SPC統(tǒng)計制程管制2

SPC(StatisticalProcessControl)

統(tǒng)計制程管制-2

統(tǒng)計過程控制是應(yīng)用統(tǒng)計的方法對過程中的各個環(huán)節(jié)進行監(jiān)控與診斷,從而達到改進與保證產(chǎn)品品質(zhì)的目的

.1SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentSPC的發(fā)展進程

a.1924年由美國的休哈特(W.A.Shewhart)提出.b.第二次世界大戰(zhàn)后期,1940年美國開始將SPC導(dǎo)入武器製造商的製程中,取得了良好的效果,但世界大戰(zhàn)結(jié)束后由于美國內(nèi)商業(yè)缺乏競爭,SPC在1950~1980有有逐漸從美國工業(yè)消失.c.戰(zhàn)敗的日本為了復(fù)興經(jīng)濟1950年從美國邀請休哈特的同事戴明(W.EdwardsDeming)博士到日本輔導(dǎo)SPC的應(yīng)用,經(jīng)過30年努力,取得了輝煌的成就.從而日本濟入世界工業(yè)強國之列.d.在日本的強大競爭之下,80年代美國在SPC作為一種高科技技術(shù)來推廣,SPC在美國得到全面的復(fù)興,經(jīng)過15年的努力到1995年左右美國與日本在產(chǎn)品質(zhì)量方面的差距才基本保持平.

2SPC統(tǒng)計制程管制2-Student何謂『統(tǒng)計』？

統(tǒng)計的基本原料是？

有數(shù)據(jù)就是統(tǒng)計嗎？經(jīng)過計算后得什麼？數(shù)據(jù)

計算

有意義的情報3SPC統(tǒng)計制程管制2-Student統(tǒng)計基礎(chǔ)4SPC統(tǒng)計制程管制2-Student何謂『統(tǒng)計』？統(tǒng)計

---收集的數(shù)據(jù)經(jīng)過計算從而得到有意義的情報的活動何謂『有意義的情報』？

至少應(yīng)包括：

『集中趨勢

+離中趨勢

+含蓋在特定範(fàn)圍內(nèi)的機率』

5SPC統(tǒng)計制程管制2-Student集中趨勢平均值中位數(shù)6SPC統(tǒng)計制程管制2-Student平均值概念:表示數(shù)據(jù)集中位置，數(shù)據(jù)算術(shù)平均數(shù)，常用符號表示。N:表示樣本數(shù)例:有統(tǒng)計數(shù)據(jù)2,3,4,5,6五個數(shù)據(jù)，則其平均數(shù)據(jù)為：

2+3+4+5+6

X=—————

=4_x5_X=

XiN7SPC統(tǒng)計制程管制2-Student中位數(shù)概念:

把收集到的統(tǒng)計資料按大小順序重新排列，排在正中間的那個數(shù)就叫作中位數(shù)，常用符號表示?！窭?試找出3、5、6、7、11五個樣本數(shù)據(jù)和3、5、6、8、9、11六個樣本數(shù)據(jù)的中位數(shù)。解：3、5、6、7、11的中位數(shù)為6；3、5、6、8、9、11的中位數(shù)為~x當(dāng)n爲(wèi)奇數(shù)時-----正中間的數(shù)只有一個，當(dāng)n爲(wèi)偶數(shù)時-----正中位置有兩個數(shù)，此時，爲(wèi)正中間兩個數(shù)的算術(shù)平均值。6+82=78SPC統(tǒng)計制程管制2-Student離中趨勢全距&極差

R

標(biāo)準(zhǔn)差σ

9SPC統(tǒng)計制程管制2-Student全距（極差）概念:

將樣本資料按大小順序排列，數(shù)列中最大值Xmax與最小資料Xmin之差稱爲(wèi)樣本的極差。常用符號R表示，其計算公式爲(wèi)：式中

Xmax

一組數(shù)據(jù)中的最大值，

Xmin

一組數(shù)據(jù)中的最小值例如：有3，6，7，8，10五個資料組成一組，則極差R=10-3=7

R=Xmax–Xmin10SPC統(tǒng)計制程管制2-Student(7)(1)(3)(5)A槍手b槍手什么是標(biāo)準(zhǔn)差?7531107531C槍手流程之聲飛標(biāo)圖解11SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentA槍手

A12SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentB槍手

AB13SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentC槍手

ABC14SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentA槍手MxLCLUCLB槍手MxLCLUCLC槍手MxLCLUCL15SPC統(tǒng)計制程管制2-Student91110Sigma(標(biāo)準(zhǔn)偏差)由此可見Sigma()即是----變異,學(xué)術(shù)名詞叫標(biāo)準(zhǔn)偏差Sigma()表示數(shù)據(jù)的離散程度(X-X)i-1=n1Σ

2n依照射擊擊中環(huán)次的頻率進行排列,可得以下的圖表:X16SPC統(tǒng)計制程管制2-Student母體樣本(X-X)

S=樣本標(biāo)準(zhǔn)差S=n-11Σ

2ni-1因為標(biāo)準(zhǔn)差是用數(shù)據(jù)整體計算，所以當(dāng)數(shù)據(jù)量大太時，就不便以操作,而且不符合現(xiàn)場需要。所以一般情況下,會用樣本標(biāo)準(zhǔn)差S來代替δS～～δ樣本標(biāo)準(zhǔn)差S樣本:從總體中隨機抽取的若干個個體的總和稱爲(wèi)樣本。組成樣本的每個個體稱爲(wèi)樣品。

～～δ17SPC統(tǒng)計制程管制2-Student品質(zhì)品質(zhì)3品質(zhì)與6品質(zhì)的差距SuSLM6品質(zhì)—減少變異18SPC統(tǒng)計制程管制2-Student數(shù)據(jù)分析Cp、Ca、Cpk19SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentA:每件産品的尺寸與別的都不同

數(shù)據(jù)的分布B:但它們形成一個模型，若穩(wěn)定，可以描述爲(wèi)一個分佈

C:數(shù)據(jù)會有不同的分布型態(tài)，正態(tài)分布為鐘型20SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentCp

CapabilityofPrecision精確度：是衡量工序能力對産品規(guī)格要求滿足程度的數(shù)量值，記爲(wèi)Cp。通常以規(guī)格範(fàn)圍T與工序能力6*δ的比值來表示。即：??????????????????不精密精密21SPC統(tǒng)計制程管制2-Student精密度表示什麼

1.製程精密度，其值越高表示製程實際值間的離散程度越小，亦即表示製程穩(wěn)定而變異?。x中趨勢，與σ有關(guān)）。

2.當(dāng)公差範(fàn)圍內(nèi)能納入愈多的σ個數(shù)，則此製程表現(xiàn)愈好，其本身是一種製程固有的（已決定的）特性值，代表一種潛在的能力

Cp=T/6δ=規(guī)格公差/6*標(biāo)準(zhǔn)差規(guī)格公差=UCL-LCL=規(guī)格上線-規(guī)格下線22SPC統(tǒng)計制程管制2-Student例某批零件的厚度為1.35±0.15,抽100個測量得以下結(jié)果:求它的Cpk值23SPC統(tǒng)計制程管制2-Student續(xù)例X

==(X-X)i-1=n1Σ

2n24SPC統(tǒng)計制程管制2-Student續(xù)例Cp=T/6δ=規(guī)格公差/6*標(biāo)準(zhǔn)差=Ca==

==25SPC統(tǒng)計制程管制2-Student續(xù)例Cpk=Cp×(1-|Ca|)==26SPC統(tǒng)計制程管制2-Student精密度評價Cp值製程等級圖例說明Cp≧1.67較佳表示:工序能力過分充裕，有很大的貯備不合格品率p＜0.00006%1.67>Cp≧1.33A(合格)對精密加工而言，工序能力適宜；對一般加來說工序能力仍比較充裕，有一定貯備不合格品率0.00006%≤p＜0.006%

1.33>Cp≧1.00B(警告)對一般加工而言，工序能力適宜不合格品率0.006%≤p＜0.27%

1.00>Cp≧0.67C(不足)工序能力不足，不合格品率較高不合格品率0.27%≤p＜4.55%27SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentCa

CapabilityofAccuracy準(zhǔn)確度:

代表製程平均值偏離規(guī)格中心值之程度。若其值越小，表示製程平均值越接近規(guī)格中心值，亦即品質(zhì)越接近規(guī)格要求之水準(zhǔn)（集中趨勢，與有關(guān)），值越大，表示製程平均值愈偏離規(guī)格中心值，所造成的不良率將愈大）

_x??????????準(zhǔn)確度好????????準(zhǔn)確度差SLSuMSLSuMSu=規(guī)格上限SL=規(guī)格下限μ=規(guī)格中心28SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentCa

CapabilityofAccuracy準(zhǔn)確度Su=規(guī)格上限SL=規(guī)格下限T=規(guī)格允差.，T=Su-Sl

制程平均值-規(guī)格中心值規(guī)格允差之半=Ca=*100%X-MT/2*100%即偏移系數(shù)(k)=Ca29SPC統(tǒng)計制程管制2-Student偏移係數(shù)Su=規(guī)格上限SL=規(guī)格下限T=規(guī)格允差.，T=Su-SLSuSLT=Su–SL=Tu-TLK偏移量=_xM=T/2M-_x偏移係數(shù)KM-_x30SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentCa

等級評定后處理原則:A:作業(yè)員依作業(yè)標(biāo)準(zhǔn).繼續(xù)維持.B:有必要時.盡可能改為A級C:作業(yè)員可能看錯規(guī)格或未照作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作,應(yīng)加強訓(xùn)練,檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn).D:應(yīng)采取緊急措施.全面檢討可能影響因素.必要時停產(chǎn).（實績）（實績）（實績）XXXA級B級C級D級規(guī)格中心值規(guī)格上限（下限）12.5%25%50%100%等級之解說31SPC統(tǒng)計制程管制2-Student讓我們回憶下Cp與Ca

的關(guān)係不精密

精密準(zhǔn)確

不準(zhǔn)確

??????????????????????????????????32SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentCpk

製程能力指數(shù)一種用以量度某一特性的變化趨勢及概率的統(tǒng)計指標(biāo).

Cpk=CP*(1-Ca)=T/6δ*【1-2(M-X)/T】

δ:標(biāo)準(zhǔn)差M:規(guī)格中心公式一

公式二

Cpk=min(，)即取兩者最小值，但不管采用那種方式，結(jié)果都是一樣的。33SPC統(tǒng)計制程管制2-Student僅給出規(guī)格上限Su

各種規(guī)格型態(tài)下的Cpkμf（x）SLσxμ-SLμf（x）SUσx僅給出規(guī)格下限SL

Su-μ單邊公差時：由於沒有規(guī)格中心值，故Ca=N/A，故定義Cpk=Cp

34SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentCpk制程能力指數(shù)等級評定后處置原則（Cpk等級之處置）Ａ級：制程能力足夠Ｂ級：制程能力尚可，應(yīng)再努力Ｃ級：制程應(yīng)加以改善等級Cpk值ＡＢＣ1.33≦

Cpk1.00≦

Cpk

≦

1.33Cpk

≦

1.0035SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentMeaningsofCpkMeasures

Cpk

量測之意義Cpk=negativenumberCpk=zeroCpk=between0and1Cpk=1Cpk>136SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentCpk形象比喻Cpk如同開車過小橋1.車身的太小如同Cp好壞(固有的品質(zhì)特性)2.橋如同工程規(guī)格大小2.開車的技術(shù)如同Ca好壞TIME37SPC統(tǒng)計制程管制2-Student公差上限公差下限公差上限公差下限公差上限公差下限公差上限公差下限生產(chǎn)過程的幾種狀態(tài)圖a穩(wěn)定可預(yù)計的圖b不穩(wěn)定不可預(yù)計的圖c不穩(wěn)定不可預(yù)計的圖d趨向穩(wěn)定TIME38SPC統(tǒng)計制程管制2-Student??????????????????????????Cpk的改善的方向Ca準(zhǔn)確度差Cp精確度差39SPC統(tǒng)計制程管制2-StudentStatisticalProcessControl–

IdentifyandReduceProcessVariability

統(tǒng)計製程管制-確認(rèn)並降低製程變異LowerspecificationlimitUpperspecificationlimi