GB/T 8014.3-2005鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第3部分：分光束顯微鏡法

ICS25.220.40H25中華人民共和國國」家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8014.3—2005代替GB/T8015.2—1987鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第3部分：分光束顯微鏡法Anodizingofaluminiumanditsalloys-Themeasuringmethodofthicknessofanodicoxidecoatings-Part3：Split-beammicroscopemethod（ISO2128-1976(E),Anodizingofaluminiumanditsalloys-Determinationofthicknessofanodicoxidecoatingson-destructivemeasurementbysplit-beammicroscope,MOD)2005-07-04發(fā)布2005-12-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T8014.3-2005GB/T8014《鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度的測量方法》分為如下3個部分（GB/T8014.1—2005鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第1部分:測量原則GB/T8014.2—2005鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第2部分：質(zhì)量損大法鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法-GB/T8014.3-2005第3部分：分光束顯微鏡法本部分為GB/T8014的第3部分本部分修改采用ISO2128:1976《鋁及鋁合金陽極氧化一氧化膜厚度測定一分光束顯微鏡無損測定法》英文版),并根據(jù)ISO2128:1976重新起草。本部分與ISO2128:1976的差異體現(xiàn)在編寫格式方面。為方便比較,在資料性附錄A中列出了本部分章條和對應(yīng)的國際標(biāo)準(zhǔn)章條的對照一覽表本部分代替GB/T8015.2—1987《鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度的試驗方法分光束顯微法》,本部分與GB/T8015.2—1987的差異體現(xiàn)在編寫格式方面。本部分系無損檢測方法。本部分的附錄A為資料性附錄本部分由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會提出本部分由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本部分負(fù)責(zé)起草單位：北京有色金屬研究總院。本部分參加起草單位：深圳華加日鋁業(yè)有限公司、廣東堅美鋁型材廠有限公司。本部分主要起草人：朱祖芳、李永豐、熊進(jìn)平、戴悅星、譚群燕、章吉林本部分由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋。本部分所代替歷次版本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布情況為：-GB/T8015.2-1987

GB/T8014.3-2005鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第3部分：分光束顯微鏡法范圍本部分規(guī)定了用分光束顯微鏡測定鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度的無損測定方法本部分適用于膜厚大于10m的一般工業(yè)用氧化膜,或膜厚不小于5m的表面平滑的氧化膜本部分不適用于深色氧化膜或表面粗糙的氧化膜。方法原理在分光束顯微鏡中，一束狹長平行光線(L)傾斜地入射全氧化膜表面,通常入射角取45"（如圖1所示)。光束的一部分R，在氧化膜的外表面反射出來.另一部分光束R，穿過氧化膜并在金屬與氧化膜的界面上反射出來。R.經(jīng)歷了兩次折射。這樣,在視區(qū)可得到兩條平行亮線.兩平行線間距離正比于氧化膜的厚度及儀器的放大倍數(shù)。兩條平行線的間距也與氧化膜的折射率及儀器的幾何形狀有關(guān)。氧化膜圖1當(dāng)入射角及測量儀器的物鏡光軸與試樣表面夾角均為45°時,氧化膜厚度可以按公式(1)計算e=V2r-1=2.04e····（1）式中：-氧化膜真實的厚度單一測量值，單位為微米（rm):儀器測得的厚度，單位為微米(kmn)；氧化膜的折射率(一般為1.59~1.62）3術(shù)語、定義GB/T8014.1確立的以及下列術(shù)語、定義適用于本部分陽極氧化膜的局部厚度1ocalthicknessofanodicoxidecoating在考察面積內(nèi),至少取10點對膜厚進(jìn)行單一測量.測得結(jié)果