試驗(yàn)條件…………2.2試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間…2.3失效判定特性和測(cè)試…2.4失失效判據(jù)….2.5，注意事項(xiàng)……3特殊要求………3.1耐久性試驗(yàn)表………3.2耐久性試驗(yàn)條件…3.3耐久性試驗(yàn)后，驗(yàn)收的失效判定特性和失效判據(jù)3.4可靠性試驗(yàn)的失效判定特性和失效判據(jù)·3.5誤試時(shí)處理程序………18第篇靜電敏感器件

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件集成電路第1部分：總則GB/T16464-1996IEC748-1:1984SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart1:General本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC748-1:1984《半導(dǎo)體器件集成電路：第1部分總則》其中包括1991年第1號(hào)修改單和1993年第2號(hào)修改單的內(nèi)容第I篇IEC748號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的范圍和說(shuō)明圍IEC748給出了有關(guān)集成電路的標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)與IEC747-1一起使用說(shuō)明TEC748由分別頒發(fā)的IEC748-1號(hào)、IEC748-2號(hào)等幾項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)組成。通過(guò)發(fā)布補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)(例如IEC748-2A)來(lái)適應(yīng)發(fā)展的需要第工篇IEC748-1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的目的和說(shuō)明1總則1EC748-1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)是748號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的通用部分,和IC747-1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)條款一起構(gòu)成集成電路的通用規(guī)定。因此.IEC747-1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的所有條款只要適用于集成電路即可引用日的提供有關(guān)IEC748號(hào)標(biāo)準(zhǔn)的范圍和說(shuō)明的通用內(nèi)容(見(jiàn)第1篇)提供適用于IEC748-2號(hào)、748-3號(hào)等各類或各分類集成電路標(biāo)準(zhǔn)的一般原則或要求。3說(shuō)明有關(guān)一般原則或要求的內(nèi)容在本標(biāo)準(zhǔn)的第至第W篇中給予說(shuō)明。注：本標(biāo)準(zhǔn)第口至第W篇的內(nèi)容：第日篇：關(guān)于IEC748-2號(hào)、748-3號(hào)等標(biāo)準(zhǔn)的日的、說(shuō)明和要求第N饒：通用術(shù)語(yǔ)除了I

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