標準解讀
《GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》是一項國家標準,主要針對掃描探針顯微鏡(SPM)在操作過程中可能出現(xiàn)的樣品臺或探針位置隨時間變化的現(xiàn)象,即所謂的“漂移”。該標準旨在提供一套統(tǒng)一的方法來量化這種漂移現(xiàn)象的速度,以便于不同設備間性能比較以及實驗結果的可重復性。根據(jù)此標準,漂移速率被定義為單位時間內由于非控制因素導致的位置變化量。
標準中詳細描述了進行測量所需的基本條件、儀器設置要求、測試程序等。首先,對于待測系統(tǒng)有明確的要求,包括但不限于環(huán)境溫度、濕度的穩(wěn)定性;其次,在準備階段需要校準顯微鏡的各項參數(shù)以確保其處于最佳工作狀態(tài);然后是具體的測量步驟,通常涉及選取合適的參考點作為起始位置,并記錄下一段時間內該點相對于初始設定位置的變化情況;最后,通過計算這段時間內總位移與時間間隔之比得到平均漂移速率值。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2012-12-31 頒布
- 2013-06-01 實施





文檔簡介
ICS1718099
A60..
中華人民共和國國家標準
GB/T29190—2012
掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法
Measurementmethodsofdriftrateofscanningprobemicroscope
2012-12-31發(fā)布2013-06-01實施
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T29190—2012
目次
前言…………………………
Ⅰ
引言…………………………
Ⅱ
范圍………………………
11
規(guī)范性引用文件…………………………
21
術語和定義縮略語………………………
3、1
測量方法…………………
42
要求………………………
52
儀器要求……………
5.12
環(huán)境要求……………
5.22
測量步驟…………………
62
測量報告…………………
73
附錄規(guī)范性附錄圖像相關分析法…………………
A()4
附錄規(guī)范性附錄特征點法…………
B()7
附錄規(guī)范性附錄非周期光柵法……………………
C()9
附錄資料性附錄原子光柵法………………………
D()12
附錄資料性附錄測量方法比較……………………
E()14
參考文獻……………………
15
GB/T29190—2012
前言
本標準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別這些專利的責任
。。
本標準由中國科學院提出并歸口
。
本標準由全國納米技術標準化技術委員會歸口
(SAC/TC279)。
本標準起草單位中國科學技術大學上海市計量測試技術研究院
:、。
本標準主要起草人黃文浩陳宇航李源傅云霞褚家如李家文牛頓朱五林劉一
:、、、、、、、、。
Ⅰ
GB/T29190—2012
引言
掃描探針顯微鏡以下簡稱是納米科學與技術中的主要工具之
(ScanningProbeMicroscope,SPM)
一對于具有納米級以至原子級分辨力的其時間穩(wěn)定性與儀器的設計操作環(huán)境和使用等密切
。SPM,、
相關作為的重要規(guī)格參數(shù)漂移速率的大小直接關系著的使用性能例如無失真圖像
。SPM,SPM。,
的連續(xù)獲取樣品局域物化特性的測量樣品表面動態(tài)特性的實時觀測微納裝配和操縱等此外漂移
、、、。,
速率的大小對于評價儀器也有重要指導意義目前許多配置漂移補償模塊或閉環(huán)控制模塊盡
。,SPM;
管漂移速率大幅降低但漂移依然存在因此在xy和z方向漂移速率的定義和漂移速率測量
,。,SPM、
方法的規(guī)范化具有重要意義
。
本標準給出了在xy和z方向漂移速率的測量方法以便于制造商在儀器規(guī)格中提供漂移
SPM、,
數(shù)據(jù)幫助用戶表征儀器漂移特性
,。
Ⅱ
GB/T29190—2012
掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法
1范圍
本標準規(guī)定了漂移速率的術語和定義縮略語測量步驟性能參數(shù)規(guī)格及基于掃描
SPM、、、,SPM
圖像的漂移速率測量基本方法
。
本標準適用于到的漂移速率測量本標準中的漂移測量不適用于圖像校正
0.01nm/s10nm/s。。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
標準樣品工作導則標準樣品定值的一般原則和統(tǒng)計方法
GB/T15000.3(3);
通用計量術語及定義
JJF1001;
測量不確定度評定與表示
JJF1059(ISOGUM:1995,IDT);
表面化學分析名詞第部分掃描探針顯微鏡適用術語
ISO18115,2:(Surfacechemical
analysis—Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning—probemicroscopy)。
3術語和定義縮略語
、
界定的以及下列術語和定義縮略語適用于本文件
GB/T20000.1、。
31術語和定義
.
311
..
漂移drift
儀器中探針相對于樣品的實際位置與設定位置的偏差
SPM。
注所有參數(shù)設置均可能產(chǎn)生漂移如xz方向的位移激光光斑在懸臂梁上的位置掃描近場光學顯微鏡的光
:,、y、,,
源強度等本標準中漂移限定為x和z方向上探針相對于樣品設定
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