- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.5-2008
- 1996-12-13 頒布
- 1997-11-01 實施
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文檔簡介
ICS19.040KOA中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.5—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備Inspectionmethodsforbasicparametersofenyironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Dampheattestingequipments1996-12-13發(fā)布1997-11-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T5170.5-1996本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T5170電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法系列標(biāo)準(zhǔn)之一。本標(biāo)準(zhǔn)由GB5170.5-85、GB5170.6-85和GB5170.7-85合并、修訂而成。本標(biāo)準(zhǔn)與1985年發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)相比,技術(shù)內(nèi)容有以下變化:-明確本標(biāo)準(zhǔn)適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定。以區(qū)別于產(chǎn)品的型式試驗等。一測量點的數(shù)量及布放位置以設(shè)備工作室容積2m2為界,不大于2m2時溫度測量點為9個、相對濕度測量點為3個.大于2m2時溫度測量點為15個、相對濕度測量點為4個。測量時間亦大為縮短。-恒定濕熱試驗設(shè)備增加了溫濕度均勻度和波動度的測量。-增加了用圖表示交變濕熱試驗設(shè)備升降溫特性的要求,刪去了以平均升降溫速率表示升降溫特性的方法。-對溫濕度偏差、均勻度、波動度均給出了計算公式,用以定量的表示測量結(jié)果,本標(biāo)準(zhǔn)自實施之日起,代替GB5170.5~5170.7-85。本標(biāo)準(zhǔn)由機械工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由機械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所負(fù)責(zé)起草本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:謝建華、付文茹、陳學(xué)進、薛振夷、王則燕。
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)濕熱試驗設(shè)備檢定方法GB/T5170.5-1996Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmental代替GB5170.5~5170.7-85testingequipmentsforelectricandelectronicproductsDampheattestingeguipments范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢定項目、檢定儀器、測量點的位置與數(shù)量、檢定步驃和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法》GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法》GB2423.9《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法》和GB2423.16《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗J:長雷試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似設(shè)備的周期檢定2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時,所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T2423.3—93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB/T2423.4—93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法GB2423.9—89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法GB2423.16-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗J:長霉試驗方法GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB6999—86環(huán)境試驗用相對濕度查算表檢定
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