GB/T 33564.1-2017識(shí)別卡卡使用壽命第1部分：應(yīng)用輪廓和要求

ICS3524015

L64..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T335641—2017

.

識(shí)別卡卡使用壽命

第1部分應(yīng)用輪廓和要求

:

Identificationcards—Cardservicelife—

Part1Alicationrofilesandreuirements

:pppq

(ISO/IEC24789-1:2012,MOD)

2017-05-12發(fā)布2017-12-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T335641—2017

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)定義和縮略語(yǔ)

3、………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3.1…………………………1

縮略語(yǔ)

3.2………………2

卡應(yīng)用及其輪廓

4…………………………2

應(yīng)用輪廓的確定

4.1……………………2

老化和使用類別的確定

4.2……………6

評(píng)價(jià)模式的確定

5…………………………7

概述

5.1…………………7

采用獨(dú)立方法的評(píng)價(jià)模式

5.2…………7

使用評(píng)價(jià)序列的評(píng)價(jià)模式

5.3…………9

附錄資料性附錄應(yīng)用輪廓示例

A()……………………14

附錄資料性附錄評(píng)價(jià)模式示例

B()……………………42

Ⅰ

GB/T335641—2017

.

前言

識(shí)別卡卡使用壽命擬分為以下兩個(gè)部分

GB/T33564《》:

第部分應(yīng)用輪廓和要求

———1:;

第部分評(píng)價(jià)方法

———2:。

本部分為的第部分

GB/T335641。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分修改采用識(shí)別卡卡使用壽命第部分應(yīng)用輪廓和要求

ISO/IEC24789-1:2012《1:》。

本部分與的技術(shù)性差異及其原因如下

ISO/IEC24789-1:2012:

關(guān)于規(guī)范性引用文件本部分做了具有技術(shù)性差異的調(diào)整以適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的使用調(diào)整的情況集

———,,,

中反映在第章規(guī)范性引用文件中具體調(diào)整如下

2“”,:

用等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的代替見(jiàn)

1)GB/T14916—2006ISO/IEC7810(3.1、3.2);

用修改采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的代替見(jiàn)

2)GB/T17554.1—2006ISO/IEC10373-1(3.1、3.2、5.3.2);

用等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的代替見(jiàn)

3)GB/T17554.2—2015ISO/IEC10373-2(3.1、3.2、5.3.2);

增加引用了見(jiàn)

4)ISO/IEC10373-1:2006/AMD1:2008(5.3.2);

改為注日期引用見(jiàn)第章及

5)ISO/IEC24789-2:2011(3.1、3.2、5B.1.4)。

本部分還作了下列編輯性修改

:

對(duì)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)第章附錄中的懸置段進(jìn)行了處理對(duì)應(yīng)章條的編號(hào)進(jìn)行了相應(yīng)修改

a)5、B,;

刪除了附錄中重復(fù)性描述的語(yǔ)句

b)A;

附錄中的二維條碼改為如二維條碼參見(jiàn)

c)B“pdf417”“:GM,SJ/T11349—2006”。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC28)。

本部分起草單位中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院中電智能卡有限責(zé)任公司上海一芯智能科技有限

:、、

公司

。

本部分主要起草人金倩馮敬李建軍周崢耿力劉文莉王莉萍喬申杰王峻峰

:、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T335641—2017

.

引言

本部分給出了一個(gè)用于確定識(shí)別卡應(yīng)用輪廓及其要求的方法

。

這些應(yīng)用輪廓及其要求旨在引導(dǎo)本部分的讀者考慮不同識(shí)別卡使用壽命應(yīng)用的相對(duì)嚴(yán)謹(jǐn)性這

,。

些輪廓和要求以適合采用相應(yīng)測(cè)試方法進(jìn)行評(píng)價(jià)的方式提供了一種對(duì)影響卡使用壽命的主要因子

,ID

進(jìn)行排名和比較的方法

。

為了適應(yīng)現(xiàn)有的卡最簡(jiǎn)單的分類至少使用到中定義的特性和準(zhǔn)則以及

,GB/T14916—2006,

中定義的測(cè)試方法裝置和規(guī)程考慮了兩種類型的卡包含集成電路的卡和不

GB/T17554.1—2006、。:

包含集成電路的卡

。

雖然在中為了模擬老化或使用引用到中某些測(cè)試方法的部分

GB/T33564,GB/T17554.1—2006

規(guī)程和裝置然而這些引用明顯區(qū)別于的正常使用在正常使用情況下這些

,GB/T17554.1—2006。,

的測(cè)試方法用于確定卡是否符合而并沒(méi)有明確針對(duì)特定應(yīng)

GB/T17554.1—2006GB/T14916—2006,

用的卡使用壽命要求

。

由于缺少現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)室相關(guān)數(shù)據(jù)本部分目前僅能提供有限的接收準(zhǔn)則規(guī)范的應(yīng)用輪廓和要求

/,()。

然而預(yù)計(jì)在將來(lái)的版本中將會(huì)有更全面的接收水平的值

,。

目前表明直接等價(jià)于任何實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)使用條件的測(cè)量的數(shù)據(jù)有限在針對(duì)所討論的識(shí)別卡結(jié)構(gòu)建

,。

立起一定程度的定量相關(guān)性之前建立任何這樣的等價(jià)關(guān)系都是不可能的

,。

本部分的附錄給出了若干識(shí)別卡應(yīng)用輪廓及其評(píng)價(jià)模式的示例這些示例依據(jù)

,ISO/IEC24789-1,

可能與國(guó)內(nèi)目前的應(yīng)用現(xiàn)狀并非一一對(duì)應(yīng)僅供標(biāo)準(zhǔn)使用者參考

,。

為了某些使用者方便給識(shí)別卡行業(yè)普遍使用的某些量值賦予非國(guó)際單位制量綱這些量綱在括

,。

號(hào)中給出僅供參考

,。

Ⅳ

GB/T335641—2017

.

識(shí)別卡卡使用壽命

第1部分應(yīng)用輪廓和要求

:

1范圍

的本部分包括一個(gè)用于確定應(yīng)用輪廓及其要求的方法和相應(yīng)的示例參見(jiàn)附錄

GB/T33564(A)。

它不包含任何增加或變更其他適用標(biāo)準(zhǔn)中定義的識(shí)別卡屬性的要求它旨在以一套簡(jiǎn)單而合理的評(píng)價(jià)

。

方法定義本部分定義的每個(gè)應(yīng)用的相對(duì)嚴(yán)謹(jǐn)性

。

的目的是在模擬一個(gè)卡使用壽命的方法及其使用方面提供指南為了達(dá)到這一目

GB/T33564。

的定義了卡使用壽命的兩個(gè)參數(shù)壽命和使用這可以用一個(gè)二維矩陣來(lái)表示其中每一個(gè)壽命使用

,:。:/

的組合對(duì)應(yīng)一個(gè)卡使用壽命類的兩部分共同描述用到的評(píng)價(jià)方法及其準(zhǔn)則

。GB/T33564。

適用于符合的型卡的使用壽命標(biāo)準(zhǔn)對(duì)其他類型和形態(tài)條

GB/T33564GB/T14916—2006ID-1,

件的卡也可能是全部或部分適用的

。

相應(yīng)的評(píng)價(jià)方法的參考在中和其他地方給出

ISO/IEC24789-2:2011。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

識(shí)別卡物理特性

GB/T14916—2006(ISO/IEC7810:2003,IDT)

識(shí)別卡測(cè)試方法第部分一般特性測(cè)試

GB/T17554.1—20061:(ISO/IEC10373-1:1998,

MOD)

識(shí)別卡