GB/T 5170.5-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第5部分：濕熱試驗(yàn)設(shè)備

ICS19040

K04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T51705—2016

代替.

GB/T5170.5—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

第5部分濕熱試驗(yàn)設(shè)備

:

Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricand

electronicroducts—Part5Damheattestineuiments

p:pgqp

2016-12-13發(fā)布2017-07-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T51705—2016

.

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

檢驗(yàn)項(xiàng)目

4…………………1

檢驗(yàn)用儀器及要求

5………………………2

檢驗(yàn)負(fù)載

6…………………2

檢驗(yàn)條件

7…………………3

檢驗(yàn)方法

8…………………3

檢驗(yàn)結(jié)果

9…………………10

檢驗(yàn)周期

10………………10

附錄資料性附錄干濕球溫度計(jì)測(cè)量相對(duì)濕度的方法

A()……………11

GB/T51705—2016

.

前言

分為以下部分

GB/T5170:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

———GB/T5170.1—2016

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.2—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.5—2016

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.8—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.9—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.10—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.11—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)

———GB/T5170.13—2005()

用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)

———GB/T5170.14—2009()

用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)

———GB/T5170.15—2005()

用液壓振動(dòng)臺(tái)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)

———GB/T5170.16—2005

用離心機(jī)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫低氣壓濕

———GB/T5170.17—2005//

熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循

———GB/T5170.18—2005/

環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度振動(dòng)正弦

———GB/T5170.19—2005/()

綜合試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.20—2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)隨機(jī)試驗(yàn)

———GB/T5170.21—2008()

用液壓振動(dòng)臺(tái)

本部分是的第部分

GB/T51705。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備與

GB/T5170.5—2008《》,

相比主要技術(shù)內(nèi)容變化如下

GB/T5170.5—2008,:

范圍由原來(lái)的所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)修改為所用試驗(yàn)設(shè)備的檢

———“/”“

驗(yàn)見(jiàn)第章

。”(1);

規(guī)范性引用文件中刪除了增加了

———GB/T6999—1986、GB/T16839.1、IEC60751,GB12348—

見(jiàn)第章

2008、GB/T2423.50(2);

檢驗(yàn)項(xiàng)目修改為以列表形式給出見(jiàn)第章

———(4);

檢驗(yàn)項(xiàng)目升降溫特性修改為交變濕熱特性見(jiàn)表

———“”“”(1);

刪除了檢驗(yàn)項(xiàng)目每溫度平均變化速率

———“5min”;

在檢驗(yàn)用主要儀器及要求章節(jié)中溫度測(cè)量系統(tǒng)由原來(lái)的測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度k不

———“”,“(=2)

大于被檢溫度允許偏差的三分之一修改為最大允許誤差一般不超過(guò)濕度測(cè)量

”,“±0.2℃”;

Ⅰ

GB/T51705—2016

.

系統(tǒng)由原來(lái)的測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度k不大于被檢濕度允許偏差的三分之一修改

“(=2)”,

為最大允許誤差一般不超過(guò)見(jiàn)表

“±2%RH”(2);

重新整理了檢驗(yàn)方法章節(jié)的結(jié)構(gòu)層次并增加了檢驗(yàn)溫度值相對(duì)濕度值的選擇見(jiàn)

———,、(8.1.2);

增加了檢驗(yàn)報(bào)告應(yīng)至少包含的信息見(jiàn)

———(9.3);

刪除了原附錄檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇

———A“”;

將原規(guī)范性附錄的附錄干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度修改為資料性附錄的附錄干濕球溫度

———B“”,A“

計(jì)測(cè)量相對(duì)濕度的方法并修改了相應(yīng)的測(cè)量方法

”,。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC8)。

本部分起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所廣州五所環(huán)境儀器有限公司中國(guó)電器科學(xué)研

:、、

究院有限公司中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)

、、

研究院無(wú)錫蘇南試驗(yàn)設(shè)備有限公司

、。

本部分主要起草人伍偉雄謝晨浩黃開(kāi)云呂國(guó)義劉世念倪一明謝凱鋒蘇偉蔡錦文

:、、、、、、、、、

賴(lài)文光

。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB5170.5—1985、GB/T5170.5—1996、GB/T5170.5—2008。

Ⅱ

GB/T51705—2016

.

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

第5部分濕熱試驗(yàn)設(shè)備

:

1范圍

的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備以下簡(jiǎn)稱(chēng)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)用儀器及要求檢

GB/T5170(“”)、、

驗(yàn)負(fù)載檢驗(yàn)條件檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)結(jié)果檢驗(yàn)周期等內(nèi)容

、、、、。

本部分適用于對(duì)所用試驗(yàn)設(shè)備的檢

GB/T2423.3、GB/T2423.4、GB/T2423.16、GB/T2423.50

驗(yàn)本部分也適用于類(lèi)似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)

。。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T2423.32:Cab:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)交變濕熱

GB/T2423.42:Db(12h+12h

循環(huán)

)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)和導(dǎo)則長(zhǎng)霉

GB/T2423.162:J:

環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)

GB/T2423.502:Cy:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度濕度試驗(yàn)