標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17366-1998 礦物巖石的電子探針?lè)治鲈嚇拥闹苽浞椒ā愤@一標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了礦物和巖石樣品在進(jìn)行電子探針?lè)治銮暗闹苽淞鞒?、技術(shù)要求及質(zhì)量控制措施。然而，您提供的對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)信息不完整，我無(wú)法直接指出與某一特定標(biāo)準(zhǔn)相比的具體變更內(nèi)容。但可以概述該標(biāo)準(zhǔn)本身的關(guān)鍵要點(diǎn)及可能相對(duì)于早期或不同標(biāo)準(zhǔn)的一般性改進(jìn)方向。

該標(biāo)準(zhǔn)主要涉及以下幾個(gè)方面的規(guī)定：

  1. 樣品選取與預(yù)處理：明確了樣品應(yīng)具有代表性，且需去除表面雜質(zhì)，減少分析誤差?？赡芟鄬?duì)于舊標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)樣品純凈度的要求更為嚴(yán)格，或提供了更詳細(xì)的預(yù)處理指導(dǎo)。

  2. 切割與鑲嵌：規(guī)定了如何通過(guò)切割將大塊樣品減小至適合分析的尺寸，并介紹鑲嵌材料的選擇與使用方法，以確保樣品在研磨過(guò)程中穩(wěn)定。這可能意味著相比于以往，對(duì)鑲嵌材料的兼容性和穩(wěn)定性有了新的認(rèn)識(shí)或要求。

  3. 研磨與拋光：詳細(xì)闡述了從粗磨到細(xì)磨直至最終拋光的步驟，強(qiáng)調(diào)了每一步驟中使用的磨料類(lèi)型及粒度，以及為防止污染所采取的措施。與舊標(biāo)準(zhǔn)相比，可能加入了更精細(xì)的研磨分級(jí)和更嚴(yán)格的無(wú)污染控制指導(dǎo)。

  4. 清潔與保存：說(shuō)明了樣品完成制備后的清潔方法，以及如何妥善保存以避免分析前的污染或物理性質(zhì)變化。這反映出對(duì)樣品處理后階段的重視程度有所提升。

  5. 質(zhì)量控制：提出了制樣過(guò)程中的質(zhì)量控制指標(biāo)和檢驗(yàn)方法，確保樣品制備的一致性和可靠性。這可能是對(duì)以往標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)重要補(bǔ)充，強(qiáng)調(diào)了數(shù)據(jù)分析前的質(zhì)量保證體系。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1998-05-08 頒布
  • 1998-12-01 實(shí)施
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195.37.020133中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17366-1998礦物巖石的電子探針?lè)治鲈嚇拥闹苽浞椒∕ethodsofmineralandrockspecimenPreparationforEPMA1998-05-08發(fā)布1998-12-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)礦物巖石的電子探針?lè)治鲈嚇拥闹苽浞椒℅B/T17366一1998中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門(mén)外三里河北街16號(hào)郵政編碼：10%X45電話：63787337、637874471998年10月第一版：2005年1月電于版制作書(shū)號(hào)：155066·1-15247版權(quán)專(zhuān)有侵權(quán)必究舉報(bào)電話：（010）68533533

GB/T17366-1998前本標(biāo)準(zhǔn)尚無(wú)相應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)參照，為首次制定的我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的各項(xiàng)準(zhǔn)則，主要適用于礦物巖石等地質(zhì)樣品的電子探針?lè)治銮暗脑嚇又苽?，也適用于其他性質(zhì)相近的樣品，以保證電子探針?lè)治鼋Y(jié)果的質(zhì)量。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：地礦部礦床地質(zhì)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：周劍雄。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)礦物巖石的電子探針?lè)治鲈嚇拥闹苽浞椒℅B/T17366-1998MethodsofmineralandrockspecimenPreparationrorEPMA本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各類(lèi)礦物巖石等地質(zhì)樣品的電子探針定量分析用的標(biāo)準(zhǔn)樣品和試樣的通用制備方法，其他性質(zhì)相近的樣品也可參照?qǐng)?zhí)行。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文，本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用本標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T4930—93電子探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件GB/T15074—94電子探針定量分析方法通則3方法提要本方法綜合使用各種試樣制備技術(shù)，包括切割、包理、研磨和鍍膜等磨制過(guò)程,制備適用于電子探針定量分析的光片、光薄片等試樣。4儀器和材料4.1儀器4.1.1真空鍍膜儀4.1.2超聲波清洗裝置。4.1.3偏反光顯微鏡及刻樣器附件、.1.4金剛石切片機(jī)。.1.5磨片機(jī)。模壓機(jī)、4.1.7恒溫烘箱。4.1.8萬(wàn)用表。4.2材料4.2.1粘結(jié)材料：環(huán)氧樹(shù)脂、三乙醇胺、電木粉、石墨粉、固體導(dǎo)電膠、雙面膠等.4.2.2磨料，如180目、400目、800目、1200目剛玉粉，氧化鉻、氧化鎂和金剛石拋光粉或拋光高。4.2.3各種類(lèi)型的樣品座：銅圈、載玻璃片、蓋玻璃片等。4.2.4鍍膜專(zhuān)用礁棒或碳纖維

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