GB/T 5170.5-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第5部分：濕熱試驗設(shè)備

ICS19040

K04.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T51705—2016

代替.

GB/T5170.5—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

第5部分濕熱試驗設(shè)備

:

Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricand

electronicroducts—Part5Damheattestineuiments

p:pgqp

2016-12-13發(fā)布2017-07-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T51705—2016

.

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

檢驗項目

4…………………1

檢驗用儀器及要求

5………………………2

檢驗負載

6…………………2

檢驗條件

7…………………3

檢驗方法

8…………………3

檢驗結(jié)果

9…………………10

檢驗周期

10………………10

附錄資料性附錄干濕球溫度計測量相對濕度的方法

A()……………11

GB/T51705—2016

.

前言

分為以下部分

GB/T5170:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

———GB/T5170.1—2016

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

———GB/T5170.2—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

———GB/T5170.5—2016

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備

———GB/T5170.8—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備

———GB/T5170.9—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

———GB/T5170.10—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

———GB/T5170.11—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗

———GB/T5170.13—2005()

用機械振動臺

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗

———GB/T5170.14—2009()

用電動振動臺

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗

———GB/T5170.15—2005()

用液壓振動臺

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗

———GB/T5170.16—2005

用離心機

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫低氣壓濕

———GB/T5170.17—2005//

熱綜合順序試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循

———GB/T5170.18—2005/

環(huán)試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度振動正弦

———GB/T5170.19—2005/()

綜合試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備

———GB/T5170.20—2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動隨機試驗

———GB/T5170.21—2008()

用液壓振動臺

本部分是的第部分

GB/T51705。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備與

GB/T5170.5—2008《》,

相比主要技術(shù)內(nèi)容變化如下

GB/T5170.5—2008,:

范圍由原來的所用試驗設(shè)備的首次檢驗驗收檢驗和周期檢驗修改為所用試驗設(shè)備的檢

———“/”“

驗見第章

?！?1);

規(guī)范性引用文件中刪除了增加了

———GB/T6999—1986、GB/T16839.1、IEC60751,GB12348—

見第章

2008、GB/T2423.50(2);

檢驗項目修改為以列表形式給出見第章

———(4);

檢驗項目升降溫特性修改為交變濕熱特性見表

———“”“”(1);

刪除了檢驗項目每溫度平均變化速率

———“5min”;

在檢驗用主要儀器及要求章節(jié)中溫度測量系統(tǒng)由原來的測量結(jié)果的擴展不確定度k不

———“”,“(=2)

大于被檢溫度允許偏差的三分之一修改為最大允許誤差一般不超過濕度測量

”,“±0.2℃”;

Ⅰ

GB/T51705—2016

.

系統(tǒng)由原來的測量結(jié)果的擴展不確定度k不大于被檢濕度允許偏差的三分之一修改

“(=2)”,

為最大允許誤差一般不超過見表

“±2%RH”(2);

重新整理了檢驗方法章節(jié)的結(jié)構(gòu)層次并增加了檢驗溫度值相對濕度值的選擇見

———,、(8.1.2);

增加了檢驗報告應(yīng)至少包含的信息見

———(9.3);

刪除了原附錄檢驗項目的選擇

———A“”;

將原規(guī)范性附錄的附錄干濕表法測量相對濕度修改為資料性附錄的附錄干濕球溫度

———B“”,A“

計測量相對濕度的方法并修改了相應(yīng)的測量方法

”,。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC8)。

本部分起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所廣州五所環(huán)境儀器有限公司中國電器科學(xué)研

:、、

究院有限公司中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術(shù)研究所廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)

、、

研究院無錫蘇南試驗設(shè)備有限公司

、。

本部分主要起草人伍偉雄謝晨浩黃開云呂國義劉世念倪一明謝凱鋒蘇偉蔡錦文

:、、、、、、、、、

賴文光

。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB5170.5—1985、GB/T5170.5—1996、GB/T5170.5—2008。

Ⅱ

GB/T51705—2016

.

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

第5部分濕熱試驗設(shè)備

:

1范圍

的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備以下簡稱設(shè)備的檢驗項目檢驗用儀器及要求檢

GB/T5170(“”)、、

驗負載檢驗條件檢驗方法檢驗結(jié)果檢驗周期等內(nèi)容

、、、、。

本部分適用于對所用試驗設(shè)備的檢

GB/T2423.3、GB/T2423.4、GB/T2423.16、GB/T2423.50

驗本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗

。。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱試驗

GB/T2423.32:Cab:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗交變濕熱

GB/T2423.42:Db(12h+12h

循環(huán)

)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗和導(dǎo)則長霉

GB/T2423.162:J:

環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱主要用于元件的加速試驗

GB/T2423.502:Cy:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度濕度試驗