GB/T 5095.2502-2021電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第25-2部分：試驗(yàn)25b：衰減(插入損耗)

ICS3122010

L23..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法

第25-2部分試驗(yàn)25b衰減插入損耗

::()

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-2Test25bAttenuationinsertionloss

::()

[IEC60512-25-2:2002,Connectorsforelectronicequipment—Testsand

measurements—Part25-2:Test25b:Attenuation(insertionloss),IDT]

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

總則

1………………………1

范圍和目的

1.1…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

1.2…………………………1

試驗(yàn)設(shè)施

2…………………1

設(shè)備

2.1…………………1

裝置

2.2…………………1

試驗(yàn)樣品

3…………………2

說明

3.1…………………2

試驗(yàn)程序

4…………………2

裝置衰減

4.1……………3

樣品衰減測(cè)量

4.2………………………3

阻抗分析儀開路短路法

4.3(/)…………4

追加測(cè)量

4.4……………4

時(shí)域法

4.5………………4

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則

5…………………5

試驗(yàn)記錄文件

6……………5

附錄規(guī)范性附錄裝置和設(shè)備的示意圖

A()……………6

附錄資料性附錄實(shí)用指南

B()…………10

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

前言

電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法按試驗(yàn)方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號(hào)完整性試驗(yàn)已經(jīng)發(fā)布或計(jì)劃發(fā)布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗(yàn)串?dāng)_比

———25-1:25a:;

第部分試驗(yàn)衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗(yàn)上升時(shí)間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗(yàn)傳輸時(shí)延

———25-4:25d:;

第部分試驗(yàn)回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗(yàn)眼圖和抖動(dòng)

———25-6:25f:;

第部分試驗(yàn)阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號(hào)完整性試驗(yàn)試驗(yàn)外來(lái)串?dāng)_

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-2。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第部

IEC60512-25-2:2002《25-2

分試驗(yàn)衰減插入損耗

:25b:()》。

本部分做了下列編輯性修改

:

標(biāo)準(zhǔn)名稱由電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測(cè)量第部分試驗(yàn)衰減插入損耗修

———《25-2:25b:()》

改為電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第部分試驗(yàn)衰減插入損

《25-2:25b:(

耗

)》。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國(guó)電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團(tuán)有限公司中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

Ⅰ

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法

第25-2部分試驗(yàn)25b衰減插入損耗

::()

1總則

11范圍和目的

.

的本部分適用于電連接器插座電纜組件或互連系統(tǒng)

GB/T5095、、。

本部分描述了測(cè)量作為頻率函數(shù)的衰減插入損耗的頻域法和時(shí)域法

/。

注本文件從始至終引用了衰減一詞當(dāng)按樣品和傳輸線類型進(jìn)行測(cè)量的專業(yè)試驗(yàn)人員總結(jié)和報(bào)告試驗(yàn)測(cè)量結(jié)

:“”。

果時(shí)必須使用合適的術(shù)語(yǔ)衰減或插入損耗

,()。

12術(shù)語(yǔ)和定義

.

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

121

..

衰減attenuation

在樣品從輸入到輸出的傳輸過程中功率的減少通常測(cè)量值以分貝為單位

。,(dB)。

122

..

插入損耗insertionloss

由于連接器或類似器件插入傳輸線中所產(chǎn)生的功率損耗通常測(cè)量值以分貝為單位

。,(dB)。

123

..

樣品環(huán)境阻抗specimenenvironmentimpedance

由裝置在樣品信號(hào)線上引起的阻抗該阻抗是由傳輸線路終端電阻附裝的接收器或信號(hào)源以及

,、、

裝置的寄生效應(yīng)產(chǎn)生的

。

2試驗(yàn)設(shè)施

21設(shè)備

.

211頻域

..

優(yōu)先選用網(wǎng)絡(luò)分析儀當(dāng)要求較大頻率范圍時(shí)可采用信號(hào)發(fā)生器和頻譜分析儀或矢量網(wǎng)絡(luò)分