GB/T 26641-2011無損檢測(cè)磁記憶檢測(cè)總則

ICS19100

J04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T26641—2011

無損檢測(cè)磁記憶檢測(cè)總則

Non-destructivetesting—Magneticmemorytesting—Generalprinciples

2011-06-16發(fā)布2012-03-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國(guó)

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

無損檢測(cè)磁記憶檢測(cè)總則

GB/T26641—2011

*

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京復(fù)興門外三里河北街號(hào)

16

郵政編碼

:100045

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

/p>

年月第一版

201110

*

書號(hào)

:155066·1-43680

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T26641—2011

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC56)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院愛德森廈門電子有限公司清華大學(xué)北京工業(yè)大

:、()、、

學(xué)北京航空材料研究院北京航空航天大學(xué)華北電力科學(xué)研究院上海泰司檢測(cè)科技有限公司上海

、、、、、

材料研究所

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人沈功田胡斌陳鋼林俊明李路明張亦良高廣興徐可北雷銀照胡先龍

:、、、、、、、、、、

金宇飛

。

Ⅰ

GB/T26641—2011

無損檢測(cè)磁記憶檢測(cè)總則

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)鐵磁性金屬材料構(gòu)件及焊縫進(jìn)行磁記憶檢測(cè)的一般原則

、。

奧氏體不銹鋼構(gòu)件和焊縫在一定條件下具有磁性也可參考本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行磁記憶檢測(cè)

,。

本標(biāo)準(zhǔn)為有關(guān)具體產(chǎn)品設(shè)備材料的磁記憶檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或書面作業(yè)指導(dǎo)書的制定提供指南除有特

、、。

殊規(guī)定外本標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容為最低要求

,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

無損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證

GB/T9445(ISO9712)

無損檢測(cè)術(shù)語渦流檢測(cè)

GB/T12604.6

無損檢測(cè)術(shù)語磁記憶檢測(cè)

GB/T12604.10

3術(shù)語和定義

和界定的術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T12604.6GB/T12604.10。

4人員資格

采用本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)的人員應(yīng)按的要求或有關(guān)主管部門的規(guī)定取得相應(yīng)無損檢測(cè)人

GB/T9445

員資格鑒定機(jī)構(gòu)頒發(fā)或認(rèn)可的渦流或電磁檢測(cè)等級(jí)資格證書從事相應(yīng)資格等級(jí)規(guī)定的檢測(cè)工作

,。

5方法概要

51磁記憶現(xiàn)象

.

在弱磁場(chǎng)環(huán)境中鐵磁性金屬材料在外界環(huán)境因素如載荷溫度機(jī)械加工或碰撞等作用下在

,(:、、),

局部區(qū)域產(chǎn)生不可逆的殘余磁性現(xiàn)象表現(xiàn)為在該外界環(huán)境因素去除后鐵磁性材料表面的局部磁場(chǎng)變

,,

化仍然保留

。

52磁記憶檢測(cè)原理

.

在不施加人工激勵(lì)磁場(chǎng)的條件下采用傳感器測(cè)量被檢件的表面磁場(chǎng)分布通過獲得磁場(chǎng)突變信號(hào)

,,

來發(fā)現(xiàn)被檢件上可能存在的應(yīng)力集中材料劣化或材料損傷部位

、。

圖為磁記憶檢測(cè)原理示意圖通過傳感器掃查被檢件表面磁場(chǎng)來獲取磁場(chǎng)分量常用法向分量

1。(,

也可為多維分量