標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 8014.3-2005 是關(guān)于鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)，具體介紹了使用分光束顯微鏡法進(jìn)行測(cè)量的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于通過(guò)陽(yáng)極氧化處理形成的氧化膜層厚度的測(cè)定。在這一過(guò)程中，分光束顯微鏡被用來(lái)觀察并精確測(cè)量材料表面氧化膜的實(shí)際厚度。

標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了從樣品準(zhǔn)備到最終結(jié)果記錄的一系列步驟。首先，在選擇待測(cè)樣本時(shí)需確保其表面清潔、無(wú)污染，并且具有代表性。接下來(lái)是制樣階段，可能包括對(duì)樣品進(jìn)行切割或打磨以獲得合適的檢測(cè)面。對(duì)于需要測(cè)量的具體位置，應(yīng)該事先做好標(biāo)記。

實(shí)際測(cè)量時(shí)，利用分光束顯微鏡能夠產(chǎn)生兩個(gè)不同波長(zhǎng)范圍內(nèi)的反射圖像，通過(guò)對(duì)這兩幅圖像之間差異的分析來(lái)確定氧化膜的確切厚度。此方法基于光學(xué)原理，即不同物質(zhì)（在這里指基材與氧化膜）對(duì)特定波長(zhǎng)光線的反射率存在差異，從而可以區(qū)分出兩者的邊界，進(jìn)而計(jì)算出膜厚值。

此外，標(biāo)準(zhǔn)還強(qiáng)調(diào)了操作過(guò)程中的注意事項(xiàng)，比如保持儀器校準(zhǔn)狀態(tài)良好、環(huán)境條件穩(wěn)定等，以保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。同時(shí)，對(duì)于數(shù)據(jù)處理也有明確指導(dǎo)，要求采用多次重復(fù)測(cè)量取平均值的方式減少誤差，提高精度。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2005-07-04 頒布
  • 2005-12-01 實(shí)施
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GB/T 8014.3-2005鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化氧化膜厚度的測(cè)量方法第3部分：分光束顯微鏡法_第1頁(yè)
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GB/T 8014.3-2005鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化氧化膜厚度的測(cè)量方法第3部分：分光束顯微鏡法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

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ICS25.220.40H25中華人民共和國(guó)國(guó)」家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8014.3—2005代替GB/T8015.2—1987鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化氧化膜厚度的測(cè)量方法第3部分：分光束顯微鏡法Anodizingofaluminiumanditsalloys-Themeasuringmethodofthicknessofanodicoxidecoatings-Part3：Split-beammicroscopemethod（ISO2128-1976(E),Anodizingofaluminiumanditsalloys-Determinationofthicknessofanodicoxidecoatingson-destructivemeasurementbysplit-beammicroscope,MOD)2005-07-04發(fā)布2005-12-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛(ài)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T8014.3-2005GB/T8014《鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度的測(cè)量方法》分為如下3個(gè)部分（GB/T8014.1—2005鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化氧化膜厚度的測(cè)量方法第1部分:測(cè)量原則GB/T8014.2—2005鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化氧化膜厚度的測(cè)量方法第2部分：質(zhì)量損大法鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化氧化膜厚度的測(cè)量方法-GB/T8014.3-2005第3部分：分光束顯微鏡法本部分為GB/T8014的第3部分本部分修改采用ISO2128:1976《鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化一氧化膜厚度測(cè)定一分光束顯微鏡無(wú)損測(cè)定法》英文版),并根據(jù)ISO2128:1976重新起草。本部分與ISO2128:1976的差異體現(xiàn)在編寫(xiě)格式方面。為方便比較,在資料性附錄A中列出了本部分章條和對(duì)應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)章條的對(duì)照一覽表本部分代替GB/T8015.2—1987《鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度的試驗(yàn)方法分光束顯微法》,本部分與GB/T8015.2—1987的差異體現(xiàn)在編寫(xiě)格式方面。本部分系無(wú)損檢測(cè)方法。本部分的附錄A為資料性附錄本部分由中國(guó)有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出本部分由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本部分負(fù)責(zé)起草單位：北京有色金屬研究總院。本部分參加起草單位：深圳華加日鋁業(yè)有限公司、廣東堅(jiān)美鋁型材廠有限公司。本部分主要起草人：朱祖芳、李永豐、熊進(jìn)平、戴悅星、譚群燕、章吉林本部分由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋。本部分所代替歷次版本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布情況為：-GB/T8015.2-1987

GB/T8014.3-2005鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化氧化膜厚度的測(cè)量方法第3部分：分光束顯微鏡法范圍本部分規(guī)定了用分光束顯微鏡測(cè)定鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度的無(wú)損測(cè)定方法本部分適用于膜厚大于10m的一般工業(yè)用氧化膜,或膜厚不小于5m的表面平滑的氧化膜本部分不適用于深色氧化膜或表面粗糙的氧化膜。方法原理在分光束顯微鏡中，一束狹長(zhǎng)平行光線(L)傾斜地入射全氧化膜表面,通常入射角取45"（如圖1所示)。光束的一部分R，在氧化膜的外表面反射出來(lái).另一部分光束R，穿過(guò)氧化膜并在金屬與氧化膜的界面上反射出來(lái)。R.經(jīng)歷了兩次折射。這樣,在視區(qū)可得到兩條平行亮線.兩平行線間距離正比于氧化膜的厚度及儀器的放大倍數(shù)。兩條平行線的間距也與氧化膜的折射率及儀器的幾何形狀有關(guān)。氧化膜圖1當(dāng)入射角及測(cè)量?jī)x器的物鏡光軸與試樣表面夾角均為45°時(shí),氧化膜厚度可以按公式(1)計(jì)算e=V2r-1=2.04e····（1）式中：-氧化膜真實(shí)的厚度單一測(cè)量值，單位為微米（rm):儀器測(cè)得的厚度，單位為微米(kmn)；氧化膜的折射率(一般為1.59~1.62）3術(shù)語(yǔ)、定義GB/T8014.1確立的以及下列術(shù)語(yǔ)、定義適用于本部分陽(yáng)極氧化膜的局部厚度1ocalthicknessofanodicoxidecoating在考察面積內(nèi),至少取10點(diǎn)對(duì)膜厚進(jìn)行單一測(cè)量.測(cè)得結(jié)果

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