標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 20725-2006 波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則》是一份由中國發(fā)布的國家標(biāo)準(zhǔn)文件，旨在為使用波譜法定性點分析技術(shù)結(jié)合電子探針顯微鏡（EPMA）進(jìn)行材料成分分析提供指導(dǎo)原則和方法。這份標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)闡述了分析過程中的技術(shù)要求、操作步驟、數(shù)據(jù)處理及質(zhì)量控制等方面，以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。下面是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的概覽：

  1. 范圍：該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用電子探針顯微分析技術(shù)中波譜法定性點分析的方法原理、儀器校準(zhǔn)、樣品制備、測量條件選擇、數(shù)據(jù)分析方法及其在不同材料類型中的應(yīng)用指導(dǎo)。

  2. 術(shù)語和定義：明確了電子探針顯微分析、波譜法、定性分析等相關(guān)專業(yè)術(shù)語的定義，幫助使用者建立統(tǒng)一的概念理解基礎(chǔ)。

  3. 引用文件：列出了執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)時需要參考的其他國家標(biāo)準(zhǔn)或國際標(biāo)準(zhǔn)，這些文件提供了更具體的技術(shù)細(xì)節(jié)和要求。

  4. 原理：介紹了波譜法定性分析的基本原理，即通過測量樣品在電子束激發(fā)下產(chǎn)生的特征X射線光譜，來確定樣品中存在的元素種類。

  5. 儀器與設(shè)備：詳細(xì)描述了進(jìn)行電子探針顯微分析所需的儀器配置、性能指標(biāo)以及日常維護(hù)和校準(zhǔn)要求，確保分析設(shè)備的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

  6. 樣品準(zhǔn)備：規(guī)范了樣品的選取、制備方法（如切割、鑲嵌、磨拋、清洗）以及如何避免樣品制備過程中引入的污染和形貌變化對分析結(jié)果的影響。

  7. 測量條件：包括電子束的加速電壓、束流強度、探測器的選擇與設(shè)置等，指導(dǎo)用戶根據(jù)樣品特性和分析目標(biāo)選擇最合適的測量參數(shù)。

  8. 數(shù)據(jù)采集與處理：闡述了數(shù)據(jù)獲取的過程、背景扣除、譜線識別、定量分析前的定性確認(rèn)步驟，以及如何利用軟件工具進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。

  9. 結(jié)果報告：規(guī)定了分析結(jié)果報告應(yīng)包含的信息，如樣品信息、測試條件、檢測到的元素列表、可能的干擾因素說明及結(jié)論等，確保報告的完整性和透明度。

  10. 質(zhì)量保證與控制：提出了實施內(nèi)部質(zhì)控措施的建議，如使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行校驗、重復(fù)性測試和儀器穩(wěn)定性監(jiān)控，以保障分析結(jié)果的可靠性和一致性。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2006-12-25 頒布
  • 2007-08-01 實施
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GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則_第1頁
GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則_第2頁
GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則_第3頁
GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則_第4頁
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文檔簡介

ICS71.040.99N53中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T20725-2006/ISO17470：2004波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則EiectronprobemicroanalysisguidelinesforqualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometryCISO17470:2004.Microbeamanalysis-Electronprobemicroanalysis-GuidelinesforqualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometry,IDT)2006-12-25發(fā)布2007-08-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T20725-2006/ISO17470:2004前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO17470:2004《波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則》(英文版)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：曾毅、李香庭

GB/T20725—2006/ISO17470:2004電子探針顯微分析常常用于定性鑒別試樣中微區(qū)范圍內(nèi)存在的元素.為了避免錯誤的分析結(jié)果,必項規(guī)范測量條件和元素鑒別方法。

GB/T20725—2006/IS017470:2004波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則范圍本標(biāo)準(zhǔn)是用電子探針或者掃描電鏡中的波譜儀獲得試樣特定體積內(nèi)（gm2尺度）的X射線譜，進(jìn)行元素鑒別和確認(rèn)特定元素存在的一種標(biāo)準(zhǔn)方法。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。ISO14594:2003微區(qū)分析探針分析波譜實驗參數(shù)確定導(dǎo)則3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)高次行射higherorderreflections對應(yīng)于=2.3,4…·的不同衍射角出現(xiàn)的譜峰注：在WDS中.X射線按照Bragg方程（mA=2dsino)進(jìn)行衍射.入為X射線波長·d為品體的品面間距，0為衍射角，為整數(shù)。高次峰是對應(yīng)于=2.3.4……時不同衍射角度的譜峰32點分析pointanalysis入射電子束固定照射(轟擊)試樣表面所選區(qū)域的分析注：本標(biāo)準(zhǔn)也適用于人射電子束對試樣表面一個很小區(qū)域進(jìn)行快速掃描的方法。最大電子束尺寸或者電子束掃描范圍，可以通過擴大分析區(qū)域時的X射線相對強度不發(fā)生變化來確定。33羅蘭圓Rowlandcircle也稱聚焦圓.即X射線光源、衍射品體和探測器必須位于該圓周上以滿足布拉格衍射條件3.4X射線波長表X-rayIinetable用于EPMA定性分析的X射線波長表，注：用于EPMA定性分析的X射線波長表.列出了每個銜射品體衍射時元素的K，L和M線系的波長值。它還可列出每一個峰的相對強度、半高寬、衍射晶體的面間距和衛(wèi)星峰的波長等。專用名詞縮寫EPMA（electronprobemieroanalysisoreleetronprobemieroanalyzer）：電子探針顯微分析；電子深針顯微分析儀。WDS（wavele

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