標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 33714-2017 納米技術(shù) 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術(shù)》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，主要針對使用原子力顯微鏡（AFM）進(jìn)行納米顆粒尺寸測量的方法進(jìn)行了規(guī)范。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各類固體納米顆粒的尺寸測定，包括但不限于金屬、陶瓷及聚合物等材料制成的納米顆粒。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，測量前需對樣品進(jìn)行適當(dāng)?shù)臏?zhǔn)備處理，確保其表面狀態(tài)適合于AFM成像，并且能夠準(zhǔn)確反映顆粒的真實(shí)形態(tài)與尺寸。對于樣品制備的具體要求包括清潔度、平整度等方面的規(guī)定，以保證后續(xù)測量結(jié)果的有效性和可靠性。

在選擇合適的探針時(shí)，應(yīng)考慮探針尖端半徑、彈性系數(shù)等因素，以匹配不同類型的樣品和實(shí)驗(yàn)需求。此外，還需注意掃描參數(shù)的選擇，如掃描速度、力反饋設(shè)置等，這些都將直接影響到圖像的質(zhì)量以及最終的數(shù)據(jù)分析結(jié)果。

關(guān)于數(shù)據(jù)采集與處理部分，《GB/T 33714-2017》詳細(xì)介紹了如何通過AFM獲取高質(zhì)量的二維或三維形貌圖，并基于這些圖像來計(jì)算出單個(gè)納米顆粒或多顆顆粒聚集體的確切尺寸信息。其中包括了利用軟件工具對原始數(shù)據(jù)進(jìn)行校正、濾波等預(yù)處理步驟，以及采用不同的算法模型來進(jìn)行精確測量的方法論指導(dǎo)。

最后，在報(bào)告編寫方面，本標(biāo)準(zhǔn)也給出了明確指示，強(qiáng)調(diào)了記錄所有相關(guān)實(shí)驗(yàn)條件的重要性，比如使用的儀器型號、具體操作流程、環(huán)境因素控制等，同時(shí)還建議附上代表性圖片作為輔助說明材料，以便他人可以復(fù)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)過程并驗(yàn)證所得結(jié)論。


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....

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  • 2017-05-12 頒布
  • 2017-12-01 實(shí)施
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GB/T 33714-2017納米技術(shù)納米顆粒尺寸測量原子力顯微術(shù)_第1頁
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文檔簡介

ICS19020

N04.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T33714—2017

納米技術(shù)納米顆粒尺寸測量

原子力顯微術(shù)

Nanotechnology—Testmethodforsizeofnanoparticles—Atomicforcemicroscopy

2017-05-12發(fā)布2017-12-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T33714—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

基本原理和模式

4…………………………1

儀器

5………………………2

測量樣品的預(yù)處理

6………………………2

測量方法

7…………………3

測量結(jié)果

8…………………5

不確定度評定

9……………5

測量報(bào)告

10…………………5

附錄資料性附錄納米顆粒的沉積方法

A()……………7

附錄資料性附錄納米顆粒高度測量實(shí)例

B()…………10

附錄資料性附錄不確定度評定

C()……………………13

附錄資料性附錄推薦的測量報(bào)告格式

D()……………15

參考文獻(xiàn)

……………………16

Ⅰ

GB/T33714—2017

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)院提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC279)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位國家納米科學(xué)中心納米技術(shù)及應(yīng)用國家工程研究中心北京粉體技術(shù)協(xié)會

:、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人朱曉陽楊延蓮高潔何丹農(nóng)朱君周素紅張迎

:、、、、、、。

Ⅲ

GB/T33714—2017

納米技術(shù)納米顆粒尺寸測量

原子力顯微術(shù)

警告本標(biāo)準(zhǔn)并未指出所有可能的安全問題在應(yīng)用本標(biāo)準(zhǔn)之前使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩?/p>

:,,

健康措施并保證符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件

,。

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用原子力顯微術(shù)簡稱測量納米顆粒高度來表征納

(Atomicforcemicroscopy,AFM)

米顆粒尺寸的方法

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于分散在平整襯底表面上的納米顆粒測量

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

利用晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法

GB/T27760Si(111)

納米科技術(shù)語第部分核心術(shù)語

GB/T30544.1—20141:

表面化學(xué)分析術(shù)語第部分掃描探針顯微術(shù)術(shù)語

ISO18115-22(Surfacechemical

analysis—Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning-probemicroscopy)

3術(shù)語和定義

和界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T27760、GB/T30544.1ISO18115-2。

31

.

團(tuán)聚體agglomerate

弱束縛顆粒的堆積體聚集體或二者的混合體其外表面積與其單個(gè)顆粒的表面積的總和相近

、,。

注1支撐團(tuán)聚體的作用力都是弱力如范德華力或簡單的物理纏結(jié)

:,。

注2團(tuán)聚體也被稱為次級顆粒而源顆粒則被稱為初級顆粒

:,。

注3利用成像技術(shù)如一般很難區(qū)分樣品在沉積過程中形成的團(tuán)聚即假象或事先存在的團(tuán)聚體

:,AFM,()。

32

.

聚集體aggregate

強(qiáng)束縛或融合在一起的顆粒構(gòu)成的新顆粒其外表面積可能小于其單個(gè)顆粒表面積的總和

,

溫馨提示

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